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Fターム[2G041GA16]の内容

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Fターム[2G041GA16]に分類される特許

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【課題】質量分析計へのサンプル導入のための方法、特に、サンプルを質量分析計へと大気圧で急速に導入できる“開放型プローブ”方法を提供すること。
【解決手段】質量分析計へのサンプル導入のための開放型プローブ方法であって、分析されるべきサンプル化合物をサンプルホルダに取り込むステップ(工程)と、プローブ炉を加熱するステップと、前記サンプルホルダ内の前記サンプル化合物を前記加熱されたプローブ炉内へ導入するステップと、前記加熱されたプローブ炉内へ不活性ガスを流すステップと、炉温度および不活性ガス流の複合効果により前記加熱されたプローブ炉内で前記サンプルを気化させるステップと、前記気化されたサンプルを前記不活性ガス中に混入させるステップと、不活性ガス中の前記気化されたサンプルを質量分析計のイオン源へと移送するステップとを含み、サンプル導入中および分析中に前記加熱されたプローブ炉が環境大気へと開放されたままであり、また、前記不活性ガスが、質量分析計イオン源へ及び炉開口へと移送ラインの2つの方向で前記加熱されたプローブ炉内を流れ、不活性ガス中の前記気化されたサンプルが、加熱移送ラインを介して、質量分析計のイオン源のイオン化チャンバ内へと直接に移送される、方法が提供される。 (もっと読む)


【課題】質量分光測定法に関し、小分子のハイスループット定量を行う方法を提供する。
【解決手段】質量分析定量技術は、三連四重極質量分析部30に結合されたレーザ脱離(例えば、MALDI)イオンソース20を用いて小分子のハイスループット定量を可能にする。イオンソースから生成されたイオンを、衝突ダンピング/クーリングし、次いで、マルチプルリアクションモニタリング(MRM)モードで操作される三連四重極分析部を用いて定量的に分析する。約500Hz以上の高いパルスレートでレーザパルスをイオンソースに付与することによって有意に向上した測定感度が得られる。これにより、データ取得が迅速に行われることが可能になり、イオンソースターゲット36上の各サンプルポイントに対して約1秒のスピードが達成される。 (もっと読む)


【課題】高感度な質量分析を行なうことができる質量分析用基板およびそれを用いた質量分析方法を提供する。
【解決手段】レーザーイオン化質量分析に用いる質量分析用基板であって、アニオン種が非炭酸型である層状複水酸化物を有する質量分析用基板および質量分析方法。層状複水酸化物が、下記一般式(1)で表される化合物である。
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【課題】特定の質量数のみの被検出ガスに対して、その成分及びそれらの成分比を測定できるようにする。
【解決手段】正電荷の金属イオンを被測定物質の分子に付着させて付着イオンを生成させる付着イオン生成部11と、付着イオンの質量分析を行う質量分析部と、を備え、質量分析部は、付着イオンのうち、特定の質量数の付着イオンを選択させる質量分離室13aと、特定の質量数の付着イオンを解離させるためのイオン化室13bと、解離させたイオンを分析する質量分析室14とを備えている。 (もっと読む)


【課題】多価イオンを用いて、試料表面の分析を高精度で短時間に行うことができる表面分析装置を提供する。
【解決手段】表面分析装置1は、試料5を搭載する試料台6と、試料台6に搭載した試料5に価数が15以上の多価イオンビーム4を照射する多価イオン発生源3と、試料5に多価イオンビーム4を照射することにより生じる二次イオン7を検出する質量分析部8と、試料5に多価イオンビーム4を照射することにより生じる二次電子9を検出する二次電子検出部10と、二次電子検出部10からの二次電子検出信号を受け分析開始信号を生成し質量分析部へ送信する質量分析制御部12を、備えて構成される。 (もっと読む)


【課題】測定対象物質から脱離させたイオンを検出して測定対象物質の質量分析を行う場合、測定対象物質以外の物質から別離されたイオンが検出され、測定対象物質の解析が困難になる。例えば、MALDI法を用いた場合は、イオン化したマトリックスが検出され、SALDI法を用いた場合は、測定対象物質を載置している基板に由来したイオンが検出されてしまう。簡単な構成でかつ高精度に測定対象物質の質量分析を行うことができる質量分析用デバイスを提供する。
【解決手段】検出面が形成された基板と、基板の検出面に形成され、少なくとも測定対象物質が載置された測定領域と、基板の検出面の前記測定領域と異なる領域に形成された参照領域とを有し、前記参照領域は、測定対象物質が載置されていない以外は測定領域と同一に構成されている質量分析用デバイス。 (もっと読む)


【課題】マトリックスを用いずに試料のイオン化を可能とする質量分析において、低分子化合物の測定感度を向上させるとともに、分子量30000を超える高分子量の物質のイオン化が可能となる試料ターゲットおよびその製造方法と、当該試料ターゲットを用いた質量分析装置とを提供する。
【解決手段】レーザー光の照射により試料をイオン化して質量分析を行うときに、試料を保持するために用いられ、レーザー光の照射を受ける表面に開口する複数の凹部が繰り返し形成された表面を試料保持面として備えている試料ターゲットであって、上記凹部の内面の一部を除く当該試料保持面の表面が、金属および/または半導体で被覆されているとともに、上記凹部の内面に、金属および/または半導体で被覆されていない部分が存在する。 (もっと読む)


【課題】従来よりも小型でありながら加速電場の均一性を維持することができる分析装置を提供すること。
【解決手段】本発明にかかる分析装置は、ゲートバルブ20によって仕切られたLL室10と分析室30とを有する分析装置であって、LL室に設けられ、試料が載置される試料台11と、分析室30に設けられ、試料台11よりも幅広に形成された電極33と、試料台11を駆動して、試料台11に載置された試料を分析室30に搬送する駆動機構14と、を備え、駆動機構14が試料を分析室30に搬送することによって、試料台11と電極33とが当接して導通することを特徴とするものである。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成で、高い効率で測定対象物質の質量分析を行うことができる質量分析装置を提供することにある。
【解決手段】レーザ光が照射されることでプラズモンを励起し得る金属体が形成された表面を有し、表面に測定対象物質を付着させるデバイスを支持するデバイス支持体、デバイス支持体が内部に固定された真空チャンバ、デバイスの表面にレーザ光を照射して、前記表面に付着している測定試料をイオン化するとともに、表面から脱離させる光照射手段、及び、デバイスの表面から脱離されイオン化された前記測定試料の飛行時間から前記測定試料の質量を検出する検出手段とを有する分析装置本体と、複数の前室ユニットとを有し、各前室ユニットは、分析装置本体及び他の前室ユニットに対して独立した真空系であり、それぞれが分析装置本体にデバイスをセット、回収することで上記課題を解決する。 (もっと読む)


【目的】二次イオン質量分析装置などの試料ホルダーにおいて、測定窓より小さな複雑な形状を持つ試料や微小試料を安定に保持して分析ができる試料ホルダーを提供する。
【解決手段】試料ホルダー100の試料設置部4aに導電性を持つ熱可塑性樹脂4a−1を配し、試料設置部4aを加熱し、該樹脂4a−1が変形可能となった時点で試料5の下部を埋め込み、冷却、硬化させることで、測定窓8より小さな粒子や微小試料など複雑な形状の試料5を容易に固定することが出来るようになり、二次イオン質量分析を行なうことができる。 (もっと読む)


【目的】空間分解能とイオン化効率を高める。
【構成】第1および第2の2つのレーザ・ビームL1,L2を異なる方向から試料SAに向けて,これら2つのレーザ・ビームのスポットS1,S2がその一部において試料表面上で重なるように,集光して,照射し,これら2つのレーザ・ビームの重なった試料部分から微粒子を脱離させ,脱離した微粒子が存在する空間に向けて第3のレーザ・ビームL3を照射して気化させる。気化された試料イオンをキャピラリー41を通して質量分析装置42に導く。 (もっと読む)


【課題】サンプルプレートの個別管理や、サンプルプレートのゆがみ情報に基づく質量較正を容易に行なうことのできるMALDIイオン源を備えた質量分析装置およびMALDIイオン源用サンプルプレートを提供する。
【解決手段】サンプルプレートのID情報と、サンプルプレート表面の凹凸によるゆがみ情報とをサンプルプレート表面に彫刻し、また電子ファイルとして登録することで、測定時に観察手段で読み取って、サンプルプレートの個別管理や、マススペクトルの質量較正に利用するようにした。 (もっと読む)


【課題】試料面が、ある自転軸に直交する同一面上にあることを容易に確認できる技術を提供する。
【解決手段】鏡面の試料面を持った複数の試料を取り付けた複数の試料取り付け窓を有する試料ホルダーを、これら複数の試料取り付け窓が同一の軌跡を持つように回転させて、個々の試料取り付け窓をある配置場所に順次配置し、その配置場所にある試料取り付け窓を自転させて、その試料面を観察し、試料面が自転軸に直交する同一面上にあることを確認する。 (もっと読む)


【課題】デバイス等の不良原因となる数μm以下の微小異物の質量分析を行う。
【解決手段】異物採取プローブ先端へレーザを照射する機構を持たせ、微小異物の採取と異物の加熱が同一のプローブで行える。レーザ照射で加熱するため、採取プローブ自体に特別な加熱機構を持たせることなく、採取に適したプローブを使用できる。また、レーザ光を微小異物に直接照射し脱離させるのではなく、レーザ照射により加熱された採取プローブからの熱伝導により異物を気化、熱分解する機構を持ち、加熱、分解気化の過程が安定しており、再現性の高いデータを得る。該プローブは直接質量分析装置に装着できるためコンタミレスで分析を行え、レーザでプローブ先端部の異物のみを加熱することにより、仮にプローブの先端部以外にコンタミ物質が付着したとしても先端部以外は加熱されずS/Nの良好なマススペクトルが得られる。 (もっと読む)


【課題】生体組織および細胞等を含む検体中に含まれる対象物質を高感度に検出して、この対象物質の二次元分布情報を精度良く取得する方法を提供する。
【解決手段】(1)基板上に規則的に設けた複数の突起物上に、検体を固定化する工程と、(2)固定化した検体上に試薬を滴下することにより、検体から下記工程(3)の質量分析法で分析可能な対象物質を生じさせる工程と、(3)質量分析法により、対象物質を測定する工程と、を有することを特徴とする情報取得方法。 (もっと読む)


【課題】パルスレーザー光と基板の表面または試料と基板の界面との相互作用により発生するイオン(指標イオン)の信号を利用してパルス毎のスペクトルに分類または演算などの操作を施し、望ましい信号の抽出や望ましくないバックグラウンドノイズの除去を行うようにしたレーザーイオン化質量分析法及びその試料用の基板を実現する。
【解決手段】基板の上にスペクトル解析を行う対象である試料を支持し、レーザーを照射し発生するイオンに基づいてレーザーイオン化質量分析を行うレーザーイオン化質量分析方法において、レーザーと基板表面、又はレーザーと基板及び試料の界面の相互作用からイオンを発生させ、該イオンを指標イオンとしてその信号を利用し、レーザーイオン化質量分析方法におけるノイズとなる信号を明確にして、ノイズに影響されないスペクトルの解析を行う。 (もっと読む)


【課題】質量分析法などに使用される新規微粒子を提供する。
【解決手段】(a)コランダム単位胞がc軸方向に二重に並び、c軸方向の両面が二酸化ケイ素のネットワークに覆われた構造単位を有し、(b) 前記構造単位(a)がa,b軸方向に周期的に配列したマコーレート様構造をとり、(c)前記二酸化ケイ素に官能基が結合していることを特徴とする、機能性微粒子。 (もっと読む)


【課題】試料から汚染成分を除去するための高温熱処理等の処理を要することなく、簡便且つ迅速に正確な試料分析を行なう。
【解決手段】ホルダー板12の表面のうち、試料1から散乱したイオン等が衝突し易い、試料1との対向面を絶縁性薄膜13で被覆する。この絶縁性薄膜13により、その被覆部分が帯電して試料と異なる電位となり、所謂チャージアップ現象により絶縁性薄膜13の部分からの二次イオンの放出が抑止される。 (もっと読む)


【課題】
汎用性の高いLDIプレート等を提供する。
【解決手段】
本発明の第1の側面は、レーザー脱離イオン化質量分析法の分析対象となる試料を支持するためのLDIプレートであって、基板と、前記基板上に塗布され、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助するイオン化補助粒子とを有することを特徴とするLDIプレートにある。本構成によれば、容易に製造でき、汎用性の高いLDIプレートが得られる。本発明の第2の側面は、レーザーが照射されることによって分析対象となる試料のイオン化を補助する白金粒子を有することを特徴とするLDIプレートにある。本構成によれば、広範囲の波長のレーザー光を吸収できる白金粒子が基板上に担持されているため、様々な種類の試料をレーザー脱離イオン化質量分析法の対象とすることができる。 (もっと読む)


【課題】既存マトリクスを用いずに分析対象物質を効率よくイオン化することができる質量分析法、また既存マトリクスの結晶粒径よりも高い空間分解能で以て生細胞や組織などの試料に含まれる分析対象物質の解析を行うことができる質量分析方法を提供する。
【解決手段】レーザー光を試料に照射してイオン化を行うイオン源となる金属酸化物がポリマーで被覆された微粒子を用いる質量分析法。 (もっと読む)


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