本発明の実施形態は工作物に関連する位置情報と、工作物に関連して取得される検査情報との間の関連を提供する。この関連により、ユーザまたは技術者が、検査情報がかかわる工作物（３１０）上の物理的な位置を迅速に特定することの助けとなる。その後工作物上の検査された部品（１０４）の位置の指示とともに、部品検査情報をオペレータに供給することができる。
（もっと読む）

【課題】 プリント回路基板上のクレームはんだの印刷状態および部品の取り付け状態の良否を、安価にかつ効率的に判断する。
【解決手段】 プリント回路基板上のクリームはんだの検査において、部品の搭載後にクリームはんだの形状、部品の形状を測定、解析する。すなわち、クリームはんだが印刷され当該クリームはんだ上に部品が搭載されるプリント回路基板の検査装置１０であって、検査部１０ａを設け、この検査部１０ａにおいて、クリームはんだ上に部品が搭載された状態を撮像装置（１１，１２）で撮像した画像データを用いて、クリームはんだ上に搭載された部品の電極からのクリームはんだのはみ出し量を求め、求めたはみ出し量が、予め定められた上限量を上回る場合あるいは予め定められた下限量を下回る場合に、クリームはんだの印刷不良であると判断する。 （もっと読む）

【課題】 印刷回路基板の微細パターンを検査するための照明装置と、これを具備する自動光学検査システムおよびこれの検査方法を提供する。
【解決手段】 本発明の自動光学検査システムに具備される照明装置は、印刷回路基板パターンの平面部分を中心に反射光を出力する少なくとも一つの第１光源と、第１光源から反射光を受けて印刷回路基板に出力し、印刷回路基板から反射された光を受けてイメージセンサに出力するビームスプリッタと、印刷回路基板パターンのエッジ部分を中心に反射光を出力する少なくとも一つの第２光源および、第２光源から反射光を受けて集光して出力する集光レンズを具備し、印刷回路基板の微細パターンの映像獲得時、光の明るさおよび均一度を向上させる。 （もっと読む）

【課題】 測定値（検査値）の演算時間を短縮化し、迅速に且つ精度良く測定、検査でき、また照明装置からの発熱を抑え、消費電力を低減でき、定盤を薄型化、小型化、軽量化でき、更にはちらつきや眩しさを防いで測定や検査を容易にできるようにする。
【解決手段】 定盤１上の被測定物３を映すためのカメラ２と、このカメラ２の画像データを処理する演算処理部４と、この演算処理部４で処理したデータを表示する表示部５と、またカメラ２を前後及び左右方向に水平状態で送るための送り機構６とを備えて形成する。定盤１の上面を、透明板１ａで形成する。この透明板１ａの下側に、透明板１ａを介して被測定物３を照明するためのシート状面発光体７を設ける。 （もっと読む）

本発明の全反射鏡を利用したビジョン検査装置は、部品が実装された印刷回路基板を適正検査位置に固定させる基板位置制御モジュールと、前記基板位置制御モジュールの直上部に設置され、前記印刷回路基板を照明する１次照明灯が具備される独立照明部と、前記独立照明部の直上部に設置され、Ｘ−Ｙ軸回転モーターの軸に全反射鏡を付着して前記印刷回路基板上の希望する位置座標に反射角を変更する撮影位置制御モジュールと、前記撮影位置制御モジュールから反射された前記印刷回路基板の映像を獲得するカメラと、前記撮影位置制御モジュール及び基板位置制御モジュールを制御するモーションコントローラと、前記独立照明部の作動を制御する照明コントローラと、前記カメラの作動を制御してカメラに入射される映像をデジタルデータに変換する映像プロセッサからなる制御部と、前記カメラを通じて獲得した映像を判読して不良可否を判定するビジョン処理部とを含む。
（もっと読む）

【課題】 印刷半田の平行移動ずれと角度ずれを共に検出できる印刷半田検査装置を提供し、更に、印刷半田の平行移動ずれと角度ずれの推移を把握容易な形態で表示できる印刷半田検査装置を提供する。
【解決手段】 プリント基板１の部品実装面１ａに光照射して反射光量に応じた検出信号を出力する検出ヘッド１１と、基板設計値情報および検出信号に基づいて部品実装面１ａにおける半田印刷領域の基準位置を検出する基準位置検出手段３１と、基板設計値情報および検出信号に基づいて複数の印刷半田の平行移動ずれを検出する平行移動ずれ検出手段３３と、基準位置検出手段３１の検出情報に基づいて半田印刷領域における回転中心座標を設定する中心座標設定手段３２と、プリント基板１の設計値情報、平行移動ずれ検出手段３３の検出情報および中心座標設定手段３２の設定情報に基づいて複数の印刷半田の角度ずれを検出する回転ずれ検出手段３４とを備える。 （もっと読む）

本発明は、分配工程を経て、複数の試料を処理するための、又は複数の製品を生産するための装置及び方法を提供する。この装置及び方法は、製品／試料のリアルタイムの監視を行い、かつ、リアルタイムの制御を行うことができる。この装置及び方法は、液体を、担持基部に添加する前及び添加した後の両方において、監視することができる。この装置及び方法は、処理される各製品／試料の監視を行うことができる。 （もっと読む）

スクラップユニット・マッピング・システムが開示されている。上記システムは、複数のＰＣＢを含む多層ＰＣＢをマッピングするために特に設計されている。開示されたシステムは、特定のＰＣＢの作製を目的とした、識別された層の各層（両面）を走査し、層マップにおいてスクラップユニットをマークする光学検査系と、層情報を格納するための任意の方法を用いて、層マップを格納する格納手段と、層マップを組み合わせ、層のうちの１つが欠陥を有する各スクラップユニットがマークされているＰＣＢマップを作成する組み合わせソフトウェアとを備える。さらに、上記システムは、ＰＣＢの各テラス層の複数の層マップを突合せることにより、スクラップユニットを最小限にしてＰＣＢに接合するための識別された層のセットを定義し、定義されたセットのそれぞれを回収して、１つのＰＣＢに接合することを可能にする最適化ソフトウェアをさらに備え得る。 （もっと読む）

【解決手段】電気回路検査方法であって、第1の時間の間に、電気回路の少なくとも一部から反射した光を検出することにより、第１の画像において前記電気回路の少なくとも一部を光学的に検査する工程と、第２の時間の間に取得された第２の画像において前記電気回路の少なくとも一部から蛍光により発光した光を光学的に検査する工程と、前記電気回路の少なくとも一部から反射した光を検出することにより前記電気回路の少なくとも一部を光学的に検査する前記工程と前記電気回路の少なくとも一部から蛍光により発光した光を光学的に検査する前記工程の双方から幾何学的に一致する指標に基づいて、前記電気回路に含まれる欠陥を特定する工程とを含む。
（もっと読む）

基板上に堆積された物質の画像を分析する方法であって、画像は複数の画素を含み、この方法は、画像内で興味の対象となる領域を規定するステップと、第１および第２の垂直な軸に、興味の対象となる領域を関連付けるステップとを含み、画像内の１組の画素は、第１の軸に沿って位置し、この方法はさらに、興味の対象となる領域内の画素を、第１の軸にアライメントされかつ第２の軸に沿って突出する一次元アレイに変換するステップと、一次元アレイに少なくとも１つのしきい値を適用するステップとを含み、しきい値は、予め定められた限度に少なくとも部分的に基づく。
（もっと読む）

本発明は、所定のパターンが設けられた基板（１）、特に半田ペーストが設けられた回路基板の検査方法及び装置に関する。本発明によれば、印刷又は構築的方法（３、４）によって基板に形成された実際のパターン（１ａ）が光学的に検出され、光学的に検出された実際のパターンは目標とするパターンと比較され、比較と許容誤差を考慮して実際のパターンが設けられ観察された基板が次の過程へ進むかどうかが決定され、この場合、実際のパターンの光学的検出がデジタルデータの形式で実際のデータセットの生成が行われ、目標とするデータセットが基板へパターンを形成するための制御データから作成され、データ処理が目標とするデータセットと実際のデータセットとが許容誤差を考慮してデータ的に相互に比較されて実行される。
（もっと読む）

印刷スクリーンを通してワークピース上に印刷された堆積物を検査する検査システム及び方法である。このシステムは、カメラユニットと、制御ユニットとを備える。カメラユニットは、印刷スクリーン及びワークピースに対して移動可能である。印刷スクリーンは、複数の開口を有した本体を備える。ワークピースは、印刷スクリーンの開口を通してその上に堆積物が印刷されるものである。制御ユニットは、印刷スクリーン及びワークピースの少なくとも一対の対応する領域の画像を捕獲するようにカメラユニットを制御すると共に、画像を処理して、印刷スクリーンの画像を規定する複数の点の各々について、その点が開口のものであるか否かを決定するように動作可能である。そして、その点が開口のものである場合にだけ、対応する複数の点によって規定されたワークピースの対応する画像の対応する点が、堆積物のものであるか否かを決定する。これにより、ワークピースに印刷された堆積物の印刷特性の決定を、堆積物のものであると決定された点と開口のものであると決定された点との関係から可能とするものである。

（もっと読む）

【課題】絶縁ワニスで被覆した絶縁電線を接着剤層を固定することによって製造されるマルチワイヤ配線基板に対する検査を高速で確実に検査する。
【解決手段】マルチワイヤ配線基板に光を垂直に照射し、色フィルタで所定の波長の光を選択し、撮像カメラによって色フィルタで選択した光マルチワイヤ配線基板の全面を撮像し、この全面の画像に所定の画像処理を施すことによって、絶縁電線の始点部、終点部が所定の領域内に入っているかの検査と始点部と終点部の間の経路の配線不良の検査を高速で確実に実現する。 （もっと読む）

【課題】 暗くなる箇所が発生することなく、どの箇所においても均等に照らすことができる表面検査用照明装置を提供する点にある。
【解決手段】 多数の発光体が線状に配置された線状光源１４の光照射側に集光手段１６を配置してなる照明部３の複数のそれぞれを、検査対象物のほぼ同一箇所に対して照射し、該照明部３の各発光体ＶＬ１が検査対象物を照射するそれぞれの位置と該別の照明部３の各発光体ＶＲ１が検査対象物を照射するそれぞれの位置とが照射する線状の発光体群の長手方向において異なるように複数の照明部３の各発光体ＶＬ１、ＶＲ１を配置したことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 対象物が化学研磨品である場合であっても良好な検査ができるパターン検査方法を提供すること。
【解決手段】 パターン検査をする前に，プリント配線板１をソフトエッチングする。このソフトエッチングは，プリント配線板１のパターン部２の表面の微細な凹凸を除去し，平滑化する作用がある。このためソフトエッチングにより，パターン部２に光を照射したときの乱反射が減少し，パターン部２での輝度が高くなる。これにより，ソフトエッチング後のパターン部２の光反射率と，ソフトエッチングによる影響を受けない下地部３の光反射率との差が大きくなり，顕著なコントラストを得ることができる。その後，プリント配線板１に光を照射し，反射状況の相違によるパターン検査を実施する。 （もっと読む）