【課題】所望の温度に冷却した状態の試料を測定する場合でも、結露の発生を防ぐことが可能な分光測定装置を提供すること。
【解決手段】分光測定装置は、積分球２０と、デュワ５０と、ガス導入路と、を備えている。積分球２０は、測定対象の試料Ｓが内部に配置されており、試料Ｓから発せられる被測定光の観測に用いられる。デュワ５０は、試料Ｓを冷却するための冷媒Ｒを保持する。ガス導入路は、乾燥ガスを積分球２０内に導入する。 （もっと読む）

【課題】分光検出機能を備え、回折効率を向上して検出光量を高めることができる検出光学系を提供する。
【解決手段】標本からの蛍光を複数の波長帯域に分光する透過型のＶＰＨ回折格子１１と、ＶＰＨ回折格子１１を標本からの蛍光の入射光軸とＶＰＨ回折格子１１からの出射光軸とに直交する軸線Ｌ回りに回転させる回転機構と、ＶＰＨ回折格子１１により分光された標本からの蛍光を検出する光検出部１５と、回転機構と同期して、ＶＰＨ回折格子１１の回転によって生じる光軸の変位に応じて光検出部１５への入射位置を補正する補正手段とを備える検出光学系１０を採用する。 （もっと読む）

【課題】試料における点状対象の三次元位置決め用の顕微鏡装置および方法を提供する。
【解決手段】試料112における点状対象114を検出光学系108で結像し、画像空間に配置された少なくとも１つの検出ユニット146,148の、光束の入射方向に垂直に配置された検出面150,152で受ける。それぞれの検出面150,152上で感知されたそれぞれの光点を評価することによって、関連点状対象114の横方向Ｘ−Ｙ位置、および鮮鋭面に垂直に位置する光学軸Ｏの方向における、鮮鋭面に対する関連点状対象114の軸方向Ｚ位置を確認する評価ユニット154と、を含む。検出ユニット146,148によって検出できる異なる波長領域用のそれぞれ１つのＺ位置補正値が、その波長領域における検出光学系108の縦の色収差を示すものであり、評価ユニット154は、関連Ｚ位置補正値を用いて、点状対象114のそれぞれの波長領域でのＺ位置を補正する。 （もっと読む）

【課題】気泡による反応の阻害を回避でき、反応場形成物の劣化が抑制される計測装置及び方法を提供する。
【解決手段】流路は、気泡検出区間及び反応区間を順に経由して液体入口から液体出口へ至る。プリズムは金膜の一方の主面に密着する。抗体固層膜は、金膜の他方の主面に定着し、反応区間に配置され、反応物が反応する反応場を形成する。照射機構は、気泡検出光又は励起光をプリズムに照射する。気泡検出光は、プリズムの内部を進行し気泡検出区間へ向かう。励起光は、プリズムの内部を進行し反応区間へ向かう。測定機構は、気泡検出区間を透過した気泡検出光又は気泡検出区間において反射された気泡検出光の光量を測定し、反応場から放射される表面プラズモン励起蛍光の光量を測定する。気泡検出部は、当該光量の測定結果を測定機構から取得し、気泡検出区間への気泡の混入を検出する。 （もっと読む）

【課題】静電気力を発生させるための配線と、捕集部材を加熱するための配線とを兼用して配線数を削減する。
【解決手段】筐体内に導入された空気中に含まれる粒子を帯電させる放電部と、放電部により帯電された粒子を静電気力により捕集基板１７０に付着させて捕集する捕集部とを備える。捕集基板１７０に付着した粒子に向けて励起光を照射する照射部と、励起光を照射された粒子から発せられる蛍光を検出する蛍光検出部と、捕集基板１７０に接触するように位置し、捕集基板１７０に付着した粒子を加熱するヒータ１８０と、捕集基板１７０を移動させる移動機構とを備える。捕集基板１７０がヒータ１８０と電気的に接続されることにより上記静電気力を生ずる。 （もっと読む）

【課題】
微生物検査チップに実装する微量な染色液の取り扱い性を改善することが可能な微生物検査装置及び微生物検査チップを提供する。
【解決手段】
微生物検査チップ１０は、検体容器１５１、食品残渣除去部１６０、全微生物用染色液１５２２を保持する全微生物染色容器１５２、死微生物用染色液を保持する死微生物染色容器１５３、微生物検出用流路１７３、検出液廃棄容器１５６を備え、全微生物染色容器１５２と死微生物染色容器１５３は疎水性表面を持つ容器とし、全微生物用染色液１５２２を親水性の多孔質担体である全微生物用染色液保持担体１５２１に保持させて全微生物染色容器１５２に実装し、死微生物用染色液は親水性の多孔質担体である死微生物用染色液保持担体１５３１に保持させて死微生物染色容器１５３に実装する。 （もっと読む）

【課題】集光効率が高く、かつ画素間のクロストークが少ないイメージセンサ及びその製造方法並びに検査装置を提供する。
【解決手段】複数の受光素子を備え、入射した光を電気信号に変換する光源変換部と、各受光素子の直上域に配置され、その直下に位置する受光素子に向けて光を集光する複数のレンズと、このレンズ上に形成され、光透過材料からなる絶縁層とを備えるイメージセンサにおいて、絶縁層の表面に、受光素子毎にそれぞれ離間して形成され、その中心が、各受光素子の受光部の中心とその直上に配置されたレンズの中心とを結んだ線の延長線上に位置する検出領域を設ける。そして、検出対象の試料を、少なくともこの検出領域に固定する。 （もっと読む）

【課題】
蛍光フローサイトメトリー法で生菌数計測が正しく行われていることを確認可能な微生物検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】
検出液の流動状態または光学検出の位置状態について生菌数計測中も各々のセンサーで情報を得て計測状態を把握する。例えば、検出液の流動状態として流量センサー（差圧計）から情報と光検出器からの菌数頻度分布の情報を得て正常な流動、異常な流動（流体の漏れ、流路の詰まり等の異常の原因）を認識し、光学検出の位置状態として光検出器から情報を得て正常な検出位置、異常な検出位置（位置ずれ）を認識し、流動状態と位置状態の情報から計測状態（正常か異常か、異常な場合はその原因）を把握できるようする。 （もっと読む）

【課題】測定されたスペクトルに基づいて真のスペクトル強度をより正確に算出すること。
【解決手段】光に対する応答特性が互いに異なる複数の物質を表面及び／又は内部に有する測定対象の被測定物に光を照射して得られる光の強度分布を、前記各物質を単独で有する基準の被測定物に光を照射して得られる光の強度分布の線形結合で表現し、前記基準の被測定物から得られる光の強度分布が所定の確率分布に従うものとしてモデル化し、前記測定対象の被測定物から得られた光の強度分布から、前記線形結合の結合係数を推定する推定部を備える、情報処理装置が提供される。 （もっと読む）

【課題】計測標本の蛍光物質を常に高精度で定量できる蛍光顕微鏡システムを提供する。
【解決手段】蛍光顕微鏡10により計測標本30の蛍光画像を取得し、その取得した蛍光画像から検量線を用いて蛍光物質を定量する蛍光顕微鏡システムであって、蛍光画像を取得する計測標本30の表面からの距離を測定する距離測定部110と、計測標本30の表面からの距離に応じた複数の検量線を記憶する記憶部120と、距離測定部110で測定された距離に対応する検量線を記憶部120から選択し、該選択された検量線を用いて蛍光画像から蛍光物質を定量する蛍光物質定量部130と、を備える。 （もっと読む）

【課題】流路への気泡の混入が検出され計測の誤りが抑制される、表面プラズモン励起蛍光分光法による計測を行う計測装置及び計測方法を提供する。
【解決手段】プリズム、照射機構、金膜、流路形成体、抗体固層膜、ＣＣＤセンサー、フォトダイオード及びコントローラーが設けられる。コントローラーには、気泡検出部が設けられる。照射機構は、プリズムに励起光を照射する。励起光は、プリズムの反射面へ共鳴角で入射させられる。抗体固層膜は、反応場を提供する。ＣＣＤセンサーは、表面プラズモン励起蛍光の光量を測定する。フォトダイオードは、反射光の光量を測定する。気泡検出部は、フォトダイオードから反射光の光量の測定結果を取得し、反射光の光量が基準を超えて増加した場合に流路への気泡の混入を検出する。 （もっと読む）

【課題】導電体膜の膜厚の影響が減少し計測の精度が向上する表面プラズモン励起蛍光計測装置及び表面プラズモン励起蛍光計測方法を提供する。
【解決手段】金膜の第１の主面に試料が供給される。金膜の第１の主面に抗体固層膜が定着する。金膜の第２の主面とプリズムの密着面とが密着する。抗体固層膜に被計測物が捕捉され、捕捉された被計測物が蛍光標識される。励起光がプリズムに照射され、蛍光標識された被計測物から放射される表面プラズモン励起蛍光の光量が測定される。膜厚測定光がプリズムに照射され、金膜を透過する透過光の光量が測定される。表面プラズモン励起蛍光の光量の測定値は透過光の光量の測定値により補正される。密着面への励起光の入射角θ１は共鳴角θｒに設定される。密着面への膜厚測定光の入射角θ２は臨界角θｃより小さい角に設定される。 （もっと読む）

【課題】検出信号が電子線照射に伴い経時変化するような試料において、カソードルミネッセンス特性のマッピング評価を短時間で実施すること。
【解決手段】カソードルミネッセンスのマッピング測定において、
隣接点を連続で測定しない電子線のスキャン方式を採用する。これによって、事前測定点の電子線照射の影響がなくなるまでの時間は事前測定点からある一定の距離離れた点を測定する事が可能となるため、従来の電子線スキャン方式で必要であったウェイト時間を短縮することでマッピング測定時間を大幅に短縮する事ができる。 （もっと読む）

【課題】走査型顕微鏡において、低ノイズの画像を高速で取得する。
【解決手段】走査型顕微鏡は、光源ユニット、第１の走査手段１１４ａ、第１の光制限体１１５ａ、および光量検出器１１８を有する。光源ユニットは試料に照射する照射光を第１、第２の出射点から出射する。第１の走査手段１１４ａは照射光の偏向方向を変える。第１の光制限体１１５ａは照射光を通過させる複数の孔部１１５ａｓを有する。光量検出器１１８は試料への照射により生じる信号光の受光量を検出する。第１の走査手段１１４ａは走査点を照射光の偏向方向を変えることにより第１の走査方向に沿って移動可能である。複数の孔部１１５ａｓは、第１の走査手段１１４ａによる偏向方向の連続的な変化に応じて、第１、第２の出射点から出射された照射光が異なる時期に孔部１１５ａｓを通過するように、配置される （もっと読む）

【課題】 試料の分析において、質量分布画像と光学顕微鏡の画像とをマーカを利用して重ね合わせることは知られていたが、ラマン分光法を用いて取得されるラマン振動の強度分布情報と、質量分析法を用いて取得される質量情報を精度よく関連させる技術は知られていなかった。
【解決手段】 基板上に、試料と、高さが試料表面と同じか試料表面よりも高い三次元形状のマーカを試料の外周部に配置する。試料とマーカについて、ラマン分光分析および質量分析をする。得られたラマン振動の強度分布情報と質量情報とをマーカの情報に基づいて位置合わせをする。 （もっと読む）

【課題】検体の分析精度を維持できるよう、検体の分析に不適切な金属膜を検出することによって表面プラズモン共鳴蛍光分析装置での検体の分析を支援する分析支援装置、及びこの分析支援装置を備えた表面プラズモン共鳴蛍光分析装置を提供することを課題とする。
【解決手段】本発明に係る分析支援装置４０及びこの分析支援装置４０を備える表面プラズモン共鳴蛍光分析装置１０は、金属膜５５において欠陥が生じている欠陥領域を検出する欠陥領域検出部４１と、欠陥領域に関する値が所定の閾値未満の場合に金属膜５５が検体の分析に適すると判断してこの判断結果を外部に出力する一方、欠陥領域に関する値が所定の閾値以上の場合に金属膜５５が検体の分析に不適切であると判断してこの判断結果を外部に出力する判断部４２と、を備えることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】円筒形試料の内面の分析を簡単かつ正確に行えるグロー放電発光分光分析装置および分析方法を提供する。
【解決手段】陽極管３ｄを有する陽極ブロック３と、陽極管３ｄを収納する内方空間を有する支持ブロック２と、この支持ブロック２の内方空間を真空引きする減圧手段３ｂ，３ｃと、円筒形試料１２が陽極管３ｄと同軸に配置されるように挿入される保持孔１１ａを有する試料台１１と、陽極ブロック３と試料台１１との間に電圧を印加してグロー放電を発生させる給電手段９とを備える。 （もっと読む）

【課題】プラズマ発生部に導かれる試料ガス中に含まれる液体試料の液滴を微細化する。
【解決手段】マイクロホローカソード放電を利用したプラズマ発生部１０２を容器４に取り付ける。容器４内には防御壁９−１，９−２を設置する。防御壁９−１，９−２には、その中心部を避けた位置（超音波振動子８の中心部に対向する位置から離れた位置）に、貫通孔９ｂが形成されている。１段目の防御壁９−１の貫通孔９ｂに対して、２段目の防御壁９−２の貫通孔９ｂを１８０゜離隔した位置とする。これにより、試料ガスに含まれている液滴の大きな液体試料が１段目の防御壁９−１で振り落とされ、残りの試料ガスが１段目の防御壁９−１の貫通孔９ｂ、２段目の防御壁９−２の貫通孔９ｂを通過し（試料ガスの中継経路が長くなる）、試料ガスに含まれる液体試料の液滴が微細化される。 （もっと読む）

【課題】光刺激をしながら蛍光観察を行なう場合において、標本の劣化を抑制する。
【解決手段】標本１７の観察時において、刺激用レーザユニット１５から射出された刺激光は、両面ミラー５２Ａで反射されてスキャニング部５３により偏向される。一方、励起用レーザユニット１６から射出された励起光は、両面ミラー５２Ａにおける、刺激光が反射された面とは異なる面で反射され、スキャニング部５４により偏向される。そして、これらの刺激光と励起光は、ハーフミラー５５Ａで合成されて、標本１７に照射される。このように、刺激光と励起光を両面ミラー５２Ａの異なる面で反射させ、ハーフミラー５５Ａで合成することで、刺激光と励起光を異なる点光源から導入することが可能となる。本発明は、走査型の共焦点顕微鏡に適用することができる。 （もっと読む）

【課題】装置の動作異常の原因究明を短時間で簡単に行え、その異常部分を短時間で正常にすることができるＸ線分析装置および発光分析装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線分析装置は、試料Ｓに１次Ｘ線２を照射し発生する２次Ｘ線６の強度をＸ線検出器７で測定する装置であって、分析室１０の真空度と温度、Ｘ線検出器７の高電圧、Ｘ線検出器７のフローガス流量のうちの少なくとも１つの計測値を求める計測手段１３と、当該装置の動作の異常を検出する異常検出手段２１と、現時点以前の所定の時間内の計測値の時系列を記憶しながら現時点以前の所定の時間内から外れた計測値の時系列を順に消去する記憶手段２２と、異常検出手段２１が異常を検出すると、記憶手段２２から記憶されている計測値の時系列を読出して記憶し、警告情報または異常情報、および記憶した時系列を表示手段２３に表示させる管理手段２５とを備える。 （もっと読む）