製薬化合物の潜在的に未知の代謝産物を検索する方法が開示される。製薬化合物の正確な質量は一般に既知であり、整数質量若しくは質量電荷比成分及び小数質量若しくは質量電荷比成分の形態とすることができる。可能性のある代謝産物は、親製薬化合物の小数質量若しくは質量電荷比に実質的に極めて同様である小数質量若しくは質量電荷比成分を有することに基づいて検索できる。
（もっと読む）

結合されたシリコンオン絶縁物（ＢＳＯＩ）ウエハから、マイクロエンジニアリングされた質量分析器を製造する方法が、四極子分析器を参照して記載される。四極子幾何形状は、モノリシックブロック４１０を形成するようにともに結合される２つのＢＳＯＩウエハ２００を使用して達成される。外側シリコン層に形成されたディープエッチングされた特徴及びばねは、円筒状金属電極ロッド３００を位置付けるために使用される。アセンブリの精度は、リソグラフィとディープエッチングとの組み合わせにより、かつ結合されたシリコン層の機械的構成度合により決定される。内側シリコン層に形成されディープエッチングされた特徴は、イオン入口及びイオン収集光学部品を画定するために使用される。また、流体チャネルなどの他の特徴を組み込むことができる。
（もっと読む）

本発明は、飛行時間型（ＴＯＦ）質量分析法（２００）を実施するための装置および方法を提供する。本発明のＴＯＦ質量分析計は、１個または複数のイオン収束電気セクタ（２５０、３５０、４５０および５５０）を備える。少なくとも１個の電気セクタは、イオン光学素子（２６６、２６７）と結合する。イオン光学素子（２６６、２６７）は、少なくとも１個の調節可能な電極を備え、該調節可能な電極（２６０、２６１）は、イオン光学素子が結合される電気セクタ（２５０、３５０、４５０および５５０）に入るか（７０）、または出て行く（７２）イオンに印加される電位を変更することが可能である。
（もっと読む）

イオン源の陽極内部に適合するような取外し可能な陽極ライナー：陽極ヘ放出するような電子、ここで任意の絶縁堆積物が、陽極ライナーの内部に付着する、そのため、早期の取り替え又は取り除きをしないで効果的に使用可能年数を増大させること。
（もっと読む）

本発明は、コンパクトかつ広範なイオン質量の範囲にわたって高度な質量分解能を有する飛行時間型質量分析器、および、それを設計する方法を提供する。本飛行時間型質量分析器において、本設計方法は、所定の連続関数を用いて時間依存性のある抽出ポテンシャルの強度を低減してイオンのエネルギ分布を拡大させ、質量の範囲にわたる高質量分解能を実現し、他方、加速領域からイオン・ミラーにおいて適用されるポテンシャルの時間依存性およびその大きさ、ならびに、時間依存性のある抽出ポテンシャルを変更することはなく、質量分析器の物理的寸法を変化させることもなく、被分析イオンの高分解能分析を実現する。本設計方法により、全長４６センチメートル未満の飛行時間型質量分析器において質量の大きさのオーダーでおよそ５オーダーにわたり、およそ１０，０００もしくはそれ以上の質量分解能が実現される。
（もっと読む）

液体クロマトグラフィー質量スペクトルデータが質量電荷比および保持時間に基づいて確率的にクラスタリングされる、質量分析計および質量分析方法が開示される。
（もっと読む）

マスク（１０）は第１マイクロチャネルプレート（２ａ）と第２マイクロチャネルプレート（２ｂ）との間に設置される、質量分析計のためのイオン検出器が提供される。マスク（１０）は、実質的に同時に２つの集電アノード（５、６）を照射する第２マイクロチャネルプレート（２ｂ）からの二次電子雲を生成するイオン到達イベントを防止する。また、マスク（１０）は強度が著しくばらつく電子雲が出射されることを防止する。
（もっと読む）

質量分析計の一部を構成するイオン移動度セパレータ（１２）と直列である２つの平行な電極（９ａ、９ｂ）を含むＦＡＩＭＳ装置を含む質量分析計が開示される。イオンは、電場強度に伴うイオン移動度の変化率に応じてＦＡＩＭＳ装置（９ａ、９ｂ）において分離される。ＦＡＩＭＳ装置（９ａ、９ｂ）から前方に伝達されたイオンは、その後、複数の電極（１２）と任意のイオントラップ領域（３３）とを含むイオンセパレータ装置１２に送られる。イオンは、ＡＣ又はＲＦ電圧を電極（１７）に印加することにより、イオンセパレータ内に半径方向に制限され、時間の関数として一定のままでありうるか又は経時的に変化しうる軸方向ＤＣ電圧勾配を印加することによりイオン移動度に応じて分離される。
（もっと読む）

期間ΔＴ₁におけるゼロ透過率動作モードと期間ΔＴ₂における非ゼロ透過率動作モードとを繰り返し切り換えてイオンビームを減衰させるイオンビーム減衰器を含む質量分析計が開示されている。イオンビームの減衰の程度は、マークスペース比ΔＴ₂／ΔＴ₁を変化させることによって変化させることができる。イオンビーム減衰器は、イオンをパケットまたはパルスで放出し得るが、イオンのパケットまたはパルスは、イオンビーム減衰器の下流に配置された比較的高圧のイオンガイドまたはガス衝突セルによって、連続したイオンビームに変換され得る。
（もっと読む）

質量分析計のような分析機器であって、この機器は、制御可能な電磁場を有する磁気セクションを有する。この電磁場を制御することは、その磁気セクション内のベースプレートの温度を制御することにより、この磁気セクション内に配置されるコイルを通過する電流を制御することにより、磁気分路子を磁石のヨークの一部にわたって配置することにより、あるいは単独にまたは組合せて上記のもののいずれかにより達成される。磁気分路子は、この磁気セクション内に置かれた第１の対の永久磁石の、残留磁束密度の温度係数とは反対の残留磁束密度の温度係数を有するような構成である。
（もっと読む）

1,1,1,2-テトラフルオロエタンにおける有機不純物の含有量を分析する方法であって、(a) 1,1,1,2-テトラフルオロエタンがガスクロマトグラフィ操作にかけられ; (b) 有機不純物が質量分析法によって検出される操作が行われ、ここで、前記方法がこれに追加される特定の条件を用いて行われ及び/又は前記方法が明細書に含まれる品質管理試験データ又は妥当性確認データのいずれかを使って行われる、前記方法。 （もっと読む）

質量分析計の焦点面検出器アセンブリは、この質量分析計の焦点面を横切るイオンを検出するような形態の検出器、およびこの焦点面に平行な平面に、この質量分析計の磁石を出るイオンが、上記イオン検出器と接触する前に上記メッシュを通過するように位置決めされるように横たわる電気伝導性メッシュを含む。このメッシュは、回路接地に対して低電圧電位で維持され、これは、マイクロチャネルプレート電子増倍管のようなその他のデバイスからの高電圧電荷から上記磁石を通過するイオンを遮蔽する。このメッシュは、上記磁石に直接取り付けられ得るか、またはいくらか離れた距離に位置決めされる。上記検出器のアレイは、ファラデーカップ検出器アレイ、ストリップ電荷検出器アレイ、またはＣＣＤ検出器アレイを含む、任意の適切なデバイスを含み得る。
（もっと読む）

ＬＣ／ＭＳシステムにより生成されるクロマトグラムおよび質量スペクトルは、スペクトルデータおよびクロマトグラフデータの二次元データ行列を作成することにより分析される。二次元行列は、データ行列の連続する列内に、ＬＣ／ＭＳシステムの質量分析計部分により生成されるスペクトルを入れることにより作成することができる。この方法により、データ行列の行は、クロマトグラフデータに対応し、データ行列の列は、スペクトルに対応する。イオンに関連するピークをシステムが検出する能力を高めるために、二次元フィルタが指定され、データ行列に適用される。所望のベースラインに従って、二次元フィルタが指定される。階数１および階数２フィルタは、計算効率の改善のため指定できる。二次元フィルタを適用する一方法では、データ行列と二次元フィルタとの畳み込みにより出力データ行列を生成する。検出されたイオンに対応するピークは、出力データ行列中で識別される。例えば、ピークのパラメータが決定され、定量化、または指定された保持時間窓内に入る保持時間を持つ、もしくは指定された質量対電荷比窓内に入る質量対電荷比を持つイオンに関連するピークを同定することによるクロマトグラムもしくはスペクトルの簡素化を含む後処理のために格納される。 （もっと読む）

質量分析計に使用されるイオン源で、電子ビームを放出する電子エミッタアセンブリ、イオン化室、電子レンズおよび少なくとも１つの電極を具備する。前記電子エミッタアセンブリは、基板に固定されており前記電子ビームを放出するカーボンナノチューブ束と、前記電子ビームの放出を制御する第１制御格子と、前記電子ビームのエネルギーを制御する第２制御格子を含む。前記イオン化室は、前記電子ビームを導入させる電子ビーム入口と、試料を導入する試料入口と、イオン化試料分子を出すイオンビーム出口を含む。前記電子レンズは、前記電子エミッタアセンブリと前記イオン化室の間に配置され、前記電子ビームを集束する。前記少なくとも１つの電極は、前記イオンビーム出口の近傍に配置され、前記イオン化室から出る前記イオン化試料分子を集束する。

（もっと読む）

本発明は、１つ以上の細胞を含む反応媒体の分析のための方法及び装置に関し、これは、自動化された高スループットの分析を実施するために使用され得る。 （もっと読む）

【解決手段】
多重反射飛行時間型質量分析計（ＭＲ−ＴＯＦ ＭＳ）及び分析方法を開示する。イオンの飛行経路が、静電ミラーによって軌道に沿って折り返される。適度な機器サイズを維持しながら飛行経路が長いほど分解能が高くなる。 （もっと読む）

本発明に係るタンデム質量分析法においては、リニアイオントラップ及び飛行時間型質量検出器を用いて質量スペクトラム群を収集することによりＭＳ／ＭＳ法を実行する。従来から認められている標準的な構成では、前駆イオン群をイオントラップ内に収蔵し質量分析した上で、そのイオン群を衝突セルへと軸方向放出してフラグメント化し、飛行時間型検出器内でそのフラグメント群の質量分析を行っていた。本発明においては、狭めｍ／ｚ値域内イオン群を直交方向に放出し、そのイオン群によるリボン状ビームを衝突セル内に注入する。このようなビーム形状を有する高エネルギイオン群を受け入れられるよう、衝突セルは平板状とする。ある狭めｍ／ｚ値域が放出されたら次の狭めｍ／ｚ値域を放出するというようにイオントラップ内にイオン群を保持しつつ放出を行うことによって、注目している前駆イオン群全体をカバーする。

（もっと読む）