Array ( [0] => その他の電気的手段による材料の調査、分析 [1] => イオン化後の処理 [2] => 断片化させるもの、CID ) その他の電気的手段による材料の調査、分析 | イオン化後の処理 | 断片化させるもの、CID
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Fターム[2G041KA01]の内容

その他の電気的手段による材料の調査、分析 (22,023) | イオン化後の処理 (407) | 断片化させるもの、CID (363)

Fターム[2G041KA01]に分類される特許

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高いサンプル利用度で質量スペクトルを測定する方法は、第1の所定の範囲の質量電荷比を持つ質量スペクトルから第1の群の前駆イオンを質量フィルタするステップを含む。第1の群の前駆イオン中の少なくとも1種類の前駆イオンが、次に選択的にフラグメント化される。第1の群の前駆イオン中のフラグメント化された前駆イオンの第1のフラグメント質量スペクトルが測定され、一方では第1の所定の範囲内の質量電荷比の他の前駆イオンが保持される。第2の所定の範囲の質量電荷比を持つ第2の群の前駆イオンが質量スペクトルから質量フィルタされる。第2の群の前駆イオン中で、少なくとも1種類の前駆イオンが選択的にフラグメント化される。第2の群の前駆イオン中でフラグメント化された前駆イオンの第2のフラグメント質量スペクトルが次に測定される。
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【課題】複数の真空チャンバを通過する質量分析計の構成要素への迅速で便利なアクセスを提供する。
【解決手段】ハウジング211に対して開放位置と閉鎖位置との間で移動可能なパネル209を備えた質量分析システム201。イオン光学系203の少なくとも一部がパネル209に対して取り付けられる。パネル209が閉鎖位置にある際に、ハウジング211がイオン光学系203を取り囲み、ハウジング211内の真空チャンバ221,223を分離させるガス障壁をパーティション215が形成する。パーティション215により形成されたガス障壁は、パネル209が開放位置へ移動した際に破られる。 (もっと読む)



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