【課題】局在プラズモンによる光増強効果を利用して被検体から生じる微弱な光を増強し検出する測定方法において、より良好なＳ／Ｎでの測定を実現する。
【解決手段】表面に透明な微細凹凸構造２２を備えた透明基板１０と、表面の微細凹凸構造２２表面に形成された金属膜２４とを備えた光電場増強デバイス１を用い、光電場増強デバイス１の金属膜２２上に被検体Ｓを配置し、光電場増強デバイス１の被検体Ｓの配置箇所に対して励起光Ｌ１を照射し、励起光Ｌ１の照射により生じた光を、透明基板１０の裏面側から検出する。 （もっと読む）

【課題】ラマン分光法における検出感度を向上可能な光デバイスユニット等を提供する。
【解決手段】検出装置に着脱可能な光デバイスユニットであって、電気伝導体を有し、光源Ａからの光を受けて生じたラマン散乱光を増強可能な光デバイス４と、前記光デバイス４に気体試料を誘導する第１の誘導部４２０とを含む。前記第１の誘導部４２０は、前記気体試料を取り込み口から取り込む第１の流路を有し、前記第１の流路は、前記取り込み口と前記光デバイス４との間に、外光の入射線を遮る内壁面を有する。 （もっと読む）

【課題】所望の被検出光を高感度かつ高ＳＮ比でヘテロダイン検出できる光検出装置および光検出方法、並びに、顕微鏡および内視鏡を提供する。
【解決手段】モード同期波長掃引レーザを含み、局発光を発生する局発光発生手段１０と、局発光発生手段１０から発生される局発光と被検出光とを合波する光合波手段２０と、光合波手段２０から出力される光を光電変換して局発光と被検出光とのビート信号を生成する光電変換手段３０とを有し、光電変換手段３０の出力に基づいて被検出光をヘテロダイン検出する。 （もっと読む）

【課題】観察対象野の蛍光区域を識別するための改善された蛍光手術用実体顕微鏡を提供する。特には、反射された背景照明と蛍光区域の発光光との間のコントラストの変更を可能にする蛍光手術用実体顕微鏡を提示する。
【解決手段】観察対象野（７）を励起波長領域（Ｅ）内の光で照射する第１照明装置（２）を含む、観察対象野（７）内の観察対象の蛍光区域を識別及び処置するための蛍光手術用実体顕微鏡（１）が提供される。更に蛍光手術用実体顕微鏡（１）は、観察対象野（７）によりもたらされた反射光及び発光光を案内するための観察光線路（２１）と、励起波長領域（Ｅ）内及び蛍光波長領域（Ｆ）内において透過性である、観察光線路（２１）内の第１観察フィルタ（９）とを含んでいる。本発明に従い、観察光線路（２１）内には補助的に励起波長領域（Ｅ）内の制御可能な減衰のための手段（１０ａ〜１０ｃ）が配設されている。 （もっと読む）

【課題】基板表面に固定した核酸試料上の蛍光色素を、エバネッセント光で励起して検出する核酸分析デバイスにおいて、長い核酸試料に対しても高いＳＮ比での蛍光信号の検出を実現する。
【解決手段】本発明の核酸分析デバイスは、支持基体の表面には核酸試料を固定する複数の領域を有し、該領域の少なくとも一つには核酸試料が１分子固定されており、前記固定した核酸試料の伸長反応を行うことで配列決定を行う核酸分析デバイスにおいて、前記核酸試料１分子と支持基体との固定は２点以上でなされる。 （もっと読む）

【課題】薄膜の蛍光を測定する技術において、当該蛍光を増強するための技術を提供すること。
【解決手段】薄膜１２の蛍光を測定するための測定装置であって、薄膜１２を含む薄膜試料１３が積層されているプリズム１０を、任意の媒質または真空からなる環境内において支持するための透光部材支持部と、プリズム１０と薄膜試料１３との界面に対し、プリズム１０側から、プリズム１０と環境との界面における臨界角以上の特定の入射角で光Ｌ１を照射して、薄膜試料１３における光吸収を増大させる励起手段と、当該光吸収を増大させることによって増強された、薄膜１２からの蛍光Ｌ３を測定する蛍光測定手段と、を備えている測定装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】スパーク放電発光分光分析方法による金属材料の定量分析において、安定な放電条件下で、自己吸収の影響を抑制して、高濃度域における検量線の直線性を改善し、定量分析精度を向上させるための方法と装置を提供することを目的とする。
【解決手段】パルスレーザを金属試料に照射し、金属試料と対電極との間のスパーク放電により、発生した発光スペクトルを分光することで、金属試料の成分を定量分析する発光分光分析方法において、前記パルスレーザは分光器の入射光軸の中心から外れた位置に照射し、前記スパーク放電を誘導し、分析対象元素の発光線の発光強度を測定することを特徴とする発光分光分析方法及び装置。 （もっと読む）

【課題】本発明は、方式の異なる２方式で行っていた珪素鋼の溶鋼の定量分析を１方式に統一し、低エネルギー放電を用いた珪素鋼中Ｓｉの分析を迅速かつ安定的に実現する発光分光分析方法を提供することを目的とする。
【解決手段】不活性ガス雰囲気中で珪素鋼試料の表面にパルスレーザを照射し、前記珪素鋼試料と対電極との間で複数回のスパーク放電を行い、発生するＳｉの固有スペクトル線を測定し、検量線を用いて珪素鋼中のＳｉ成分の含有量を分析する発光分光分析方法において、前記スパーク放電の放電時間を２００マイクロ秒以下、電流値を３００アンペア以下とすることを特徴とする珪素鋼中のＳｉ成分の含有量を分析する発光分光分析方法。 （もっと読む）

【課題】試料の広範囲を短時間かつ詳細に観察するのに適した観察装置を提供する。
【解決手段】本発明の観察装置は、試料（１６）に含まれる特定種類の分子を励起状態に移行させるための励起光を試料へ照射する励起手段（１０、１３）と、励起状態にある分子から光を誘導放出させるための誘起光を試料へ照射する誘起手段（１０、１２）と、誘起光の下流側へ向けて試料から射出した光の強度分布を検出する画像検出手段（１７）と、励起手段及び誘起手段及び画像検出手段を制御することにより、分子から誘導放出された光の試料上の強度分布を計測する制御手段（１８、１４）とを備える。 （もっと読む）

【課題】セクショニング画像を高コントラストに取得する。
【解決手段】本発明の非線形顕微鏡は、観察対象物（１０）中の特定種類の分子に非線形光学過程による特定波長の光を生起させるためのレーザ光を生成する生成手段（１１〜１３）と、前記レーザ光を集光して前記観察対象物の観察対象面上にレーザスポットを形成する集光手段（１８）と、前記レーザスポットを、面内位置のずれた１対のレーザスポットに分離する分離手段（１６１、１６２）と、前記１対のレーザスポットの一方で生起した前記特定波長の光と他方で生起した前記特定波長の光との間の位相ズレを示す信号を生成する検出手段（２１〜２５）と、前記１対のレーザスポットで前記観察対象面上を走査しながら前記信号を繰り返し取り込むことにより、前記観察対象面における前記信号の分布を計測する制御手段（３０）とを備える。 （もっと読む）

【課題】精度の高い測定を簡便に行うことができる分光測定装置、及び分光測定方法を提供すること。
【解決手段】
本発明の一態様にかかる分光測定装置は、レーザ光源１０１と、レーザ光源１０１からの光ビームを参照用サンプル１２０に集光するレンズ１０４と、第１レンズ１０４を通過した光ビームを測定用サンプル１２１に集光する対物レンズ１０６と、光ビームの照射によって、測定用サンプル１２１、及び参照用サンプル１２０で発生した光ビームと異なる波長の光を分光する分光器１０９と、分光器１０９で分光された光を検出する検出器１１０と、参照用サンプル１２０及び測定用サンプル１２１から分光器１０９に向かう光の光路を、レーザ光源か１０１から測定用サンプル１２１に向かう光ビームの光路から分岐するビームスプリッタ１０３と、を備えるものである。 （もっと読む）

【課題】真の測定したい金属薄膜の平面上（平面方向）の電場増強度を測定することができ、また、金属薄膜の厚さ、金属薄膜近傍に捕捉したアナライトの高さ位置に対応した、電場増強度の３次元的な分布を得ることができ、正確な電場増強度を測定（推定）する。
【解決手段】光源より第１の励起光を照射し、前記金属薄膜表面に表面プラズモン光を発生させるとともに、金属薄膜に向かって、第１の励起光とは別の第２の励起光を照射して、前記金属薄膜表面に第２の光を発生させ、表面プラズモン光と前記第２の光とによる干渉縞を発生させ、第２の励起光の光量を変えながら、干渉縞のコントラストが最大となる時の第２の励起光の光量に基づいて、電場増強度測定用部材の所定の高さ位置における電場増強度を換算して推定する。 （もっと読む）

【課題】真の測定したい金属薄膜の平面上（平面方向）の電場増強度を測定することができ、また、金属薄膜の厚さ、金属薄膜近傍に捕捉したアナライトの高さ位置に対応した、電場増強度の３次元的な分布を得ることができ、正確な電場増強度を測定（推定）する。
【解決手段】光源より第1の励起光を照射し、金属薄膜表面に表面プラズモン光を発生させるとともに、誘電体部材を介して、金属薄膜に向かって、第１の励起光とは別の第２の励起光を照射して、金属薄膜表面に伝播光を発生させ、表面プラズモン光と前記伝播光とによる干渉縞を発生させ、第２の励起光の光量を変えながら、干渉縞のコントラストが最大となる時の第２の励起光の光量に基づいて、電場増強度測定用部材の所定の高さ位置における電場増強度を換算して推定する。 （もっと読む）

【課題】非接触型で、多種類のガスの濃度をほぼリアルタイムで測定することができる光学式ガスセンサの提供。
【解決手段】測定対象ガスが導入されるガスセルと、ガスセルにレーザー光を照射するレーザー装置と、ガスセルからのラマン散乱光を反射する反射機構と、反射機構により反射された前方および後方ラマン散乱光を集光するための波長選択フィルターを有する受光機構と、前方および／または後方ラマン散乱光に基づき測定対象ガスの濃度を算出する演算部と、を備えたガスセンサであって、検出対象となる一のガスの種別に応じた波長選択フィルターを選択可能に構成されたガスセンサ及びその方法。 （もっと読む）

【課題】本発明は、高感度かつ高精度であり、イムノアッセイに必要不可欠である特異性に優れたプラズモン励起センサおよびそれを用いたアッセイ法、アッセイ用装置ならびにアッセイ用キットを提供することを目的とする。
【解決手段】本発明のセンサチップは、透明支持体と、該支持体の一方の表面に形成された金属薄膜と、該薄膜の、該支持体とは接していないもう一方の表面に固定化されたリガンドとを含むプラズモン励起センサ、および該プラズモン励起センサのリガンドが固定化されている面側に、リガンドに接することなく、該面と略平行に設けられた流路天板を有するセンサチップであって、該プラズモン励起センサと該流路天板との間（流路）に光学ノイズ吸収剤からなる層が含有されることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】多色光を用いて試料を高精度で観測できる試料観測装置を提供する。
【解決手段】波長の異なる複数の光をそれぞれパルス光として試料３１に順次照射する光照射部１０と、光照射部１０からのパルス光の照射により試料３１から発生する応答光を受光して光応答信号を出力する光検出部４０と、光照射部１０からのパルス光の照射に同期して、光検出部４０から、当該照射されたパルス光に対応する光応答信号を取得するサンプリング部５０と、サンプリング部５０で取得された光応答信号を処理する信号処理部７０と、を備える。 （もっと読む）

【課題】光刺激をしながら蛍光観察を行なう場合において、標本の劣化を抑制する。
【解決手段】標本１７の観察時において、刺激用レーザユニット１５から射出された刺激光は、両面ミラー５２Ａで反射されてスキャニング部５３により偏向される。一方、励起用レーザユニット１６から射出された励起光は、両面ミラー５２Ａにおける、刺激光が反射された面とは異なる面で反射され、スキャニング部５４により偏向される。そして、これらの刺激光と励起光は、ハーフミラー５５Ａで合成されて、標本１７に照射される。このように、刺激光と励起光を両面ミラー５２Ａの異なる面で反射させ、ハーフミラー５５Ａで合成することで、刺激光と励起光を異なる点光源から導入することが可能となる。本発明は、走査型の共焦点顕微鏡に適用することができる。 （もっと読む）

【課題】刺激に対する細胞の膜電位応答を高い空間自由度および時間分解能で観察する。
【解決手段】光を受けると細胞を活性させて膜電位活動を誘発させるケージドグルタミン酸および細胞の膜電位の大きさに応じて発生する光強度が変化する膜電位感受性色素を導入した生体試料の参照画像を取得する参照画像取得工程ＳＡ１と、参照画像に対して刺激領域および観察領域を参照画像の視野範囲より小さい範囲で指定する領域指定工程ＳＡ２と、刺激領域にレーザ光を照射し、ケージドグルタミン酸により細胞を刺激して膜電位活動を誘発させる刺激工程ＳＡ３と、刺激工程ＳＡ３後に、観察領域にレーザ光を照射し、その集光位置を走査させて膜電位感受性色素を励起し、膜電位感受性色素から発せられる蛍光の光強度を検出して観察領域の観察画像を取得する観察画像取得工程ＳＡ４とを含む細胞観察方法を提供する。 （もっと読む）

【課題】検体から発せられる蛍光強度の測定値を光源の発光強度の温度特性による影響を除去したものに補正できるようにする。
【解決手段】測定励起光を発生させる測定光源装置２ｂ及び参照励起光を発生させる参照光源装置２ａを備えている。制御部５は、検体に測定励起光を照射して得られる検出器４の検出信号Ｉ（Ｔ）を測定するように構成された検体測定手段６及び検体測定値Ｉ（Ｔ）の補正に用いられる補正要素Ｉ_A（Ｔ）及びＩ_B（Ｔ）を測定するための補正要素測定手段７を備えている。補正要素保持部８には基準温度時補正要素Ｉ_A（Ｔ₀）、Ｉ_B（Ｔ₀）が保持されている。演算処理部９は、Ｉ_A（Ｔ₀）、Ｉ_B（Ｔ₀）、Ｉ_A（Ｔ）及びＩ_B（Ｔ）を用いて検体測定値Ｉ（Ｔ）の補正を行なう。 （もっと読む）

【課題】観察に有効な部位やダメージの情報を提供し得る顕微鏡システムを提供する。
【解決手段】蛍光顕微鏡システム１０は、蛍光顕微鏡２０と制御ユニット４０と操作部６０とモニター７０とを有している。蛍光顕微鏡２０は、横方向に２次元的に移動可能なステージ３１と、ステージ３１の上方に配置された対物レンズ２４と、対物レンズ２４を介して試料８０の画像を取得する撮像ユニット２６と、ステージ３１の移動を検出するセンサー３５とを備えている。制御ユニット４０は、センサー３５が検出したステージ３１の各位置における滞在時間を計測するタイマー４７を有している。制御ユニット４０は、センサー３５の検出結果およびタイマー４７の計測結果に基づき、ステージ３１の移動経路を、移動経路上の各位置における表示態様を当該位置における滞在時間に応じて異ならせてモニター７０に表示させる機能を有している。 （もっと読む）