【課題】カラー画像データが容易に取得することのできる撮像装置を提供する。
【解決手段】画像を撮像するための複数の光電変換画素を有する撮像部と、開口部及び遮光部を有する入射光制限部と、を有し、前記開口部または前記遮光部のうち、いずれか一方または双方は複数であって、被写体を撮像する際、前記被写体からの光は前記入射光制限部を介し、前記撮像部に入射するものであることを特徴とする撮像装置を提供することにより上記課題を解決する。 （もっと読む）

【課題】分光装置において複数の受光センサそれぞれが受光する光の波長を高精度に校正することができる方法を提供する。
【解決手段】検出ステップでは、既知の透過スペクトルを有する光フィルタ４Ａ，４Ｂに白色光を入射させて該光フィルタを透過した光を分光器２により分光して、アレイ型受光部３の複数の受光センサそれぞれによる受光強度を検出する。解析ステップでは、検出された複数の受光センサそれぞれによる受光強度と透過スペクトルとに基づいて、透過スペクトルがピークまたはボトムとなる波長に対応する位置を、複数の受光センサの配置間隔より高い位置分解能で求める。校正ステップでは、解析ステップにおいて求められた位置および波長に基づいて、複数の受光センサそれぞれが受光する光の波長を校正する。 （もっと読む）

【課題】光検出手段の各画素が受光する光の波長値を精度よく値付けすることが可能な分光測色器を提供する。
【解決手段】被測色物に測色光を照射する光源と、前記被測色物からの反射光を分光する分光手段と、前記分光手段により分光された分散光を受光し、当該分散光の強度に応じて信号を出力する複数の画素を有する光検出手段と、基準となる被測色物を測色した際に前記光検出手段にて検出された分散光のプロファイルにおける複数の変曲点の波長と画素との対応関係を用いて、前記光検出手段を構成する複数の画素それぞれにて受光された分散光の波長を演算する演算手段とを有し、前記演算手段は、前記複数の画素それぞれにて受光された分散光の波長を演算する際に、前記複数の変曲点に対応する画素によって出力される信号が基準値以上で且つ飽和しない出力レベルとなるよう、変曲点ごとに測色条件を調整する。 （もっと読む）

【課題】色変換ＬＵＴを生成するための分光カラーセンサについて、測色毎に直接装置内迷光成分を測定することなく高い測色精度を得る。
【解決手段】装置内の光源から測色対象に光を照射し、その反射光を分光する分光手段と、前記反射光の分光を検出する光検出素子とを有する分光カラーセンサであって、予め測定された、前記光検出素子に投影される前記分光の波長と投影位置との対応関係、および迷光成分を記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶された前記光検出素子に投影される前記分光の波長と投影位置との対応関係を、測色時の測定結果により補正する第１の補正手段と、前記第１の補正手段により補正された波長と投影位置との対応関係を用いて、前記記憶手段により記憶された迷光成分の波長補正を行う第２の補正手段とを有する。 （もっと読む）

【課題】簡単な構成で、広い波長帯域で使用でき、測定精度を向上し得る、屈折率および屈折率温度係数の測定装置を提供する。
【解決手段】窓６０１を介して恒温槽６内部に入射し、ウェッジプリズム型試料７の第１面７０１で反射した後に窓６０１を介して恒温槽６外部へ射出した平行光束か、または窓６０１を介して恒温槽６内部に入射し第１面７０１から試料７内部に入射し第２面７０２の裏面で反射した後に第１面７０１を経て試料７外部へ射出し、窓６０１を介して恒温槽６外部へ射出した平行光束が、コリメータ部５に戻りコリメータミラー５０２で集光された後にミラースリット５０１のミラー面５０１ａで反射された光束を受信する測定光デテクタ１１と、試料回転ステージ８の回転制御を行い、測定光デテクタ１１からの出力と回転角度検出部８ａで検出された試料回転ステージ８の回転角度との関係に基づき、試料７の屈折率を算出する解析制御部１５とを有する。 （もっと読む）

【課題】バリーション実行時の作業の進捗度合いを示すプログレスバーの進行とユーザの感覚的な時間経過とのずれを解消するとともに、検査の残り時間をより的確にユーザに知らせる。
【解決手段】バリデーションの検査項目と測定条件とが前回と同一であれば（Ｓ１でYes）、前回のバリデーション実行時に計測した実時間を各検査項目の所要時間に設定し（Ｓ３）、同一でなければ基本となる時間情報と測定条件とから各検査項目の所要時間を計算する（Ｓ２）。指定された検査項目全体の所要時間を計算してこれを残り時間として表示し（Ｓ５）、検査が開始されると（Ｓ６）、Ｓ２又はＳ３で求めた各検査項目の所要時間、Ｓ５で求めた全体の所要時間を基準とし、時間経過に伴って全体及び項目毎のプログレスバーを進行させるとともに、全体及び項目毎の残り時間をダウンカウントする。それにより、プログレスバーの進行が感覚的な時間経過と一致し、且つ正確な残り時間も表示できる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、従来のリガンド固定化方法を、その少なくとも一方の表面がＳｉＮ，Ｔａ₂Ｏ₅，Ｎｂ₂Ｏ₅，ＨｆＯ₂，ＺｒＯ₂またはＩＴＯからなる基板に適用した場合であっても、リガンドが基板に高密度に結合した基板の製造方法，該製造方法によって得られるリガンド固定化基板，および，該基板を使用する分子間相互作用検出方法を提供することを課題とする。
【解決手段】ＳｉＮ，Ｔａ₂Ｏ₅，Ｎｂ₂Ｏ₅，ＨｆＯ₂，ＺｒＯ₂およびＩＴＯからなる群から選択される少なくとも１種からなる基板の表面に、液相でリガンドを固定化させる工程を含むリガンド固定化基板の製造方法であって、該液相に含有される界面活性剤が、０質量％以上０.００１質量％未満であることを特徴とする製造方法。 （もっと読む）

【課題】広視野分光イメージングを行う場合であっても高精度に分光特性を測定することができる分光特性測定装置及びその校正方法を提供する。
【解決手段】測定モードでは被測定物の各輝点から発せられた光を分割光学系を通して第１及び第２反射部に入射させ、そこで反射された光を結像光学系によって干渉像を形成する。第１反射部を移動させることにより分割光学系から第１及び第２反射部を経て結像光学系に向かう第１及び第２反射光の間の相対的な光路長差を伸縮させ、そのときの干渉像の光強度変化に基づき被測定物の各輝点のインターフェログラムを求める。校正モードでは、輝点から出射される所定波長λの光を分割光学系に入射させることにより、該輝点に対応する複数の干渉像を形成させ、そのときの光強度変化に基づき該光強度変化の１周期に対応する第１反射部の移動量を求め、輝点の波長λ、第１反射部の移動量、前記干渉像の画角θから前記第１反射部の設置角を求める。 （もっと読む）

【課題】
周波数コム光を利用して分光機器の較正を高精度で行う技術、較正がなされた分光機器を用いて高精度分光を行なう分光技術を提供することである。
【解決手段】
周波数安定化光源からの光を周波数シフタに入射して、当該周波数シフタから周波数シフト量設定値に応じて“周波数がシフトした複数の光”を順次出射し、周波数コム光発生器からコム周波数間隔が高精度に設定された中心角周波数が異なる周波数コム光を順次生成し、分光機器に異なる周波数シフト量設定値ごとに順次入射して、“近接する２つの特定コム”のそれぞれについて、“周波数がシフトした複数のコム”の光スペクトルを、所定のサンプリング周波数間隔で順次検出し、分光機器から、前記“近接する２つの特定コム”のそれぞれについての“周波数がシフトした複数のコム”の光スペクトルデータを取得して周波数較正演算を行う。 （もっと読む）

【課題】ＬＥＤを用いた分光測定装置において、ＬＥＤの選別を行わなくても、目標とする波長の光を測定対象に照射する。
【解決手段】グラフＧ３１に示すように、ＬＥＤ１はピーク波長が７０５ｎｍであり、半値幅が２０ｎｍである。グラフＧ３２に示すように、ＬＥＤ２はピーク波長が７１５ｎｍであり、半値幅２０ｎｍである。したがって、ＬＥＤ１とＬＥＤ２とを同時に照射するとグラフＧ３３の放射強度分布を持つ合成光が得られる。これにより、目的とする７１０ｎｍのピーク波長を持つ合成光を測定対象Ｓに照射することができる。 （もっと読む）

【課題】分光器波長正確さを容易に検査する蛍光分光光度計を提供する。
【解決手段】本発明の蛍光分光光度計は、光源１の光を励起光として分光し試料セル３に照射する励起側分光器２、試料セル３からの光を分光する蛍光側回折格子４１及び該回折格子を回転させる走査手段４２から成る蛍光側分光器４、蛍光側分光器４からの出射光を検出する検出器５、励起側分光器２の設定波長正確さを検査する励起側検査部６を備える。励起側検査部６は、特定波長検査光が蛍光側回折格子４１に入射したときのｎ次、ｎ＋１次回折光をそれぞれ出射させる蛍光側回折格子４１の回転角差と、励起側分光器２の波長を特定波長にし光源１の光を励起側分光器２に入射させ回折格子４１を回転させたときにｎ次とｎ＋１次回折光がそれぞれ得られる蛍光側回折格子４１の回転角差を比較し励起側分光器２の設定波長正確さを検査する。 （もっと読む）

【課題】幅広い波長範囲で高分解能に分光測定を行うことができるとともに、堅牢でかつ小型化された導波路型の分光光度計を提供する。
【解決手段】被測定光は光入力部１０１で集光され、光ファイバ１０２を介して光分岐回路１０４に入力される。光分岐回路１０４は入力光をそれぞれ異なる波長帯の光を透過する光フィルタが挿入されたＮ本の光導波路に分岐する。１０５はＮ個のアレイ導波路回析格子が積層された多層アレイ導波路回析格子であり、光分岐回路１０４から出力される異なる波長帯のＮ個の光がそれぞれ対応する層のアレイ導波路回析格子に入力される。各層のアレイ導波路回析格子はそれぞれの入力光を分光してＭ本の光導波路に出力し、各層のアレイ導波路回析格子の出力光は受光部１０６で受光される。 （もっと読む）

【課題】ソーラーシミュレータの分光特性測定装置において、ポリクロメータにおける波長分光方向のシフトを補正するにあたって、簡単な構成で実現する。
【解決手段】ポリクロメータ５の分光データの内、演算制御部６の分析・判定部６３が、キセノンランプの輝線（８２５ｎｍ）付近の波長域（８００−８５０ｎｍ）のデータを分析しており、その分析結果から、測定光束にキセノンランプの輝線が含まれているか否かを判定し、含まれている場合には、補正部６４は、演算部６２に、その輝線を使用させて、メモリ６１に記憶されている波長校正データを補正させる。したがって、キセノン光源などの特定のシフト補正用光源を搭載しなくても、測定対象からの光束を用いて補正を行うことが可能になり、分光特性測定装置１の構成を簡略化することができる。 （もっと読む）

【課題】
キセノンフラッシュランプを用いた分光光度計において、過去の蓄積データとの照合が可能な分光光度計、及びその性能測定方法を提供する。
【解決手段】
通常は、キセノンフラッシュランプ１からの光束２を用い、凹面鏡３を介して分光器４で任意の波長に分光し、試料５を透過した光束を光検知器６で検出することで、分光分析を行う。性能測定を行うときは、キセノンフラッシュランプ１と分光器４との間の光束２上に低圧水銀ランプ９を配置し、シャッター機構を構成する遮光板１１を作動して遮光及び透過させて光強度を検出することで、低圧水銀ランプ９の輝線スペクトルを用いた「波長正確さ」または「分解」の測定を行う。 （もっと読む）

【課題】通過距離の短い安価な吸収セルを用いてもそのセルの吸収波長を容易に特定できるようにする。
【解決手段】吸収セル４０の既知の吸収波長を含む広帯域光Ｐｗを入射部２１に被測定光として入射した状態で、入射部２１から分光部２５を経て光電変換素子３４に至る光路のいずれかに、吸収セル４０を進入させて波長掃引したときに得られた第１のスペクトラム特性Ｆａと、吸収セル４０を光路から退出させて波長掃引したときに得られた第２のスペクトラム特性Ｆｂとの差を演算して、吸収セル固有のスペクトラム特性Ｇを求め、そのスペクトラム特性Ｇと既知の吸収波長から角度波長情報を補正する。 （もっと読む）

【課題】光学スペクトログラフ、特に焦点面アレイ検出器を備えた光学スペクトログラフのキャリブレーション方法を開示する。
【解決手段】本方法は、既知のソースのスペクトルを検出するステップと、既知のスペクトルの波長と既知の相対輝度とのテーブルを参照するステップと、観測したスペクトルに近似させるために、スペクトログラフの物理的性質に基づきスペクトログラフモデルを導出するステップと、を含む。この方法において、非線形最適化法により理論的モデルパラメータを精密化する。これにより、後に取得するスペクトルのキャリブレーション用モデル化スペクトログラフについて最もよく説明する一式の物理モデルパラメータを生成する反復処理において、観測したスペクトルと計算したスペクトルとの残差を最小にする。 （もっと読む）

【課題】低コスト化及び高感度化が同時に可能な分光蛍光光度計及び反射型試料セルを提供する。
【解決手段】試料流路１１を備えた試料セル１と、励起光を発生する励起光用光源２と、励起光を分光する励起光側回析格子４と、励起光側回析格子４からの光が照射されて試料から発生した蛍光を分光する蛍光側回析格子５と、蛍光側回析格子５からの光を検出する第１の光学検知器７と、波長校正のための光を発生する波長校正用光源８とを有する分光蛍光光度計において、試料セル１は、試料流路１１内の試料からの蛍光を蛍光側回析格子５に入射するための入射スリット１９と、入射スリット１９が形成された側面に対向する側面に形成され、試料流路１１内の試料からの蛍光の一部を入射スリット１９側に反射し、波長校正用光源８からの光の一部を入射スリット１９側へ透過する細孔付き第１反射ミラー１２を一体的に備える。 （もっと読む）

【課題】測定対象からの光の分光強度を精度よく測定する。
【解決手段】二次元分光測定装置に、特定波長に強度のピークを持つ基準光源と、透過波長帯域を変更可能な波長可変フィルタと、測定対象からの光を、前記波長可変フィルタを介して受光し、光強度を出力する受光部と、前記波長可変フィルタの透過波長帯域を変更中に、前記基準光源からの光を前記受光部で受光可能にする光学系と、前記受光部で受光した基準光源からの光の光強度と前記特定波長とに基づいて、前記透過波長帯域の波長のシフト量を求めて、前記測定対象からの光の光強度を前記波長のシフト量に基づいて補正する演算部とを備える。 （もっと読む）

【課題】分光装置の光源がスペクトル線の幅の狭い光を発している状態で、分光手段の校正を行うことで、測定用の光源と校正用の光源を併用可能にし、測定用の光源とは別に校正用の光源を用意しなくても校正作業を行うことができるようにした分光装置の校正方法を提供する。
【解決手段】分光手段２の校正を行う校正方法であって、分光装置に備えられた測定用と校正用を兼ねた１つの光源１がスペクトル線の幅の狭い光を発している状態で、前記光について測光を行い、前記測光した結果に基づいて、前記分光手段２の校正を行なうようにした。 （もっと読む）

【課題】スぺクトラムの波長とパワーの値付けや補正等の校正が簡単な構成で行う。
【解決手段】波長検出部２００は、エタロン１１が可変波長光源から出力される掃引光を受けて所定波長間隔で透過させることにより、所定波長間隔を検出するともにその波長間隔に対応する透過光。測定部１００は前記パワーが測定された被測定光の波長を前記波長検出部で検出されたスペクトラムを校正する。そして、さらに補正部１０は、波長検出部から出力される所定波長間隔に対応する各ピークパワーを基に、測定部で測定されたスペクトラムのパワーを補正する。 （もっと読む）