Fターム[2G041FA09]の内容

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【課題】繰り返し構造を持つ物質の解析を容易化することができる画像生成装置を提供する。
【解決手段】画像生成装置100は、繰り返し構造を有する物質を解析するための画像を生成する画像生成装置であって、質量電荷比に対するイオン強度の情報を含む前記物質のイオン強度データを取得するイオン強度データ取得部11と、前記物質の繰り返し単位の質量情報を取得する質量情報取得部12と、前記物質の繰り返し単位の質量情報に基づいて、前記イオン強度データを、所定の質量電荷比の範囲ごとに配列する配列部13と、配列された前記イオン強度データに基づいて、画像を生成する画像生成部14と、を含む。 (もっと読む)


【課題】測定対象物質を脱離・イオン化する質量分析において、分析対象物質について、その二次元分布状態を損なわず、各測定場所において、分析対象物質のソフトイオン化と、高いイオン化効率の実現を両立することが、困難であるという課題があった。
【解決手段】分析対象物質に、-(CF2)COOH で表される官能基を有する沸点150℃以上の有機酸と、常圧において融点が20℃以下かつ沸点150℃以上である多価アルコールとを含むイオン化補助剤を付与することで、イオン化補助剤の構成成分である有機酸が分析対象物質に効果的にプロトンを付加することによりイオン化効率を向上し、多価アルコールがフラグメンテーションを抑制する。結果、これらの作用が相乗的に奏効することによる幅広い分子量域での高効率な質量分析及びイメージングが可能となる。 (もっと読む)


【課題】少なくともポリプロピレン系フィルムから構成される積層体であって、該ポリプロピレン系フィルムにあらかじめ添加された滑剤などが長期の時間経過や熱履歴を経た後も、積層体の印刷や製袋工程などの二次加工を安定して行う為の、添加剤の挙動を計測する評価方法を提供する。
【解決手段】滑剤などの添加剤を含むオレフィン系フィルムと接着剤と基材フィルムからなる積層体において、断面垂直方向での該添加剤の濃度分布を測定することで添加剤の挙動を予測して、事前に適性な加工条件を導き出すことを特徴とする積層体の評価方法である。 (もっと読む)


【課題】重合体を構成する多種の構成単位の組成分布を、同時にかつより正確に測定できる方法を提供する。
【解決手段】質量分析装置を用いて、ピーク半値幅が0.1Da以下となる条件で、重合体の質量分析を行う質量分析工程と、得られた質量スペクトルにおいて、末端基の組成が共通し、かつ末端基以外の構成単位の組成が共通する成分毎に、対応するピークを特定するピークピック工程を有する、重合体の測定方法。 (もっと読む)


【課題】ピークプロファイル波形を確認しながら行う手動の質量較正の作業の効率改善を図る。
【解決手段】質量較正用設定画面100に配置されている較正テーブル101中の横方向に隣接する複数のセル(セル群)105に対応した質量電荷比近傍の、複数のピークプロファイル波形102を同じ画面内に横に並べて表示する。作業者がそのときに指定しているセルとは別のセル中の較正値を設定するべく該セルを新たに指定すると、そのセルが現時点でのセル群に含まれていればピークプロファイル波形102の表示を変更しない。また、新たに指定されたセルが現時点でのセル群に含まれていなくても該セル群に隣接又は隣々接した位置であれば、セル群を最小移動させることで新たなセル群を設定し、その移動前と一部のピークプロファイル波形を共通として新たなデータ読み込みや処理の時間を省くことで表示更新の時間を短縮化する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、メッキ液中の高分子物質の抽出法並びに抽出された高分子物質の定性分析方法及び定量分析方法に関する。
【解決手段】メッキ液に有機溶媒を添加する段階と、当該メッキ液と有機溶媒とを混合してメッキ液に含まれた高分子物質を有機溶媒に溶解させて抽出する段階と、当該高分子物質が溶解された有機溶媒を分離する段階と、当該有機溶媒を気化させて高分子物質を得る段階とを含むメッキ液中から高分子物質を抽出する段階と、当該抽出された高分子物質を定性分析及び定量分析の一つ以上を行う段階と、上記メッキ液に含まれた高分子物質を定性分析及び定量分析してメッキ液の電気メッキの活動度を調節する段階とを含む。 (もっと読む)


【課題】高分子材料を高感度に分析可能であり、且つ、質量スペクトルと高分子の種類の選択性も高いレーザイオン化質量分析装置を提供する。
【解決手段】高分子材料をイオン化してその質量を分析するレーザイオン化質量分析装置は、試料台10とイオンビーム源20とレーザ光源30と分析部40とからなる。試料台10は、高分子材料が配置される。イオンビーム源20は、試料台に配置される高分子材料にイオンビームを照射する。レーザ光源30は、試料台の表面に平行にレーザ光を照射するものであり、イオンビーム源からのイオンビームにより試料台に配置される高分子材料から放出される高分子材料由来の分子にレーザ光を照射し、高分子材料由来の分子をイオン化する。分析部40は、レーザ光源からのレーザ光によりイオン化される試料を質量分析する。 (もっと読む)


発明は検体のMALDI質量分析のためのマトリックスにおける、一般式:


を有するハロゲン化シアノケイ皮酸誘導体、及び/または4-ブロモ-α-シアノケイ皮酸及び/またはα-シアノ-2,4-ジクロロケイ皮酸の使用に関する。ここで、RはF,Cl及びBrの中から独立に選ばれ、n=3,4または5である。R’はCOOH,CONH,SOH及びCOOR”の中から選ばれ、R”=C-Cアルキル基である。
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【課題】有機高分子に化学修飾剤を反応させて化学修飾することにより、有機高分子中の官能基数を決定する方法であって、有機高分子と化学修飾剤との反応効率が高く、また、共存する他の官能基含有低分子化合物類の影響を受けることなく、容易かつ的確に有機高分子の官能基数を決定することができる、利便性の高い有機高分子の分析方法を提供する。
【解決手段】水酸基、アミノ基、又はチオール基からなる群より選ばれるいずれか一種以上の官能基を有する有機高分子中の該官能基数を決定するに当たり、該有機高分子を、フッ素原子で置換されていても良い脂肪酸無水物で化学修飾し、得られた化学修飾体の質量分析を行って、化学修飾前の有機高分子の質量との差から該官能基数を決定する。 (もっと読む)


【課題】極微量の試料を採取し、短時間で絶縁材料の劣化度を診断する。
【解決手段】電子機器等に使用されている絶縁材料を熱分解GC−MS方法により測定し、測定されるトータルイオンクロマトグラム(TIC)のピークに基づき絶縁材料の劣化度を診断する。TICのピークのうち、絶縁材料の劣化により増加するピークを劣化ピークとし、TICのピークのうち、劣化に依存しないピークを基本ピークとする。劣化ピークの面積を基本ピークの面積で除したピーク面積比率を算出し、このピーク面積比率と物理的な引張強度試験の相関をとり絶縁材料の劣化度を診断する。ピーク面積比率と引張強度値の相関をとる際、実際に使用されている絶縁材料を定期的に採取すると、より精度のよいマスターカーブを作成することができる。 (もっと読む)


【課題】レーザー脱離イオン化質量分析において効率良く分析対象の試料を脱離化及びイオン化処理でき、かつ、低分子量域において分解物等に由来する妨害ピークの発生の少ない質量分析用基板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】レーザー脱離イオン化質量分析において分析対象の試料を付着させる質量分析用基板であって、基材上に、Fe、Co及びCuからなる群から選ばれた金属の1種又は2種以上の金属酸化物を含んだ金属酸化物層を備えたことを特徴とする質量分析用基板であり、また、上記金属酸化物を溶剤に分散させた分散液を基材に塗布し、乾燥させて、金属酸化物を含んだ金属酸化物層を形成して質量分析用基板を得る。 (もっと読む)


本明細書に開示されるのは、質量分析法を用いて反応性PEGサンプルの多分散度(PDI)および分子質量分布(MMD)を測定する方法である。より具体的には、高分子量PEGサンプルに対して既知のMALDI−TOF分析より正確な測定結果を提供するGEMMAと呼ばれる質量分析法が、PEGサンプルのPDIおよびMMDを測定するために用いられる。いくつかの実施形態において、PEGの第2の末端は、メトキシメチル基を含む。様々な実施形態において、反応性官能基は、スクシンイミジルスクシネート基を含む。
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【課題】本発明は、ポリオキシエチレン基を有する化合物に含まれる成分及びその組成を精度よく評価することが可能なポリオキシアルキレン基を有する化合物の分析方法を提供することを目的とする。
【解決手段】ポリオキシアルキレン基を有する化合物の分析方法は、マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析法(MALDI MS)を用いて、ポリオキシアルキレン基を有する化合物を分析する工程と、液体クロマトグラフィー(LC)/大気圧イオン化質量分析法(API MS)を用いて、ポリオキシアルキレン基を有する化合物を分析する工程を有する。 (もっと読む)


【課題】飛行時間型質量分析器を用いた分析の高感度化と高精度を計る。
【解決手段】1次入射粒子としてクラスター粒子を用い、1次入射粒子1パルス当り2次粒子を複数個発生させ、2次粒子を飛行時間型質量分析器18で分析する。デジタルオシロスコープ25により、1次入射粒子をパルス化するパルス化信号を基準時間信号として、2次粒子の検出信号を2次粒子の飛行時間によらず均等な確率で計数する。 (もっと読む)


【課題】小型で測定誤差が小さく、安価に製造することが可能な粒子状物質検出装置を提供する。
【解決手段】筒状の電極1、及び筒状の電極1の表面全体を覆うとともに一方の端部側が塞がれた有底筒状の誘電体2を有し、複数の貫通孔3が形成された外筒部5と、棒状の電極11、及び棒状の電極11の表面全体を覆うように配設された誘電体12を有し、一方の端部13側が外筒部5内に位置し、他方の端部14側が外筒部5の外に位置するとともに、外筒部5の内壁面と接触しないように配設された軸部15とを備え、荷電された粒子状物質、又は、外筒部5内に生じる放電により荷電された粒子状物質を、外筒部5の内壁面に電気的に吸着させることが可能であり、外筒部5を形成する壁の電気的な特性の変化を測定することにより外筒部5の内壁面に吸着された粒子状物質を検出することが可能な粒子状物質検出装置100。 (もっと読む)


【課題】小型で測定誤差が小さく、安価に製造することが可能な粒子状物質検出装置を提供する。
【解決手段】一方の端部に少なくとも一の貫通孔2が形成された一方向に長い検出装置本体1と、貫通孔2の壁の内部に埋設され、誘電体で覆われた少なくとも一対の電極11,12と、一対の電極11,12からそれぞれ検出装置本体1の他方の端部に向かって延びる配線11b,12bと、配線11b,12bの間に挟まれる位置に配設された帯状の接地電極14とを備え、前記貫通孔内に流入する流体に含有される荷電された粒子状物質、又は、前記一対の電極に電圧を印加することにより前記貫通孔内に生じる放電により荷電された、前記貫通孔内に流入する流体に含有される粒子状物質を、貫通孔2の壁面に電気的に吸着させることが可能であり、貫通孔2を形成する壁の電気的な特性の変化を測定することにより貫通孔2の壁面に吸着された粒子状物質を検出することが可能な粒子状物質検出装置100。 (もっと読む)


【課題】表面支援レーザ脱離イオン化質量分析法において、測定光の低パワー化を実現し、難揮発性の物質や高分子量の物質の高感度な質量分析を可能にする。
【解決手段】質量分析用デバイス1は、表面1sに接触させた試料に測定光L1を照射することにより、試料中に含まれる被分析物質Sを表面1sから脱離させるものであって、基板10の一表面10sに、測定光L1の照射により局在プラズモンを誘起しうる大きさの複数の金属体20を備えた微細構造体30と、微細構造体30の表面30sの少なくとも一部に固着されたイオン化促進剤Iとを備えたものである。 (もっと読む)


【課題】レーザ脱離イオン化質量分析において、不要なイオン化促進剤の飛散を防止してイオン化促進剤由来の妨害ピークを低減し、より定量性の高い分析を可能とする。
【解決手段】イオン化された被分析物質のマススペクトルを測定するレーザ脱離イオン化質量分析方法に用いられる質量分析用デバイスにおいて、
複数の凹状微細構造を有する微細構造層を備え、
凹状微細構造における開口の開口幅が、凹状微細構造の構造幅よりも小さいものとする。そして、開口を小さくすることにより出口が狭くなった凹状微細構造に、イオン化促進剤を貯留する。 (もっと読む)


【課題】固形試料を容易に固形試料保持体に固定することができる二次イオン質量分析の固形試料保持方法を提供する。
【解決手段】本発明は、脆い固形試料を二次イオン質量分析装置で再現性よく正確に測定するために、固形試料を容易に固形試料保持体に固定することができる二次イオン質量分析の固形試料保持方法を提供するものである。本発明の二次イオン質量分析の固形試料保持方法は、上面に交互に並んだ凸部及び凹部を複数有しかつ可塑性を有する金属塊の複数の前記凸部の上に配置した固形試料に、前記固形試料の上に配置した板を介して上から力を加えることにより、前記金属塊を塑性変形させ、前記固形試料の上面と前記金属塊の上面とを同じ高さにし、かつ前記固形試料を前記金属塊に固定する工程を備え、前記固形試料の底面と接触した前記金属塊及びその下部の前記金属塊が前記凹部に向かって塑性変形することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】
【解決手段】親イオンの電子移動解離フラグメンテーションによって生成された高電荷のフラグメントイオンの電荷状態が、当該フラグメントイオンをオクタヒドロピリミドールアゼピンなどの中性超強塩基試薬ガスと反応させることによってプロトン移動反応セル35内で低減される質量分析計が開示される。 (もっと読む)


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