【課題】はんだ過多の不良は、はんだ量によって決定される良否であるため、はんだ付け部の高さ計測により検査することができるが、基板のはんだ付け部はその数が多く、はんだ付け部全ての高さ計測を実施すると、生産タクトが大幅に増大してしまうという課題を解決すること。
【解決手段】課題を解決するための本発明のはんだ付け検査方法は、基板の表面に垂直な垂直方向におけるはんだ量が多い状態をはんだ過多とし、前記はんだ過多を検出するはんだ付け検査方法であって、前記垂直方向から前記基板のはんだを撮像する撮像工程と、前記撮像工程で撮像された画像に基づいてはんだ過多候補を抽出する候補抽出工程と、前記候補抽出で抽出されたはんだ過多候補の前記垂直方向の高さ測定を行う高さ測定工程と、前記高さ測定工程で測定された高さに基づいてはんだ過多を検出する検出工程と、を有することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】信頼性が高い線形判別分析の判定結果を距離判別分析に反映させることにより、距離判別分析の閾値決定に対する収斂性を高め、距離判別分析の持つ簡便な判定性能を向上させるとともに、線形判別分析と距離判別分析とを共用することにより、優れた判定精度を実現できる良否判定装置、良否判定方法および良否判定プログラムを提供する。
【解決手段】検査対象から複数のパラメータを取得するパラメータ取得手段と、サンプルデータに基づいて算出した判別関数に検査対象に対応するパラメータを代入して得られる変数と閾値とを比較する線形判別分析手段と、パラメータ空間において良サンプルデータに対応する良クラスターの中心位置から検査対象に対応する要素の位置までの距離と閾値とを比較する距離判別分析手段と、線形判別分析手段および距離判別分析手段のいずれにおいても良のカテゴリーに判別された場合に良判定する良否判定手段と、を備える。 （もっと読む）

【課題】対象物を撮像し、その画像に基づいて行う局所的な位置補正の精度を高める。
【解決手段】検査装置は、複数の検査対象要素を有する被検査体を撮像して検査する。この検査装置は、被検査体画像において検査対象要素を相互に接続するパターンから特徴点を生成し、特徴点の基準位置からの変位に基づいて被検査体画像の位置ずれを補正する位置補正部と、位置が補正された被検査体画像を検査する検査部と、を備える。位置補正部は、パターンを表す折れ線上に特徴点を生成してもよい。位置補正部は、パターンを表す折れ線に含まれる線分の延長線上に特徴点を生成してもよい。 （もっと読む）

【課題】プレス加工等により所定の繰り返しピッチで複数個が帯状の材料に加工された連続部品に対する検査技術を提供する。
【解決手段】連続部品の検査方法は、正常品である連続部品の画像を取得する画像取得手順Ｓ１と、その画像から垂直エッジを検出してエッジピッチを求め、エッジピッチのヒストグラムを作成するエッジピッチヒストグラム作成手順Ｓ６と、連続部品の繰り返しピッチである基準ピッチを求める基準ピッチ算出手順Ｓ７と、連続部品が存在する画像領域の上限と下限を求め、その間の領域で基準ピッチ内に単一の部品が納まる画像領域を切り出すテンプレート領域抽出手順Ｓ８と、切り出された画像領域をテンプレートとして登録するテンプレート登録手順Ｓ９と、検査対象の連続部品の画像を取得し、テンプレートと基準ピッチとを用いて良否を判定する検査手順とを備える。 （もっと読む）

【課題】微小物体の外観検査装置において、微小物体の多様な仕様に対応しつつ、外観の広い領域に亘って高精度な検査を行う。
【解決手段】微小物体５０の外観検査装置１００は、表面に吸着部２２を有し、被検査体を回転搬送する第１ドラム７と、被検査体及び中央部を通る線上の、被検査体及び中央部間の一の領域に配置された撮影手段３１と、当該線上の他の領域に配置された撮影手段３２と、側面に吸着部２３を有し、被検査体を回転搬送する第２ドラム９と、第２ドラムの表側及び裏側にそれぞれ配置された撮影手段３３、３４と、側面に吸着部２４を有し、被検査体を回転搬送する第３ドラム１１と、第３ドラムの表側及び裏側にそれぞれに配置された撮影手段３５、３６と、これら撮影手段によって撮影された画像情報から不具合の有無を判定する判定手段とを備える。 （もっと読む）

【解決手段】 物品検査装置１は、外周面に設けた複数の吸着孔Ｈに物品２を吸着させる第１〜第６ドラムＤ１〜Ｄ６と、第１、第２ドラムに吸着された物品の良否を検査する検査手段としてのカメラ５ａ，５ｂとを備えている。
第２ドラムには、上記回転方向に複数の吸着孔を整列させた吸着レーンＬが１０列設けられており、そのうち２列の吸着レーンは物品２を分類するための分類レーンＬｂとなっており、その他８列の吸着レーンは第３ドラムに物品２を受け渡すための搬送レーンＬａとなっている。
上記分類レーンの物品は検査結果に従って分類され、また第３ドラムは第２ドラムの搬送レーンと同数の８列の吸着レーンを有しており、第２ドラムの搬送レーンから物品を受け取るようになっている。
【効果】 処理能力が高く、また構成が簡易な物品検査装置１を提供する。 （もっと読む）

【課題】エッジ画像に含まれるエッジの位置関係を用いてエッジを連結することにより、クラックに相当するエッジをノイズから精度よく分離する。
【解決手段】エッジ抽出手段１１は、検査対象物Ｗを撮像した濃淡画像からエッジを抽出し、候補領域抽出手段１２は、エッジ抽出手段１１により抽出したエッジ上の画素のうち規定の条件を満たす画素群をクラック候補領域として抽出する。クラック候補領域が複数抽出された場合には、ラベリング手段１３が、各クラック候補領域にそれぞれラベルを付与し、クラスタリング手段１４が、着目する各一対のクラック候補領域の位置関係に基づいて両クラック候補領域が１つのクラックに属すると判断すると両クラック候補領域を連結する。判定手段１５は、連結されたクラック候補領域の長さ寸法が規定の基準値よりも大きいときに検査対象物にクラックが生じていると判定する。 （もっと読む）

【課題】画像ファイルのファイル名から良否の判定結果を知ることを可能にし、さらに良否の判定結果を越える内容もファイル名から知ることを可能にする。
【解決手段】撮像装置１で撮像した検査対象物の画像から抽出した文字について、文字領域抽出部２，特徴量記憶部３、特徴量抽出部４、特徴量照合部５により文字認識を行う。判断部６は、検査対象物を撮像した画像に含まれる文字に対する文字認識の結果について所望の文字と一致するか否かの良否判定を行う。ファイル名生成部７は、判断部６において不一致と判定されたときに少なくとも一致しなかった文字と判定結果とを含むファイル名を生成する。ファイル名生成部７で生成されたファイル名は、当該画像の画像ファイルとともに画像記憶部１０に保存される。 （もっと読む）

【課題】画像と判定結果とを重ね合わせた画像を保存して画面に表示する描画処理の処理負荷を軽減し、結果的に描画時間の遅れによる作業性の低下を抑制する。
【解決手段】良否判定部３は、撮像装置１で撮像した検査対象物の画像データを用いて外観の良否判定を行う。結果画像生成部４は、良否判定の結果を示す画像データである結果画像データを生成する。登録画像生成部５は、結果画像データを検査対象物の画像データと重ね合わせた登録画像データを生成する。画像記憶部６は登録画像データを保存し、表示処理部７は登録画像データをモニタ装置８の画面に表示させる。 （もっと読む）

【課題】外観検査に要する手間やコストを低減する上で有利な外観検査装置を提供する。
【解決手段】デジタルカメラ１８の撮像光学系の色収差が補正されたプリント配線基板４の色収差補正カラー画像データＤｃ２を生成する。この色収差補正カラー画像データＤｃ２と座標位置が一致するように生成した検査用データＤＢを色収差補正カラー画像データＤｃ２と照合してプリント配線基板４の外観検査を行う。プリント配線基板４の外観検査は、例えば、電子部品２の位置ずれの大きさを検出することで、あるいは、電子部品２の欠品を検出することでなされる。 （もっと読む）

【課題】検査時における照明光の光量を安定させた表面検査装置を提供する。
【解決手段】表面検査装置１は、照明部が、ランプハウス６１からの光のうち所定の波長領域の光を透過させるバンドパスフィルターが設けられた波長選択機構７０，７５を有し、当該バンドパスフィルターを透過して得られた所定の波長領域の光を照明光として被検基板１０の表面に照射するように構成されており、紫外光を遮断するＵＶカットフィルター６５がランプハウス６１と波長選択機構７０，７５との間の光路上に挿抜可能に設けられ、非検査時にＵＶカットフィルターが光路上に挿入され、また前記ＵＶカットフィルターの保持基板に「(1)熱線吸収膜(2)熱線反射膜及び熱線吸収膜の積層膜(3)熱線吸収膜及び熱伝導性膜の積層膜(4)熱線反射膜及び熱伝導性膜の積層膜(5)熱線反射膜、熱線吸収膜及び熱伝導性膜の積層膜の」うちのいずれかが設けられている。 （もっと読む）

【課題】 微細ゴミは通常、物体の凸部外表面より凹部底面や内壁面により多く溜まってしまう。ところが、微細ゴミの検出に不可欠な凹部底面や内壁面に沿った水平接面光照射が可能な照明器具が現在見当たらない。
【解決手段】 作業者が手にした照明器具の観察進入角を問わず、照明器具の先端を被検査面に当てた瞬間に、常に反射ミラーの傾斜角が自動的に仰角θの１／２傾斜角８となる追従機能を持たせることにより、水平接面光の照射が可能となり、底の深い凹部底面や内壁に付着する微細ゴミの検出ができる微細ゴミ観察用照明器具。 （もっと読む）

【課題】測定対象物の検査方法を提供すること。
【解決手段】基板に装着された素子の検査方法において、素子に対応する形状テンプレートを生成する段階と、照明部の格子パターン光を基板に照射してピクセル別高さ情報を獲得する段階と、ピクセル別高さ情報に対応してコントラストマップを生成する段階と、コントラストマップと形状テンプレートとを比較する段階と、を含む。本発明によると、測定対象物を正確に抽出することができる。 （もっと読む）

【課題】トレイに収納された検査対象物に迅速かつ確実にフォーカスを合わせる。
【解決手段】検査対象物を収納したトレイを載置するステージとステージを水平方向に駆動する前後駆動機構及び左右駆動機構とトレイに収納された検査対象物を撮影する撮影部と撮影部を垂直方向に駆動する上下駆動機構とを備える装置を用い、前後駆動機構及び左右駆動機構を制御してステージを移動させる第１ステップと、ステージの水平位置に対応する撮影部の垂直位置が予め記憶されているかを判断する第２ステップと、垂直位置が記憶されている場合は、撮影部を当該垂直位置に移動させ、垂直位置が記憶されていない場合は、撮影部の垂直位置が調整された後に、ステージの水平位置と撮影部の垂直位置とを対応付けて記憶する第３ステップと、撮影部を用いて検査対象物を撮影する第４ステップと、を少なくとも実行する。 （もっと読む）

【課題】直線を基調とした外周輪郭を有する被検査物に対して、精度よく輪郭形状欠陥を検出可能な欠陥検出方法、欠陥検出装置、および欠陥検出プログラムを提供する。
【解決手段】欠陥検出方法は、被検査物の外周輪郭部を検出する輪郭検出工程と、外周輪郭部を１周する輪郭追跡方向を設定する追跡方向設定工程と、輪郭追跡方向に沿って連続する２画素間の画素方向を検出する画素方向検出工程と、画素方向が変化する方向変化点を検出する方向変化点検出工程と、連続する３つの方向変化点から画素方向の差である第一および第二方向差を算出する方向差算出工程と、第一および第二方向差に基づいて形状変化点を抽出する形状変化点抽出工程と、形状変化点間の距離が欠陥閾値以下となる欠陥候補部を抽出する欠陥候補抽出工程と、欠陥候補部のサイズがサイズ閾値以上となる欠陥部位を検出する欠陥検出工程と、を具備した。 （もっと読む）

【課題】複数の突起部を有する検査対象物を迅速に検査する。
【解決手段】検査装置は、検査対象物Ａ載せる透明なテーブル１２と、テーブル１２の下面から光の強度が周期的に変化する光パターンを照射する光照射部と、光パターンが照射された検査対象物Ａを、テーブル１２の下面から撮影する撮像部２２と、検査対象物Ａの画像を処理して、検査対象物Ａの表面の３次元形状を表す表面形状データを生成する画像処理部１０３と、表面形状データにより表される検査対象物Ａにおける複数の突起部それぞれにおいて、テーブル１２の上面に対する位置を示す値の代表値を決定する代表値決定部１０２と、複数の突起部それぞれにおける代表値の分布が予め設定された基準を満たしているかを判定する判定部１０１と備える。 （もっと読む）

【課題】演算数を抑えつつ局所的な異常と大局的な異常を充分な精度で検出できる画像処理装置を提供する。
【解決手段】検査対象品を撮影して多数の画素からなる画像を取得する撮影部２０と、撮影部２０で取得した画像に基づき検査対象品が良品であるか不良品であるかを判別する判別部２１とを備え、記憶部２４の算出パラメータは、良品画像群を構成する各画像の各画素における輝度値と、良品画像群を構成する各画像の各画素における当該画素と隣接する画素との間の輝度の差分値と、良品画像群を構成する各画像の各画素における当該画素及び周囲の画素との輝度の積分値との、相関係数行列から算出され、判別部２１は、検査対象品の画像について、良品画像群のデータとの統計的距離を算出し、該算出された統計的距離が所定範囲にあるか否かを判別する。 （もっと読む）

【課題】導電性粒子による圧痕と電極パターンに形成された窪みとを識別することにより、ガラス基板に設けられた電極パターンと前記ガラス基板に実装される電子部品との接続状態を精度良く検査できる電子部品の実装状態検査方法を提供する。
【解決手段】圧着部を微分干渉光学系を介して撮像した電子画像データから、電極パターンの画像の輝度よりも低輝度の暗画素群を抽出するステップと、前記暗画素群の重心に対して特定方向に存在する画素の中から最高輝度を持つ高輝度画素をサーチするステップと、前記高輝度画素を中心として複数の方向にサーチラインを設定し、前記複数のサーチライン上に存在する画素の中からそれぞれ輝度の最も低い低輝度画素をサーチするステップと、前記高輝度画素の輝度と前記複数の低輝度画素の輝度との差の和を求めるステップと、前記輝度差の和に基づいて前記暗画素群の種別を判断するステップとを備えた。 （もっと読む）

【課題】欠陥が暗部に存在する場合であっても、欠陥を精度よく確実に検出することが可能な外観検査方法及び外観検査装置を提供する。
【解決手段】本発明に係る外観検査方法は、検査対象物２２を撮像して撮像画像Ｐ１を取得する工程と、処理領域Ａ２を第１〜第Ｋの区画に区分し、第ｋの区画に含まれる各画素の輝度値の平均値である第ｋの平均輝度値ＭＢｋを算出する工程と、記第１〜第Ｋの平均輝度値のうち最も大きい値を最高値ＭＢｍａｘとして選択する工程と、第ｋの区画に含まれる各画素の輝度値を、下記の式（１）
Ｉｋ（ｘ，ｙ）×ＭＢｍａｘ／ＭＢｋ・・・（１）
によって得られた値でそれぞれ置換して、置換画像Ｐｒを生成する工程と、置換画像Ｐｒに対して基準となる基準画像Ｐ２を生成する工程と、基準画像Ｐ２を用いて、撮像画像Ｐ１をシェーディング補正する工程とを有する。 （もっと読む）

【課題】欠陥を誤って検出することが少ない欠陥検出装置及び欠陥検出方法を提供する。
【解決手段】欠陥検出部１０８は、エッジ強度を算出するエッジ強度算出部１１０，１１２，１１４と、エッジの方向を角度で表現した特徴量を算出する特徴量算出部１１６，１１８，１２０と、２個のエッジ強度が条件を満たすか否かを判定するエッジ強度判定部１２４，１２６と、２個の特徴量の差の絶対値が特徴量差閾値を超える場合に画素を欠陥画素と判定する特徴量差判定部１２８，１３０とを備える。欠陥検出部１０８は、２個のエッジ強度が条件を満たすエッジ部において特徴量を比較し、２個の特徴量の差の絶対値が大きい場合に画素を欠陥を撮像した欠陥画素と判定する。 （もっと読む）