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【課題】イオン液体の熱安定性を評価するためのイオン液体の評価方法を提供する。また、この技術を用いることで、用途に応じたイオン液体の容易な選択を可能とするイオン液体の選択方法を提供する。
【解決手段】イオン液体を、熱質量分析(TGA)と、加熱脱離−ガスクロマトグラフ質量分析(TDS−GCMS)とを用いて分析することで、イオン液体の熱安定性、および、イオン液体が熱分解して生ずる化合物について評価するイオン液体の評価方法である。 (もっと読む)


【課題】高真空下で昇温された試料から脱離する脱離有機物でも高精度で分析でき、その同定、定量も可能な脱離有機物分析方法および脱離有機物分析装置の提供を目的とする。
【解決手段】試料を設置する試料室10と、試料室10内を減圧する減圧手段12と、試料室10内の前記試料を加熱する加熱手段14と、試料室10にキャリアガスを導入するガス導入手段16と、前記試料から脱離した脱離有機物を分析する分析手段18とを備え、試料室10と分析手段18が試料供給配管32で接続されている脱離有機物分析装置100。また、減圧した試料室10内で試料を昇温して脱離有機物を脱離させる工程と、試料室10内にキャリアガスを導入して前記脱離有機物をキャリアガスに含ませる工程と、前記脱離有機物を含むキャリアガスを分析手段18に供給する工程と、前記脱離有機物を分析する工程を有する脱離有機物分析方法。 (もっと読む)


【課題】熱分析法で、正確な温度の較正が容易に行えるようにする。
【解決手段】分析対象の物質とは異なり、常温〜1000℃の範囲で気体を生じる指標物質を試料に加えた内標準試料を作製する。次に、内標準試料を昇温脱離分析法で分析することで、指標物質より生じた指標気体の昇温脱離スペクトルを取得する。なお、この昇温脱離分析法の分析においては、指標気体の分析とともに分析対象の物質の分析も行う。試料(内標準試料)に分析対象に物質が含まれていれば、指標気体の昇温脱離スペクトルとともに分析対象の物質の昇温脱離スペクトルも得られる。次に、得られた指標気体の昇温脱離スペクトルより、指標物質から指標気体が発生した計測温度を求める。 (もっと読む)


脱着前に予備濃縮装置ハウジング(2)を排気する際に、化学分析装置(7)と予備濃縮装置ハウジング(2)のあいだの流動制限物質および/またはメンブレン(15)が省略されうるように、化学分析装置の内圧に実質的に等しいレベルまで予備濃縮装置ハウジングの内圧をポンプシステム(13)が低減させる、化学分析システムを開示する。化学分析システムは、化学分析装置(7);関心対象化学物質を吸着または脱着させるために吸収材料を加熱するように構成された温度制御要素(5、18)と吸収材料(1)とをその中に入れた、化学分析装置に連結された予備濃縮装置ハウジング(2);および関心対象化学物質を脱着させる前に予備濃縮装置ハウジングを排気するように構成された、予備濃縮装置ハウジングおよび化学分析装置に連結されたポンプシステム(13)を含む。

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【課題】試料を安定して保持することができる分析装置を提供する。
【解決手段】本体と、試料を載置する載置面を有し、当該載置面を前記本体外部に露出させる第1の位置と、当該載置面を前記本体内に収容する第2の位置とを通る軌道において往復移動可能に前記本体に設けられたスライダと、前記スライダに設けられ、前記本体と係合して前記スライダを係止させる係合部材と、を備え、前記係合部材は、前記スライダに沿って突出する突出部を有し、前記係合の解除に伴い前記突出部が前記載置面を覆うことを許容するとともに、前記係合に伴い前記突出部による前記載置面の覆いを解除することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】高分子量化合物の検出を高感度に行うと共に、実質的に低分子領域の解析に支障がでないようにフラグメンテーションを極力避けることを可能にする質量分析用基板を提供する。
【解決手段】表面に多孔質構造1を有する金属を含む基板2の表面に酸化物層3が形成され、該酸化物層3と、少なくともカルボキシル基(−COOH)、スルホン酸基(−SO3H)又は塩化アンモニウム基(−NH3Cl)のいずれか1種類の官能基4が共有結合により結合している質量分析用基板。 (もっと読む)


【課題】デバイス等の不良原因となる数μm以下の微小異物の質量分析を行う。
【解決手段】異物採取プローブ先端へレーザを照射する機構を持たせ、微小異物の採取と異物の加熱が同一のプローブで行える。レーザ照射で加熱するため、採取プローブ自体に特別な加熱機構を持たせることなく、採取に適したプローブを使用できる。また、レーザ光を微小異物に直接照射し脱離させるのではなく、レーザ照射により加熱された採取プローブからの熱伝導により異物を気化、熱分解する機構を持ち、加熱、分解気化の過程が安定しており、再現性の高いデータを得る。該プローブは直接質量分析装置に装着できるためコンタミレスで分析を行え、レーザでプローブ先端部の異物のみを加熱することにより、仮にプローブの先端部以外にコンタミ物質が付着したとしても先端部以外は加熱されずS/Nの良好なマススペクトルが得られる。 (もっと読む)


【課題】屋外、屋内に拘わらずかびの有無の確認や種類の特定を現場で連続的に行うことを極めて容易とし、さらにはその分析結果の信頼性が大いに向上する分析装置および分析方法を提供すること。
【解決手段】サンプル採取部1と、このサンプル採取部1において採取したサンプル中の物質をイオン化するイオン化部2と、前記サンプル中のイオンを下流側に向かうイオン風とするイオン風発生部3と、サンプル中のイオンをイオン移動度に応じて分別する分別部4と、この分別部4により分別したイオンを検出する検出部5とを備え、検出部5の検出対象がイオン化したかび臭物質である。 (もっと読む)


【課題】物品が配置された加熱室を通流したガスの分析を、低コストで行う。
【解決手段】物品173が配置された加熱室174を通流したガスを分析する昇温脱離ガス分析方法において、加熱室174を通流したガスを、電圧が印加される2つの電極を配置した放電室に導入し、前記2つの電極間の放電の状態に応じた信号を得て、該信号に基づいて脱離ガスの分析を行う。 (もっと読む)


【課題】試料の温度を正確に測定することができるガス分析装置を提供する。
【解決手段】本発明のガス分析装置は、試料mを吸着させた基板wが載せられる載置台1aを有する測定チャンバ1と、測定チャンバ1内を減圧する真空ポンプ3と、試料mを吸着させた基板Wを加熱するハロゲンランプ4と、測定チャンバ1内に挿入され、温度が上昇することによって脱離する試料の気体分子を検出する質量分析計8と、基板Wの光学的厚さを検出する干渉計11を利用して、基板Wの温度を計測する温度計測システム11,16と、を備える。試料mの温度は基板Wの温度と同じである。干渉計11を利用して、基板Wの温度を計測することで、試料mの正確な温度を知ることができる。 (もっと読む)


IMS装置は、インレット7に前段濃縮器9を有する。ハウジング1の内側に結合された圧力パルス発生器8は、ハウジングに小さい交番の正負圧力のパルスを供給し、空気をインレット7へ、およびインレット7から、脈動して流す。これにより、試料が、前段濃縮器9により吸着され、イオン化され検出されるのに十分な試料は流れることができない。前段濃縮器9で検出可能な試料の量を集めるのに必要な時間の後、装置は、脱離フェーズに切り替える。前段濃縮器9が、試料を脱離するために加熱され、圧力パルス発生器8が、イオン化と検出のために反応領域に、解放された試料の十分な量を流すため大きな負のパルスを生成する。
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【課題】比較的低濃度の成分も確実に分析することができる微細粒子成分分析装置を提供する。
【解決手段】大気をサンプリングするサンプリング装置11と、サンプリング装置11でサンプリングされたサンプリングガス1中から目的とする粒径のナノメータサイズの微細粒子2を分級して送出する静電式の分級器12と、分級器12から送出された微細粒子2のうちの一部を吸着すると共に、吸着した当該微細粒子2の成分を送出する濃縮装置15と、分級器12からの微細粒子2の成分及び濃縮装置15からの微細粒子2の成分を分析するレーザイオン化飛行時間型の質量分析装置14と、分級器12からの微細粒子2及び濃縮装置15からの微細粒子2の成分のいずれか一方を質量分析装置14に送給するように切り換える三方制御弁16A〜16Cを備えて微細粒子成分分析装置10を構成した。 (もっと読む)


【課題】セメント中の粉砕助剤を的確に定性分析しつつ、且つ正確に定量することができる定性分析並びに定量分析方法を提供する。
【解決手段】セメントc中の粉砕助剤ex1の定性分析方法は、粉砕助剤ex1を含有するセメントcに対して加熱脱着処理を行うことにより当該粉砕助剤ex1を熱分解することなく他の成分とともに抽出物ex1、ex2として抽出する加熱脱着工程ST1と、抽出物ex1、ex2をそれぞれ認識可能な状態に検出するガスクロマトグラフ工程ST3と、検出された抽出物ex1、ex2の質量スペクトルをそれぞれ計測する質量分析工程ST4と、抽出物ex1、ex2の質量から粉砕助剤ex1を同定する定性分析工程ST5とを含んでいることを特徴とし、同定した粉砕助剤ex1の量を測定する定量分析工程ST6をさらに含んでいる。
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【課題】この発明は、被検体表面全体の付着物質を非破壊で分析する分析装置および分析方法を提案することを目的とする。
【解決手段】表面に農薬のある農作物100を加熱する温風ヒータ11と、加熱によって前記農薬がガス化したガスを吸引する吸引ポンプ23と、吸引された前記ガスを噴射する高温ガス噴射装置と、噴射された前記ガスに、複数種の波長のレーザビームを照射するレーザビーム照射装置と、前記レーザビームと前記ガスとの衝突によってガスに含まれる分子がイオン化した波長を検知する検知手段と、検知した波長データに基づいて前記付着物質を特定するレーザ分析部分25とを備えた。 (もっと読む)


【課題】日光臭の原因物質である3−メチル−2−ブテン−1−チオール(3MBT)を、官能閾値濃度より低い濃度域であって従来よりもさらに低い濃度域において、充分な感度と高い精度で定量分析することができる分析方法の提供。
【解決手段】発酵麦芽飲料もしくはビール様飲料中に不活性ガスを吹き込み、該飲料から微量揮発性成分を追い出して捕集管中の捕集剤で捕集し、得られた捕集成分を、加熱脱着装置、クライオフォーカストラップ、およびキャピラリーガスクロマトカラムを通した後に質量分析器を用いて検出する、発酵麦芽飲料もしくはビール様飲料中の日光臭成分である3MBTの高感度定量分析方法であって、前記捕集管として2種以上の捕集管の組み合わせを使用し、かつ/または、内部標準物質として3MBTの安定同位体を用いることを特徴とする方法。 (もっと読む)


【課題】製造環境の気体モニタリングシステムにおいて、クリーンルーム環境または装置内に存在する気体の中で特定の基板表面に選択的に付着する成分を一定周期で検出し、その中で基板の透過率を低下させる成分を効率的にモニタリングする気体モニタリングシステムの提供。
【解決手段】製造環境の気体の中で、特定の基板表面に付着する成分を収集する成分収集手段と、収集された成分を少なくとも定性及び定量分析する分析手段と、該分析結果に基づいてモニタリング項目におけるシミュレーションを行うシミュレーション手段と、を有し、前記シミュレーション手段のモニタリング項目が、特定波長における分析物質の光吸収スペクトル及び分光特性の算出する気体モニタリングシステムを具備する装置、及び該装置を用いて、付着する成分中で基板の透過率を低下させる成分をモニタリングする気体モニタリングシステム。 (もっと読む)


【課題】大気中のベンゼンの炭素安定同位体比(13C/12C)の測定値に基づいて、前記ベンゼンの炭素源を特定する。
【解決手段】所定範囲から採取した空気に含まれるベンゼンの炭素安定同位体比(13C/12C)を測定し、この測定結果からδ13C値(国際標準物質の炭素同位体比に対する、試料中の炭素同位体比の千分率偏差)を算出し、δ13C値が「−23〜−26‰」である場合に前記ベンゼンは石炭を炭素源とするベンゼンであり、δ13C値が「−27〜−29‰」である場合に前記ベンゼンは石油を炭素源とするベンゼンであると特定する。なお、δ13Cの算出値は、ベンゼンを含有する一般大気の影響が排除された値になるようにする。図1は分析装置の一例である。 (もっと読む)


【目的】試料の特定領域のみの吸着物を評価することが出来る昇温脱離ガス分析方法および評価昇温脱離ガス分析装置を提供する。
【構成】試料S表面上に吸着した吸着物Dを加熱して脱離させ、脱離した脱離物質またはその成分物質を分析する昇温脱離分析方法において、昇温脱離前に、試料Sの分析対象領域を遮蔽板Cで被覆して、Arイオンエッチングを行い、試料の分析対象領域以外の領域の吸着物を予め除去しておいてから、昇温脱離分析を行うようにする。 (もっと読む)


本発明は、流体精製デバイスを用いる製造プロセスにおける汚染物質濃度の監視に関する。本発明は、全プロセスにわたりプロセス流体流中に含まれる汚染物質を吸着させるために精製材料を用いるプロセス流体流中の汚染物質濃度を分析するための高感度方法を提供する。
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本明細書では、1つ以上のサンプルを有する基板を、光エネルギー源でサンプルをイオン化する位置に保持する装置が開示される。装置は、収容表面、背面、および外形輪郭を画定する縁部を有する収容板を備える。1つ以上の収容リップが、収容表面から突き出る。収容表面は、サンプルのイオン化のために基板を位置合わせするために、収容リップにより収容される少なくとも1つの縁部を有する基板の背面を収容する。装置はさらに、基板を保持して位置合わせするための前面フィンガと背面フィンガとを備える、少なくとも1つの基板クリップを有する。前面フィンガは、基板の前縁部を係合して、基板を所定の位置に保持するように、収容板および基板の厚みを横切って延在する。背面フィンガは、収容板の背面を係合する。収容板は、マトリックス支援レーザ脱離イオン化質量分析計内の空間と協働して、サンプルをイオン化する位置に保持する。
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