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Fターム[2G028BB00]の内容

抵抗、インピーダンスの測定 (8,300) | 測定対象素子等 (466)

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【課題】4端子対法による計測が行える回路基板検査装置において、プローブのコンタクトチェックのための専用回路が不要であり、また、測定中においても適宜コンタクトチェックが行えるようにする。
【解決手段】高電位側電圧プローブP3および低電位側電圧プローブP4に接続される各同軸ケーブルCの内部導体ILと外部導体Sとの間に、高周波領域で定在波が発生しないように、インピーダンスマッチング用の抵抗素子R0とスイッチSW2とを含む直列回路22を接続し、スイッチSW2がオフであるときの内部導体ILと外部導体S間の第1の電圧値と、スイッチSW2がオンであるときの内部導体ILと外部導体S間の第2の電圧値とに基づいて、各電圧プローブP3,P4の接触状態の良否を判定する。 (もっと読む)


【課題】電流供給用端子がシールド付き電線で電流源に接続されている測定装置において、電流供給端子とシールドとが接触したとしても電流制限回路が流れる電流を制限して装置を保護することができ、しかも、通常状態では、電流制限回路で無駄な電力が消費されず、無駄な熱が発生しない測定装置を提供する。
【解決手段】インピーダンス測定装置1は、電流供給端子Hc,Lcを介して測定対象体(DUT)に測定用電流IDUTを供給する電流源2と、DUTに生じた電圧を検出する電圧検出回路3とを備え、測定用電流IDUT及び電圧検出回路3の検出電圧に基づいてDUTの電気的特性を測定するインピーダンス測定装置1であって、一対の電流供給端子Hc,Lcが各々シールド付き電線W1,W2で電流源2に接続され、シールドには、所定電位を付与すると共に、流れる最大電流を制限可能な電流制限用の抵抗Rp1が接続されているものである。 (もっと読む)


【課題】より簡単に、より迅速に等価回路モードを選択する。
【解決手段】周波数特性測定制御部52は、測定部を制御し、試料のインピーダンスおよび位相を測定させ、その測定値を取得する。判定部53は、測定されたインピーダンスに極大値または極小値があるか否かを判定する。等価回路モード選択部54は、極大値または極小値があるか否かの判定結果によって、試料の等価回路を示す等価回路モデルを用いて測定が行われる等価回路モードを選択する。本発明は測定装置に適用できる。 (もっと読む)


【課題】より短い測定時間で、より正確な共振周波数を得る。
【解決手段】極値探索部51は、被測定回路12を測定して得られた周波数とインピーダンスとを示す測定点から、極大値または極小値である極値を探索する。算出部52は、周波数を示す第1の軸とインピーダンスを示す第2の軸とが直交する平面上に配置された測定点のうち、極値および極値の周波数より高い周波数の測定点であって、隣接する測定点を結ぶ直線と極値の周波数より低い周波数の測定点との平面上の位置の関係から共振周波数を算出する。本発明はインピーダンスアナライザに適用できる。 (もっと読む)


【課題】フィクスチャ基板の回路パラメータを簡単に測定する。
【解決手段】フットプリント相当パターン113i,113oとSMAコネクタ102と校正配線パターンと有する校正基板100を用いて、フィクスチャ基板の回路パラメータを測定する。フットプリント相当パターン113i,113oは、一組のフィクスチャ基板それぞれに設けられたフットプリントに対応する配線パターンである。SMAコネクタ102は、各フィクスチャ基板に搭載されたSMAコネクタと同一のものである。校正配線パターンは、各フィクスチャ基板の配線パターンに対応する、フットプリント相当パターン113i,113oとSMAコネクタ102とを接続する配線パターンである。そして、測定対象回路を介して接続されるフィクスチャ基板のフットプリントに相当するフットプリント相当パターン同士が直接接続されている。 (もっと読む)


【課題】特に薄膜の電子伝導体に対し、断面方向における電子伝導性を正確に測定することができる評価治具を提供することにある。
【解決手段】電子伝導体の上部に接触する電流測定用と電圧測定用の2本の測定子、電子伝導体の下部に接触する電流測定用と電圧測定用の2本の測定子を具備し、上部及び下部において各々の電流測定子と電圧測定子との電子伝導体との接触面における最短距離が、測定する電子伝導体厚さの200%以下であり、電流測定子間に電流を流して電圧測定子間の電圧を測定することを特徴とする電子伝導性の評価治具。 (もっと読む)


【課題】 補正精度を向上することができる、測定誤差の補正方法及び電子部品特性測定装置を提供する。
【解決手段】 試験治具26と基準治具16とで、相対補正データ取得用試料を測定し、試験治具26での測定値から基準治具16での測定値の推定値を算出するための第1の数式を求める。周波数ごとに、試験治具26と基準治具16とで、残留誤差補正データ取得用試料を測定し、第1の数式を用いて算出した基準治具16での測定値の推定値に含まれる誤差を算出するための第2の数式を求める。任意の電子部品について、試験治具26で測定し、試験治具26での測定値から第1の数式を用いて基準治具16での測定値の推定値を算出し、この推定値を第2の数式を用いて補正する。第2の数式は多項式又は有理式である。 (もっと読む)


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