【課題】イオン透過率を改善することなく、サンプリング周期に関係のない、ガイド法及びピーク値記録法よりも高い感度を実現する質量分析装置及び質量分析法を提供する。
【解決手段】連続イオン源１２とイオン蓄積器１３を備える質量分析装置において、第１データ処理部１７は、イオン蓄積器１３から周期的に排出されたイオンパルスを含む時間的出現プロファイルを取得する。第２データ処理部１８はこれらの時間的出現プロファイルの中で、当該選択イオンのイオンパルスが出現する時間の強度のみを抽出して積分し、イオン強度を算出する。 （もっと読む）

【課題】簡便に荷電粒子を輸送することができるガイド装置及びその製造方法、並びに荷電粒子の輸送方法を提供すること。
【解決手段】本発明の一態様にかかるガイド装置１００は、絶縁体で被覆された被覆導線によって荷電粒子を輸送するための電場を発生させるガイド装置であって、荷電粒子が内部を通過する螺旋部１０を設けるために螺旋状に巻かれた第１の被覆導線１１と、螺旋部１０における第１の被覆導線１１と互いに絡み合うように螺旋状に巻かれた第２の被覆導線１２と、螺旋部１０を包むように設けられた導電体１３と、を備えるものである。
を備えるものである。 （もっと読む）

【課題】イオンガイド内の電場の乱れを抑え、理想状態に近い電場を形成することができるイオンガイド及びそれを備えた質量分析装置を提供する。
【解決手段】イオン光軸Ｃ方向に延伸し、その端面がイオン光軸Ｃを取り囲むように配置された８枚の金属板を電極１１Ａとするとともに、イオン光軸Ｃに直交する面内で、電極１１Ａのイオン光軸Ｃ側端縁が光軸に向けて凸の円弧状又は双曲線状であるようにする。これにより、電極１１Ａの端縁で囲まれたイオン飛行空間に理想状態に近い電場が形成される。電極１１Ａは、端面加工が施されていない金属板１１１に所定の断面形状を有する電極棒１１２を溶接等により固定したものであってもよい。 （もっと読む）

【課題】ＳＩＭ測定において四重極質量フィルタへの印加電圧をステップ状に変化させる際に必要なセトリング時間をできるだけ短くするとともに、質量を切り替える際の過渡状態のときに不所望のイオンが検出器に多量に入射することを防止する。
【解決手段】四重極電極へ印加される直流電圧Ｕが高周波電圧の振幅Ｖよりも遅い応答である場合、ＳＩＭ測定対象の複数の質量が指定されると、制御部は１０はそれら質量を高い順に並び替え、最適セトリング時間算出部１０１は各質量毎に質量差と変化後の質量とからセトリング時間を決める。これにより、質量差が小さくなってセトリング時間を相対的に小さくすることができる。また、質量をステップ状に切り替える際にマチウ方程式による安定領域図上でＵ／Ｖが安定領域の外側を通るため、不所望のイオンが四重極質量フィルタを通過しにくくなり検出器のダメージを軽減できる。 （もっと読む）

質量分析計の低真空又は大気圧領域内のイオンの輸送及び集束を改善するための装置が、（高周波などの）振動電圧が印加される積層リングイオンガイド（ＳＲＩＧ）の最初の電極に結合された１又はそれ以上の動電又は静電集束レンズで構成される。本明細書で開示するこのような構成は、イオン移送装置の出口端部を（単複の）動電又は静電集束レンズ内の所望の位置に大まかに設定することにより、このような積層リングイオンガイドを利用する所望のイオン移送手段の有害な電界効果及び／又は再配置の問題を最小化する。 （もっと読む）

【課題】スキャン測定において目的成分のクロマトグラムピークトップのデータを確実に捉えられるようにする。
【解決手段】例えばＳＩＭ測定により目的成分の保持時間を予め求め、保持時間情報記憶部３３に格納しておく。スキャン測定の測定パラメータとして測定インターバル、測定開始時間などが入力部３６から設定されると、スキャン開始時間演算部３２は、目的成分の保持時間と測定インターバルとに加え、測定開始質量、測定終了質量などから計算される目的成分の質量に対応したデータ取得の遅れ時間を用いて測定開始時間を修正する。これにより、目的成分の質量に拘わらずピークトップのデータを捉えることができるようになり、ピーク高さを正確に求めることができるとともに、分析の再現性が向上する。 （もっと読む）

【課題】表面支援レーザ脱離イオン化質量分析法において、測定光の低パワー化を実現し、難揮発性の物質や高分子量の物質の高感度な質量分析を可能にする。
【解決手段】質量分析用デバイス１は、表面１ｓに接触させた試料に測定光Ｌ１を照射することにより、試料中に含まれる被分析物質Ｓを表面１ｓから脱離させるものであって、基板１０の一表面１０ｓに、測定光Ｌ１の照射により局在プラズモンを誘起しうる大きさの複数の金属体２０を備えた微細構造体３０と、微細構造体３０の表面３０ｓの少なくとも一部に固着されたイオン化促進剤Ｉとを備えたものである。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】開示されるイオンガイドアレイは、第１のイオンガイド部（１）と第２のイオンガイド部（２）と、必要に応じてさらに別のイオンガイド部とを備える。各イオンガイド部（１、２）が、使用時にイオンを透過させる開口部を有する複数の電極を備える構成でもよい。第１のイオンガイド部（１）の出口に移送部を配置し、第１のイオンガイド部（１）から第２のイオンガイド部（２）に対して径方向にイオンを透過させる。移送部の電極（１ｂ、２ｂ）が、第１のイオンガイド部（１）から第２のイオンガイド部（２）に対して径方向にイオンを透過可能な径方向の開口部を備えるようにしてもよい。 （もっと読む）

【課題】スキャン測定やＳＩＭ測定において四重極質量フィルタへの印加電圧をステップ状に変化させる際に必要なセトリング時間をできるだけ短くし、時間分解能の向上又はＳＮ比や感度の向上を図る。
【解決手段】ＳＩＭ測定を実行する際に最適セトリング時間算出部１０１は、測定対象の質量とその直前の測定対象の質量との差ΔＭとその測定対象質量とに応じてセトリング時間の長さを決定する。測定対象の質量が同じでも質量差ΔＭが小さいほどセトリング時間を短くし、質量差ΔＭが同じでも測定対象の質量が大きいほどセトリング時間を短くする。これにより、測定対象質量のイオンを検出するのに十分な電圧安定化時間を確保しながら、ＳＩＭ測定の繰り返しサイクルを短縮する又は測定にあてる時間を長くすることができる。 （もっと読む）

【課題】クロマトグラフで目的化合物と他の未知化合物が十分に分離できない状態でも目的化合物を正確に同定できるようにする。
【解決手段】目的化合物の標準マススペクトル中の各ピークの強度Prと実測マススペクトル中の同一m/z値のピークの強度Prとの比Ps/Prをそれぞれ計算し、最小の強度比Ps/Prを求める。この強度比算出の元となったピークには夾雑成分の影響がないと考えられるから、各時間の実測マススペクトルにおいて同様に最小の強度比Ps/Prを求め、これを時系列順に並べることで目的化合物のクロマトグラムピーク形状を推定する。目的化合物が存在すればほぼ山型のピークが得られるから、ガウス関数に基づいて作成した参照クロマトグラムピークとの類似性が高ければ、目的化合物が含まれると判断する。 （もっと読む）

【課題】四重極型のＭＳが小型であるという特徴を活かしつつ、分解能も改善し得て、比較的に小さな四重極型のＭＳ／ＭＳ装置や、更に高分解能な装置を提供する。
【解決手段】複数の直線型四重極を、円弧状四重極を介して直列接続することにより、該四重極の全長を畳み込むように延長したイオン光学系を有する。 （もっと読む）

【課題】３連四重極型質量分析装置において、第１段四重極又は第３段四重極の一方又は両方でスキャンが実行される際の時間分解能を向上させる。
【解決手段】測定モードやスキャン条件を含む分析条件が設定されると、データ生成部４０は各部に印加する電圧値を１組とした１スキャン分の制御データテーブルを作成し、内部ＲＡＭ４１に格納する。このテーブルはＤＭＡ転送によりＦＰＧＡ２３のテーブル保持部５１に格納される。一方、m/z差算出４３がスキャン開始m/zと終了m/zとの差DZを算出し、予め作成されたテーブル４４を参照してスキャン間時間決定部４５がスキャン間時間Tmを決める。m/z差DZが小さいほど電源の電圧安定化時間が短いため時間Tmも短い。タイミング制御部５３は１回のスキャン終了時点から時間Tmだけ待ち、次のスキャンを実行するようにデータ読み出し部５２を制御する。これにより、m/z差に応じて単位時間当たりのスキャン回数が変化する。 （もっと読む）

【課題】 物質の構造に関する情報の取得効率を向上し、測定及び物質同定の時間を短縮することのできる質量分析方法を提供する。
【解決手段】 イオントラップ型質量分析装置を用いた質量分析システムにおいて、試料をイオン源でイオン化し、イオントラップ内に蓄積した全イオンに対し、高周波電圧を印加しない低フラグメント化スペクトルと、質量電荷比に依存した周波数をもつ高周波電圧を印加した高フラグメント化スペクトルを取得し、両スペクトルを比較することで、解離しやすい物質を探索することを特徴とする質量分析方法を開示する。 （もっと読む）

【課題】タンデム質量分析法は、通常の質量分析法に比べて時間がかかるため、探知装置に求められる探知スピードが達成できなかった。
【解決手段】質量分析装置を用いた分析方法において、質量スペクトルを取得するステップ（２０１）と、固有のｍ／ｚのイオンが存在するか判定するステップ（２０２）を用いて高速でスクリーニングを行う。前記判定するステップ（２０２）の判定結果に応じて分析条件をデータベースから読み込み、タンデム質量分析を行うステップ（２０３）に切り替え、精査する。タンデム質量分析法で得られた結果から、固有のｍ／ｚのイオンが存在するか判定するステップ（２０４）を行う。 （もっと読む）

【課題】分析装置の精度を向上させる。
【解決手段】走査型アトムプローブ２００は、試料３の表面を走査する引出電極５と、試料３に電圧を供給する直流高圧電源２と、直流高圧電源２により供給された電圧により引出電極５と試料３の間に生じた電界によって、試料３の表面の原子又は原子団を試料３から脱離させたときに、脱離したイオン８を検出する位置感知型イオン検出器１１とを備える。位置感知型イオン検出器１１は、イオン８の入射により電子を放出する電子増倍板２５と、電子増倍板２５から放出された電子の一部が入射する螺旋状の遅延回路線４１と、電子増倍板２５から放出された電子のうち、遅延回路線４１の線間を通過した電子が入射する導電板４２とを含む。 （もっと読む）

第１の端部と、第２の端部と、複数のロッドと、中心縦軸とを有する、細長いロッドセットを有する質量分析計と、それを操作する方法について記載される。実施形態は、ａ）ロッドセット内へとイオンを入射することと、ｂ）複数のロッド間にＲＦ場を生成し、ロッドセット内にイオンを半径方向に閉じ込めることであって、ＲＦ場は、ロッドセットの長さの少なくとも一部に沿って変動し、各イオンに対して、イオンに作用する対応する第１の軸方向力を提供して、第１の軸方向にイオンを押出すことと、ｃ）各イオンに対して、対応する第２の軸方向力を提供し、第１の軸方向と反対の第２の軸方向にイオンを押出すこととを伴う。第１の対応する軸方向力は、イオンが中心縦軸から閾値半径方向距離未満にある場合、対応する第２の軸方向力未満であって、イオンが閾値半径方向距離を上回って中心縦軸から半径方向に変位される場合、対応する第２の軸方向力を超える。
（もっと読む）

【課題】目的のイオンが十分な確保でき、ＭＳ／ＭＳ測定が最適化されたイオントラップ質量分析装置を提供する。
【解決手段】試料をイオン化するイオン源部と、イオン源にて生成されたイオンを、三次元四重極電界を形成することで所定の質量電荷比に従いイオンを閉じ込め、不要なイオンを排出し、目的のイオンのみを四重極電界内に閉じ込め、衝突誘起解離を行い、フラグメントイオンを生成し、そのイオンを質量分離し、検出器に輸送するイオントラップ部とイオンの量を電流値に変換する検出部とで構成される質量分析装置において、イオン捕捉操作における捕捉イオン量かつ目的イオン量をＭＳ／ＭＳ測定を行うために最適化し、イオン選択操作および衝突誘起解離操作を行い、ＭＳ／ＭＳスペクトルを得る。 （もっと読む）

【課題】ハウジングへのイオン化プローブの取付け・取外し作業の効率化を図りつつ、部品点数の増加を抑えてコストを抑制する。
【解決手段】フランジ部２２に貫設したシャフト２５の頭部にレバー２６を設け、シャフト２５の周面に係止ピン２７を突設する。ハウジング３０にはシャフト２５が挿入される挿入孔３５を形成し、その挿入孔３５の上部には係止ピン２７が回動可能なざぐり３５ａを設ける。凹部３３に収容されたマイクロスイッチ４０を被覆する保護プレート５２はざぐり３５ａの一部にせり出している。イオン化プローブ２０がハウジング３０にセットされ、レバー２６が回動操作されると、係止ピン２７が保護プレート５２の下方に入り込み、その係合によってイオン化プローブ２０はハウジング３０に固定される。保護プレート５２はスイッチ４０の保護とイオン化プローブ２０の固定との２つの機能を果たす。 （もっと読む）

【課題】
広い測定質量範囲をもつ質量分析装置において、高質量または低質量での測定感度が低下する。
【解決手段】
加速されたイオンが検出器までに到達する飛行時間を測定することにより、質量数を測定する、飛行時間型質量分析装置において、測定質量数に応じて検出器表面に印加する電圧を走査する。または、飛行空間と検出器の間に電極を設け、電極に印加する電極の電圧を走査することにより、広い質量範囲において、高い検出効率で測定可能な飛行時間型質量分析装置。 （もっと読む）

【課題】トラップ容量の大きなイオントラップに関し、従来技術に比べ、感度を大幅に向上させる。
【解決手段】質量選択的な排出を行う第１のリニアイオントラップと、そこから排出されたイオンを蓄積後質量選択的に排出を行う第２のリニアイオントラップを有し、第１のリニアイオントラップと第２のリニアイオントラップとのイオンの振動励起方向が直交することを特徴とする質量分析装置。 （もっと読む）