【課題】 外層と、アルミニウム箔層と、内層とを少なくとも備えた包装材をプレス成形することにより凹部を備えた形状に成形した容器状外装体の内層側に生じた前記アルミニウム箔層にまで達するピンホールの有無を容易に確実に確認することができるピンホールの検査方法を提供することである。
【解決手段】 外層と、アルミニウム箔層と、内層とを少なくとも備えた包装材をプレス成形することにより凹部を備えた形状に成形した容器状外装体の内層側に生じた前記アルミニウム箔層にまで達するピンホールの検査方法であって、前記容器を鍍金法にて前記ピンホールの部分に金属析出物を形成することを特徴とするピンホールの検査方法。 （もっと読む）

【課題】該被膜に含まれる金属元素を正確に定量分析することができると共に、この定量分析における労力の削減と処理時間を短縮することができる定量分析装置及び定量分析方法を提案する。
【解決手段】基材の表面に形成された被膜に含まれる金属元素の定量分析を行う定量分析装置１であって、該分析装置１は、前記被膜を脱離するための液に前記基材を浸漬する基材浸漬手段１２と、該浸漬した液中の前記金属元素を分析する分析手段１０Ａと、を少なくとも備えてなる。 （もっと読む）

【課題】半導体や液晶製造用の洗浄水として使用される超純水のエッチング性について、シリコン物質に対する影響度を指標として簡易かつ高感度に評価する水質評価方法と、当該水質評価方法を用いる超純水評価装置及びこの超純水評価装置を備えた超純水製造システムを提供する。
【解決手段】超純水製造装置が製造する超純水等の試料水をシリコン物質と接触させ、該シリコン物質に接触後の試料水の溶存水素濃度を測定し、該シリコン物質との接触前の前記試料水に対する溶存水素濃度の上昇分を算出し、該溶存水素濃度の上昇分に基づいて、前記試料水がシリコン表面をエッチングする性質を有するか否かを判断する。 （もっと読む）

【解決課題】 貴金属化合物中の貴金属含有量を定量分析する方法において、簡潔な工程からなり、また、熟練を要せず自動化が可能な分析方法を提供すること。
【解決手段】 本発明は、貴金属化合物中の貴金属含有量を定量分析する方法において、固体状の貴金属化合物、又は、貴金属化合物水溶液を濃縮した試料を、１〜４％の水素を含む還元性ガス中で、３００〜５００℃、０．５〜１時間還元処理した後、貴金属単体を回収して秤量する工程を含む方法である。ここで、貴金属化合物水溶液を濃縮する際には、貴金属水溶液を水分がなくなるまでサンドバス又は乾燥器にて均一加熱するのが好ましい。また、還元処理前の試料に塩化アンモニウムからなる添加剤を添加し、試料を被覆した後に還元処理するのが好ましい。 （もっと読む）

【課題】 測定対象試料として金属（特に鉄鋼）に含有するの微量酸素量の測定を精度良く行うことができる含有酸素分析装置および含有酸素分析方法を提供する。
【解決手段】 分析炉３内の黒鉛るつぼ２に測定対象試料Ｓおよび金属浴剤Ｆを投入してこれらを加熱溶解することで、測定対象試料Ｓの含有酸素量を分析する酸素分析装置１であって、大気から隔離した状態で測定対象試料Ｓを融点以下の温度に加熱することでその表面の酸化膜を予備還元する予備還元炉４と、この測定対象試料Ｓを大気から隔離した連通路５を介して前記黒鉛るつぼ２内に投入するための試料投入手段８とを有する。 （もっと読む）

【課題】簡単な設備または備品により、半田合金の銅の含有濃度を簡便に求めることのできる方法、並びにこの方法を容易に実施するためのキットおよび装置を提供すること。
【解決手段】半田合金の銅濃度検出方法は、（１）対象半田合金の既知量を無機酸の水溶液に溶解し、（２）試料溶液を希釈し、（３）希釈溶液を、銅イオンと反応して有色の銅錯体を形成する反応用溶液および反応促進剤の溶液と混合して反応させ、（４）反応生成物溶液の吸光度を測定し、測定結果を、同様の手順により予め求めておいた検量結果と対照して、目的とする銅の含有濃度を求める。キットは、既知の濃度の無機酸の水溶液、希釈液、既知の濃度の反応用溶液、反応促進剤溶液およびｐＨ調整液の既知量が１組のセットとされる。装置は、ケース体に、微量秤量器、吸光度測定器および上記のキットを構成する第１〜第５の容器が保持される。 （もっと読む）

【課題】 シリコンおよびゲルマニウムからなるウエハに含まれる不純物量を、効率的かつ高精度で測定可能とするために、最小限の工程で、測定試料を調製して分析する半導体ウエハの不純物分析方法を提供する。
【解決手段】 シリコンおよびゲルマニウムからなるウエハ表面に、フッ化水素酸の濃度が０．３１〜０．００６３％、硝酸の濃度が６７．４〜６８％である混酸を接触させて溶解した回収液を加熱濃縮して、シリコン成分およびゲルマニウム成分を揮発させたものを測定試料として、高周波誘導結合プラズマ質量分析装置または原子吸光分析装置にて不純物分析を行う。 （もっと読む）

【課題】 クロメート処理の金属材料処理皮膜中の６価クロムを正確に、価数変動なく抽出して測定する方法を提供する。
【解決手段】 ６価クロメート皮膜が形成されている金属母材を、水酸化リチウムを含有する水溶液が入っている容器に入れ、クロメート皮膜を抽出液に浸漬して加熱することで６価クロムを抽出する抽出工程と、抽出した６価クロムを定量する定量分析工程とを有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】本発明は、０．０５mass ppm以下の極微量の水素も対象とすることが可能な水素マイクロプリント法を提供する。
【解決手段】材料の表面に、水素原子の化学吸着エネルギーの大きい金属めっき、パラジウムめっきまたはパラジウム-ニッケルめっきを施した後、その上に臭化銀を密着させ、生成する銀をSEMなどで観察して、水素放出個所を可視化したり、その量から、材料より放出される水素量を測定する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、鉄鋼材料中の炭素を固溶炭素と析出炭素の形態別に精度良く定量する方法を提供する。
【解決手段】鋼中の析出物炭素量は、鋼のマトリックスを溶解し、無機フィルタ上にろ過捕集した鋼中析出物抽出残渣を酸素気流中で加熱して一酸化炭素と二酸化炭素の量を測定して求め、固溶炭素量は、予め求めておいた鋼中の全炭素量から前記析出物炭素量を減じて求めて鋼中炭素を形態別に定量する際、前記鋼中析出物抽出残渣を予備加熱、好ましくは３００℃〜３２０℃以下に加熱し、混入した固溶炭素を燃焼除去した後、酸素気流中で加熱して前記析出物炭素量を定量する。 （もっと読む）

【課題】ニオブ、タンタル、ジルコニウム、チタンの金属単体、金属合金あるいはこれら金属の化合物からなる試料中の微量Ｓｂを、煩雑な前処理を行うことなく迅速かつ高感度に定量する方法を提供する。
【解決手段】無機材料中の微量Ｓｂの定量方法はニオブ、タンタル、ジルコニウム、チタンの金属単体、金属合金あるいはこれら金属の化合物からなる試料を分解容器に秤量した後、塩酸およびフッ化水素酸を加えて試料を分解後、得られた溶液中のＳｂを、化学修飾剤を添加しファーネス原子吸光法によって測定する。 （もっと読む）

【課題】 固体試料に含まれる６価クロム量を正確に測定できる前処理方法、及び、その前処理方法を用いた６価クロムの定量方法を提供する。
【解決手段】 鉄板の表面に亜鉛でメッキを行い、亜鉛メッキ面にクロメート処理が施された試料１を、濃度１％の水酸化ナトリウム水溶液２を収容した容器３内に入れる（ａ）。この容器３をホットプレート４上に載置し、６０℃〜７０℃で２時間加熱する（ｂ）。この加熱処理中に、試料１に含まれる６価クロムが水酸化ナトリウム水溶液２に溶出する。加熱処理後、室温で放冷して試料溶液５を得る（ｃ）。吸光光度法、ＩＣＰ発光法または原子吸光法により、試料溶液５内の６価クロム量を測定して、試料１に含まれる６価クロムを定量する。 （もっと読む）

【課題】容器の構造を複雑化させずに、シリコン基板の分解速度を高めることができる処理装置を提供すること。
【解決手段】処理装置１は、シリコン基板２１を分解するものであり、内部にシリコン基板２１と、分解液２２とが充填される容器１１を備える。この容器１１には孔１１３が形成されており、容器１１内部の気体は孔１１３を介して、外部に排出される。従って、容器１１からは、シリコン基板２１の分解反応に伴って発生する副生成ガスである二酸化窒素や、ＳｉＦ_４が排出されることとなり、シリコン基板の分解速度の向上を図ることができる。 （もっと読む）

【課題】シリコン基板を効率よく分解することができる処理装置を提供すること。
【解決手段】処理装置１は、ドラフト内に設置されており、内部にシリコン基板２１と、分解液２２とが充填される容器１１と、加熱部１２と、支持板１３とを備える。支持板１３上にシリコン基板２１を設置し、容器１１内に配置する。支持板１３は、容器１１の容器本体１１１内に所定の角度を持って傾斜して配置されており、分解液２２の液面と平行に配置されていないので、分解液２２の気化を妨げることがない。これにより、シリコン基板２１の分解を効率よく行うことができる。 （もっと読む）

有機汚染物質分子センサ（１０）は、固体酸素アニオン導体（１２）と、監視される環境（１８）に露出するために導体の第１の表面に形成された測定電極（１４）と、参照環境（２０）に露出するために導体の第２の表面に形成された参照電極（１６）とを有する電気化学セルを含む。電極は、酸素の解離的吸収に対する触媒作用を及ぼすための材料から形成されるか、あるいは、その材料でコーティングされる。電極間の電位差を監視するための手段（３２）が提供され、監視される環境内に有機汚染物質分子がない場合には、電極間の電位差が基本値Ｖ_bをとり、監視される環境内に有機汚染物質分子が導入されたときには、電位差は監視される環境における有機汚染物質分子と酸素との反応により測定値Ｖ_mをとり、Ｖ_m−Ｖ_bは監視される環境内に導入された有機汚染物質分子の量を示す。
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