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Fターム[2G041DA16]の内容

その他の電気的手段による材料の調査、分析 (22,023) | イオン源 (4,018) | 粒子衝撃、FAB、SIMS (265)

Fターム[2G041DA16]に分類される特許

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質量分析、特にマトリックス支援レーザ脱離イオン化(MALDI)質量分析を使用して、非消化で非断片化状態の共有結合的に安定化した超分子標的−リガンド複合体の無傷のイオンの存在を分析もしくは他の方法で検出する、又はそのイオンの正体を決定する方法ならびに種々の生物学的用途、たとえば抗体の特性解析、薬物発見及び自動化又はより高スループットの用途を含むタンパク質複合体形成研究におけるこれらの方法の使用。
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【課題】
複数のタンパク質の混合物である生体由来試料に含まれる標的タンパク質を検出・同定し、定量するための、新規タンパク質定量法を提供する。
【解決手段】
標的タンパク質に対するペプチドを合成し、安定同位体で標識した後、内部標準として生体由来試料に既知量を添加する。その後、プロテアーゼにてタンパク質をペプチドへ消化して、液体クロマトグラフィーを用いてペプチドの分離を行い、質量分析計で分析を行なう。既知量の内部標準ペプチドとタンパク質由来ペプチドのシグナル面積を比較することで、定量を行なう。 (もっと読む)


イオン移動度スペクトロメータは、ドリフト室(7)の中央に一対の電極(13A及び13B)を具える。かかる電極(13A)と電極(13B)との間にて高電界が印加され、かかる電界は、イオンを充分に修飾(フラグメント化など)し、イオンの捕集プレート(8)への移動度が変化する。このことにより、選択されたイオン又はイオンクラスタの飛行時間が修正され、IMSスペクトルにおける不明瞭なピークを同定することが可能となる。
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【課題】 TOF−SIMS装置による定量分析方法に使用される標準試料は、その表面への有機物の付着や表面酸化の影響を大きく受けるため、信頼できる結果が得られなかった。
【解決手段】 TOF−SIMS装置内にて作製した標準試料を用いることにより、上記の問題を解決した。標準試料は、例えばスパッタリングにおける再付着現象を利用して既知の濃度の金属汚染を生じさせることにより作製することができる。本発明によれば、シリコン基板上のTOF−SIMSによる金属汚染の定量を正確に行うことができる。 (もっと読む)


本発明は、タンパク質、ペプチドまたはそれらのフラグメントの不均質サンプルを分析するための方法を提供し、この方法は、(a)アレイ上の間隔をあけて離れた規定された位置に各クラスのメンバーを結合させることによって、タンパク質もしくはペプチドまたはそれらのフラグメントの不均質サンプルを不均質なクラスに分離するステップであって、各クラスのメンバーが、そのクラスに共通するモチーフを有するステップ;および(b)各クラス中のタンパク質またはペプチドもしくはそれらのフラグメントを特性決定するステップを含む。
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標的(例えば生体分子)をスクリーニングするための一般システムを説明する。
スクリーニングは、以降の生物学的試験で見られるように、標的の自然発生的な低活性または不活性状態に対して結合し、標的機能のインヒビターとして作用する化合物の発見に用いることがでる。本発明は、以降の生物学的試験で見られるように、標的の自然発生的な低活性または不活性状態に対して結合し、標的機能のインヒビターとして作用する化合物を発見するために、新規な様式で、標的(例えば生体分子)をスクリーニングするための一般システムに関する。 (もっと読む)


検体のイオン化を行う非放射性大気圧装置は、大気圧チャンバを備え、この大気圧チャンバは、キャリアガスの吸気口と、前記チャンバの一端に設けられた第1電極と、他端に設けられキャリアガス中で放電を発生させることにより中性の準安定励起化学種を生成させる対電極とを有する。前記励起化学種と接触させて電子を発生させるために、グリッドが任意で設けられる。前記励起化学種またはこれから発生した電子を含むキャリアガスは、大気圧、略接地電位で検体に誘導され、検体イオンを生成する。
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物質の質量スペクトログラム・データを得るための方法と装置である。この方法は、(a)物質にクロマトグラフィ・プロセスを行ってその出力をイオン化し、(b)出力の現在の質量スペクトログラムを得、(c)ステップ(b)で得た現在の質量スペクトルと出力の1つ以上の前に収集した質量スペクトルとを比較して速く立ち上がる質量信号を有する少なくとも1つのイオンを同定し、(d)同定されたイオンをフラグメント化して、得られる質量スペクトルを記録する。質量分析計装置は、クロマトグラフィ・カラムと、質量分析計であって、クロマトグラフィ・カラムの出力をイオン化するためのイオン源を含み、選択された質量のイオンを分離し、フラグメント化し、質量分析する機能を有する質量分析計と、質量分析計を動作させるようプログラムされたデータ依存のデータ収集コントローラであって、出力の現在の質量スペクトログラムを得て、現在の質量スペクトルと出力の1つ以上の前に収集した質量スペクトルとを比較して速く立ち上がる質量信号を有する少なくとも1つのイオンを同定し、前記同定されたイオンをフラグメント化して、得られる質量スペクトルを記録するコントローラと、を含む。
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開示される質量分析計は、エレクトロスプレーイオン化イオン源(11)と電界非対称イオン移動度分光分析デバイス(13)とによって、燃焼室(16)と同位体比質量分析器(19)とのインターフェースがとられる高圧液体クロマトグラフィシステム(10)を備える。検体分子と溶媒分子は、イオン源(11)によってイオン化される。所望の検体イオンは、電界非対称イオン移動度分光分析デバイス(13)によって燃焼室(16)へ実質的に前向きに移送され、他方、望ましくない溶媒イオンは、電界非対称イオン移動度分光分析デバイス(13)によって実質的に減衰される。
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イオンをイオン源(22)から検出器(34)へ導くための流路(16)を形成し、且つ、流路(16)におけるイオン(36)の質量対帯電比を分離するための電場を作る少なくとも2つの電極(12、14)と、電場に対向する流体方向(28)とを含む直交流型イオン移動度分析器(CIMA)(12)。
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本発明は、未反応イオンと反応生成物イオンの両方から質量スペクトルを収集する、反応セルを含む質量分析計に関する。より詳細には(但し、他を除くものではない)、本発明は、前駆物質およびフラグメントイオンから質量スペクトルを収集するタンデム型質量分析法に使用できることが分かった。本発明は、イオンを、質量分析器へ送る前に、フラグメント化またはその他の処理のための反応セルへ送る配置を提示する。あるいは、イオンは、迂回経路に沿って質量分析器へ直接進むことができる。 (もっと読む)


本発明は反応セルを含む質量分析計およびそのような質量分析計を使用する方法に関する。特に、限定はしないが、本発明は、タンデム質量分析計およびタンデム質量分析に関する。本発明は、イオンを、質量分析計の長軸に沿って順方向に移動し、中間イオン貯蔵部を通過し、その後に反応セルに入るように誘導し、イオンを反応セル内で処理し、処理イオンを、長軸に沿って戻し、中間イオン貯蔵部にもう一度入るように放出し、処理イオンの1つまたは複数のパルスを軸外方向で質量アナライザまで放出する工程を含む、長軸を有する質量計を使用する質量分析法を提供する。
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【課題】 ナノレベル構造組成観察装置及びナノレベル構造組成観察方法に関し、試料探針の位置合わせを容易にするとともに、大気中での汚染や酸化を防止する。
【解決手段】 ナノレベル構造組成観察装置内の試料探針部2に対向する形で、試料加工手段3を備える。 (もっと読む)


本発明は、一般に、多重反射型飛行時間質量分析計(MR TOF MS)に関する。平面MR TOF MS(11)の質量分解能を改善するために、MR TOF分析計(11)との間のイオン移送のために空間等時性で湾曲したインタフェース(21)を使用する。一実施形態は、無電界空間内に周期的レンズ(14)を有する平面MR TOF MS(11)、イオン流をパルスに変換するための線形イオントラップ(17)、及び静電気セクタで作成されたC字形等時性インタフェースを含む。インタフェース(21)は、大きな時間広がりを導入することなくイオンミラー(12)のエッジとフリンジング電界(13)を迂回してのイオンの移動を可能にする。インタフェース(21)は、また、イオンパケットのエネルギーフィルタリングを提供する。イオントラップコンバータ(17)の関連付けられていない往復時間は、イオントラップからのイオン抽出を遅延させることによって短くすることができ、過度のイオンエネルギーは、湾曲インタフェース(21)でフィルタリングされる。 (もっと読む)


【課題】 膜厚測定方法及び膜厚測定装置に関し、簡便かつ迅速に薄膜の厚さおよび組成変化を測定する。
【解決手段】 薄膜の表面に加速したイオン4を照射し、その表面から放出される二次電子5に起因する試料電流により薄膜の厚さを測定する。 (もっと読む)


様々なイオン質量間における分解能を、時間ではなく、空間において実現する飛行距離(DOF)による質量分析法である。別個の検出器が、それぞれのイオン質量分解能要素と関連付けられている。このDOF質量分析計は、タンデム構成における1つの要素として機能可能であり、これは、ソースから抽出されたイオンのそれぞれの群ごとに完全な2次元前駆/生成スペクトルを生成する能力を具備している。保存装置(22、23)にイオン抽出電圧パルスを印加するイオン保存装置(21)手段と、無電界領域と、検出器(29)と、を具備する飛行距離(DOF)質量アナライザを、前駆及び生成分散のための飛行時間(TOF)質量分析と組み合わせて使用する。すべての前駆イオンが、それぞれの生成m/z値の生成源である特定の前駆m/z値に関する不可欠な情報を依然として保持しつつ、質量変化反応を同時に経験することができる。2次元検出器を使用することにより、分析対象のイオンのそれぞれのバッチごとに、すべての前駆イオンからのすべての生成イオンを検出可能である。
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【課題】 各種印刷用紙又は印刷物の内部構造や形成材料の分布状態、印刷物におけるインクの浸透状態等を、簡便且つ正確に解析し得る印刷用紙又は印刷物の分析方法を提供すること。
【解決手段】 印刷用紙又は印刷物の内部構造や形成材の分布状態、印刷物におけるインクの浸透状態等を解析するための印刷用紙又は印刷物の分析方法であって、印刷用紙及び/又は印刷物の作製に用いられるインクの形成材の構成原子の少なくとも1種を安定同位体に置換する工程、及び上記安定同位体が導入された印刷用紙又は上記安定同位体が導入されたインクを用いて作製された印刷物をその厚さ方向に沿って研削し、所定の研削深度における該安定同位体の濃度を測定する工程を備えることを特徴とする。上記研削は、SIMS又はGDMSにより行なうことが好ましい。 (もっと読む)


イオン誘導装置の軸に沿って配設された対称磁界を有する高周波数4極子イオン誘導装置であって、このシステムは、イオン誘導装置のイオン化容積内で電子と帯電していない化合物との間で長い相互作用を提供し、イオン生成の増大をもたらす。
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【課題】 磁気記録媒体表面に存在する有機化合物の量を、簡単かつ正確に分析可能な有機化合物の分析方法、走行耐久性、電磁変換特性等に優れた磁気記録媒体を、前記分析方法を用いて製造する方法、並びに該製造方法により得られた磁気記録媒体を提供すること。
【解決手段】 支持体上に少なくとも強磁性金属粉末および結合剤を含む塗布層を設けた塗布型磁気記録媒体の、前記塗布層表面に存在している有機化合物を分析する方法において、飛行時間型二次イオン質量分析計(TOF−SIMS)を用い、前記塗布層表面に存在する有機化合物をフラグメント化し、有機化合物を分析する。この分析方法を含む工程を備えて磁気記録媒体を製造する。 (もっと読む)


質量スペクトルにおける歪みは、式(I)で表されるi番目の時間ビンにおいて到着したイオンの数Qiを決定または推定することによって補正される質量分析の方法が開示される。


iは、i番目の時間ビン(time bin)において記録されたイオン到着イベントの実際の総数であり、xは、推定された不感期間に対応する時間ビン数に対応する整数である。 (もっと読む)


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