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Fターム[2G051AB04]の内容

Fターム[2G051AB04]に分類される特許

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【課題】生理用ナプキン等の吸収性物品に係る積層体の圧搾部の穴あき異常や接合異常を検査可能な検査装置及び検査方法を提供する。
【解決手段】積層体3の片面のうちで圧搾部が形成された領域を撮像して前記領域の平面画像のデータを平面画像データとして生成する撮像処理部36と、第1二値化処理部で生成された二値化画像に基づいて、穴あき異常の有無の判定を行う第1異常判定処理部と、第2二値化処理部で生成された二値化画像に基づいて、接合異常の有無の判定を行う第2異常判定処理部と、を有する。 (もっと読む)


【課題】石英ガラスなどのガラスに較べて紫外線透過率の低い樹脂シートの表面に形成した透明電極の検査に必要な測定精度を得ることのできる透明電極の観察装置を提供すること。
【解決手段】樹脂シートFの表面に形成された透明電極Pの光透過率が50%以下となる200〜300nmの波長帯域の紫外線光を含む光を照射する光源1と、光源1から照射された紫外線光によって励起され、蛍光発光した樹脂シートFの光の強度が0.1以上となる400〜500nmの波長帯域の光を透過する光学フィルタ2と、光学フィルタ2を透過した可視域の波長に感度を有する画像を撮影するカメラ3とを備えたので、透明電極Pが形成された部位は暗くなり、それ以外の部位は明るく撮影される。これにより、可視光では視認が困難な透明電極Pの形状を特定でき、透明電極Pの検査に必要な測定精度を得ることができる。 (もっと読む)


【課題】光学異方性を有するフィルムについて、その欠陥を抽出するとともに、欠陥の種類を正確に判別するためのフィルム検査システム等を提供する。
【解決手段】フィルム検査システム1では、光学補償フィルム10を、偏光板51aを介した照明光を照射した状態で、ラインセンサ3aで偏光板31aを介して撮像するとともに、偏光板51bを介した照明光を照射した状態で、ラインセンサ3bで偏光板31bを介して撮像する。偏光板31aと偏光板51a、偏光板31bと偏光板51bの偏光方向は略直交し、偏光板31aの偏光方向と光学補償フィルム10の配向方向とは略45°の角度をなし、偏光板31bの偏光方向と光学補償フィルム10の配向方向とのなす角度は、90°から所定角度ずらしたものである。画像処理装置7は、ラインセンサ3a、3bで光学補償フィルム10を撮像した画像データ20a、20bを基に欠陥候補の検出と欠陥種類の判別を行う。 (もっと読む)


【課題】ステージ上で大きく撓むようなマスク基板の欠陥を高精度に検出できるようにする。
【解決手段】マスク基板の対向する二辺を検査テーブル手段の基板支持部となる傾斜面に載置すると共にマスク基板の下面にエア浮上ステージ手段からエア噴流を吹き付けることによってマスク基板が撓まないようにする。さらに、マスク基板の対向する二辺の上面側からエア噴流を吹き付けてマスク基板の下側辺を傾斜面に押し付け、マスク基板の二辺を検査テーブル手段に固定的にエア挟持させる。マスク基板の下面にエア噴流を吹き付けることでマスク基板の撓みを矯正することができ、基板検査装置は撓みの矯正されたほぼ平面状のマスク基板の欠陥を高精度に検出することができる。 (もっと読む)


【課題】ステージ上で大きく撓むようなマスク基板のクロム膜等のピンホール欠陥を高精度に検出する。
【解決手段】基板の表面にクロム膜等のマスクパターンが存在すると、基板の表面へ照射された光線はそのマスクパターンの形状や欠陥によって散乱され、基板の表面側の周囲にのみ散乱光が発生するようになり、基板の裏面側に透過する光線は存在しない。一方、このマスクパターンにピンホールが存在する場合、そのピンホールのエッジにて散乱した光の一部は基板の表面側で周囲に散乱光として発生すると共にそのピンホールを介して基板の内部へ透過し、基板裏面側の周囲に散乱光として発生することになる。これらの基板の表面及び裏面で検出された散乱光を、基板の表面側及び裏面側に配置された散乱光受光手段でそれぞれ受光することによって、ステージ上で大きく撓むようなマスク基板のクロム膜のピンホールを高精度に検出する。 (もっと読む)


【課題】投光器および受光器の診断機能を有する鋼帯の穴欠陥検出装置を提供する。
【解決手段】連続的に搬送される鋼帯1を挟んだ上下に配置された投光器2および受光器3と、これらより少し上流に配置された溶接穴検出器5と、トラッキング装置6と、穴欠陥検出制御装置7と、表示装置8とからなる。穴欠陥検出制御装置7は、鋼帯1に穴欠陥があるかどうかを常時検出する穴欠陥検出部71と、投光器2を常時診断する投光器診断部72と、受光器3を所定のタイミングで診断する受光器診断部73を有する。受光器診断部73は、鋼帯1のコイル間の溶接部に設けた穴が穴欠陥として検出されたタイミングとほぼ同時か、前記穴が前記受光口の上を通過し前記溶接部が前記受光口の上に存在すると予測されたタイミングで、受光器の光検出器に診断光を入射して、受光器の光検出器からの光検出信号に基づいて受光器を診断する。 (もっと読む)


【課題】投光器および受光器の診断機能を有する鋼帯の穴欠陥検出装置を提供する。
【解決手段】連続的に搬送される鋼帯1を挟んだ上下に配置された投光器2および受光器3と、光ファイバ4と、これらより少し上流に配置された溶接穴検出器5と、トラッキング装置6と、穴欠陥検出制御装置7と、表示装置8とからなる。穴欠陥検出制御装置7は、鋼帯1に穴欠陥があるかどうかを常時検出する穴欠陥検出部71と、投光器2を常時診断する投光器診断部72と、受光器3を所定のタイミングで診断する受光器診断部73を有する。受光器診断部73は、鋼帯1のコイル間の溶接部に設けた穴が穴欠陥として検出されたタイミングとほぼ同時か、前記穴が前記受光口の上を通過し前記溶接部が前記受光口の上に存在すると予測されたタイミングで、前記溶接部に対する穴欠陥検出が行われている間に、受光器の光検出器に診断光を入射して、受光器の光検出器からの光検出信号に基づいて受光器を診断する。 (もっと読む)


【課題】被検査物の比較的広い面積に光を照射して検査する場合であっても、ピンホールの場所によらず均一な検査感度で精度よくピンホールの有無を検査することができるピンホール検査装置を提供する。
【解決手段】複数の光源それぞれの輝度を互いに独立に複数階調で調整可能な光照射装置40と、光照射装置40の複数の光源によって面状に照射される照射光を検出する光源調整用の光検出装置30と、光源調整用の光検出装置30の検出結果に基づいて、光照射装置40の複数の光源によって面状に照射される照射光の光量が照射面において均一になるように前記複数の光源それぞれの輝度を複数階調で調整する制御部100と、制御手段100によって前記複数の光源の輝度が調整された光照射装置40から面状に照射され被検査物10を透過した漏れ光を検出するピンホール検査用の光検出装置31とを備える。 (もっと読む)


【課題】検査対象物品の色に応じた最適な検査手段、方法により、誤判定を無くすための技術を提案する。
【解決手段】検査対象となる物品(実施例では瓶2)を撮像するための少なくとも一つの撮像装置11a・11b・11c・11d・11eと、前記物品に対して光を照射するための少なくとも一つの照明装置12と、を有し、前記光が照射された前記物品を前記撮像装置11a・11b・11c・11d・11eにて撮像し、撮像された画像に基づいて前記物品の欠陥を判定するための反射系検査部10を有する、物品の欠陥検査装置1であって、前記照明装置12は、検査対象となる物品(瓶2)に対して照射する光の色を変更できる構成とする。 (もっと読む)


【課題】プレスラインの設備コストや設備スペースを縮小する。
【解決手段】光源(赤外線ランプ41)と、受光空間42と、受光機(カメラ43)とを有する検査機構を、板金ワークの加工を行うプレス金型に組み込む。そして、受光空間42を密閉した状態で光源から光を照射し、このときの受光機の検知結果に基づいて、板金ワークの欠陥の有無を検査する。 (もっと読む)


【課題】検査経路を搬送される容器に照射した光が容器壁部を漏光するのを検出して、容器に生じた小孔を検査する場合に、容器の胴部及び底部の両方を同時に検出可能な容器検査方法及び容器検出装置を提供すること。
【解決手段】容器Wを保持して周回するとともに搬送する小孔検査検出回転体と、前記容器Wの開口部W1側を支持するとともに遮光する開口部側支持体と、前記容器Wの底部W2側を支持して前記容器Wを前記開口部側支持体に押し付ける押圧部材40と、前記容器Wに光を照射する光源と、前記開口部W1が遮光された容器内部に配置された光センサ51Aを有し前記光源が照射した光の漏光を前記容器Wの内部で検出する光検出部とを備えた容器検査装置であって、前記押圧部材40の前記容器Wの底部W2と当接する部分には、光透過性を有する当接部材41を備えていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】容器に光を照射して、容器壁部の漏光を光センサにより検出して、容器に生じた小孔等の欠陥を検査する場合に、容器に生じた大きな小孔から小さな小孔までを、効率的かつ確実に検出可能な容器検査方法及び容器検出装置を提供すること。
【解決手段】容器Wに光を照射し、前記容器Wの壁部の漏光に基づいて、前記容器Wの小孔を検出する容器検査装置100であって、容器Wを支持して回転させる小孔検出回転体2、3を有する回転搬送機構1と、前記回転搬送機構1に支持される容器Wに光を照射する光源50と、前記容器Wの検査経路Mに配置された複数の光検出部51とを備え、前記光検出部51は、それぞれ検出感度の異なる光センサが設置されて、前記光検出部51毎に段階的に異なる大きさの小孔を検出するように構成されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】生産性、耐久性及び検査品質などを向上させることができるロータリー式空缶連続光検査装置、及び、容器の公転移動装置の提供を目的とする。
【解決手段】ロータリー式空缶連続光検査装置1は、空缶αを公転させる二連式スターホイール32、公転する空缶αを保持し往復移動させる往復移動手段2、移動された空缶αの開口端が係入する光シール環盤36、空缶αの外面に光を照射する上ライト42、下ライト44、及び、光検知器を有し、往復移動手段2が、ヘッド106、円板カム96、サポートプレート25及びLMガイド24などを備えている。 (もっと読む)


【課題】穴欠陥の検出の確実性を高めることができる表面検査装置及び表面検査方法を提供する
【解決手段】被検査物10の穴欠陥を画像処理で検査する表面検査装置1であって、被検査物10を撮像する撮像手段2と、撮像手段2が撮像した撮像画像を2値化する2値化手段と、被検査物10の穴欠陥の有無を判定する判定手段とを備えており、2値化手段は、設定に応じて変化する各輝度値を基準として2値化画像を算出し、判定手段は、異なる輝度値で2値化した複数の2値化画像に基いて穴欠陥の有無を判定する。 (もっと読む)


【課題】処理装置によって基板上に成膜する処理を含む製造プロセスによって製造される又は製造された製造品について、上記基板上に異常が生じたか否かを検査するマクロ検査方法であって、マクロレベルの異常を客観的に検出することができるものを提供すること。
【解決手段】或る処理装置による処理を受けた後の製造品を撮像して検査対象マクロ画像を取得する一方、その製造品がその処理装置による処理を受ける以前に、その処理装置による処理を受けた同種の製造品を撮像して得られたマクロ画像の中から、比較の基準となる比較基準マクロ画像を用意する(S101,S102)。検査対象マクロ画像と比較基準マクロ画像との間で、互いに類似している程度を定量的に表す類似度を算出する(S103)。類似度が予め決められた管理範囲から外れたかどうかを判断する(S104)。 (もっと読む)


【課題】高速で走行する透明フィルムに生じた欠陥をリアルタイムに高い検出率で検査できる欠陥検査装置及び該装置を用いる透明フィルムの欠陥検査方法を提供する。
【解決手段】暗室環境下で、透明フィルムの欠陥を検査するための装置において、透明フィルムの下方に設置された平行光源から照射される光が格子状チャートユニットを介して透明フィルムに垂直に当たり、キャプチャーされた画像に写る欠陥箇所の異常屈折を検出する。キャプチャー時に発生するノイズは、画像処理ユニットにより除去を行い欠陥部分とノイズ部分を誤認識することを避け、レンズの歪みによる補正は、取り込む画像を制限することにより処理効率の向上を図りリアルタイム処理を実現している。 (もっと読む)


【課題】ラックやピンホールなどの不良を確実に検出することができる検査方法および検査システムを提供する。
【解決手段】電解質と燃料極とからなるハーフセルHCの状態で、アルコール噴射器2により電解質に対してアルコールを噴射し、カメラ3によりアルコールが付着した電解質を撮像し、画像処理部42によりカメラ3で生成された画像データに対して画像処理を行い、判定部43により画像処理部42の処理結果に基づいて電解質に不良が生じているか否かを判定する。これにより、クラックやピンホールなどの不良を確実に検出することができる。 (もっと読む)


【課題】自動的に物品の欠陥または特徴を検査できる、検査システムを提供する。
【解決手段】検査システム10は、製品をスキャンして製品のイメージを生成するスキャナ12と、スキャナ12に電気的に接続され、製品のイメージを受信して分析する分析装置16と、を有する。イメージが画素マトリクスを含み、各画素がグレースケール値を有する。分析装置16がマイクロプロセッサ、メモリ及び比較モジュールを有する。マイクロプロセッサがイメージ中の各画素に関する基準グレースケール値の計算に用いられ、当該基準グレースケール値が各画素の隣に位置する画素のグレースケール値の平均値を含む。メモリは各画素に関する基準グレースケール値と基準グレースケール値に関する閾値の保存に用いる。比較モジュールはイメージ中の各画素のグレースケール値と各画素に関する閾値の比較に用いる。 (もっと読む)


【課題】電子回路基板の製造と共にマスク欠陥検査装置自体の検査を実行可能なフォトマスクを製造するフォトマスク製造方法、そのフォトマスクを用いたフォトマスク欠陥検査装置判定方法、及びフォトマスク欠陥検査装置判定装置を提供する。
【解決手段】電子回路基板を製造する際に用いられるフォトマスクの欠陥を検査するフォトマスク欠陥検査装置の検査をするための欠陥検査用パターンを、前記電子回路基板における電子回路領域を避けて配置したマスクパターンを示すマスクパターンデータを作成する作成段階と、前記作成段階により作成されたマスクパターンデータが示すマスクパターンを、フォトマスクに転写する転写段階と、を有する。 (もっと読む)


【課題】超電導線材の欠陥を感度よく検査する
【解決手段】超電導線材の検査装置は、超電導線材(20)の表面(20a)の法線方向に光を照射する青色LED(1)と、超電導線材(20)の表面(20a)の法線方向と角度をなす方向に光を照射する赤色LED(2)と、超電導線材(20)からの反射光(B1)を主として受光し、かつ超電導線材(20)からの散乱光(C2)を主として受光するカラーラインセンサ(3)と、カラーラインセンサ(3)にて受光した光の光量を積算して出力するコンピュータ(5)とを備えている。 (もっと読む)


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