【課題】精度のよい生体高分子分析装置を提供する。
【解決手段】透明基板１７上に二次元アレイ状に配列された複数の光電変換素子２０を備える撮像素子３の受光面上に特定の生体高分子と結合するプローブの溶液を滴下しスポット６０を形成した生体高分子分析チップ１０と、生体高分子分析チップ１０に透明基板１７側からスポット検出光を照射するスポット検出光源７８と、光電変換素子２０を駆動するコンピュータ７３とからなる生体高分子分析装置７０である。光電変換素子２０により計測されるスポット検出光のスポット６０表面における反射光に基づいてスポット６０を検出するとともに、スポット６０を検出した光電変換素子２０の座標を記憶する記憶部を備え、プローブ６０に結合した生体高分子を標識する標識物質からの発光の計測時に記憶部に記憶された座標の光電変換素子２０のみを動作させる。 （もっと読む）

【課題】
【解決手段】
処理水中の残留処理剤のモニタ方法であって、フルオレセイントレーサで標識又は追跡した少なくとも２つの異なる投与量の処理剤で、水の蛍光強度が処理剤の残留濃度（ｃｏｎｃｅｎｔｒａｔｉｏ）と相関している方法。また、異なる処理剤投与量での蛍光応答を用いて、継続的に最適な処理剤投与量を自動で決定し、それによって処理剤投与量を制御する。 （もっと読む）

【課題】非金属介在物を含有する金属をスパーク発光分光分析装置で分析する際に信頼性の高い分析データを得ることのできるスパーク発光分光分析装置用標準試料を提供する。
【解決手段】金属からなる試料本体１の表面に非金属粒子を分散せしめた非金属粒子分散層２を有するスパーク発光分光分析装置用標準試料において、非金属粒子分散層２に分散する非金属粒子の密度分布を１００〜２５０００個／ｃｍ³としたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】容易に判別できる基準ビーズを用いることによって、振動検出時間を短縮して高速に解析を行うことを目的とする。
【解決手段】表面に塗布する異なる色を発光する半導体ナノ粒子の混合比を変えて複数種類の色ビーズを作成し、前記色ビーズの蛍光画像から前記色ビーズに塗布された半導体ナノ粒子の混合割合を特定し、前記色ビーズの種類を判別する色ビーズ判別装置において、前記ビーズと光の透過率の異なるビーズを用いて基準ビーズを作り、前記色ビーズと混ぜ合わせたサンプルに励起光を照射して得られた蛍光画像において、前記基準ビーズの蛍光画像から振動を検出することにより、振動検出時間を短縮して高速に解析を行う。 （もっと読む）

本発明は、少なくとも一つの薄膜（２）が配置された基板（１）を備えている、蛍光測定器を較正又は標準化するための標準マイクロ素子（４）に関する。この薄膜（２）は、蛍光成分を含む。薄膜（２）には、厚さのない少なくとも一つの第１の領域（３）が形成され、それによって基板（１）を露光する。この薄膜（２）は、第１及び第２の蛍光レベルがそれぞれ薄膜（２）の非露光部分と露光部分（２ａ）とにおいて規定されるように、少なくとも一つの露光領域（２ａ）を備えている。第２の蛍光レベルは、第１の蛍光レベルより低い。標準マイクロ素子（４）はまた、複数の蛍光レベルを規定するように複数の積層された薄膜を備えることもできる。
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【課題】 複数の励起光照射領域それぞれについて同時に又は順次に蛍光相関分光法により測定するのに好適に用いられ得る励起光照射光学系を備える蛍光顕微鏡および蛍光相関分光解析装置を提供する。
【解決手段】 蛍光顕微鏡１１は、対物レンズ１０１、ダイクロイックミラー１０２、ハーフミラー１０５、ミラー１０６、レーザ光源１１１、ＮＤフィルタ１１２、ビームエクスパンダ１１３、ミラー１１４、空間光変調素子１１５、レンズ１３１、バンドパスフィルタ１３２、空間光変調素子１３３、検出部１３４等を備える。空間光変調素子１１５は、空間的な変調が可変であり、以降の光学系を介して空間的に変調した励起光を被測定試料１に照射させることで、被測定試料１中において励起光が照射される領域の個数・位置・形状を設定することができる。 （もっと読む）

新規な改良共焦点蛍光顕微鏡について開示する。新規顕微鏡は、既存の顕微鏡共焦点撮像装置に比して顕著な利点を有する。従前の共焦点撮像装置と同様、本発明は、従来の広視野及び共焦点蛍光撮像装置に比して利点を有する。ただし、本発明は、部品が簡単で、例えばピンホール又はスリットのような物理的空間フィルタを必要としないため、コスト及び複雑さの面での共焦点技術の欠点も解消し、大幅に節約できる。 （もっと読む）

ターゲット試料（１）中に含まれる複数の蛍光色素の濃度を撮像装置（３０）を用いて定量する。この撮像装置は、複数の検出波長帯を有する。複数の蛍光色素の各々を所定の単位濃度で単独で含む複数の基準試料を用意し、各基準試料から発する蛍光の各検出波長帯での測定強度を取得する。撮像装置を用いてターゲット試料の蛍光画像を各検出波長帯で撮像する。基準試料およびターゲット試料から取得した蛍光強度を用いて演算を実行することにより、ターゲット試料中の各蛍光色素の濃度を算出する。 （もっと読む）

【課題】 インプロセスで被加工面の酸化膜の形成をモニタリングする。
【解決手段】 レーザー切断を行った後にレーザー溶接を行うに際し、レーザー切断面に酸化膜が形成されていない時にレーザービームを照射した際における溶接部の基準発光強度と光学センサ１０で検出した溶接部の実発光強度とを比較手段１１で比較し、酸化認識手段１３で基準発光強度に対して実発光強度が高いと判断された場合に溶接面への酸化膜の形成を認識し、インプロセスで被加工面の酸化膜の形成をモニタリングする。 （もっと読む）