【課題】 水素脆化を広範囲な領域について容易かつ確実に検査できる方法を提供する。
【解決手段】 被検査材料を引っ張り、被検査材料にひずみを付与した後、染色浸透探傷試験を行うことを特徴とし、被検査材料に段階的にひずみを付与し、それぞれの段階で染色浸透探傷試験を行うことによって、水素脆化の状況を把握し、またひずみ率が５％のひずみを付与した後、染色浸透探傷試験で割れが検出されない場合は、非検査材料にはすぐに問題となる水素脆化はないと判定する。 （もっと読む）

【課題】インクジェット記録や銀塩写真画像等についての実環境下における耐ガス性を、正確に且つ簡便にシミュレート可能な画像耐ガス性試験方法の提供。
【解決手段】オゾン及び二酸化窒素を少なくとも含有する混合ガス雰囲気に画像を設置して該画像の耐ガス性を評価する画像耐ガス性試験方法であって、以下の（１）及び（２）を満たす条件で上記混合ガス雰囲気に画像を設置することを特徴とする画像耐ガス性試験方法。
（１）上記混合ガス中のオゾン濃度が７５ｐｐｂ以上及び二酸化窒素濃度が１５０ｐｐｂ以上である。
（２）上記混合ガスを画像サンプル表面上に０．２ｍ／ｓ以上３．０ｍ／ｓ以下の流速で連続供給する。 （もっと読む）

【課題】 粒子捕捉手段で捕捉した粒子の高濃度化の効果を減殺することなく、粒子センサの正確なキャリブレーションを行うに十分な時間を確保できるセンサ配置位置を実現する。また、流速に依存しない出力値を得る。
【解決手段】 流体が流れる配管１５の近傍または内部に第１粒子捕捉手段を設け、流れの方向１６の下流側の配管１５の近傍または内部に粒子センサ１２および第２粒子捕捉手段２８を配置する。第１粒子捕捉手段１１によって流体内に存在する粒子１７を所定時間捕捉し、これを解放すると共に第２粒子捕捉手段２８による粒子１７の捕捉を開始する。その後、粒子センサ１２のキャリブレーションを実行し、観測領域１８に到達した粒子１７の数量を粒子センサ１２で計量する。 （もっと読む）

【課題】半導体ウェーハを収納する収納用ケースを評価するにあたって、収納用ケースにおける不純物の発生の経時的な変化を短期間で確認することができる半導体ウェーハ収納用ケースの評価方法を提供すること。
【解決手段】合成樹脂からなる半導体ウェーハ収納用ケース１におけるウェーハ汚染物滲出の経時的変化を評価するにあたり、半導体ウェーハ収納用ケースに表面の不純物を測定した半導体ウェーハを収納して密閉状態とした後、半導体ウェーハ収納用ケースをクリーンルームでの保存等、所定の標準環境下にて保存し、保存後の半導体ウェーハ収納用ケースに対して湿気を付与ないし除去する吸放湿処理を施し、この吸放湿処理の後、半導体ウェーハ表面における不純物を再度測定して、密閉前の測定結果と比較するようにする。 （もっと読む）

【課題】 ディスプレイパネルの全面だけでなく、画素の一部分までも精密に観察及び測定することが可能なディスプレイパネルの画像及び寿命測定装置を提供すること。
【解決手段】 チャンバー１００は、測定のためのディスプレイパネル１０を内部に有し、温度及び湿度条件を一定に保つ。カメラ１１０は、チャンバー１００内に設置され、ディスプレイパネル１０の画像信号を得る。バイアス供給及び測定部１２０は、制御信号に基づいて測定に必要なパルス型のバイアス電圧及び電流を提供し、ディスプレイパネル１０の駆動時の電圧及び電流を測定してデジタルデータに変換する。変換部１６０は、カメラ１１０によって得られた画像信号をデジタルデータに変換する。制御及びデータ処理部１４０は、バイアス供給及び測定部１２０と変換部１６９０からデジタルデータの入力を受け取ってパラメータを生成してディスプレイパネル１０の寿命を分析する。 （もっと読む）

【課題】 液晶パネルの耐光性の評価に要する時間の短縮を図ることを可能とする技術を提供すること。
【解決手段】 一対の基板と当該基板間に介在する液晶層とを含んでなる液晶パネルの耐光性を試験するための方法であって、レーザ光(LB)をその波長、照射エネルギー又は照射時間のうち少なくとも１つを可変パラメータとして設定して前記液晶パネル(100)の試験対象領域(AR)に照射する第１工程と、観察光(OB)を前記液晶パネルに照射し、当該液晶パネルを通過した当該観察光の状態を検出する第２工程と、前記レーザ光の前記可変パラメータの設定に応じた前記観察光の状態の差異に基づいて前記液晶パネルの耐光性を評価する第３工程と、を含む。 （もっと読む）

【課題】 地上から、架空送電線が単に腐食したか否かだけでなく、腐食の原因をも検知可能にする。
【解決手段】円筒体３等の基体部の外面に蛍光塗料４を塗布しその上にそれぞれ種類の異なる金属被覆５を形成した複数種の腐食検知用部材２を架空送電線１に装着する。電線１の腐食が進行すると、腐食検知用部材２の金属被覆５も腐食して消失し蛍光塗料層４が露出するため、地上から腐食検知用部材２の発光が視認され、腐食を検知することができる。この場合、金属の種類によってそれが腐食する環境（条件）が異なることから、発光した腐食検知用部材２に施されていた金属被覆５の種類により、腐食原因を推定することができる。 （もっと読む）

【課題】短期間で簡単に腐食環境を評価できず、鋼構造物の設置予定場所の腐食環境を評価することが難しく、腐食環境を精度よく評価できない。
【解決手段】鋼構造物の腐食に関与する大気中の腐食因子により変色する複数種類の金属片からなる腐食環境センサ１を鋼構造物と同じ環境下で腐食させ、次に腐食した腐食環境センサ１の表面を測色手段１２で測定して、明度と色相と彩度に関する表色データを作成し、次に腐食環境センサから得た表色データと、腐食因子別・濃度別に腐食させた腐食環境マスター１１ａ〜１１ｆから予め作成しておいた表色マスターデータとを用いて鋼構造物の設置されている場所の腐食環境を評価する。 （もっと読む）

【課題】簡単な構造で安価に製作でき、耐久性に優れ簡単に取り扱い得る腐食環境センサ、腐食感度に優れる腐食環境センサ、腐食環境における腐食速度を評価可能な腐食環境センサおよび腐食環境評価方法、を提供する。
【解決手段】鋼製板片の表面にＣｒの成分比率が異なるＦｅ−Ｃｒの複数種の溶射被膜を形成した腐食環境センサ１を準備し、その腐食環境センサ１を所定期間腐食環境下に置き、その所定期間の進行中に腐食環境センサ１の表面を測色計１３で複数回測定して明度と色相と彩度に関する表色データを取得し、その表色データを用いてコンピュータ１５により腐食環境における腐食速度を評価する。 （もっと読む）

【課題】結晶粒表面の過剰な金属腐食を抑えて、不動態皮膜をムラなく確実に形成でき、また、再不動態化最小電位にて掃引の停止・保持をすることなく、粒界部の不動態皮膜を選択的に破壊して金属腐食させ得る方法を提供する。
【解決手段】金属表面の腐食対象部位を電解液に接しさせて電位を加え、該電位を自然電位(1)から不動態化電位(2)を超えた任意値の折り返し点(R)まで上昇方向に掃引し、腐食対象部位に不動態皮膜を形成する。爾後、該電位を再不動態域と活性態域とを通過させて自然電位(1)まで逆掃引し、結晶粒界部を選択的に腐食させる。自然電位(1)から不動態化電位(2)までは早い速度で掃引し、結晶粒全体の腐食を抑制しつつ腐食対象部位を活性化させる。不動態化電位(2)から折り返し点(R)を経て自然電位(1)に戻す際に、少なくとも逆掃引時の再不動態化最小電位(8)迄は遅い速度で掃引して粒界部の溶解を促進する。 （もっと読む）

促進耐候性試験装置は、試験チャンバ、ランプ（１６）、ディスペンサ（１８、２０）、及び試験片支持部（１４）を含む。ランプはＵＶ放射を発生させて、該放射を試験片支持部に向けることができる。ディスペンサは、水又は酸の何れか、あるいはその両方を供給するために関連する液体源に接続される。試験片支持部は、試験チャンバ内でランプ及びディスペンサの下に配置される。
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環境の影響により引き起こされる、試料の物理的に測定可能な性質の変化を検出する方法であって、（ｉ）該試料を作用時間Δｔの間に環境の影響に曝し、その場合にパターン関数Ｍ（ｘ，ｙ）に基づいている公知の位置依存性の強度分布Ｉ（ｘ，ｙ）（強度パターン）を用いて該環境の影響を該試料に作用させ、（ｉｉ）引き続いて、試料による分析放射の透過、反射又は散乱を該試料の位置座標（ｘ，ｙ）及び分析放射の波長λに従属して検出し、こうして透過、反射又は散乱された分析放射の強度を該試料の位置座標（ｘ，ｙ）及び波長λに従属して表す応答関数Ａ（ｘ，ｙ，λ）を決定し、（ｉｉｉ）相関分析により、該環境の影響の公知の位置依存性の強度分布Ｉ（ｘ，ｙ）又はこの強度分布のベースとなるパターン関数Ｍ（ｘ，ｙ）と応答関数Ａ（ｘ，ｙ，λ）との相関を決定し、その場合にこの相関は、該環境の影響により引き起こされる該試料の物理的に測定可能な性質の変化の尺度である。
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【課題】従来行うことができなかった超高バリア性フィルムシートの水蒸気バリア性評価及び欠陥点の評価を簡便な評価セルを用いて精度良く実施できる定量的な水蒸気バリア性評価方法を提供し、かつこれに用いる評価用セルを提供する。
【解決手段】水蒸気バリア性を評価するフィルムシートの片面に、水分と反応して腐食する金属層を真空プロセスにて形成させた後、水蒸気不透過性金属層でこの面を封止した水蒸気バリア性評価用セル。水蒸気不透過性金属層の上層に、温度４０±０．５℃、相対湿度９０±２％の条件下に暴露したときにその質量変化が、暴露面積５０ｃｍ^２で１ｍｇ／２４時間以下の有機物で密閉しても良い。 （もっと読む）