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Fターム[2G041EA01]の内容

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【課題】固体試料中における低濃度の水素を二次イオン質量分析法によって正確に分析する手法を提供することを課題とする。
【解決手段】質量数1の水素同位体と物理的な挙動が酷似し、単体または化合物として大気中での存在量が極めて少ない質量数2の水素同位体をイオン注入によって分析対象とする固体試料中に導入する。そして、固体試料を加熱処理し、固体試料中に含まれる質量数1及び質量数2の水素同位体の濃度を減少させ、二次イオン質量分析法を用いて固体試料中における質量数2の水素同位体の濃度を分析し、その数値を固体試料中に残留する質量数1の水素同位体の濃度として同定する。 (もっと読む)


診断分析方法、特に生体試料に存在するウイルス、細菌、その他の微生物等の病原体を同定する方法は、分析試料が接種され、病原体が存在する場合には内部で複製が起こる液体培地の濁度及び/または病原体の濃度を、機器計測法により測定と連続的にモニタリングする第1工程を有し、該測定とモニタリングは培養培地で増殖する病原体の複製の間に動的に行われる。さらに該方法は、マクファーランド濁度スケールなどの標準化した尺度による所望の濁度値及び/または病原体の濃度に達した、第1工程で直接得られた生体試料を含有する液体培地の少なくとも一定分量を使って行う、病原体を同定する第2工程を有する。病原体を同定するために質量分光光度法的同定手段(15)は、第1工程の測定結果に基づいてその機能を校正されており、該一定分量を直接使用する。濁度及び/または病原体の所望の値は、第2の同定工程を行うために各段階において確認される特定の必要性に基づいて第1工程の間に前もって選択される。 (もっと読む)


【課題】多様な試料を扱う分析においても、装置周囲に付着した不純物の影響を排除し、精度のよい分析を行うことができる分析方法を提供する。
【解決手段】試料ホルダーを備えた真空チャンバー内の固体試料配置部15に測定すべき固体試料16を配置し、該固体試料をスパッタリングして固体試料16の構成成分を元素分析する分析方法において、測定すべき固体試料16に含まれる元素以外の成分からなるターゲット材を前記真空チャンバー内に配置し、前記真空チャンバーの内壁であって前記固体試料載置部15の近傍の領域に前記ターゲット材のスパッタリングによる被膜を形成した後、前記固体試料載置部15に前記固体試料16を配置して前記元素分析を行う。 (もっと読む)


【課題】
デバイス等の不良原因となる数μmの難揮発性の有機微小異物を高感度に分析できる熱分解質量分析手法を提供することを目的とする。
【解決手段】
加熱プローブ2によって気化した試料をイオン源4に導入し,イオン化された試料を質量/電荷比ごとに分離して検出する質量分析技術において,加熱プローブ2を筒型の気体捕集機構3で覆い,気化した試料を気体捕集機構3によって効率よくイオン源4へ導くことにより,従来は拡散して無駄になっていた試料成分も分析に寄与できるようにした。これにより従来より高感度でS/Nのよい質量分析が可能となる。 (もっと読む)


【課題】迅速且つ精確に定量分析でき、定量操作が容易な、レーザーアブレーションICP分析法を用いた貴金属の分析方法を提供する。
【解決手段】貴金属を含む試料を秤量する工程S11と、試料に融剤を調合する工程S12と、融剤を調合させた試料を融解させる工程S13と、融解した試料から鉛ボタンを形成する工程S14と、鉛ボタンにレーザー光を照射して鉛ボタンの一部を微粒子にするアブレーション工程S151と、微粒子をヘリウム(He)ガスによりICP分析装置内へ搬送し(S152)、微粒子をイオン化させて分析するICP分析工程S153とを備える。 (もっと読む)


【課題】イオン発生時やイオントラップへのイオン導入時ではなくイオントラップにイオンを導入した後にイオン数の調整を可能とすることで、イオントラップ内の空間電荷効果の影響を低減して分析性能を高める。
【解決手段】イオントラップ2内にイオンを捕捉した後に、ソレノイドコイル26に電流を供給して直流磁場Bを形成すると共に捕捉用高周波電場を解除し、エンドキャップ電極22、24には反対極性の電圧を印加する。捕捉されていたイオンのほぼ半数は磁力線に沿って入口側エンドキャップ電極22に向かい消滅する。残りの約半数のイオンは磁力線に沿って出口側エンドキャップ電極24に向かい、電場により反射される。反射されたイオンが入口側エンドキャップ電極22に到達する前に直流磁場Bを解除して捕捉用電場を復活させることにより、イオンを約半分に減らすことができる。この操作の繰り返しによりさらにイオン数を減らすこともできる。 (もっと読む)


【課題】レーザー脱離イオン化質量分析用試料基板において、レーザー光を照射されたときに、妨害ピークを発生させることなく、高感度かつ正確な測定ができ、試料作成にあたっては、試料を均一に塗布することができるソフトLDI-MS測定のための試料基板およびそれを用いる測定装置の提供。
【解決手段】レーザー脱離イオン化質量分析に供するための試料基板50において、試料基板は、基台上に、カーボンナノウォール55が立設されたものであり、このカーボンナノウォールの表面上に、質量分析のための試料を塗布するものである。カーボンナノウォールの表面が、試料に対するイオン化媒体として作用する。カーボンナノウォールの表面は親水処理が施されている。これにより、低分子量から高分子量まで、広範囲に渡り、精度が良く、感度が高い、安定した質量分析を実現することができる。 (もっと読む)


【課題】 金属元素の深さ方向分析方法及び二次イオン質量分析装置に関し、分析に用いる一次イオンとしての酸素イオンビーム照射に誘起される金属元素の拡散現象を抑制する。
【解決手段】 一次イオンに酸素を用いて単結晶シリコンを母材とする試料中のGa、In、Cu、Au或いはAgの少なくとも一つの金属元素の深さ方向分析を二次イオン質量分析法によって行う際に、前記試料が前記一次イオンとしての酸素により酸化される領域より少なくとも深い領域を、予め試料の酸化に伴う前記金属元素の拡散を抑制する拡散抑制領域に改質しておく。 (もっと読む)


【課題】 試料を高い効率で捕捉できる試料捕捉合金などを提供する。
【解決手段】 本発明のあるの側面は、表面が修飾され、Fe、Pt及びCuを含有し、
試料を捕捉することを特徴とする試料捕捉合金にある。本構成によれば、試料を高い効率で捕捉できる試料捕捉合金が得られる。本発明の他の側面は、表面が修飾されることで電荷が付与されていることを特徴とする請求項1記載の試料捕捉合金にある。本構成によれば、電荷により試料をより高い効率で捕捉できる試料捕捉合金が得られる。本発明のさらに他の側面は、チオール基で表面修飾されていることを特徴とする請求項1記載の試料捕捉合金
にある。本構成によれば、チオール基で表面修飾されていることからさらに他の置換基の導入が容易な試料捕捉合金が得られる。 (もっと読む)


【課題】一次イオンとしてセシウムを使用した場合に、最適な分析条件を判断できる二次イオン質量分析方法及び二次イオン質量分析装置を提供する。
【解決手段】入射角が0度、加速エネルギーが250eVの条件でセシウムイオンを第1の試料に照射し、第1の試料から放出される二次イオンを質量分析して不純物元素の分布を測定する。次に、入射角が0度、加速エネルギーが1keVの条件でセシウムイオンを第2の試料に照射し、第2の試料から放出される二次イオンを質量分析して不純物元素の分布を測定する。その後、2つの不純物元素の分布のピーク値のシフト方向を調べ、その結果に応じて予め設定された分析条件から特定の分析条件を決定する。 (もっと読む)


【課題】窒素濃度の高精度な分析を可能にする金属材料の窒素濃度分析方法および窒素濃度分析装置を提供する。
【解決手段】窒素濃度分析装置10は、収容室11、一次イオン照射装置12、中和電子照射装置13、連通管14、飛行室15および二次イオン検出装置16を有する。収容室11には、金属試料17が収容される。金属試料17の表面には、炭素系物質が付着している。一次イオン照射装置12から金属試料17の表面に向けてパルス状の一次イオンが照射される。これにより、金属試料17からシアン化物イオンが放出される。金属試料17から放出されたシアン化物イオンは、二次イオン検出装置16において二次イオンとして検出される。 (もっと読む)


レーザースプレーイオン化(LSI)を用いる質量分析のための系および方法を本明細書中に開示する。LSIは、分析のために大気圧で多荷電イオン(多価イオン)を生成することが可能であり、4000ダルトンを超える分子を含む高分子量分子の分析を可能にする。該分析は、溶媒に基づく分析、または無溶媒分析でありうる。LSIによる無溶媒分析は、表面および/または組織イメージングにおいて有益な改善された空間分解能を可能にする。
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【課題】顕微質量分析により収集されたMSイメージングデータに対する統計的な解析処理により、試料を特徴付けるm/zの分布などの有用な情報を提供しつつ、その解析結果の信頼度などをユーザが容易に評価・検証できるようにする。
【解決手段】試料上の2つの関心領域に含まれる画素のMSイメージングデータに対し統計的仮説検定を実施してm/z毎のp値を算出し、p値が設定された有意水準以上となるm/zを求める。この特定のm/zにおけるp値、該m/zにおける二次元強度分布画像、該m/z付近の平均マススペクトル拡大図、該m/zの強度分布を示す箱髭図、正規確率プロット図などを同一の解析画面内に表示するとともに、実測による平均マススペクトルにおけるm/z付近のピークが理論的な同位体ピーククラスタに適合するか否かを示す指標値を算出し、それを同じ画面内に表示し、検定結果の信頼度の検証に利用できるようにする。 (もっと読む)


【課題】微量の糖鎖を検出することができる、質量分析を用いた糖鎖の高感度測定法を提供する。
【解決手段】(i)糖鎖分子を含む解析すべき試料と、アミノキノリンと酸性基含有物質とを含む液体物質である液体マトリックスと、添加剤としてのアンモニウム塩と、を溶媒中に含む混合液の液滴をターゲットプレート上に形成する工程と;(ii)前記混合液の液滴から前記溶媒を除去して、前記液滴の体積の減少とともに、前記ターゲットプレートと前記混合液の液滴とが接する面積を縮小させることによって、前記混合液中に含まれる前記解析すべき試料と前記イオン性液体と前記添加剤とを前記面積の一部へ集め、前記解析すべき試料と前記イオン性液体と前記添加剤とを含む混合物のフォーカススポットを得る工程と;(iii)前記混合物のフォーカススポットをMALDI質量分析測定に供する工程と、を含む、糖鎖の高感度MALDI質量分析法。 (もっと読む)


【課題】 3次元アトムプローブ構造データ解析方法に関し、処理が複雑で大きなリソースが要求されない簡便な方法で欠落している原子を補完して3次元的に構造を探索する。
【解決手段】 3次元アトムプローブ装置を用いて取得した試料の原子レベル微細構造データにおける原子間距離に基づいて、参照データなしに実際の試料の微細構造から欠落している原子の位置を求め、前記位置に前記原子を補完する。 (もっと読む)


【課題】極微量の試料を採取し、短時間で絶縁材料の劣化度を診断する。
【解決手段】電子機器等に使用されている絶縁材料を熱分解GC−MS方法により測定し、測定されるトータルイオンクロマトグラム(TIC)のピークに基づき絶縁材料の劣化度を診断する。TICのピークのうち、絶縁材料の劣化により増加するピークを劣化ピークとし、TICのピークのうち、劣化に依存しないピークを基本ピークとする。劣化ピークの面積を基本ピークの面積で除したピーク面積比率を算出し、このピーク面積比率と物理的な引張強度試験の相関をとり絶縁材料の劣化度を診断する。ピーク面積比率と引張強度値の相関をとる際、実際に使用されている絶縁材料を定期的に採取すると、より精度のよいマスターカーブを作成することができる。 (もっと読む)


【課題】簡便な方法により、試料を所望の膜厚に薄片化することができる試料作製方法を提供する。
【解決手段】試料作製方法は、基板100の表面から所定深さD1を有する第1の孔102と基板100の表面から所定深さD2を有する第2の孔104とを(D1>D2)、基板100の表面に形成する工程と、裏面側から研磨を実施して、第1の孔102を露出させる工程と、さらに第2の孔104が露出した時点で研磨を終了する工程と、を含むものである。 (もっと読む)


【課題】耐熱性ポリエステルワニスの劣化診断を微量の試料で精度よく行う。
【解決手段】耐熱性ポリエステルワニスを熱分解GC−MS方法により測定し、該測定で得られるトータルイオンクロマトグラム(TIC)のピークに基づき耐熱性ポリエステルワニスの劣化度を診断する方法である。TICのピークにおいて耐熱性ポリエステルワニスの劣化により増加するピークを劣化ピークとし、TICのピークにおいて耐熱性ポリエステルワニスの劣化に依存しないピークを基本ピークとする。耐熱性ポリエステルワニスの劣化度の診断は、劣化ピークの面積を基本ピークの面積で除したピーク面積比率に基づき行う。劣化度合いの違うサンプルで、熱分解GC−MS方法と、従来の劣化診断方法(例えば、重量減少率)により測定し、測定結果の相関関係であるマスターカーブを作成すると、より精度よく劣化度合いを測定することができる。 (もっと読む)


【課題】本発明は、ウシの尿石症を初期の段階で検出する方法、あるいはウシが尿石症を発症する可能性をその発病前に事前に検出するための方法を開発することを課題とする。
【解決手段】本発明の発明者らは、かかる課題を解決すべく鋭意検討を行った結果、被毛中に含有されるミネラル濃度と尿石症の病態とのあいだに相関性を見出し、尿石症の初期症状を検出しまたは尿石症を発症する可能性を発病前に検出することができることを明らかにし、上記課題を解決できることを示した。 (もっと読む)


【課題】レーザー照射時の測定対象分子を含む試料のイオン化効率を、劇的に増強できる質量分析法用測定試料及びその調製方法を提供することであり、スイートスポットを現出させ易い、又はスイートスポットを多く若しくは広く現出させる質量分析法用測定試料及びその調製方法を提供することであり、それによって、測定対象分子を含む試料が極めて微量であっても、イオン化効率や測定の再現性を向上させ、信頼性の高い化学構造についての情報を得ることができる質量分析法を提供すること。
【解決手段】測定対象分子を含む試料とマトリックスから調製される質量分析法用測定試料であって、表面の少なくとも一部に平均周期1nm〜300nmの波状構造を有することを特徴とする質量分析法用測定試料。 (もっと読む)


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