Array ( [0] => その他の電気的手段による材料の調査、分析 [1] => 装置部品 [2] => 質量分析部 [3] => 複合質量分析部 ) 装置部品 | 質量分析部 | 複合質量分析部
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Fターム[2G041GA11]の内容

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【課題】質量分析方法において、高分子量の物質の高感度な質量分析を可能にする。
【解決手段】基板1として、透明基板を用い、試料Sとして、マトリクス剤Mが混合されたマトリクス混合試料を用意し、試料Sを基板1の表面1aに供給し、基板1の裏面1b側から、該基板1の表面1aで全反射するように、該基板1に励起光Loを入射させることにより、該基板1の表面1aにエバネッセント光Leを生じさせ、エバネッセント光Leの照射により、被分析物質Aを基板1から脱離させ、イオン化し、該イオン化した被分析物質Aを捕捉して質量分析を行う。 (もっと読む)


【課題】基板の表面に固定した物質をレーザ光照射により該表面から脱離させ、そのイオンを捕捉して質量分析する方法において、従来と比べてより低パワーのレーザ光を使用可能とする。
【解決手段】質量分析用基板1として、半透過半反射性を有する第1の反射体10と、透光体20と、反射性を有する第2の反射体30とを順次備えた光共振体を構成するものであり、第1の反射体10の表面1sに試料液中に含まれる複数の被分析物質と表面相互作用を生じる試料分離部を有するものを用い、試料分離部で複数の被分析物質を分離し、被分析物質毎に質量分析を行う。質量分析を行う際には、第1の反射体10の表面1sに接触された試料に対してレーザ光Lを照射することにより、光共振体内に生じる共振によって増強された第1の反射体10の表面1sにおける電場を利用して、試料中に含まれる質量分析の被分析物質Sをイオン化させると共に脱離させる。 (もっと読む)


【課題】微細構造体を有する基板を用いたレーザ脱離イオン化質量分析方法において、微細構造体の飛散を防止する。
【解決手段】質量分析用基板上に供給された被分析物質を、レーザ光照射により質量分析用基板から脱離させ、イオン化された被分析物質のマススペクトルを測定するレーザ脱離イオン化質量分析方法において、微細構造体12と、この微細構造体12を被覆するように形成された飛散防止膜13とを有する質量分析用基板10を用いて分析を行う。 (もっと読む)













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