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Fターム[2G051AB06]の内容

Fターム[2G051AB06]に分類される特許

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【課題】検査対象の穴径が数百ミクロン以下であっても穴の内部を簡便に、短時間で検査することが可能な穴の内部検査装置を提供する。
【解決手段】穴の内部検査装置100は、カメラ10と、カメラ10に対向して設けられた光源20と、カメラ10が取得した画像を処理する制御部30と、を備え、カメラ10は、カメラ10と光源20との間に置かれた被検査物2に貫通して形成された穴1の内部を、光源20から照射される光によって得られる画像によって穴1の一方の端から他方の端までを所定の間隔で走査することで複数の走査画像Isを取得し、制御部30は、複数の走査画像Isに分布する輝度に基づいて被検査画像を選択し、被検査画像に対して画像処理を行うことで所望の検査を行う。 (もっと読む)


【課題】生産性の高い検査装置、及び搬送装置を提供する。
【解決手段】本発明の一態様にかかる検査装置は、前段搬送ベルト21と後段搬送ベルト23との間において、基板10を支持して、照明する照明ステージ22と、基板10を持ち上げる移載部31を有し、前段搬送ベルト21から照明ステージ22に受け渡すともに、照明ステージ22から後段搬送ベルト23に基板10を受け渡すための動作を行うクランク機構32と、移載部31に設けられ、移載部31で持ち上げられた基板10に向けて下側から照明光を照射する照明部31aと、一の基板10が照明ステージ22を介して前段搬送ベルト21から後段搬送ベルト23に移載されるまでの間に、照明ステージ22及び照明部31aで照明された一の基板10を撮像する撮像部35と、を備えるものである。 (もっと読む)


【課題】透過率が高い導電性透明電極パターンや微細な金属配線のパターンを、インライン検査で行うための検査システムを提供する。
【解決手段】検査ワーク11を第1の方向Xに搬送するワーク搬送装置20と、検査ワーク上に形成されたパターンの光学情報を取得する撮像装置30と、第1の方向と直交する第2の方向Yに撮像装置を移動させる移動装置40と、ワーク搬送装置、撮像装置及び移動装置を制御するとともに、光学情報に基づいてパターンを検査する制御部50と、を有する。 (もっと読む)


【課題】管端部の加工部について、寸法精度と加工面の状態とを共に自動的に検査することができ、しかもインライン化が可能なよう検査装置全体のコンパクト化を可能にした、管端検査装置を提供する。
【解決手段】端部を加工した管2の管端加工部を検査する管端検査装置である。管端加工部の形状を計測するレーザ変位計42と、管端加工部の表面を撮影する撮像装置62と、レーザ変位計42及び撮像装置62を管端加工部の周方向に沿って移動させることにより、レーザ変位計42のレーザビームスポット及び撮像装置62の焦点を管端加工部の周方向に沿って周回させる回転テーブル(周回手段)と、を備える。 (もっと読む)


【課題】
表面の異物や傷欠陥だけでなく基板の局所的な厚さの変化による欠陥まで検出することを可能にする。
【解決手段】
ガラス基板検査装置を、ガラス基板を透過した光を検出する第1の欠陥検出光学系と、ガラス基板を透過した光によりガラス基板の表面又は内部で発生した散乱光を検出する第2の欠陥検出光学系と、第1の検出光学系で検出した信号と第2の検出光学系で検出した信号とを処理する信号処理手段とを備えて構成し、信号処理手段は、第1の検出光学系手段からの検出信号を入力して処理することによりガラス基板の局所的な厚さの変化に起因する欠陥を検出し、第2の検出光学系手段からの検出信号を入力して処理することによりガラス基板の欠陥を検出するように構成した。 (もっと読む)


【課題】被検体の観察面の微細な凹凸による光の散乱を簡単に抑制し、被検体の内部を観察できる内部状態観察方法を提供する。
【解決手段】光を用いてランバード原石51(被検体)の内部を観察する内部状態観察方法であって、ランバード原石51の観察面57に、光透過性を有するフィルム60を貼り付けるフィルム貼付工程と、ランバード原石51の表面に光を照射しつつ、観察面57からフィルム60を介してランバード原石51の内部を観察する内部観察工程と、を備え、フィルム60は、平坦に形成された最外層61と、最外層61の一方面側に形成され、観察面57に自己吸着する自己吸着層62と、を備え、自己吸着層62の厚さは、観察面57の表面粗さにおける最大高さよりも厚く形成されていることを特徴としている。 (もっと読む)


【課題】光学異方性を有するフィルムについて、その欠陥を抽出するとともに、欠陥の種類を正確に判別するためのフィルム検査システム等を提供する。
【解決手段】フィルム検査システム1では、光学補償フィルム10を、偏光板51aを介した照明光を照射した状態で、ラインセンサ3aで偏光板31aを介して撮像するとともに、偏光板51bを介した照明光を照射した状態で、ラインセンサ3bで偏光板31bを介して撮像する。偏光板31aと偏光板51a、偏光板31bと偏光板51bの偏光方向は略直交し、偏光板31aの偏光方向と光学補償フィルム10の配向方向とは略45°の角度をなし、偏光板31bの偏光方向と光学補償フィルム10の配向方向とのなす角度は、90°から所定角度ずらしたものである。画像処理装置7は、ラインセンサ3a、3bで光学補償フィルム10を撮像した画像データ20a、20bを基に欠陥候補の検出と欠陥種類の判別を行う。 (もっと読む)


【課題】連続して発生するガラス欠陥の検査において、必要な検査精度を確保したまま検査速度を高め、さらに、装置構成を複雑にせず装置コストを抑えた板ガラス検査装置を提供する。
【解決手段】複数の板ガラスを検査する板ガラス検査装置であって、第1板ガラスの欠陥候補範囲と、前記第1板ガラスとは異なる第2板ガラスの欠陥候補範囲とを検出する検出部110と、前記第1板ガラスの欠陥候補範囲の位置と、前記第2板ガラスの欠陥候補範囲の位置とを比較し、前記比較の結果に基づいて、前記第1板ガラスと前記第2板ガラスとに連続する欠陥の有無を判定する判定部120とを備える。 (もっと読む)


【課題】結晶粒界や光学系のムラによる画像の濃淡差が発生しても内部クラックを検出することの出来るシリコンウエハ検査方法および装置を提供する。
【解決手段】赤外照明光を円偏光フィルタを用いて円偏光し、シリコンウエハに対して照射する。シリコンウエハ表面,および裏面での反射光は偏光方向が反転するため,円偏光フィルタを透過することは出来ない。
一方,内部にクラックなどの欠陥があれば照明光は乱反射するため無偏光となり,円偏光フィルタを透過することが出来るため,カメラにて撮像が可能である。このため,クラック等の欠陥で乱反射した照明光のみを撮像し画像処理装置で検出することで,クラック等の欠陥の有無を検出することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】被測定物体から試料を切り取る必要がなく、機械的駆動部を備えておらず持ち運びが容易にできる反射特性測定装置および測定方法を提供する。
【解決手段】反射特性測定装置1は、被測定物体を照明する照明部1aと、照明部1aにより内部を照明できるようにした拡散ドーム1bと、拡散ドーム1bの頂上に取り付けた魚眼レンズ1cと、魚眼レンズ1cを取り付けた受光部1dと、画像処理部1eを備えて構成されている。被測定物体からの反射光は拡散ドーム1bの内壁に映り込み、このときの光強度分布を受光部1dで撮像する。そして、撮像した画像から画像処理部1eで被測定物体上の反射点の位置を検出し、このときの位置を基準として拡散ドームの径に応じた球座標に変換する。このようにすると、反射点の反射特性を一度の撮像で取得して、さらに3次元表示できる。 (もっと読む)


【課題】接着剤中に散在する多くの気泡について、精度良くそのサイズを表し得る情報を得ることのできる貼り合せ板状体検査装置を提供することである。
【解決手段】ラインセンサカメラ50と、貼り合せ板状体10を介してラインセンサカメラ50に向けて照明する照明手段51、52と、前記照明手段により照明がなされている状態でラインセンサカメラが前記貼り合せ板状体走査する際に当該ラインセンサカメラから出力される映像信号を処理する処理ユニットとを有し、前記処理ユニットは、前記ラインセンサカメラからの映像信号に基づいて生成される画素単位の濃淡値からなる検査画像情報から得られる暗リングを横切る方向の濃淡値プロファイルから、前記暗リングに対応した2つの暗部間の検査画像上での距離に基づいて気泡サイズ情報を生成する構成となる。 (もっと読む)


【課題】光ファイバを損傷させることなく長期にわたって良好にガイドすることが可能なガイドローラ及び光ファイバの製造方法を提供する。
【解決手段】ガラスファイバG1が樹脂で被覆された光ファイバG2の走行をガイドするガイドローラであって、光ファイバG2が接触する表面におけるビッカース硬さが1000以上である。このガイドローラを、線引き炉21の直下に設けられて光ファイバG2の走行方向を変更する直下ローラ12として用いる。 (もっと読む)


【課題】麺類におけるクラックの発生の程度を容易に検出することができる麺類のクラック検出装置を提供する。
【解決手段】麺類からなる試料Sの軸方向に対して光源部1から垂直に照明光が照射され、試料Sの透過光により撮像部2で試料Sの画像が取得され、この画像に基づき画像解析部4で濃度ヒストグラムが作成され、判定部5で濃度ヒストグラムから濃度レベルの平均値MEN、コントラスト値CNT、分散値VAR、エネルギー値EGYおよびエントロピ値EPYのうち少なくとも1つが評価値として演算されると共に、演算された評価値をクラックの発生量が既知である基準の麺類について予め演算された基準評価値と比較することにより試料Sにおけるクラックの発生量が検出される。 (もっと読む)


【課題】高速に検査することができる検査装置、及び検査方法を提供する。
【解決手段】本発明の一態様にかかる検査装置は、照明光が入射する偏光ビームスプリッタ11と、偏光ビームスプリッタ11からの照明光を集光して、EUVマスク40に照射する対物レンズ13と、EUVマスク40で反射して対物レンズ13を通過した反射光の一部の光路を変化させて、反射光の光軸と垂直な面における位置に応じて反射光を分割する分割ミラー15と、一方の光ビームを受光して、対物レンズ13の視野における第1の領域を撮像する検出器16と、偏光ビームスプリッタからの光学距離が検出器17の偏光ビームスプリッタ11からの光学距離と異なる位置に配置され、他方の光ビームを受光して対物レンズ13の視野における第2の領域を撮像する検出器17と、を備えるものである。 (もっと読む)


【課題】積層フィルムの擬似欠陥の有無の判定を簡単に行う。
【解決手段】偏光板13とセパレータ15を有する積層フィルム9上に、偏光フィルタ19を配置する。偏光フィルタ19の偏光軸を、偏光板13の偏光軸と略直交させる。積層フィルム9の直下にライン光源17を配置し、偏光フィルタ19の直上にラインセンサカメラ20を配置する。ライン光源17から積層フィルム9に向けて検査光24を照射する。積層フィルム9及び偏光フィルタ19を透過した検査光24をラインセンサカメラ20で撮像する。撮像により得られた画像データ41から、輝度が高くなる高輝度領域40を欠陥画像データとして抽出する。欠陥画像データが2つの高輝度領域40が並ぶ特定欠陥画像データである場合に、この欠陥画像データに対応するフィルム欠陥部分を、擬似欠陥であると判定する。 (もっと読む)


【課題】乾麺におけるクラックの発生を事前に予測することができる乾麺のクラック発生予測装置を提供する。
【解決手段】光源部1のハロゲンランプ4から発せられた光が円偏光フィルタ5で円偏光に変換されると共にコンデンサレンズ6で集光されて試料Sに照射され、試料Sを透過した光が対物レンズ7で平行光に変換された後、楕円偏光解析器8を通してCCDカメラ9に到達し、試料Sの複屈折性に起因して試料Sを透過する際に生じた位相差をコントラストに変換した位相差像がCCDカメラ9で取得される。位相差像のデータに基づき、予測部3で、試料Sが有する複屈折位相差量が計測されると共に計測された複屈折位相差量から試料S内の残留応力の大きさが評価され、評価された残留応力の大きさに応じて、試料Sにおけるクラック発生の有無が予測される。 (もっと読む)


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