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Fターム[2G050BA10]の内容

Fターム[2G050BA10]に分類される特許

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【課題】小型化および低コスト化を図るとともに、コンクリートの品質劣化を防止しつつ、測定対象物の状態を測定し、その測定結果に基づく情報を鉄筋の腐食前の計画的または予防的な保全に活用することができるセンサー装置およびセンサー装置の製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明のセンサー装置1は、不測定対象部位の環境変化に伴って表面に不動態膜を形成するか、または、表面に存在した不動態膜を消失させる第1の金属材料で構成された第1の電極3と、第1の電極3に対して離間して設けられ、第1の金属材料とは異なる第2の金属材料で構成された第2の電極4と、基板21と、基板21の一方の面側に設けられ、第1の電極3と第2の電極4との電位差を測定する機能を有する集積回路50とを含む機能素子5とを備え、第1の電極3および第2の電極4は、それぞれ、集積回路50上に設けられている。 (もっと読む)


【課題】コンクリートの品質劣化を防止しつつ、測定対象物の状態を測定し、その測定結果に基づく情報を鉄筋の腐食前の計画的または予防的な保全に活用することができるセンサー装置を提供すること。
【解決手段】本発明のセンサー装置1は、電気抵抗体3と、電気抵抗体3に対して離間して設けられた電気抵抗体4と、電気抵抗体3上に設けられ、毛管凝縮効果を生じるように厚さ方向に貫通する貫通孔82を有する絶縁膜8と、電気抵抗体4上に設けられ、毛管凝縮効果を実質的に生じないように厚さ方向に貫通する貫通孔92を有する絶縁膜9と、電気抵抗体3、4の抵抗値をそれぞれ測定する機能を有する機能素子51とを備える。 (もっと読む)


【課題】クリープ損傷を受ける金属の余寿命をAパラメータ法によって診断するに際し、参照線を描く向きを精度よく定める。
【解決手段】
金属のレプリカを顕微鏡撮影することで、粒界の画像データを取得する画像取得ステップ(S3)と、画像データに向きが異なる仮想参照線データを複数本描く仮想参照線描画ステップ(S5,S6,S8)と、仮想参照線データのそれぞれについて、粒界データ上のボイド画像データを計数するボイド計数ステップ(S7、S8)と、ボイド画像データの数が最も多い仮想参照線データを、参照線データに決定する参照線決定ステップ(S9)とを含み、Aパラメータ法を用いて前記金属の余寿命を診断する。 (もっと読む)


【課題】
コンクリートの乾燥収縮ひずみの推定式であって、当該判定式によって短期材齢から所要の長期材齢におけるコンクリートの乾燥収縮ひずみを、高精度にかつ早期に判定することができる、コンクリートの乾燥収縮ひずみの評価方法を提供することにある。
【解決手段】
本発明のコンクリートの乾燥収縮ひずみの早期評価方法は、複数のコンクリートの温度20±2℃、湿度60±5%、並びに温度80±3℃(湿度は特に調整しないがほぼ0%)における上記それぞれの最終乾燥収縮ひずみ値(εsh∞80、εsh∞20)と、それぞれの乾燥期間28日の実測値(εsh(35,7)80、εsh(35,7)20)とのそれぞれの差分(Δεsh80、Δεsh20)をそれぞれのコンクリートについて算定して、Δεsh80とΔεsh20との関係を一次式または二次式で近似した関係式を利用するものである。 (もっと読む)


【課題】 太陽電池モジュール内の封止材の劣化を適切かつ確実に検出し、その寿命を評価することが可能となる太陽電池モジュールの検査方法およびその検査装置を得る。
【解決手段】 一つ以上の太陽電池セル18を有する太陽電池モジュール(太陽電池パネル10)内の封止材13,14の劣化の程度を判定するために、検査対象となる太陽電池モジュールにおける複数の測定点にレーザ光を照射する投光手段21と、測定点における検査対象物から散乱されるラマン散乱光を分光してスペクトルを得る分光手段24と、分光手段で得たラマン散乱光のスペクトルから、前記測定点における太陽電池の状態を解析するスペクトル解析手段25を備える。前記測定点のうちの少なくとも1つは、太陽電池モジュール内の封止材の周辺部分に位置するように構成した。 (もっと読む)


【課題】腐食環境下で使用される構造物を構成する金属材料に対して、応力腐食割れ(SCC)が発生するまでの寿命を定量的に評価できる方法を提供する。
【解決手段】金属材料がSCC発生感受性を示す表面酸化皮膜厚さの下限値pxを設定する。図示実線で示す表面酸化皮膜の時間依存性から、酸化皮膜厚さpが、下限値pxに到達するまでの時間txを求める。
次に、表面酸化被膜の破壊要因となるイベントを想定する。イベントが到達時間tx後に発生する場合、酸化被膜破壊から母材の腐食が進行しSCC発生の可能性がある。母材腐食によるSCC進行を図示破線で示す。そこで、SCC発生可能性の有無を検討し、その結果、SCC発生可能性有と判断すると、イベント発生時をSCC発生寿命Lと評価する。 (もっと読む)


【課題】水の蒸発潜熱を利用して、試験槽へ導入される空気を冷やし、かつ加湿すること、モード切替弁が開く回数を抑え、排気される空気を少なくして制御可能温湿度範囲を広くする。
【解決手段】試験槽4と人工光源5とヒータ加湿器6を備える耐候性試験機2の温度・湿度制御装置1において、ブラックパネル温度センサ8と乾湿球センサ9を備え、外気導入用風路10と排気用風路11を備え、外気取り入れモードと内気循環モードを切り替えるモード切替弁12を備え、試験槽4内からの空気排出量と試験槽4内への空気戻し量を調整する空調弁13を備え、外気導入用風路10のモード切替弁12よりも上流側にヒータ加湿器6を備え、外気導入口14に少なくとも1つの加湿冷却モジュール15を備え、モード切替弁12の切替制御と空調弁13の開閉制御を行い、試験槽6内の温度・湿度を制御する制御手段を備える。 (もっと読む)


【課題】試料面が濡れているか又は乾燥しているかという試料の湿潤状態を正確に把握でき、試料面の湿潤状態を制御して腐食試験を実施でき、試験の再現性を向上することができる腐食試験機を実現する。
【解決手段】試料表面モニタ方法は、試験槽6内の温度を測定する試験槽内温度センサ23、24を設け、塩を入れた金属皿にセンサ本体が付設して金属皿2の表面温度を測定する塩付着面温度センサを設け、試験槽6内温度センサ23、24と塩付着面温度センサとの測定値の温度差から試料表面上の塩の湿潤状態を判断する。また、この発明の腐食試験機5は、前記試料表面のモニタ方法を用いて試料表面上の塩の湿潤状態を把握し、試料表面の湿潤状態を制御して腐食試験5を行う。 (もっと読む)


【課題】この発明は、試料面の温度を正確に把握できる表面温度センサ及び、該温度センサを用いて試料に付着した塩の影響を受けることなく試料面温度を一定にした腐食試験を実施でき、試験の再現性を向上することができる腐食試験機を実現することを目的とする。
【解決手段】この発明の表面温度センサは、金属板とこの金属板の裏面に密着配置された温度センサとからなる。また、この発明の腐食試験機は、試料及び試料表面温度センサを載置する試料枠と、湿度調整機構と、温度調整機構と、湿度検出手段と、該試料表面温度センサと、湿度検出手段により検出された湿度の値をもとに試験槽内の湿度が設定した値となるように湿度調整機構を制御し、試料表面温度センサの測定値をもとに試料表面温度が設定した値となるように温度調整機構を制御する制御部とからなる。 (もっと読む)


【課題】冷却手段50の能力の下限を引下げ、試験室3内の環境が安定した後における加熱ヒータ6の運転機会を減少させ、省エネルギーに寄与する環境試験装置を開発する。
【解決手段】環境試験装置1は、試験室3、冷却手段50、加熱ヒータ6、加湿装置7及び送風機8を備えている。冷却手段50は、2系統の冷却回路51,52を有している。制御用冷却回路52は、負荷用冷却回路51に比べて容量の小さい冷却・除湿器であり、制御側圧縮機65と、制御側熱交換器66と、制御側凝縮器67と、電磁弁73と、制御側膨張手段(キャピラリーチューブ)68と、制御側蒸発器69を有している。制御側蒸発器69は、ステンレススチールの裸管76で作られている。必要な冷熱量を演算し、この必要量に見合う様に、一定時間あたりの電磁弁73の開時間を演算し、この時間だけ電磁弁73を開いて冷媒を制御側蒸発器69に導入する。 (もっと読む)


【課題】左右両側の側面から信号線等を引き出すことができる環境試験装置を提供することを課題とする。
【解決手段】 連通筒60があり、連通筒60は、その一端が試験室3の右側面壁53に設けられた開口56の開口端に固定され、内側筐体45の右側面壁53と、内側筐体45の外周側を取り巻く断熱層2を貫通し、さらに試験室内蔵筐体(外側筐体)40の側面を貫通して、隣接する電装品内蔵用筐体43側に突出している。そしてさらに電装品配置部26の空間部32と、電装側側壁部61を貫通している。そのため試験室3内と、環境試験装置1の外部とは連通筒60を介して直接的に連通する。 (もっと読む)


【課題】製造時に容易に外枠部材を取り付けることが可能な環境試験装置を提供することを目的とする。
【解決手段】外郭筐体の天面と側面を構成する外枠部材7の構造において、外枠部材7は、2つの枠形成部材8a,8bを機械的に接合して形成されており、枠形成部材8a,8bの接合部16,20は、共に2回折り曲げられていて、接合部16,20は、外枠部材7の内側に突出する縦壁部17,21と、縦壁部17,21よりも先端側にあって共に同一の方向に折り曲げられた横壁部18,22とを有し、枠形成部材8a,8bの縦壁部17,21同士と横壁部18,22同士が合致されると共に、縦壁部17,21同士の間にシール部14が介在され、さらに横壁部18,22同士の合致された部位が締結要素27で接合されて形成されている構造を有している。 (もっと読む)


【課題】構造部材のクリープ損傷を、より高い精度で評価可能とする損傷評価方法およびその損傷評価方法を用いたメンテナンス評価指標の策定方法を提供する。
【解決手段】経時変化する対象部位のクリープ損傷率を評価する損傷評価方法であって、クリープボイドの個数密度の対象部位における第一回目の測定値を、クリープ評価曲線40に対応させて、第一回目の測定値と対応する損傷度を算出し、第一回目の測定箇所と対応する箇所におけるクリープボイドの個数密度を少なくとも一回測定し、この第二回目以降の測定値と、第二回目以降の測定時と対応する時間変化に基づいて算出されたクリープ損傷率とを対応させ、第一回目と第二回目以降の測定値と、それら第一回目と第二回目以降の測定値と対応するクリープ損傷率との関係に基づいて、クリープ損傷評価曲線50を近似的に算出する。 (もっと読む)


【課題】種々の加熱時効による材料の組織変化がクリープ強度に与える影響を考慮し、高温機器の運転条件の変化に対応した高温部材の高精度な寿命診断を行う。
【解決手段】高温部材の寿命診断方法では、硬さ基準の応力を使用し、運転実績情報記憶部から各定常運転状態のデータを順次読み込み(S05)、これに基づき運転履歴算出部が部材温度、部材応力を求める(S06)。更に各運転状態の応力上昇分を算出し(S07)、応力上昇によるクリープ強度低下量を算出し(S09)、クリープ強度を算出する(S10)。現在の部材硬さを求め(S17)、計画運転状態データに基づきクリープ強度低下量を算出し(S15)、クリープ強度を算出(S16)した上で最終のクリープ強度の予測値を算出し(S18)、この予測値と計画運転条件に基づき残余寿命を算出する(S19)。 (もっと読む)


【課題】環境試験システムのピーク電力消費量を低減する。
【解決手段】環境試験システム1は、複数の環境試験装置3とマスターコントローラ2とを備えている。各環境試験装置3は、試験を制御する試験制御部3bを備えており、マスターコントローラ2は、複数の環境試験装置3のそれぞれの電力消費量の合計値である総電力消費量を所定時間ごとに検知する検知部2bと、複数の試験制御部3bを制御する制御部2cとを備えている。制御部2cは、検知部2bで検知される所定時間ごとの総電力消費量が上限値を超えないように複数の試験制御部3bを制御する。 (もっと読む)


【課題】電柱等の立設部材における所定の位置に、例えば、碍子、クランプ、電線、スリーブ等の電線に関連する様々な試験片を纏めて取り付けることにより、これらの系としての試験片が太陽光や風雨に晒されている使用状態における腐食状態を観察することのできる電線試験片の暴露試験装置と、この電線試験片の暴露試験装置を使用した、電線試験片の腐食状態測定方法を提供。
【解決手段】本発明は、電柱等の立設部材における所定の位置に設置する電線試験片の暴露試験装置であり、立設部材の側方に向けて、2本の腕金部材を所定の間隔を開けて配置し、両腕金部材の間に、電線に関連する試験片を取り付けている。また、電線に関連する試験片は、2本の腕金部材のそれぞれに取り付けた碍子と、両碍子に接続したクランプと、両クランプ間に架線した電線により構成されている。 (もっと読む)


【課題】半導体ウェーハのように、温度サイクル試験中に、半導体ウェーハそのものに傷がついたり、試験槽内のゴミが付着するなどの特有の問題が生じる被試験物の試験を可能とする温度試験サイクル試験装置を提供する。
【解決手段】試験槽1と、半導体ウェーハ2(被試験物)の温度を制御するウェーハチャック3(制御部)と、を備え、ウェーハチャック3は、試験槽1内に半導体ウェーハ2を配置する設置領域31と、試験槽1の外部から、半導体ウェーハ2の温度を熱伝導によって変化させる温度を調整する機能と、を備える。 (もっと読む)


【課題】はんだ接合部の劣化経過特性に係る評価期間を短縮すること。
【解決手段】試験サンプルにつき、基板にはんだで接合された素子へ冷熱試験をしながら素子歪の全振幅を測定し、はんだ接合部の劣化経過特性を、冷熱サイクル数と全振幅との関係式として求める。冷熱試験後、はんだ接合部の断面の硬さを複数点で測定し、複数の硬さ測定点をグループ毎に硬さの平均値及び偏差値を求め、平均値及び偏差値と上記関係式との相関から、はんだ接合部の劣化経過特性を、硬さに係る実験式として求める。その後、試験サンプルの基板と同じ寸法の電極を含む対象サンプルにつき、基板にはんだで接合された素子へ、試験サンプルでの冷熱サイクル数より少ない冷熱サイクル数で冷熱試験を行い、次に、はんだ接合部の断面の硬さを複数点で測定する。次に、硬さの測定値を硬さに係る実験式へ当てはめ、対象サンプルのはんだ接合部の寿命を予測的に評価する。 (もっと読む)


【課題】複数のセンサータグを設置する場合に、各センサータグの電力消費の効率化を図り、測定対象物の状態を長期にわたり測定することができるセンサーシステムを提供すること。
【解決手段】本発明のセンサーシステム1は、第1のセンサー、第1の通信部および第1の制御部を備えるセンサータグ2aと、第2のセンサー、第2の通信部および第2の制御部を備えるセンサータグ2bと、リーダーライター3とを有し、第1の制御部は、第1の期間に、第1の動作モードで第1のセンサーおよび第1の通信部を動作させ、第2の制御部は、第1の期間に、第2のセンサーおよび第2の通信部を動作させないか、または第1の動作モードよりも消費電力の少ない動作モードで動作させ、第1の期間後の第2の期間に、第2の動作モードで第2のセンサーおよび第2の通信部を動作させる。 (もっと読む)


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