【課題】ガス警報機が、電池交換をすることなく５年以上使用できるようにする。
【解決手段】センサ素子１０１は、凹部２０６が形成された基板２０１と、基板２０１の凹部２０６に架設された絶縁層２０２と、絶縁層２０２の上に形成されたヒータ層２０３とから構成されている。ヒータ層２０３は、例えば、図３の平面図に示すように、つづら折り状態に形成されている。なお、絶縁層２０２の上には、ヒータ層２０３を覆って絶縁層２０４が形成されている。このセンサ素子１０１によれば、例えば、ヒータ層２０３の配線幅および配線厚を１００ｎｍ程度としても、例えば層厚１０００ｎｍ程度の絶縁層２０２により支持することで、凹部２０６の上に架設させることができ、ヒータ層２０３の周囲の熱容量を低減することができる。 （もっと読む）

【課題】所望の定常温度になるように試料を加熱して測定を行う場合の測定時間を短縮できる熱定数測定装置を提供する。
【解決手段】加熱部４の赤外線ランプ４１によって試料１０に熱線（赤外線）を照射し、試料１０を所望の定常温度まで加熱することから、従来のように抵抗炉を用いて熱伝導により間接的に加熱する場合に比べて、定常温度に到達するまでの時間を大幅に短縮できる。また、加熱部４からの赤外線を試料１０の裏面へ入射しないように遮蔽するとともに、赤外線センサ部２の受光部２１へ入射しないように遮蔽する赤外線遮蔽部７を設けているため、赤外線センサ部２が試料１０の裏面から照射する赤外線の他に加熱部４からの赤外線を検出して、温度測定値の誤差が生じることを効果的に抑制できる。 （もっと読む）

【課題】新たな比熱の測定方法を提供する。
【解決手段】比熱測定装置は、熱浴１０、伝熱部２０、ヒーター３０、制御部４０、及び比熱算出部５０を備えている。熱浴１０は、一定の温度に保たれており、熱容量は試料１００の熱容量に対して十分大きい。熱浴１０は、例えば銅塊などの金属塊である。伝熱部２０は、熱浴１０と試料１００とを熱的に接続する。ヒーター３０は試料１００に熱を加える。制御部４０は、ヒーター３０への入力を制御する。比熱算出部５０は、試料１００と熱浴１０との温度差の変化、又は試料１００の温度の変化に基づいて試料１００の比熱を算出する。そして制御部４０は、ヒーター３０に、一定の値である第１の電力と、第１の電力とは異なる一定の値である第２の電力とを交互に入力する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、測定時間をより短縮することができ、そして、より高精度な測定を可能とする熱物性測定装置および該方法を提供する。
【解決手段】本発明の熱物性測定装置Ｄは、例えば、図１に示す例では、試料ＳＭの熱物性値として熱伝導率を測定するものであって、測定対象の試料ＳＭを加熱するために、互いに照射径の異なる第１および第２加熱光を試料ＳＭにそれぞれ照射する２個の加熱用照射部を備えている。すなわち、第１加熱光は、第１加熱用光源部１１−１、第１変調部８−１、ダイクロイックミラー２、レンズ４および演算制御部１６によって第１照射径で試料ＳＭに照射され、第２加熱光は、第２加熱用光源部１１−２、第２変調部８−２、反射鏡５および演算制御部１６によって第２照射径で試料ＳＭに照射される。そして、演算制御部１６によって、第１および第２加熱光のそれぞれに対応する２個の検出結果に基づいて試料ＳＭの熱伝導率が求められる。 （もっと読む）

【課題】空間分解を高くしても精度よく被測定物の熱物性を解析・評価することができる熱物性解析装置及びこの装置を用いた解析方法を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明は、検出光出射手段２０と検出光Ｂ２を測定部位１１ａまで導光する検出光用光学系４０とを有して測定部位１１ａに検出光Ｂ２を照射する検出光照射手段を備え、検出光用光学系４０は、光路長を変更するための光路長調節手段４２と、その下流側に設けられ、内部に入射した前記検出光が全反射を繰り返して伝搬されることでこの検出光Ｂ２を所定の方向に出射する光導波路４５と、を含み、光導波路４５は、入射面４５ａが検出光Ｂ２の到達する位置で当該検出光Ｂ２が全反射条件で光導波路４５内に入射可能な方向を向くように配設され、入射面４５ａの大きさが入射する検出光Ｂ２のビーム幅よりも大きいことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】積層試料を構成する物質の全ての熱物性値が未知の場合にも、熱物性値を同定することができる非定常加熱による多層積層材の熱物性同定方法を提供する。
【解決手段】４つの熱物性値を独立変数とした評価関数ＪをＪ＝Ｗ_SＪ_S＋Ｗ_PＪ_Pと定義する。なお、Ｗ_S、Ｗ_Pは重み係数、Ｊ_Sはステップ加熱した試料裏面の昇温曲線観測データと解析解との２乗誤差の積分値、Ｊ_Ｐはフラッシュ加熱した試料裏面の昇温曲線観測データと解析解との２乗誤差の積分値である。第１層目を銅、第２層目をアルミとし、真値で計算した解析解を観測データとして用い、第１層の熱伝導率λ₁、第２層の熱伝導率λ₂を未知パラメータとして変化させた場合、評価関数Ｊは、図に示すようになり、多峰性が認められるが、極値が観測され、昇温曲線に解析解曲線群を評価関数が最小になるようにフィッティングさせることにより熱物性値を決定することができる。 （もっと読む）

【課題】試料温度分布の不均一性や電磁干渉ノイズの問題を解消して任意の温度における比熱容量と半球全放射率の測定値の確度・信頼性を向上させる。
【解決手段】導電性試料に通電して急速加熱し、該試料を目標温度Ｔ_ｍを超えて任意の温度に到達させ、目標温度Ｔ_ｍにおける試料の加熱速度dT/dt、試料を流れる電流Ｉ、試料の電圧降下Ｖの測定データから次の関係式によりＸとＹを算出するステップ、


試料に流す電流を変えることで加熱速度を離散的に変えて上記のステップを繰り返すことにより複数組のＸとＹを算出するステップ、該複数のＸとＹの値に対して、近似的に導出したＸとＹの１次式の傾きと切片の値から比熱容量ｃ_ｐ及び半球全放射率ε_ｔを算出するステップを含む。 （もっと読む）

【課題】被測定物に成膜された金属膜の光浸透深さが不明であっても、当該被測定物についての熱物性を精度よく解析・評価できる熱物性解析方法、この方法を用いた熱物性解析装置、及びこの装置に用いられるプログラムを提供することを課題とする。
【解決手段】本発明は、被測定物１１上に膜厚の異なる第１金属膜１２ａと第２金属膜１２ｂとを成膜し、第１及び第２金属膜１２ａ，１２ｂに加熱光Ｂ１と検出光Ｂ２とをそれぞれ照射し、反射した検出光Ｂ２ａの第１反射光強度変化と第２反射光強度変化とをそれぞれ検出し、第１及び第２反射光強度変化の比較から求めた特定の時刻ｔ１に基づき第１反射光強度変化に対して所定の規格化を行い、解析モデルに基づく演算結果が前記規格化された第１反射光強度変化と所定範囲で一致するような解析モデルを探索し、これに基づき被測定物１１の熱物性値を決定することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】表面に黒化膜を形成することなく、金属／セラミックス接合基板の熱特性の面内分布を測定することを可能とする。
【解決手段】出力１００Ｗ以上、パルス長１０〜５００ミリ秒の高出力レーザーパルスを被検体の一つの主面全体にあたるように照射することで生じた、過渡的な温度の時間変化の面分布をサンプリングレート０．０１秒以下の高速赤外線カメラにより計測することで、金属／セラミックス接合基板の熱特性の面分布を測定する。 （もっと読む）

【課題】パルスフェイズサーモグラフィ法において、深い位置にある欠陥を検出することを目的とする。
【解決手段】対象物の表面をパルス加熱することと、温度検出手段によって設定時間において、設定されたサンプリング周波数で、加熱後の前記検査対象物の複数の部分の表面温度を検出することと、加熱してからの経過時間と表面温度との関係を示すデータに対してフーリエ変換を行い、周波数と位相との関係を示すデータに変換することと、設定された検査周波数における位相値を画像として表示することとを含み、前記温度検出ステップは、前記検査周波数を低くするために、前記設定時間を長くすること及び／又は前記サンプリング周波数を低くすることを含み、前記表示することは、前記検査周波数を低くすることによって、正常部における位相値と欠陥部における位相値との差を視認できるよう表示することを含む探傷方法を提供するものである。 （もっと読む）

【課題】Ｓ／Ｎ比を効果的に向上させる。
【解決手段】本発明の光熱変換測定装置は、所定の周波数で光強度が変化する励起光Ｌ１１を試料Ｓに照射する第１光照射部１１と、試料Ｓに測定光Ｌ２１を照射する第２光照射部１２と、試料Ｓを通った測定光Ｌ２１を検出する光検出器１３と、光検出器１３と第２光照射部１２との間の光路に設けられ、所定の偏光状態の光を光検出器１３へ向かう光路から遮断する偏光素子１４と、偏光素子１４に入射する測定光Ｌ２１の偏光状態を調整する偏光調整部１５と、励起光Ｌ１１の光強度が極小である期間に偏光調整部１５に入射した測定光Ｌ２１が所定の偏光状態になるように偏光調整部１５と第１光照射部１１とを所定の周波数で同期制御する制御部１６と、を備えている。 （もっと読む）

本発明は試料中の分析物を検出する方法に関する。本発明の方法は、エネルギーの変化を電気信号に変換できる焦電又は圧電要素及び電極、を有する変換器であって、その近くに少なくとも１つの試薬を有し、前記試薬が前記分析物又は前記分析物の複合体若しくは誘導体に結合できる結合部位を有し、前記分析物又は前記分析物の複合体若しくは誘導体の少なくとも１つに、放射線源により生成された電磁放射線を吸収して非放射性崩壊によりエネルギーを生成できる標識が付着している変換器に、試料を曝す工程、前記試薬に、一連の電磁放射線パルスを照射する工程、生成した前記エネルギーを、電気信号に変換する工程、前記電気信号及び前記放射線源からの電磁放射線の各パルスと前記電気信号の生成との間の時間遅延を検出する工程、を含んでなり、前記電磁放射線パルスのそれぞれと前記電気信号の生成との間の前記時間遅延が、前記変換器の表面からの距離が異なる１又は複数の位置のいずれかにある前記分析物の位置に対応し、前記標識が、ポリピロール又はその誘導体を含むナノ粒子である。本発明は、この方法の実施に適したキットも提供する。
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【課題】 熱電対に温度度検出とヒーター機能と試料保持機能を持たせ、温度制御機能、試料観察とデータ記録などに関する改善を図った加熱計測用熱電対システムを提供する。
【解決手段】
加熱計測切換部２２にて加熱電源部２３と計測部２４を交互に切換ながら、加熱電源部２３により試料６を保持した熱電対３に所定矩形波を通電して加熱し、計測部２４により次の所定時に熱電対３からの熱起電力に基づくアナログ温度信号をＡ／Ｄ変換部２５にてデジタル変換し、制御部２１にて変換されたデジタル温度信号を受け、続いてこのデジタル値の温度データをデジタル通信部経由で温度調節部に送り、温度調節部２７で受け温度調節するよう構成した加熱計測ユニット１と各種設定操作が出来る設定操作手段２とを備え、所定観察温度における試料の溶融状態や融体と固体の反応などを容易に直接観察出来るものとし、加熱電源部２３により熱電対３に通電する所定矩形波をサイクルごとに正と負と交番して通電するものとした。 （もっと読む）

検査試料内の検体の存在を検出するために、外部検査器具と共に使用するための分析装置が開示されている。この装置は、第１電極層と第２電極層との間で狭持された焦電性材料または圧電性材料の層から形成された変換器であって、焦電性材料の層または圧電性材料の層の熱または力に応じて電極層間に電圧を生じさせるように構成された変換器を備えている。また、装置は、変換器のための第１補強要素および第２補強要素であって、当該補強要素の間に狭持された変換器を平坦な状態に維持するための平面をそれぞれ画定する第１補強要素および第２補強要素を備えている。補強要素の各々は、変換器の対応する電極層の一部分を露出させて当該変換器を外部検査器具に電気的に接続させている。露出された部分は、互いに横方向にずらされて、当該露出された部分が、その全領域にわたって、変換器の反対側の面に設けられた補強要素によってそれぞれ支持されている。このような構成により、環境影響によって引き起こされるノイズを低減し得る。
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【課題】冷却塔に簡易に設置して冷却塔における付着物を精度良く検出することができる冷却水性状測定装置と、この冷却水性状測定装置を備えた冷却塔を提供する。
【解決手段】冷却塔３０内の水がポンプ３２、熱交換器３４を通って冷却塔３０に戻り、散水管３６から充填材４０に注ぎかけられる。充填材４０を伝わり落ちてきた水は、上開容器状の集水部４１で集水され、配管４２を介して上開容器状の受水部４３に注ぎ込まれ、配管４４から計測チャンバ４５に導入され、配管４６を介して流出する。計測チャンバ４５にセンサ１が設置されており、計測チャンバ４５内に導入された冷却水と接触する。このセンサ１の検出温度Ｔ_１，Ｔ_２によって、この循環冷却水系におけるスライム発生状況が検出される。 （もっと読む）

【課題】不透明な基板上に形成された薄い被測定物であっても、当該被測定物に対する熱物性についての解析の精度を維持することができる熱物性解析方法を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明に係る熱物性解析方法は、被測定物３０の表面に金属膜ｆｉを形成する成膜工程と、この金属膜ｆｉの形成後、当該金属膜ｆｉに表面側から加熱用パルス光Ｂ１ａと検出光Ｂ２ａとを照射する光照射工程と、金属膜ｆｉ表面で反射された検出光Ｂ２ａを受光してその受光強度の変化から当該金属膜ｆｉ表面の温度変化を検出する温度変化検出工程と、前記検出した温度変化のうち加熱用パルス光Ｂ１ａの照射による熱が金属膜ｆｉの内部でのみ拡散している時間が経過した後の温度変化に基づいて被測定物３０の熱物性を解析する解析工程と、を備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】電磁干渉ノイズや試料温度分布の不均一性の問題を解決して高温における導電性試料の比熱容量及び半球全放射率の測定結果の確度を向上させる。
【解決手段】導電性試料に通電して急速加熱し、該試料を目標温度Ｔ_ｍに到達させるステップ、目標温度に到達直後に該電流を変化させ、その直後の温度変化率dT/dt、試料を流れる電流Ｉ、試料の電圧降下Ｖの測定データから異なる該電流に対応する複数のＸとＹの値を次のＸとＹの関係式により算出するステップ、


により比熱容量ｃ_ｐ及び半球全放射率ε_ｔを算出するステップを含む。
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【課題】簡単に検出素子と比較素子との熱的バランスを評価することができるガスセンサの性能評価方法及びガスセンサの性能評価装置を提供する。
【解決手段】検出素子Ｒｓ及び比較素子Ｒｒを含むブリッジ回路Ｂに交流電源３から交流電圧を供給する。その後、検出素子Ｒｓ及び比較素子Ｒｒの温度が２００℃〜４００℃になるように交流電圧の大きさを調整する。次に、交流電圧を供給したときのブリッジ回路Ｂの中点電位差Ｖ０が最小になるようにブリッジ回路Ｂを構成する可変抵抗Ｒｖを調整する。可変抵抗Ｒｖを調整した後に検出素子Ｒｓ及び比較素子Ｒｒの温度が２００℃〜４００℃になるように交流電圧の大きさを再び調整する。その後、ブリッジ回路Ｂの中点電位差Ｖ０の大きさに基づいてガスセンサ２を評価する。 （もっと読む）

ターゲット材料の内部構造を試験するための検査システムが提供される。この検査システムは、生成レーザ、超音波検出システム、熱画像処理システム、及びプロセッサ／制御モジュールを備える。生成レーザは、ターゲット材料において超音波変位及び熱過渡を誘起するよう動作することができる、パルス・レーザ・ビームを生成する。超音波検出システムは、ターゲット材料における超音波表面変位を検出する。熱画像処理システムは、ターゲット材料における熱過渡を検出する。プロセッサは、ターゲット材料での検出した超音波変位及び熱画像の両方を分析して、ターゲット材料の内部構造についての情報をもたらす。
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【課題】熱物性評価の測定において，試料のうら面が光を透過させない状態であっても，その試料の微小な測定部位（おもて面）について，加熱光の照射による温度変化を高精度で測定することができること。
【解決手段】所定周期で断続するパルス光からなる基幹光Ｂ０を加熱光Ｂ１と検出光Ｂ２とに分岐させ，加熱光Ｂ１を第１の周波数Ｆ１で強度変調し，検出光Ｂ２を第１の周波数Ｆ１とは異なる第２の周波数Ｆ２で強度変調し，光路長調節機構８により加熱光Ｂ１と検出光Ｂ２との間で測定部位２０ａにおけるパルス光到達の時間差Δｔｐを生じさせ，測定部位２０ａに反射させた検出光Ｂ２’を光検出器１４により受光してその受光強度を検出し，その検出信号における周波数（Ｆ１＋Ｆ２）又は｜Ｆ１−Ｆ２｜の周波数成分を検波器１５により検出する。 （もっと読む）