【課題】半導体スイッチを介して測定対象体に対する測定用電圧の出力をオン・オフする構成において、スパイク電圧を大幅に低減する。
【解決手段】規定電圧値Ｖ１の測定用電圧Ｖｍを測定対象体２１に出力する電圧出力装置１であって、測定用電圧Ｖｍを出力すると共に測定用電圧Ｖｍの電圧値を制御可能な電源部２と、電源部２から出力される測定用電圧Ｖｍの測定対象体２１に対する出力をオン・オフする半導体スイッチ３ａと、電源部２および半導体スイッチ３ａを制御する処理部５とを備え、処理部５は、半導体スイッチ３ａをオフ状態に制御した状態において電源部２に対する制御を実行して測定用電圧Ｖｍの電圧値を段階的に複数回に亘って変化させて規定電圧値Ｖ１に設定する電圧設定処理、および半導体スイッチ３ａをオン状態に制御して規定電圧値Ｖ１に設定された測定用電圧Ｖｍを測定対象体２１に出力する電圧出力処理を実行する。 （もっと読む）

【課題】短時間で二次電池の内部抵抗を測定すること。
【解決手段】二次電池Ｂの内部抵抗を測定する内部抵抗測定装置１において、充放電停止後の二次電池の電圧の時間的変化に基づいて分極電圧を推定する推定手段１ａと、二次電池に充電電流または放電電流を通じる通電手段１ｂと、通電手段によって二次電池に電流が通じている際の電圧と電流を検出する検出手段１ｃと、検出手段によって検出された電圧から推定手段によって推定された分極電圧の影響を除外して求めた二次電池の通電による電圧変化の値と、検出手段によって検出された電流の値とに基づいて二次電池の内部抵抗を算出する算出手段１ｄと、を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】電流供給用端子がシールド付き電線で電流源に接続されている測定装置において、電流供給端子とシールドとが接触したとしても電流制限回路が流れる電流を制限して装置を保護することができ、しかも、通常状態では、電流制限回路で無駄な電力が消費されず、無駄な熱が発生しない測定装置を提供する。
【解決手段】インピーダンス測定装置１は、電流供給端子Ｈｃ，Ｌｃを介して測定対象体（ＤＵＴ）に測定用電流Ｉ_DUTを供給する電流源２と、ＤＵＴに生じた電圧を検出する電圧検出回路３とを備え、測定用電流Ｉ_DUT及び電圧検出回路３の検出電圧に基づいてＤＵＴの電気的特性を測定するインピーダンス測定装置１であって、一対の電流供給端子Ｈｃ，Ｌｃが各々シールド付き電線Ｗ１，Ｗ２で電流源２に接続され、シールドには、所定電位を付与すると共に、流れる最大電流を制限可能な電流制限用の抵抗Ｒｐ１が接続されているものである。 （もっと読む）

【課題】従来は直流インピーダンスを測定して電池の寿命を診断していたが、一部の電池は診断できなかった。また、測定に時間がかかるので、オンラインで診断することが難しかった。本発明は、簡単な装置で使用中に電池の交流インピーダンスを測定でき、寿命診断ができる装置を提供することを目的にする。
【解決手段】短時間電池の出力でコンデンサを充電し、この充電中におけるコンデンサ両端の電圧変化を測定し、ラプラス変換を用いて交流インピーダンスを演算するようにした。また、この交流インピーダンスから電池の寿命を診断するようにした。簡単な装置で、従来診断できなかった電池をも診断できる。 （もっと読む）

【課題】充電状態の電気二重層キャパシタの測定に関し、電荷放電を抑制して省エネルギー化を実現する。微小電圧変化での測定を可能にし、ノイズの影響を回避する。
【解決手段】充電された電気二重層キャパシタ（キャパシタモジュール４）に正弦波負荷（正弦波負荷回路１２）を接続して放電回路（１０）を形成し、前記正弦波負荷を付与して前記電気二重層キャパシタ（キャパシタモジュール４）を放電させ、前記放電回路に流れる電流を電流検出手段（電流検出回路２０）で検出し、前記放電回路を介して放電中の前記電気二重層キャパシタの電圧を電圧検出手段（電圧検出回路２２）で検出し、前記電流検出手段の検出電流と前記電圧検出手段の検出電圧とを用いて前記電気二重層キャパシタのインピーダンスを算出手段（演算部２４、ＭＰＵ３２）により算出する。電気二重層キャパシタの劣化診断にはこのインピーダンスの算出結果を用いている。 （もっと読む）

【課題】一台で高抵抗薄膜の抵抗値と表面凹凸を正確に測定できる測定装置を提供する。
【解決手段】載置板１２をポリアセタール樹脂で構成し、裏面にガード電極５２を配置する。載置板１２上に配置した基板２３の表面に、円環電極４３と円盤電極４４とを接触させ、円盤電極４４を電流計４７を介してガード電極５２に接続し、ガード電極５２を接地させて、円環電極４３と円盤電極４４の間に電圧を印加し、電流計４７の検出結果から基板２３表面の高抵抗薄膜の抵抗値が測定される。ポリアセタール樹脂の抵抗値は高く、表面は平坦なので、基板２３の表面に触針を接触させながら移動させて、触針６３の変位を測定して基板２３の表面の凹凸も正確に測定することができる。 （もっと読む）

【課題】より簡単に、より迅速に等価回路モードを選択する。
【解決手段】周波数特性測定制御部５２は、測定部を制御し、試料のインピーダンスおよび位相を測定させ、その測定値を取得する。判定部５３は、測定されたインピーダンスに極大値または極小値があるか否かを判定する。等価回路モード選択部５４は、極大値または極小値があるか否かの判定結果によって、試料の等価回路を示す等価回路モデルを用いて測定が行われる等価回路モードを選択する。本発明は測定装置に適用できる。 （もっと読む）

【課題】測定コストの上昇の抑制とハムノイズの除去とを行いつつ、充電状態を揃えて絶縁抵抗を測定する。
【解決手段】ｍ個のコンデンサ１１に試験電圧Ｖを同時に印加する電圧出力部２と、各コンデンサ１１に流れる電流Ｉを検出して検出信号ＳＩを出力する電流検出部３と、各検出信号ＳＩの１つを選択して特定検出信号ＳＩｓとして出力する信号切替部４と、特定検出信号ＳＩｓの波形データＤｗを出力する１つのＡ／Ｄ変換部６と、波形データＤｗで示される電流値と試験電圧Ｖとから各コンデンサ１１の絶縁抵抗ＩＲを算出する処理部６とを備え、処理部６は、信号切替部４を切替制御して、（Ｔｃ×ｍ／ｎ）以上であるＴｃの最小の倍数を時間ｋとしたときに、ｎ個のポイントの時間間隔が（Ｔｃ／ｎ＋ｋ）となり、各検出信号ＳＩの１個目のポイントがすべて異なる時間で、かつ期間（Ｔｃ／ｎ＋ｋ）内に含まれるように信号切替部４を制御する。 （もっと読む）

【課題】大きな電流を発生させる電源を不要として、装置の小型化および低コスト化を図る。
【解決手段】被覆電線１２の中心導体１２ａと容量結合する注入電極２と、中心導体１２ａと容量結合する検出電極３と、検査交流電圧Ｖ２を生成すると共に検査交流電圧Ｖ２を注入電極２を介して中心導体１２ａに非接触で注入する交流電圧生成部４と、検査交流電圧Ｖ２の注入に起因して被覆電線１２に発生する電流Ｉｄ２の一部を検出電極３を介して入力すると共に検出電圧Ｖｄに変換して出力する電流検出部５と、検査交流電圧Ｖ２の電圧値に対する検出電圧Ｖｄの電圧値の比率ｋを算出すると共に算出した比率ｋが予め決められた基準比率ｋｒｅｆ以上のときに、被覆電線１２の表面が汚れていると判別する処理部７とを備えている。 （もっと読む）

【課題】中心電極および外部電極の双方を測定対象体に対して確実に接触させ得る抵抗測定用電極装置を提供する。
【解決手段】中心電極２２と、中心電極２２の周囲に配置された筒状の外部電極２３と、中心電極２２および外部電極２３を支持する筐体２１（支持板３３）とを備えた電極装置２であって、筐体２１（支持板３３）は、支持板３３に対する外部電極２３の筒長方向への中心電極２２の移動を許容しつつ中心電極２２および外部電極２３を支持する。 （もっと読む）

【課題】測定対象物の直流抵抗の高低によらず、所定の直流バイアス電圧を測定対象物に印加しつつインピーダンスを測定することができるインピーダンス測定装置を提供する。
【解決手段】インピーダンス測定装置１は、直流電圧を重畳させた交流電圧を、所定の直流出力抵抗Ｒ０でＤＵＴ９０に出力する信号源２と、ＤＵＴ９０に流れる電流を検出する電流検出部３と、ＤＵＴ９０の両端電圧を検出する電圧検出部４と、電流検出部３及び電圧検出部４の出力を読み込んで、ＤＵＴ９０のインピーダンスを演算する演算処理部５とを備え、直流電圧のみを信号源２から出力させた状態で、演算処理部４と信号源２とが、所定の直流バイアス電圧をＤＵＴ９０に印加させるフィードバック関係で接続されるものである。 （もっと読む）

【課題】本発明は、特別な装置を用いずに、微細素子の容量を直接測定することができる容量測定回路、半導体装置および容量測定方法を提供する。
【解決手段】本発明に係る容量測定回路１は、少なくとも１つの第１リングオシレータ（測定用リングオシレータ４）と、第１周辺回路部（測定用周辺回路部５）と、第２リングオシレータ（参照用リングオシレータ６）と、第２周辺回路部（参照用周辺回路部７）とを備えている。第１リングオシレータおよび第２リングオシレータに電力を供給する電源と、第１周辺回路部および第２周辺回路部に電力を供給する電源とは異なる。容量測定回路１は、第１出力信号の周波数および第１リングオシレータに流れる電流値より算出した第１容量から、第２出力信号の周波数および第２リングオシレータに流れる電流値より算出した第２容量を差引くことで測定対象の容量を測定することができる。 （もっと読む）

【課題】本発明は、保護回路及びそれを含む絶縁抵抗測定装置に関する。
【解決手段】本発明の保護回路は、印加される電流が予め定められた第１の基準電流となるように電流制御を行う第１の定電流制御部と、第１の定電流制御部と並列に連結され、第１の定電流制御部に印加される電圧が予め定められた第１の基準電圧以上であると、第１の定電流制御部に印加される電流がバイパスされるように制御して電流制御を行う第２の定電流制御部と、を含み、高電圧が印加されても、定電流制御を行って絶縁抵抗を用意に測定することができる。 （もっと読む）

【課題】ロールツーロール法を用いて長尺状の基材に透明導電膜が形成されてなる被処理体の特性評価を効率よく行うことが可能な被処理体の検査装置を提供する。
【解決手段】本発明の被処理体の検査装置は、ロールツーロール法を用いて、長尺状の基材に透明導電膜が前もって形成されてなる被処理体の検査装置であって、前記透明導電膜のシート抵抗を求める第一手段と、前記透明導電膜のヘイズおよび透過率を求める第二手段と、を少なくとも備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 デルタ回路のような配線の測定対象部を測定する場合であっても、高周波の電圧源を用いて、短時間で且つ精度良く測定することができる測定方法及び測定装置を提供する。特に、上記の如く、従来技術に利用されるアンプを用いることなく測定を可能にする。
【解決手段】 測定対象となる第一測定部、第二測定部と第三測定部が三角結線にて形成される測定対象部の抵抗値を算出するための測定装置であって、二つの結線用接点と残り一つの結線用接点との間に電力を供給して算出される抵抗値を、夫々の場合に応じて算出し、その結果から、各測定部の抵抗値を算出することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】測定対象体を接続したときに、誤ったインピーダンスが表示される事態の発生を回避して、最初のインピーダンスの表示から正しいインピーダンスを表示させる。
【解決手段】測定対象体１４に流れる測定用電流Ｉ１および測定対象体１４の両端間電圧Ｖｍを予め規定された時間長の測定期間に亘って測定する測定処理を実行し、かつ測定用電流Ｉ１および両端間電圧Ｖｍを測定する都度、測定した測定用電流Ｉ１および両端間電圧Ｖｍに基づいて測定対象体１４の抵抗値Ｒ１を算出して表示部１１に表示させる算出処理を実行する処理部１０を備えると共に、測定対象体１４の接続・未接続を検出する接続検出部９を備え、処理部１０は、測定対象体１４の接続が接続検出部９によって検出されるまでは測定処理の実行を停止し、測定対象体１４の接続が接続検出部９によって検出されたときに、測定処理の実行を開始する。 （もっと読む）

【課題】セットキーを設けることなく、誤操作による最高測定用電圧の出力を回避する。
【解決手段】目盛板２１における抵抗目盛２３の表記領域から外れた位置に注意喚起マーク２４が表記され、処理部は、電圧選択スイッチ６によって複数の測定用電圧のうちの最高測定用電圧が選択されている状態において測定スイッチ７が操作されたときに、電圧生成部に対して最高測定用電圧を出力させる電圧出力処理の実行に先立ち、メータ部３に対して予め規定された時間だけ注意喚起マーク２４を指針２２で指し示させる注意喚起処理を実行し、注意喚起処理の終了後に、電圧出力処理、および測定された抵抗値をメータ部３の抵抗目盛２３上において指針２２で指し示させる抵抗値指示処理を実行する。 （もっと読む）

【課題】 従来においては、直流回路全体を停止して絶縁抵抗測定を行うことは、事実上、不可能であることから、点検作業等で停止した設備単位での絶縁抵抗測定を実施しており、測定ができない回路が実際に存在していた。また、直流回路を人工的に地絡させて絶縁抵抗を測定する方法では、回路全体の抵抗を測定することはできるが、部分的な絶縁抵抗を測定することはできない。
【解決手段】 直流電源系統の直流回路における一部分の絶縁抵抗や静電容量を、カップリングコンデンサと交流電源を用いて、活線状態のままで測定することができる測定器と測定方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】受配電機器の固体絶縁物の余寿命をオンラインで精度良く診断できる余寿命診断方法および装置を提供することを目的とする。
【解決手段】湿度に影響しない表面抵抗率の評価技術を用いることにより、受配電機器に含まれる診断対象の絶縁体の湿度に依存しない表面抵抗率を取得する（Ｓ１）。診断対象の絶縁体と同じまたは同等の材質からなるセンサ絶縁体を受配電機器に設置する（Ｓ２）。センサ絶縁体の表面抵抗率を逐次測定して、診断対象の絶縁体の表面抵抗率に逐次換算する（Ｓ３，Ｓ４）。診断対象の絶縁体の表面抵抗率と、診断対象の絶縁体の使用年数との間の相関関係を逐次求める（Ｓ５）。診断対象の絶縁物に付着するイオンの種類および付着量に基づいて、相関関係に対応する閾値を決定する（Ｓ６）。相関関係と閾値とから得られる寿命年数と現在の使用年数との差分によって余寿命が算出される（Ｓ７）。 （もっと読む）