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Fターム[2G051AA37]の内容

Fターム[2G051AA37]に分類される特許

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【課題】搬送されているH形鋼の表面疵を高精度に検出を行うことができるH形鋼の疵検出装置を提供する。
【解決手段】 カメラ5U,5Lが撮影する撮影画像にハレーションが発生するように、照明装置4U,5Lは、H形鋼1のフランジ3及びウェブ2に向けて光を照射する。疵検出部10は、カメラ5U,5Lが撮影した撮影画像のデータと、形状データ部11が記憶しているH形鋼の形状データに基づいて、ウェブ2の特定位置を被検査領域として算出し、その被検査領域の濃淡撮影画像データのうち濃淡変化が少ないデータを濃色及び淡色の一方に補正し、補正した前記被検査領域の濃淡撮影画像データを二値データに変換するとともに、その二値データのうち黒色データが所定値以上の面積を有している場合に、表面欠陥であると判定する。 (もっと読む)


【課題】連続的に搬送される電極基材のスリット面において、バリや異物等の欠陥の有無を精度良く検出することができる欠陥検出方法を提供する。
【解決手段】電極基材1をスリットするときに、電極基材1のスリット面1aにおいて生じるバリ5を検出するための欠陥検出方法であって、画像処理装置22によって、芯材2の基準面α上に存在しない頂点Aを検出するとともに、バリ5の傾斜角度θ1を検出し、バリ5の傾斜角度θ1が、所定の角度以上であるときは、線分ADの長さを、規格長さXと比較し、線分ADの長さが、規格長さX以上であるときは、バリ5を欠陥と判定するとともに、バリ5の傾斜角度θ1が、所定の角度未満であるときは、頂点Aにより距離が近い頂点Bを検出し、頂点Bと該頂点Bの対辺の中点Eとを結ぶ線分BEの長さを、規格長さXと比較し、線分BEの長さが、規格長さX以上であるときは、バリ5を欠陥と判定する。 (もっと読む)


【課題】疲労亀裂に起因しない誤発色がなく、かつ褪色により視認性の低下が生じない、信頼性の高い疲労亀裂の検出方法、および、これに用いる疲労亀裂検出塗料組成物を提供すること。
【解決手段】 金属製の基材の硬度以上の硬度を有する金属または金属酸化物の微粒子を含むペースト状流動体を収納手段の閉ざされた空間に収納して、収納手段を金属製の基材の表面近傍に固定的に臨ませるステップ(S10)と、疲労亀裂の進展に伴う収納手段に生じた亀裂からのペースト状流動体の流動による疲労亀裂に対する作用により疲労亀裂を検出するステップ(S20)により、金属製の基材の表面に発生する疲労亀裂を検出する。 (もっと読む)


【課題】検査手段がより溶接部の形状に倣うことが可能な検査装置。
【解決手段】少なくとも2つの部材を接合する線状の溶接部を探傷する検査装置1であって、基部2と、基部2に対して、溶接部Wに平行な軸線8回りに回転可能に支持されたアーム3,4,5,6,7と、アームに設けられ、探傷手段9を有する検出部19と、アームを回転方向一方側に付勢することによって、検出部19を溶接部Wに密着させる付勢部材25と、を備える検査装置。 (もっと読む)


【課題】ロールが設置されていない位置に存在する材料に光を照射して材料の表面を検査する際に、検査対象から除外するマスク範囲を適切に設定する。
【解決手段】ロール7が設置されていない位置に存在する材料8−1,8−2に帯状光を照射して材料8−1,8−2の表面を検査する際に、しきい値設定手段51は、撮像領域における画素位置毎の反射光の強度から、全体の強度の平均値Aを算出し、平均値Aに基づいて、強度の高い画素位置における平均値Bを算出すると共に、強度の低い画素位置における平均値Cを算出し、これらの平均値B,Cの中点値Dに基づいてしきい値αを設定する。マスク範囲設定手段52は、撮像領域における画素位置毎の反射光の強度としきい値αとを比較し、x軸上で隣り合う画素位置において、反射光の強度がしきい値αを上回ってまたは下回って変化する画素位置を特定し、特定した画素位置からマスク範囲を設定する。 (もっと読む)


【課題】オペレータが表面検査装置を調整する際に、基準板等の特殊な道具を用いることなく、調整を容易に行うことが可能な調整データを出力する。
【解決手段】調整部51の分散値算出部11は、カメラ3のレンズ位置を所定位置に設定するための位置指令をレンズ位置設定部12に出力し、レンズ位置設定部12から所定位置への移動の完了を入力すると、カメラ3から反射光の強度を入力し、反射光の強度の分布に基づいて分散値を算出する。最大位置決定部13は、分散値算出部11からレンズ位置及び分散値を入力し、全てのレンズ位置及びそれに対応する分散値を得た後、全ての分散値のうち分散値が最大となるレンズ位置を最大レンズ位置として決定する。調整データ出力部14は、レンズ位置、反射光の強度の分布、分散値及び最大レンズ位置を調整データとして出力する。 (もっと読む)


【課題】SN比の高い欠陥検出を行うことができる欠陥検査装置を提供することである。
【解決手段】実施形態に係る欠陥検査装置は、被検査体上の画像を検出する検出部と、前記検出部からの出力に基づいて、欠陥部分の断面プロファイルを演算する特徴量演算部と、前記演算された断面プロファイルを再サンプリングして再構成する再サンプリング部と、前記再構成された断面プロファイルと、テンプレート画像とのパターンマッチングを行う積和演算部と、前記パターンマッチングの結果を閾値を用いて判定する判定部と、を備えている。そして、前記再サンプリング部は、前記演算された断面プロファイルにおける重心を求め、求められた重心を中心画素として前記断面プロファイルを再サンプリングして再構成する。 (もっと読む)


【課題】研磨部及び再研磨部の仕上がり具合を簡単な手法で定量的に評価できる金属板の外観評価方法を提供する。
【解決手段】この金属板の外観評価方法では、金属板1の表面のデジタル画像10をスキャナ4によって取得し、デジタル画像10の一部画像11に含まれる各ピクセルのRGB値をグレースケール変換して得られるAc値の波形パターンに基づいて研磨部2及び再研磨部3の外観の可否を判断する。波形パターンを用いることで、研磨部2及び再研磨部3の外観を容易かつ定量的に判断できる。また、この方法では、波形パターンに基づいて、研磨部2及び再研磨部3の研磨方向がスキャナ4の走査方向と一致しているデジタル画像10を判断対象として選別する。この前処理により、外観判断工程で用いる波形パターンのS/N比が向上し、判断精度が高められる。 (もっと読む)


【課題】無害模様の表面状態が一定しない場合でも、無害模様を誤検出することなく被検査体表面の欠陥を検出すること。
【解決手段】本発明の表面欠陥検出装置1は、被検査体2に照射された照明光の反射光を受光して、被検査体2の表面画像を撮像する撮像部4と、撮像部4の光学条件を規定する偏光子5および検光子6の相対的角度を変更する偏光角調整部12と、撮像部4が撮像した被検査体2の表面画像を評価する画像モニター10と、画像モニター10による評価に従い検光子6の角度を入力する偏光角修正入力部11とを備える。 (もっと読む)


【課題】出来るだけ簡易な処理を用いて、表面粗さに差異を生じる表面欠陥を高速かつ効率的に検出する欠陥検出装置を提供すること。
【解決手段】被検査体Tに照射光を照射するアレイ状の光源3と、照射光が被検査体Tの表面で反射した反射光を検出する撮像手段2と、を備え、被検査体Tの表面に存在し正常面と粗度が異なる表面欠陥Dを検出する欠陥検出装置1において、アレイ状の光源3は、異なる特性を有する少なくとも3種類の照射光を照射するものであり、撮像手段2は、表面欠陥Dが鏡面状である場合、表面欠陥Dで反射した少なくとも3種類の照射光のうち特定の1種類又は2種類の照射光の受光量が残りの照射光の受光量よりも大きくなるように配置されている。 (もっと読む)


【課題】 搬送ライン上を搬送される熱間鋼材の表面からの放射光をセンサで受光して、その表面疵を検出する検査方法において、粉塵等によるセンサの汚損を防止して、ライン下側にもセンサを設置できる防汚手段を提供する。併せて微差な疵も見逃さず確実に検出し得る検出手段を提供する。
【解決手段】 搬送ラインの外周を遮光性カバーで多い、このカバーにスリットを設けて、スリットからの放射光をラインセンサに受光するとともに、センサ前方に防塵カバーを取り付ける。併せて、測定箇所上流の所定位置で、鋼材の被検査面を注水冷却(とくに気水噴霧冷却)して、鋼材表面の冷却条件をほぼ一定にした後、センサへの受光を行なう。 (もっと読む)


【課題】ベルトの幅方向の傷の検出精度を向上させるベルト検査装置を提供する。
【解決手段】所定方向に形成された内側平坦部20及び外側平坦部22と、湾曲側部29a、29bとを輪郭とする略矩形断面を呈する薄型金属ベルト18の表面に存在する傷を検査するベルト検査装置30にあって、前記所定方向に沿って、第1照明光を前記湾曲側部29a、29bに出力する緑色光源56、58と、湾曲側部29a、29bによって反射された照明光を湾曲側部29a、29bの正面から撮影するカラーカメラ40、42と、カラーカメラ40、42が照明光を撮影した画像に基づいて薄型金属ベルト18の表面状態を判定する表面状態判定部78とを備え、表面状態判定部78は、撮影された照明光の幅を計測し、該照明光の幅に基づいて、薄型金属ベルト18に、内側平坦部20及び外側平坦部22間を幅方向とする傷があるかを判定する。 (もっと読む)


【課題】構造が簡単で、検査対象物上の直線状の欠陥を検出し、検査対象物の良否判定処理を実行する欠陥検査方法および欠陥検査装置を提供する。
【解決手段】画像メモリ5に記憶した撮像画像の各画素の濃度に基づく微分演算を行い微分絶対値および微分方向値を算出し、微分絶対値に、各画素の微分方向値に対応する重み付け値を乗じて、ノイズ成分の除去または前記直線状の欠陥の境界を強調する強度値をそれぞれ算出し、直線状の欠陥の長手方向に連続し、幅手方向に並設する複数の検査領域を、撮像画像に設定し、該検査領域に配置された各画素の強度値を合算した積算値を、前記検査領域に配置された画素数で除算し、前記検査領域における強度値の特徴量Fを、検査領域ごとに算出し、特徴量Fのいずれか1つが所定の閾値以上である場合、検査対象物2が直線状の欠陥を有する不良品であると判定する判定ステップとを含む。 (もっと読む)


【課題】投光器および受光器の診断機能を有する鋼帯の穴欠陥検出装置を提供する。
【解決手段】連続的に搬送される鋼帯1を挟んだ上下に配置された投光器2および受光器3と、これらより少し上流に配置された溶接穴検出器5と、トラッキング装置6と、穴欠陥検出制御装置7と、表示装置8とからなる。穴欠陥検出制御装置7は、鋼帯1に穴欠陥があるかどうかを常時検出する穴欠陥検出部71と、投光器2を常時診断する投光器診断部72と、受光器3を所定のタイミングで診断する受光器診断部73を有する。受光器診断部73は、鋼帯1のコイル間の溶接部に設けた穴が穴欠陥として検出されたタイミングとほぼ同時か、前記穴が前記受光口の上を通過し前記溶接部が前記受光口の上に存在すると予測されたタイミングで、受光器の光検出器に診断光を入射して、受光器の光検出器からの光検出信号に基づいて受光器を診断する。 (もっと読む)


【課題】投光器および受光器の診断機能を有する鋼帯の穴欠陥検出装置を提供する。
【解決手段】連続的に搬送される鋼帯1を挟んだ上下に配置された投光器2および受光器3と、光ファイバ4と、これらより少し上流に配置された溶接穴検出器5と、トラッキング装置6と、穴欠陥検出制御装置7と、表示装置8とからなる。穴欠陥検出制御装置7は、鋼帯1に穴欠陥があるかどうかを常時検出する穴欠陥検出部71と、投光器2を常時診断する投光器診断部72と、受光器3を所定のタイミングで診断する受光器診断部73を有する。受光器診断部73は、鋼帯1のコイル間の溶接部に設けた穴が穴欠陥として検出されたタイミングとほぼ同時か、前記穴が前記受光口の上を通過し前記溶接部が前記受光口の上に存在すると予測されたタイミングで、前記溶接部に対する穴欠陥検出が行われている間に、受光器の光検出器に診断光を入射して、受光器の光検出器からの光検出信号に基づいて受光器を診断する。 (もっと読む)


【課題】鋼材を加熱する際に生じる温度ムラの影響を受けずに鋼材表面の欠陥、例えば、溶融亜鉛メッキを施す際に生じるいわゆるドロス疵を正しく認識する鋼材の欠陥検出方法を提供する。
【解決手段】予め、無欠陥部を加熱した上で赤外線サーモグラフィカメラを用いて材料の表面温度を熱画像データとして取得し、表面温度のラプラシアン標準偏差を鋼材表面温度の関数として定めておく。被検査鋼材を加熱した上で赤外線サーモグラフィカメラを用いて材料の表面温度を熱画像データとして取得し、表面温度のラプラシアンを算出し、そのラプラシアンを、表面温度に対応するラプラシアンの標準偏差で補正し、補正したラプラシアンに基づいて被検査材表面付近の欠陥の有無を評価する。 (もっと読む)


【課題】ウェブの特徴付けのためのシステムを提供する。
【解決手段】材料のウェブ30をマーキングするシステムであって、基準マーク40をウェブに適用する基準マーカと、基準マーク40に対して識別された領域を定位する位置情報を決定する検査モジュール24と、基準マーク40から定位情報を読み取るとともに提供する基準リーダ62と、ウェブに位置特定マークを適用するウェブマーカ64と、欠陥を構成する異常のうちの少なくとも一つの位置を識別する位置特定マークをウェブに適用するようにウェブマーカを制御するウェブマーカコントローラ60と、基準マーク40の各々が、ウェブ30内の特定の位置に厳密に位置している1つ以上の基準位置特定マークと、各基準位置特定マーク用の一意の識別子を符号化するバーコードと、を含む、システム。 (もっと読む)


【課題】本発明は、金属帯上の有害疵と、過検出とを弁別して検出することができる表面欠陥検出方法、および、該方法に使用される表面欠陥検出装置を提供することを目的とする。
【解決手段】走行する金属帯の表面欠陥を検出する表面欠陥検出方法において、疵候補領域の検出積算値、検出長さ、および検出幅を算出し、検出幅と検出積算値を検出長さで除して得られる密度幅(検出積算値/検出長さ)との比(検出幅/密度幅)を比較することにより、過検出と欠陥とを判定する。 (もっと読む)


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