衝突またはフラグメンテーションセル（８）の上流に配置されるイオン移動度分光計またはセパレータ（６）を含む質量分析計が開示される。イオン移動度分光計またはセパレータ（６）において、イオンがそのイオン移動度にしたがって分離される。イオンが衝突またはフラグメンテーションセル（８）に入射する際のイオンのフラグメンテーションエネルギーを最適化するために、イオン移動度分光計またはセパレータ（６）を出射するイオンの運動エネルギーを実質的に時間とともに直線的に増加させる。イオン移動度分光計またはセパレータ（６）のポテンシャルを変化させる期間中、イオン源（１）、イオンガイド（２）、四重極質量フィルタ（３）、必要に応じて設けられる第２の衝突またはフラグメンテーションセル（４）およびイオントラップデバイス（５）などのイオン移動度分光計またはセパレータ（６）の上流のイオン光学部品のポテンシャルは一定に保たれる。 （もっと読む）

アナログ−デジタル変換器を備えるイオン検出器を備える飛行時間質量分析器が開示される。イオン検出器からの出力信号はデジタル化され、イオン到着イベントに関係する到着時間および強度値が決定される。２つの信号から決定された到着時間が同じ時間ウィンドウに含まれる場合、到着時間は重み付けを行って加算され、強度値は合成される。
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衝突、フラグメンテーションまたは反応セル４を含む質量分析計を開示する。衝突、フラグメンテーションまたは反応セル４は、高フラグメンテーション動作モードと低フラグメンテーション動作モードとの間で繰り返し切り替えられる。質量スペクトルデータセットがこの２つの動作モードで得られる。小数質量フィルタを１つまたは両方のデータセットに適用する。特に、対象の親または前駆イオンに関係するフラグメントイオンまたは代謝産物を、該対象の親または前駆イオンと同様の小数質量を有することに基づいて同定する。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】親イオンが混合物から溶離するのと実質的に同時に生成されたと分かった娘イオンを照合することによって親イオンを同定する方法を開示する。イオン源（１）から出射されたイオンは、電子捕獲解離、電子移動解離または表面誘起解離フラグメンテーションデバイスを含むフラグメンテーションデバイス（４）へ移送される。フラグメンテーションデバイス（４）は、イオンが実質的にフラグメンテーションされ、娘イオンを生成する第１のモードとイオンが実質的にフラグメンテーションされない第２のモードとの間を交番しておよび繰り返し切り換えられる。質量スペクトルは、両方のモードにおいてとられる。１回の実験稼動の終了時に、親および娘イオンが２つの異なるモードにおいて得られた質量スペクトルを比較することによって認識される。娘イオンは、それらの溶離時間の一致度にしたがって特定の親イオンと照合され、次いでこれによって親イオンを同定することが可能となる。 （もっと読む）

フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴質量分析法（ＦＴＩＣＲ−ＭＳ）についての今までにない方法及び装置である。ＦＴＩＣＲ−ＭＳ装置は、複数の質量対電荷（Ｍ／Ｚ）の部分的な範囲を有するイオン化分子を受け取ることができるＩＣＲ前の質量分離及びフィルタリング装置を有する。ＩＣＲ前の質量分離及びフィルタリング装置は、イオン化分子を複数のより小さなパケットに分割し、より小さなパケットそれぞれが、Ｍ／Ｚの部分的な範囲のうちの１つの範囲内にある。ＦＴＩＣＲ−ＭＳ装置中の磁石は、制御された磁場を与える。複数のイオンサイクロトロン共鳴（ＩＣＲ）セルは、制御された磁場中で直列に配置され、独立して動作する。イオントラッピング装置は、複数のＩＣＲセルのうちの１つのＩＣＲセルへ送る前に、ＩＣＲ前の質量分離及びフィルタリング装置を接続し、複数のより小さなパケットのうちの１つのパケットを格納する。
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【課題】液体試料の被検体をＭＳ被検体として質量分析計に提示する方法を開示する。
【解決手段】この方法は、(ａ)(ｉ)液体試料を、マイクロ流体デバイスのマイクロチャンネル構造(Ｉ)であって、ＭＳ−ポートをも含む構造の試料引入れポート（Ｉ）に適用し、(ii)マイクロチャンネル構造（Ｉ）において液流により被検体を輸送することによって、被検体をＭＳ被検体に変換させ、そして(iii)ＭＳポートを介して質量分析計にＭＳ被検体を提示する工程を含み、そして(ｂ)慣性力を用いてマイクロチャンネル構造（Ｉ）の少なくとも一部内で液流を作り出すことを特徴とする。(ａ）ディスクの面に垂直な対称軸、（ｂ）引出しポートよりも短い半径距離のところに内部適用領域を含み、ＭＳポートおよび試料引入れポート（Ｉ）を含むマイクロチャンネル構造（Ｉ）を含むマイクロ流体ディスクを開示する。 （もっと読む）

【課題】 荷電粒子を衝突セルに導入するための装置を提供する。
【解決手段】 本発明の装置は、イオンと荷電粒子とを混合するための装置であって、イオン出口端を有する多重極装置と、イオン出口端に接続されている質量分析器と、質量分析器に接続されている荷電粒子源とを備え、荷電粒子源によって生成される荷電粒子が質量分析器を通って、イオン出口端を介して、多重極装置内に入るように構成されていることを特徴とする。 （もっと読む）

イオン検出器からの電圧信号が分析される質量分析方法が開示される。各電圧信号の二階微分を取得し、観測された電圧ピークの開始及び終了時間を決定する。次いで、各電圧ピークの強度及び平均時間を決定し、その強度及び時間値を記憶する。次いで、複数回の実験実行から観測された各電圧ピークに関係する強度及び時間値を組み合わせることにより、中間の合成マススペクトルを形成する。次いで、時間及び強度データの種々のペアを積分して平滑な連続マススペクトルを生成する。次いで、連続マススペクトルは、連続マススペクトルの二階微分を決定することによってさらに処理し得る。連続マススペクトルにおいて観測される質量ピークの開始及び終了時間を決定し得る。次いで、連続マススペクトルにおいて観測される各質量ピークの強度及び質量電荷比を決定し得る。次いで、イオン種ごとの強度値及び質量電荷比だけを含む最終の離散マススペクトルを表示又は出力し得る。 （もっと読む）

【課題】 ＧＣ／ＭＳでカラム入口切除等の分離条件の変更を行った場合に、その前に設定してあるＳＩＭ測定パラメータを１つずつ変更しなければならず面倒である。
【解決手段】 分離条件の変更の後、所定の参照成分を含む標準試料を分析すると、データ処理部３１ではその分析により得られるクロマトグラムに現れている参照成分のピークの保持時間の実測値を求め、その実測値と分析条件情報格納部３４に格納されている分離条件変更前の参照成分の保持時間の情報とに基づいて、目的成分のピークの保持時間のずれを推定して分析条件情報格納部３４に格納されているＳＩＭ測定パラメータの各イオンセットの測定時間範囲を修正する。目的試料を分析する際に修正されたパラメータに従ってＳＩＭ測定を行うことにより、オペレータが所望する測定が行える。 （もっと読む）

開示される質量分析計は、エレクトロスプレーイオン化イオン源（１１）と電界非対称イオン移動度分光分析デバイス（１３）とによって、燃焼室（１６）と同位体比質量分析器（１９）とのインターフェースがとられる高圧液体クロマトグラフィシステム（１０）を備える。検体分子と溶媒分子は、イオン源（１１）によってイオン化される。所望の検体イオンは、電界非対称イオン移動度分光分析デバイス（１３）によって燃焼室（１６）へ実質的に前向きに移送され、他方、望ましくない溶媒イオンは、電界非対称イオン移動度分光分析デバイス（１３）によって実質的に減衰される。
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試験を実施することによって装置の清浄度を証明するためのシステムおよび方法を記述する。このシステムは、ターゲット信号強度を計測するとともに、装置サンプルのｎ_２≧１個の試験信号強度を計測するためのイオン移動度分光分析計を含む。また、このシステムは、特定の信頼度レベルに関連する統計的信頼度レベルパラメータの値を取得する統計モジュール、および統計的信頼度レベルパラメータの値およびｎ_１個のターゲット信号強度とから信号強度の合格範囲を取得する合格範囲モジュールを含む。システムは、さらに、ｎ_２個の試験信号強度から平均試験信号強度を取得するための平均化モジュール、および平均試験信号強度が合格範囲にある場合には、装置が試験に合格すると判定し、装置が特定の信頼度レベルの範囲内で有意に清浄であることを指示する結果モジュールを含む。
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質量スペクトルにおける歪みは、式（Ｉ）で表されるｉ番目の時間ビンにおいて到着したイオンの数Ｑ_iを決定または推定することによって補正される質量分析の方法が開示される。


ｑ_iは、ｉ番目の時間ビン（ｔｉｍｅ ｂｉｎ）において記録されたイオン到着イベントの実際の総数であり、ｘは、推定された不感期間に対応する時間ビン数に対応する整数である。 （もっと読む）

電界強度の関数としてのイオン移動度の差に従ってイオンを分離する装置６が開示される。装置６は、上側電極７ａ、下側電極７ｂ、および複数の中間電極８を含む。非対称電圧波形が上側電極７ａに印加され、ＤＣ補償電圧が下側電極７ｂに印加される。 （もっと読む）

【課題】イオンを増強しかつ効率的にする。
【解決手段】イオン源は、温度センサを含む。加熱デバイス及び温度センサは、関連して動作するように接続され、閉フィードバックループとして作用し、それによって事前に設定された一定の温度で気体がイオン化領域に供給される。またマトリクスベースのイオン源を有する質量分光計システムにも適用する。所定の温度に加熱される気体を使用するイオンの生成にも適用する。 （もっと読む）

セグメント化リニアイオンガイド又はイオントラップを備えるイオンガイド又はイオントラップ（１）が開示される。イオンは、電極にＡＣ又はＲＦ電圧を印加することによってイオンガイド又はイオントラップ（１）内に半径方向に閉じ込められる。静的ポテンシャル井戸がイオンガイド又はイオントラップ（１）の軸方向長さの少なくとも一部に沿って維持される。経時変化する均一な電界がイオンガイド又はイオントラップ（１）の軸方向長さの少なくとも一部に沿って印加される。静的な軸方向ポテンシャル及び経時変化する軸方向に均一な電界の組み合わせによって、イオンはイオンガイド又はイオントラップ（１）から実質的に共鳴によらずに排出される。 （もっと読む）

セグメント化直線イオンガイドまたはイオントラップを備えるイオンガイドまたはイオントラップ１が開示される。イオンは、電極にＡＣまたはＲＦ電圧を印加することによってイオンガイドまたはイオントラップ１内に半径方向に閉じ込められる。イオンは、実質的に共鳴によらずにイオンガイドまたはイオントラップ１からイオンが排出されるように軸方向に振動または変調された軸方向二次ポテンシャル井戸内にトラップされる。 （もっと読む）

イオンガイドを備えた質量分析計を開示する。前記イオンガイドは、壁を有する中空で管状の導体（１）を備えている。前記管状の導体（１）の壁に、１以上の電極が設けられている。出口開口（３）が、１以上の電極（２）の下流で、前記管状の導体（１）の壁に設けられている。前記１以上の電極（２）にＡＣまたはＲＦ電圧を印加し、前記管状の導体（１）の壁と１以上の電極（２）との間に、ＤＣ電位差を保持する。ＤＣ電圧勾配と、電極（２）に印加するＡＣまたはＲＦ電圧との組み合わせにより、イオンは、好ましくは前記１以上の電極（２）に近接した領域に径方向に閉じ込められる。前記管状の導体（１）の内側と管状の導体（１）の外側との間に圧力勾配を保持することにより、かつ／または出口開口（３）を通してイオンを抽出する働きをするＤＣ電場を保持することにより、出口開口（３）を通してイオンガイドからイオンを抽出することが好ましい。 （もっと読む）

直交加速式飛行時間質量分析器（１３）に連結されたＭＡＬＤＩイオン源を備えた質量分析計を開示する。前記質量分析計は、特定の親イオンが質量フィルターにより選択され、第１の軸方向エネルギーをもつように加速される、第１機器設定で操作される。そして、フラグメントイオンは、第１遅延時間の後直交方向に加速され、第１質量スペクトルデータが得られる。続いて、前記質量分析計は、親イオンの軸方向エネルギーを増加させ、その結果得られるフラグメントイオンが、短縮された遅延時間の後、直交方向に加速される、第２機器設定で操作される。そして、第２質量スペクトルデータが得られる。その後、第１および第２質量スペクトルデータを組み合わせ、最終的な複合質量スペクトルを提供する。 （もっと読む）

第１の四重極ロッドセット質量フィルタ（７）、衝突セル（８）、イオン移動度分光計またはセパレータ、イオン移動度分光計またはセパレータの下流に配置されたイオンガイドまたは衝突セル（１３）、第２の四重極ロッドセット質量フィルタ（１６）、およびイオン検出器（１５）を含む質量分析計が開示される。 （もっと読む）

１層以上の平面状、板状、又は網状中間電極（２）の層を備えたイオンガイド（７ａ）を開示する。第１電極（８ａ〜８ｅ）の第１アレイが上面に設けられ、第２電極（９ａ〜９ｅ）の第２アレイが下面に設けられている。イオン案内領域は、イオンガイド（７ａ）内に形成される。好ましくは、前記イオンガイド（７ａ）を通して、又はこれに沿ってイオンを推進、前進、強制移動、又は加速させるため、前記第２電極（８ａ〜８ｅ、９ａ〜９ｅ）の第１及び第２アレイに、１以上の過渡ＤＣ電圧又は電位を印加する。
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