説明

Fターム[2G041FA03]の内容

その他の電気的手段による材料の調査、分析 (22,023) | 検出対象 (2,606) | 非金属 (2,002) | 無機 (184) | 単体(H2、O2等) (68)

Fターム[2G041FA03]の下位に属するFターム

希ガス (19)

Fターム[2G041FA03]に分類される特許

21 - 40 / 49


本発明は、冶金プロセスにおいて廃ガス流量を間接的に決定する方法に関する。この目的のため、標準ガスと廃ガスとの完全な混合が行われるように、すなわち実質的に均質な分布が得られるように、具体的には流れに関してサンプルの採取より十分に先行する時点で、ヘリウムなどの標準ガスを最初に廃ガスに加え、ヘリウムの添加量を考慮しながら、質量分析計による測定によって廃ガスのヘリウムおよび窒素の定量分析を行う。
(もっと読む)


【課題】酸素同位体を濃縮した試料においても、酸素原子の同位体比を正しく測定できるようにする。さらに、四重極型質量分析計など一般的なコストの安価な質量分析計によって測定できるようにする。
【解決手段】試料となる酸素ガスを放電式オゾナイザー1に導入してオゾンとし、これをオゾン分離装置2に送ってオゾンとし、さらにオゾン分解装置3に送って酸素としたのち、四重極型質量分析計4にて酸素分子の各質量数のイオン強度を計測し、このイオン強度に基づいて演算装置5において酸素同位体濃度を算出する。 (もっと読む)


【課題】水素原子(分子)からエネルギーを放出するための方法と装置を提供する。
【解決手段】エネルギーホールは、原子、イオン、分子、イオン及び分子複合物を含む参与種の間の少なくとも一つの電子の伝達によって設けられ、一つ以上の供与種から一つ以上の受容種へのt個の電子の伝達を具備する。これにより、電子供与種のイオン化エネルギー及び/又は電子親和力の合計から電子受容種のイオン化エネルギー及び/又は電子親和力の合計を控除した値は、「基底状態」遷移よりも低い原子(分子)水素に対して、約m×27.21eV(m×48.6)に等しい(ここでmとtは整数である)。遷移率を高めるために、放射源水素のエネルギーとシンクエネルギーホールを整合させる。エネルギー反応器は、電解セル、加圧水素ガスセル、及び水素ガス放電セルの一つを含む。 (もっと読む)


【課題】比較的簡易な構成の試料を用いて、実際の配線構造に近似する状況で配線導電材料の不純物濃度を精度良く測定し、実際の配線構造に極めて近い不純物濃度の知見を得ることを可能とし、当該知見を実際の配線形成に反映させる。
【解決手段】シリコン基板1に配線溝1aを形成し、配線溝1aを配線導電材料3で埋めんで配線様構造4を形成し、試料11を作製する。この試料11を用いて、SIMS法により配線様構造4の配線導電材料3をSIMS分析する。 (もっと読む)


【課題】微量のPd、Rh及びRuを高周波プラズマ質量分析装置で高精度に分析するための方法を提供する。
【解決手段】微量Pd、Rh又はRuを測定対象元素として分析する方法であって、(1)ナトリウム化合物を用いたアルカリ融解法によって試料を前処理する工程と、(2)該前処理を行った試料を高周波プラズマ質量分析装置にて分析する工程とを含み、工程(2)において、サンプリングコーンとスキマーコーンの間隔を、Pdと干渉する40Ar65Cuの濃度、Rhと干渉する40Ar63Cu及び40Ar40Ar23Naの濃度、並びにRuと干渉する38Ar63Cu及び40Ar38Ar23Naの濃度のすべてが0.05ppb以下となる値に設定して分析することを特徴とする方法。 (もっと読む)


【課題】本発明は、質量分析装置における真空装置内において、水分子および水素分子の質量分析時の妨げとなる残留水分子および残留水素分子を簡単な装置構成および方法によって低減し、水分子のバックグラウンドを下げると同時に、水分子を発生源として生成する水素分子のバックグラウンドを下げることができるため、質量分析を行なう際の水分子と水素分子の高感度分析を可能とする質量分析方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明による質量分析方法は、質量分析装置1の質量分析方法であって、(a)質量分析装置1の分析室2を真空排気する工程と、(b)工程(a)の後、分析室2に対して重水ボンベ11から重水ガスを導入する工程とを備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】全圧測定手段を用いることなく、圧力が高い雰囲気下において測定される分圧を良好な値に補正できる、特定ガスの分圧検出方法を提供する。
【解決手段】四重極型質量分析計10を用いて、特定ガスの質量電荷比に対応するイオン電流値を測定することにより、被測定ガス中の前記特定ガスの分圧を検出する方法である。特定ガスの質量電荷比に対応する第一イオン電流値の測定値を、イオン電流値のピークが出現しない質量電荷比に対応する第二イオン電流値の測定値を用いて補正することにより、特定ガスの現実の分圧を求める。 (もっと読む)


【課題】本発明は、毛髪含有の微量元素ならびに特定元素の毛髪中の分布状態を測定できて、しかも大規模な設備や高度の熟練を必要としない簡便な毛髪分析専用のレーザーアブレーション質量分析装置を提供する。
【解決手段】本発明にかかるレーザーアブレーション質量分析装置1は、試料ステージ10と、レーザー照射部20と、気流搬送系30と、イオン源40と、分析部50とを備えている。試料ステージ10は、毛髪試料を保持し正確な位置決めを行い、レーザー照射部20は、毛髪の先端など毛髪上の任意の位置にレーザー光を照射してアブレーションを発生させる。アブレーションにより原子化した毛髪含有元素は、上記気流搬送系30によって抽出され、上記イオン源40に達する。イオン源40では、毛髪含有元素の中性原子を電子線照射または光照射によってイオン化し、これにより得られる毛髪含有元素のイオンを分析部50で質量分析する。 (もっと読む)


【課題】各種検査を効率かつ安価に行うことのできる、質量分析ユニット、及び質量分析ユニットの使用方法を提供する。
【解決手段】被測定ガスの質量電荷比ごとの分圧を測定する測定部12、及び測定部12に連続的に設けられ、かつ測定部12を制御する電気系部14を有した質量分析部1と、質量分析部1に導入される被測定ガスの圧力を所定値まで減圧する差動排気部20と、を備えた質量分析ユニット10である。電気系部14は差動排気部20の制御部として機能し、かつ差動排気部20の操作部が設けられる。 (もっと読む)


【課題】IH2の干渉がないヨウ素分析方法および装置を実現する。また、ヨウ素127の測定が連続しても検出器が劣化しないヨウ素分析方法および装置を実現する。
【解決手段】誘導結合プラズマ質量分析装置を用いてヨウ素を分析するにあたり、土壌試料(300)をアルゴンガス雰囲気中で加熱(100)してサンプルを気相状態にし、前記気相状態のサンプルをリアクションセル(240)付の誘導結合プラズマ質量分析装置(200)にそのまま導入して質量分析する。前記質量分析を、リアクションセル(240)のパラメータ設定により、検出感度がヨウ素127に関しては相対的に低く、ヨウ素129に関しては相対的に高い状態で行う。 (もっと読む)


【課題】 酸素分子を選択的に検出可能であり、簡便に行うことができる酸素分子検出方法を提供する。
【解決手段】 下記式(I)で表されるピリジニルピラジンと下記式(II)で表されるメタロセニウムイオンと酸素分子(O2)とを反応させ、前記反応工程の生成物を検出することで間接的に酸素分子を検出する。
【化1】


前記式(I)中、Rは、それぞれ、水素原子、アルキル基等であり、Xは、N、CH、等であり、Yは、任意の原子団である。 (もっと読む)


【課題】元素分析装置における炭素・窒素安定同位体比等の検出能力を向上させることができる元素分析用前処理装置を提供すること。
【解決手段】元素分析用前処理装置2は、試料中の元素を分析装置3で分析する測定用の測定ガスを生成するための装置であり、試料を供給するオートサンプラ21と、反応ガスを供給するための酸素ガスボンベ5と、試料を酸素ガスボンベ5から供給された反応ガスによって燃焼させてガス化させる燃焼部22aと、この燃焼部22aの下流側に形成され酸化剤23を入れた酸化カラム部22bとを有する酸化管22と、試料ガスを還元させる還元剤25を入れた還元管24と、を備えている。酸化管22は、燃焼部22aの流路断面積S1を酸化カラム部22bの下流部22dの流路断面積S2より大きく形成している。還元管24は、流路断面積S3を燃焼部22aの流路断面積S1より小さく形成している。 (もっと読む)


【課題】放電部の煤を焼失させるようにヒータを設けてなる煤センサにおいて、放電部との関係でヒータを設ける位置に工夫を凝らし、放電部にて煤以外の導電性に寄与する粒子の影響を受けることなく放電するように構成する。
【解決手段】煤センサは、金具部材100、電気絶縁材料からなる筒部材200及びロッド部材300を備えている。筒部材200は、金具部材100の主体金具110内に同軸的に支持されている。ロッド部材300は、筒部材200内に嵌装されて、中心電極320にて、当該筒部材200の先端から延出している。ここで、中心電極320は、電極部321にて、金具部材100の外側電極120の電極部122に対向している。ヒータ400は、筒部材200の先端側部位630の外周面にその先端側にて貼着されている。ヒータ400の発熱抵抗部431の下縁部435と中心電極320の電極部321の先端部との間には、25(mm)が設けられている。 (もっと読む)


本発明は、少なくとも1つの試料ガスおよび/または少なくとも1つの標準ガスが少なくとも1個のオープンスプリットを経て少なくとも1個の分析装置に供給され、キャリアガスを付加することが可能である、同位体比を分析するための方法に関する。本発明では、それぞれのキャリアガスを供給することによってあるいは試料ガスを分析装置に直接供給することによって、分析装置に達する試料ガスおよび/または標準ガスの濃度が調整される。少なくとも1個の分析装置にガスを供給するための本発明に係る装置では、試料ガスのための2本以上の毛管が設けられ、この毛管がそれぞれ、混合領域と待機領域との間の移動のための固有の駆動装置を備えている。
(もっと読む)


【課題】試料の先端部分が破損し難く、且つ、(メッシュが搭載される試料ホルダの窪み(凹部)形状を専用形にすることが不要な)汎用性の高い試料保持用のメッシュ、及び元素分析方法を提供する。
【解決手段】透過型電子顕微鏡に用いられる試料保持用のメッシュ13において、前記メッシュの一部(第1のメッシュ13−1)が分離し、当該一部が、分離後に残った部分(第2のメッシュ13−2)と脱着可能な形態とすることにより、測定中、試料の先端を崩さずに、精度の高い元素分析を行なう。 (もっと読む)


【課題】固体物質を通過する気体の透過を測定する装置および方法。
【解決手段】物質(M)を通過する気体の透過を測定する方法において、混合筐体14内で同位体気体の混合物を形成する工程であって、各同位体気体が物質(M)を通過する透過が追求されるターゲット気体に対応し、同位体気体は対応するターゲット気体の質量数と異なる質量数を有している工程と、第一チャンバ11と第二チャンバ12を含み、物質(M)によって第二チャンバ12から分離されている透過筐体10の第一チャンバ11を、同位体気体の混合物で満たす工程と、対応するターゲット気体の各々の物質(M)を通過する透過を同時に計算するために、物質(M)を通過して透過し、第二チャンバ12内に存在する同位体気体を解析する工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】本発明は、CNT表面への付着物の除去方法およびCNT表面に吸着したガス分子を精確に制御する方法、更にはそれを利用した好適な計測装置を提供することを課題とする。
【解決手段】カーボンナノチューブ(CNT)先端部の付着物にパルスレーザーを照射することにより、付着物を脱離させる除去方法を提供する。又、CNTを陰極とし、該先端部と対向する位置に陽極を配置して電子回路を構成し、電界の印加によりCNTの先端部に吸着するガス分子にパルスレーザーを照射することにより吸着ガスを脱離させることにより、課題が達成される。 (もっと読む)


【課題】生物処理槽における、嫌気性アンモニア酸化反応と従属性脱窒反応との反応比率を定量的に測定及び評価することができる。
【解決手段】
生物処理槽12内で生物学的処理を行う嫌気性アンモニア酸化細菌と従属性脱窒菌との反応比率を定量的に測定する反応比率の測定方法であって、嫌気性アンモニア酸化細菌及び/又は従属性脱窒菌の基質に対応する安定同位体を用いて生物学的処理を行って、嫌気性アンモニア酸化細菌の代謝により発生する第1のガスと、従属性脱窒菌の代謝により発生する第2のガスとのガス発生量比を測定することにより、反応比率を定量的に測定する。 (もっと読む)


本発明は、試料中の少なくとも1種の元素の異なる同位体の少なくとも1つの比を決定するための方法に関する。該方法は、試料をイオン化して、少なくとも1種の元素の異なる同位体のイオンであって:多価原子正イオン、水素についての一価正イオンおよび重水素についての一価正イオンからなる群から選択されるものを生成すること、少なくとも1種の元素の異なる同位体の荷電正イオンを、これらの質量対電荷の比に従って分離すること、および前工程で分離された前記少なくとも1種の元素の異なる同位体の少なくとも1つの比を決定することを含む。本発明はまた、上記方法を実施するための装置に関する。
(もっと読む)


ここに記載されているのは、ガス流(2)における化合物を質量分析によって検出する方法である。この方法には、化合物のイオンを形成してガス流(2)における体積ユニットをイオン化することが含まれており、ここでこのイオン化は、ガス流と交わるビーム(9,10)を介して行われ、これらのビームは、電子パルスまたは電子パルス列および光子パルスまたは光子パルス列が交互に切り換わることによって形成される。またこの方法には、電場(13)によってイオンを進路変更して質量分析法を実施することならびに質量分析法によってイオンを検出することが含まれる。本発明の課題は、上記のような方法を提案して、測定範囲を拡げ、分解能を格段に改善することである。この課題は、上記の光子パルスまたは光子パルス列をエキシマランプ(11)によって形成し、電子パルスまたは電子パルス列と、光子パルスまたは光子パルス列との切り換えを50Hz以上の切換替え周波数で行うことによって解決される。
(もっと読む)


21 - 40 / 49