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Fターム[2G036AA18]の内容

Fターム[2G036AA18]に分類される特許

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【課題】本発明は、使用寿命を自動的に測定できる電源及び電源使用寿命を測定する方法を提供する。
【解決手段】電源の温度を検出する温度検出ユニットと、電源内の電解コンデンサーのリップル電圧を検出するリップル電圧検出ユニットと、電源を初めに使用する時に検出した初期温度及び初期温度における初期リップル電圧を獲得して、初期リップル電圧を標準温度における等価リップル電圧に換算し、且つ電源が実際に作動する時に検出した作動温度及び作動温度におけるリップル電圧を獲得して、作動温度におけるリップル電圧を標準温度における等価リップル電圧に換算してから、2つの前記等価リップル電圧を比較することにより、電源の使用寿命の終わりに達したか否かを判断するプロセッサーと、を備える。 (もっと読む)


【課題】安定した温度特性計測を実現できる温度特性検査装置を提供する。
【解決手段】温度特性計測装置1は、電子部品2が収容される凹部12を有する電子部品搭載プレート10と、この電子部品搭載プレート10の電子部品2に対して直接又は間接的に熱を供給する温度制御ユニット30と、電子部品搭載プレート10に収容される電子部品の上面の少なくとも一部を覆うカバーユニット40と、電子部品2の接点に対して電気的接続を確保するプローブユニット50を備えるようにした。 (もっと読む)


【課題】結露等による撮影への支障や、漏電がない上、供試体の冷却効率が高く、かつコストダウンが可能な雷撃試験装置、雷撃試験システム、および雷撃試験方法の提供。
【解決手段】雷撃試験装置1は、雷撃電流が供給される供試体1を収容する暗箱31と、暗箱31に設置されて供試体1を撮影するカメラ32と、カメラ32により撮影される供試体1の撮影面1A、および供試体1の撮影面1Aとは反対側の面1Bの両面に沿って、冷却された冷却ガスを吹き付けるガス吹付器33と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】バリスタの短絡故障状態の短絡電流によるバリスタの破裂・発火を防ぐとともに、この短絡故障状態のとき電源再投入の場合にも被保護対象装置の被害を抑止する。
【解決手段】ヒューズ102と、過大サージに対して保護される被保護対象装置107と、過大サージを吸収するバリスタ106と、を備え、電源ラインに設けられたスイッチ111とこれをオフする励磁コイル110とからなる励磁コイル内蔵型遮断手段104を設け、バリスタ106に熱結合された温度スイッチ105を設け、励磁コイル110と温度スイッチ105の直列接続回路を電源ラインに接続し、バリスタ106が短絡状態で故障した場合、バリスタ106による発熱を温度スイッチ105が検知してオフ動作し、スイッチ111を遮断して電源ラインを切断し、バリスタの短絡状態故障時にスイッチ111のオン操作による電源再投入があった場合、温度スイッチ105による発熱検知で電源ラインを再切断すること。 (もっと読む)


【課題】電解コンデンサを搭載した電源装置において、簡易な構成によって電解コンデンサの異常を検知し、かつ、異常検知後も電源装置の使用継続を可能とする技術を提供する。
【解決手段】電源装置100は、商用交流電源21から供給される交流電圧を整流する整流回路1と、整流回路1によって整流された整流電圧を平滑する電解コンデンサC1とを有する直流電源部(整流回1、昇圧チョッパ回路2)と、直流電源部によって平滑された平滑電圧に基づく電力を、負荷5に供給するインバータ回路3と、電解コンデンサC1の電圧を検出対象として検出し、検出された電圧値の属する範囲に応じて、インバータ回路3が負荷5に供給する電力の大きさを制御する検出回路6とを備えた。 (もっと読む)


【課題】寿命判定のための特別なセンサを必要とせずに、エレベータの駆動系に含まれる回路素子の寿命を正確に判定して対処する。
【解決手段】負荷変動の無い状態でエレベータの乗りかご18を運転し、インバータ装置14に含まれるIGBT14aに一定の電流が通電されたときの電圧を測定回路20によって測定する。寿命判定部23では、この測定回路20によって測定された電圧を初期値と比較し、両者の差が予め設定された判定値を超えた場合に寿命が近いものと判定する。制御部24は、この判定結果を受け、発報部25を通じて警告ランプ26を点灯するなどして対処する。 (もっと読む)


【課題】被験電池を載せた試験基板を筐体の中に差し入れて充放電試験を行う際、被験電池の温度を正確に測定する。
【解決手段】筐体内の支持板23の下面に蝶番25を介して杆体26を回動自在に取り付け、杆体の先端が、筐体21に差し込んだ基板1上の電池5の上に垂れ下がるようにする。杆体26は先端に熱電対29を備え、これが、杆体が降下したとき、基板上の被験電池5に当接する。支持板23の両側に、それぞれ蝶番を介して、回動部材31を取り付けると共に、各蝶番にばねを組み込んで、回動部材31を上向きに回動するよう付勢する。このため回動部材31が杆体26を下から押し上げ、杆体はほぼ水平な姿勢を保つ。さらに、回動部材31の両側に下に向けてレバー33を取り付ける。基板1をレールに沿わせて筐体の中に押し込むと、基板1の先がレバー33に当接し、レバーを前に押しやりながら、基板1の先端はソケット3に嵌合する。 (もっと読む)


【課題】安価で高速な光トランシーバ検査システムを提供する。
【解決手段】セルフテスト機能内蔵IC17を用いたる受信側信号発生器12、エラー検出器13および送信側信号発生器14により、温度特性検査用基板206を構成する。また、光トランシーバ2を所定の温度に安定化させるために、光トランシーバと熱的に密接して配置されたペルチェ素子15とペルチェ素子15へ供給する電流を制御するペルチェコントローラ16により温度調節装置11を構成する。 (もっと読む)


【課題】比較的早い段階において、コンデンサの寿命を正確に予測する。
【解決手段】基準抵抗R22は、平滑コンデンサC11(コンデンサ)と直列に電気接続する。電圧生成部222(電圧生成回路・測定装置)は、平滑コンデンサC11と基準抵抗R22との直列回路に印加するバイアス付き交流電圧を生成する。電圧測定部223は、平滑コンデンサC11の両端電圧を測定する。抵抗算出部224(測定装置)は、電圧生成部223が測定した両端電圧に基づいて、平滑コンデンサC11の等価直列抵抗Rを算出する。寿命算出部242(寿命算出装置)は、抵抗算出部224が算出した等価直列抵抗Rに基づいて、平滑コンデンサC11の寿命を判定する。 (もっと読む)


【課題】電子部品の温度を目標の温度に調整して電子部品の特性を測定することができる技術を提供することを目的とする。
【解決手段】電子部品を支持する支持部の温度を所定の第1温度となるように調整し、プローブを保持する保持部の温度を所定の第2温度となるように調整する。そして、支持部に支持された電子部品の端子にプローブを接触させる。 (もっと読む)


【課題】自己診断機能を備えたマルチチャンネル変換器。
【解決手段】装置は、複数のチャンネルと、変換器と、制御ブロックと、カウンタとを含む。チャンネルは、第1の複数の信号を測定するために使用されることができる。変換器は、第1の複数の信号と第2の複数の信号とを比較するために使用されることができる。制御ブロックは、チャンネルおよび変換器を制御し、任意のチャンネルおよび変換器が異常状態を経験するかを判断するために使用されることができる。カウンタは、チャンネルおよび変換器が異常状態を経験する数を計数するために使用されることができる。 (もっと読む)


【課題】高周波変換回路100に搭載された電解コンデンサC1が寿命末期や過電圧などの異常時に電解コンデンサC1の安全弁が動作し、電解コンデンサC1の内部の電解液が噴出する現象を防止することを目的とする。
【解決手段】 電解コンデンサC1を搭載した交直変換回路10と、この交直流変換回路10に接続され、負荷Ldに高周波交流電流を供給する電力供給回路20を有する高周波変換回路100において、高周波交流電流を検出するとともに、温度変化に応じて容量が変化する高周波電圧分圧コンデンサC11を電解コンデンサC1の近傍に配置する検出回路30を備え、電解コンデンサC1の異常発熱を高周波電圧分圧コンデンサC11で検知して、電解コンデンサC1に印加される電圧と電流の少なくともいずれかを遮断若しくは低減する。 (もっと読む)


【課題】システム全体の動作から不安定動作に陥るポイントを検出することが可能な寿命検出装置および寿命検出方法を提供する。
【解決手段】温度補正部21,49は、温度センサ18,45からの温度情報を受けて温度補正値を算出する。リップルモニター部22,48は、電解コンデンサ19,44,46のリップル電圧をモニターして検出する。電流補正部23,47は、抵抗20,41を流れる電流を受けて電流補正値を算出する。結合部25,51は、上記のリップル電圧に温度補正値および電流補正値を結合し、寿命判定用の判定信号Wdを出力する。寿命判定部26,52は、判定信号Wdを受けて、Vccライン側および電力供給ライン側のシステムの寿命をそれぞれ判定する。アラーム信号生成/出力部60は、寿命判定部26,52での判定結果を受けて、寿命検出システム1A全体の寿命を判定する。 (もっと読む)


【課題】コンデンサの状態を推定すること。
【解決手段】第1のコンデンサと、第1のコンデンサの一部に配置される第2のコンデンサと、第2のコンデンサを測定して得られる測定情報を処理することにより第1のコンデンサの推定された状態を示す推定状態情報を出力する制御部と、を有するコンデンサの状態推定システムとしている。 (もっと読む)


【課題】電源素子の充電時と放電時における出力電圧や温度のような状態量を簡易かつ安価に計測できる状態計測装置を提供する。
【解決手段】セル計測回路11は、電池セルBの両端間に計測用コンピュータ12と、コンデンサC1とが互いに並列に接続されている。起動フォトカプラ14の出力側14bは、計測用コンピュータ12と、基準電圧発生IC15と、温度センサ16に接続されている。基準電圧発生IC15と温度センサ16の出力端子は計測用コンピュータ12の入力端子に接続されている。計測用コンピュータ12は、出力フォトカプラ18の入力側18aに接続されている。起動フォトカプラ14からの起動信号を受けて、計測用コンピュータ12は、各電池セルBnの出力電圧を検出し、温度センサ16から温度を読み込み、基準電圧発生ICから読み込んだ基準電圧に基づいて出力電圧と温度の大きさの演算を行う。 (もっと読む)


【課題】外気温の変化に伴う影響を受け難く、良好に課通電試験を行うことができる電力ケーブルの課通電試験方法、及びこの試験方法の実施に利用される電力ケーブルの課通電試験システムを提供する。
【解決手段】課通電試験システム1は、閉ループ状に配置された供試ケーブル2の導体20に電流を流す導体用CT3と、導体20の温度の測定に利用される導体通電用ダミーケーブル4とを具える。更に、システム1は、温度調整用金属層61を有する金属層通電用ダミーケーブル6を具え、この温度調整用金属層61と、ダミーケーブル4に具える通電用金属層41と、供試ケーブル2の導体20の外周に設けられた金属層21とをリード部62a,62b,62cで接続して閉ループ60Rを形成し、金属層21にも電流を流す構成である。金属層21への通電に伴う発熱により、導体20の温度を上昇することができる。 (もっと読む)


【課題】被試験物に結露する結露量を安定して制御することができる環境試験装置を提供することを課題とする。
【解決手段】環境試験装置100は、結露検出器8と調節器4を有している。結露検出器8は、受光部82が受光する反射光量の変化で被試験物W自体の結露状態を検出し信号を出力する。また、調節器4の演算部45は、結露検出器8からの信号と腐食状態評価データとを照合し被試験物Wの結露状態を判断する。そして、被試験物Wの結露状態に基づいて、調節器4の制御部42が温湿度発生器3を制御する。 (もっと読む)


【課題】 コンデンサの温度測定の精度を高めると共に、実際の使用状態から予測した製品寿命を示す残存時間を常に表示することが可能なコンデンサの寿命監視装置を実現する。
【解決手段】 保証温度で使用した場合の保証時間が与えられているコンデンサの寿命監視装置において、
前記保証温度と所定のサンプリング区間毎の前記コンデンサの近傍温度及び温度補正値に基づいて、前記保証温度に換算した時間を計算して累積する累積計算手段と、
前記累積計算手段の累積結果と前記保証時間の差に基づき、前記保証温度での残存保証時間を予測計算する保証時間予測手段と、
予測計算された前記残存保証時間と、前記コンデンサの近傍温度の平均値及び温度補正値に基づいて、前記コンデンサの製品寿命を予測計算する製品寿命予測手段と、
を備える。 (もっと読む)


【課題】 単一の搬送系上で、複数の温度で安定して特性測定の行える電子部品特性測定装置および電子部品選別装置を構成する。
【解決手段】 電気特性測定ユニット8a〜8cと排出ユニット9a〜9cとからなる常温での選別部、および、下搬送テーブル7に組み込まれたヒータ10a〜10cと電気特性測定ユニット8d〜8fと排出ユニット9d〜9fとからなる高温での選別部を、歯車状の上搬送テーブル13と円盤状の下搬送テーブル7とからなる搬送系に備える。また、該搬送系に、電子部品1を供給するパーツフィーダ5、リニアフィーダ6、パッケージングテープ14に良品部品をパッケージングするパッケージングユニット11をそれぞれ備える。 (もっと読む)


記憶装置試験システム(10)は、1以上の試験架台(100)と、この1以上の試験架台によって収容された1以上の試験用スロット(500、500a、500b、540)とを具え、各試験用スロットは、試験のために記憶装置(600)を運ぶ記憶装置運搬装置(400)を受けて支持するように構成される。当該記憶装置試験システムは、試験されるべき記憶装置を供給するための搬送ステーション(200)をも具える。この1以上の試験架台および搬送ステーションは、動作領域(318)を少なくとも部分的に画定する。当該記憶装置試験システムはまた、その動作領域内に配置され、かつ搬送ステーションと1以上の試験用スロットとの間で記憶装置を移すように構成されている自動化された機械装置(300)と、この動作領域を少なくとも部分的に囲み、これにより動作領域と試験架台を取り囲む環境との間の空気の入れ替えを少なくとも部分的に抑制するカバー(320)とを具えることができる。
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