【課題】紫外光光源を用いて有価紙面などの蛍光成分を検出する密着型光学ラインセンサ装置において、有価紙面の精密な真偽判定機能を行う。
【解決手段】ロッドレンズアレイ２３上に紫外光を遮断するＵＶ遮断フィルタ膜３０をコーティングもしくは蒸着する際に、紫外光を透過するスリット３４を設けてそのスリット３４から透過する紫外光をモニターして、ＵＶ遮断フィルタ膜３０を通して検出される蛍光出力と対比させる。
【効果】有価紙面が長期間市場で使われ老朽化し、汚染されていても、直接有価紙面の基材部に照射され反射した紫外光の光量の変動に比例した蛍光出力が得られるので、有価紙面からの蛍光出力を正確に評価することができる。 （もっと読む）

【課題】傷部の検出精度を向上させた高温自動探傷装置を提供する。
【解決手段】被検査体２を搬送する搬送工程３と、この搬送工程３の中途部に設け、被検査体２を高周波誘導過熱コイル内に通過させて、被検査体２の表層部に渦電流を流して加熱し、表層部に温度変化を与える加熱工程４と、この加熱工程４により加熱後の表層部を検出装置７で探傷するとともに、検出装置７から取得した画像を画像処理することで表層部の傷部の有無を判定する探傷工程５とを備え、探傷工程５は、加熱工程４の前側に、表層部上のスケールを除去するデスケール装置１０および渦電流を流す前の表層部の傷部を探傷する検出装置６を、それぞれ被検査体２の搬送方向順に設置し、被検査体２を、加熱工程４前後の両検出装置６，７から得た、渦電流を流す前後の表層部の画像を解析することにより、表層部の探傷を行う。 （もっと読む）

【課題】導電性を有する異物の検出に要するコストの低減を図りつつ、極く小さな異物であっても確実に検出する。
【解決手段】非導電性材料で形成された樹脂フィルム２０にマイクロ波Ｗｍを照射して樹脂フィルム２０に含まれている導電性を有する異物Ｘを選択的に発熱させる発熱処理を実行するマイクロ波照射部３と、樹脂フィルム２０を撮像して樹脂フィルム２０における各部の温度を検出するサーモカメラ４と、マイクロ波照射部３による発熱処理およびサーモカメラによる樹脂フィルム２０の撮像（樹脂フィルム２０における各部の温度の検出）を制御すると共に、サーモカメラ４の撮像結果を温度検出結果として分析して、発熱処理によって発熱した発熱部位に異物Ｘが存在すると検出する処理部６とを備えている。 （もっと読む）

【課題】壁体に生じている空隙部の状態を、視覚を通じて十分に把握できるようにした、壁体の診断方法および壁体診断報告書を提供する。
【解決手段】躯体２および躯体２の表面に設けた仕上げ材３からなる建築物の壁体１に生じた空隙部６，７の状態を、カメラユニット１１を用いて診断する壁体１の診断方法であって、空隙部６，７が生じた壁体１の要診断箇所に、仕上げ材３を貫通し躯体２に達する診断用穴８を穿孔する穿孔工程と、診断用穴８にカメラユニット１１の鏡筒１５を挿入し、診断用穴８における空隙部６，７を撮像する撮像工程と、撮像工程の撮像結果に基づいて、空隙部６，７の状態を診断する診断工程と、を備えたものである。 （もっと読む）

【課題】専用の装置と、それを扱える専門的な人が必要であり、その装置と人が製品のある現地に赴き、診断を行うため、手間と時間がかかるという問題があった。
【解決手段】この発明に係る樹脂材料の劣化診断膜は、第一のコーティング膜と、該第一のコーティング膜の表面で、かつ、最外部に設けられた第二のコーティング膜と、からなる樹脂材料の劣化診断膜であって、前記第一のコーティング膜は、環境因子との反応により変色する染料を含有し、前記第二のコーティング膜は、所定の応力により亀裂が生じることを特徴とするものである。 （もっと読む）

【課題】 小さなサイズの残留物から大きなサイズの残留物まで様々なサイズの残留物を同時に検出することが可能な画像処理を行うことで測定精度を向上させた残留物測定方法を提供する。
【解決手段】
濾過フィルタ上の残留物 (屑や粉等)を撮像し、取得した画像データを分岐させて、分岐した画像データのうち一方の画像データに対して直ちにラベリング処理を施して、画像処理領域の画素サイズをＰ以下として所定サイズの前記残留物を検出する特徴抽出を行い、かつ、他方の画像データに対してオープニング処理とクロージング処理のいずれか１種以上の処理を行ってからラベリング処理を施して、画像処理領域の画素サイズをＱ以上とし当該ＱとＰはＱ＜Ｐの関係とすることで、前記所定サイズよりも大きなサイズの前記残留物を検出する特徴抽出を行い、引き続き、これら特徴抽出された画像処理領域同士を結合した後に再度のラベリング処理を行う。 （もっと読む）

【課題】３次元画像処理といった、複数の撮像部からそれぞれ生成される画像データを処理することのできる画像処理装置において、特定の画像処理に必要な複数の画像データをそれぞれ生成する複数の撮像部に対する各種設定を容易に行うことのできる画像処理装置を提供することである。また、そのような画像処理装置に向けられた画像処理プログラムを提供する。
【解決手段】接続される複数の撮像部をいくつかのグループに分けた上で、各グループに属する撮像部を一まとまりにして、必要な撮像条件を設定するためのユーザインターフェイスを提供する。 （もっと読む）

【課題】ライニング硬化材によって補修された補修済み管路において、変形・損傷箇所等のひずみを計測する技法を提供する。
【解決手段】本発明による管路ひずみ計測方法は、既設管路(2)内をライニング材(5)で補修する際に既設管路(2)とライニング材(5)との間に少なくとも１本の光ファイバ(6)を配設し、光ファイバ(6)にパルス光を入射して、既設管路(2)のひずみを計測することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】プリンティング状態の検査に必要な時間、工程及び費用を減少させ、また、検査の結果を後続プリンティング工程に反映する。
【解決手段】インクジェットプリンティングの機能、及び検査の機能を具備した複合システムは、プリンティング対象物上に複数パターンを形成するようにインクを供給するための複数インクジェットヘッド、上記複数インクジェットヘッドが装着され、上記プリンティング対象物上で移動可能なガントリー、上記ガントリーの後方に裝着され、上記プリンティング対象物上に形成された上記複数パターンの状態を検査するための少なくとも一つ以上の検査装置、及び上記複数インクジェットヘッド、上記ガントリー、及び上記少なくとも一つ以上の検査装置のそれぞれの動作を制御する制御装置を含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】検査準備等の工数を極力減らして、検査の有効性を簡単かつ容易に判断することのできる欠陥検査方法を提供する。
【手段】内部欠陥５が表面温度の差として顕著に表れているのは、被検査体１に対して与えられる熱３の熱量が熱７の熱量よりも大きいため、被検査体１の表面温度が大きく上昇し、これによって生じた熱流が内部欠陥５において反射することによって、被検査体１の表面２の温度を上昇させているためである。表面温度の温度上昇率と、健全部と欠陥部の間に生じる表面温度の差に着目し、これらの関係を定量化することにより、被検査体の内部における欠陥を検出することのできる有効範囲を決定し、当該有効範囲において検査結果の信頼性を保証する。 （もっと読む）

【課題】検査対象物の搬送速度に変動が生じた場合であっても均一な表面画像データを得ること。
【解決手段】このカード印刷装置１は、媒体を搬送路Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３上を搬送させながら、媒体表面を検査する装置において、撮像部５ａの走査タイミングを制御すると同時に、撮像部５ａからの照明光の照明時間を、予め記憶した複数の走査ライン毎の照明時間データに基づいて、複数の走査ライン毎に制御する制御部１５を備え、制御部１５は、検査用試料を対象にして、撮像部５ａを制御することにより複数の走査ライン毎の撮像データの平均輝度を予め取得した後に、平均輝度が目標値に近づくような照明光の照明時間の補正値を算出し、補正値を反映した複数の走査ライン毎の照明時間データを予め記憶し、検査対象の媒体の撮像時には該照明時間データに基づいて照明光の照明時間を変更する。 （もっと読む）

【課題】光学フィルムの欠点検査において、離型フィルムの一部を残して剥離して欠点検査を行なう場合に、離型フィルムの剥離に際し、離型フィルムに粘着剤が付着したり、粘着剤表面が荒れることがないように構成した光学フィルムの欠点検査方法を提供することにある。
【解決手段】リーダー部材を離型フィルムの端部分に貼着し、当該リーダー部材を当該離型フィルムに設けるリーダー部材貼着処理と、リーダー部材を当該離型フィルムの端部分方向に折り返すリーダー部材折返し処理と、離型フィルムを粘着剤層から剥離するように、折り返したリーダー部材と光学フィルムおよび粘着剤層とを相対的に移動させ、離型フィルムの端面部分が粘着剤層から剥離開始以後、所定位置まで連続して、当該離型フィルムを当該粘着剤層から剥離する離型フィルム剥離処理と、剥離された所定領域を欠点検査する欠点検査処理とを有する。 （もっと読む）

【課題】従来のフィラメント方式の光学外観検査で検出されるキズよりも微小な黒く深い欠陥及び検出し難い光沢のある浅い欠陥傷の安定した検出を可能ならしめる。
【解決手段】
鋼球１の表面傷を検査する外観検査装置において、検査する鋼球１を子午線状に回転する回転装置と、回転装置によって回転する鋼球１の表面を検査するレーザー光学系を設け、回転装置によって順次子午線状に走査される鋼球１表面をレーザー光学系の光源６よりレンズ系７でレーザー光を照射して検査し、鋼球全表面のキズの有無の判定を行うようにした。 （もっと読む）

【課題】 クラックの進行状況を簡易な構成で容易に把握することができるクラック監視器を提供する。
【解決手段】 上面２ｂに標識４が設けられた第１の監視体２を第１の亀裂部Ｗ１に取り付け、長短辺を標識４に合わせて第２の監視体３を第２の亀裂部Ｗ２に取り付ける。クラックＣが進行して第１の亀裂部Ｗ１および第２の亀裂部Ｗ２が変動すると、標識４に対する第２の監視体３の位置が変化し、第２の監視体３の長短辺が標識４からずれる。このズレを目視で確認・監視することで、クラックの進行状況を把握できる。 （もっと読む）

【課題】空間フィルタを備えたＤＦ欠陥検査装置において、事前に空間フィルタの設定状態を把握して補正し、欠陥検査精度を格段に向上させて信頼性の高い欠陥検査を実現することを可能とする。
【解決手段】空間フィルタ部１２を有するＤＦ欠陥検査装置１及び欠陥検査補正装置２を含み欠陥検査システムが構成される。欠陥検査補正装置２は、光強度の閾値Ｔ_Hを設定する閾値設定部２１と、閾値Ｔ_Hが設定されており、補正用反射光の強度の閾値Ｔ_Hとの大小を判定する判定部２２と、判定部２１により補正用反射光が閾値Ｔ_H以上と判定された場合に、補正用反射光が閾値Ｔ_Hより小さくなる空間フィルタ１２ａの設定状態を決定する決定部２３とを含む。 （もっと読む）

【課題】 検査対象物の表面状態の欠陥を極めて高精度に検出することが可能な欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供すること。
【解決手段】 本発明に係る欠陥検出方法は、複数の表面高さデータを抽出する工程（ステップ１）と、第１基準線を算出する工程（ステップ５）と、第１区間及び第２区間の各区間において、各測定点毎に算出された第１の差が最大となる表面高さデータを示す点である第１のピーク点をそれぞれ算出し、各第１のピーク点を通る第２基準線を算出する工程（ステップ６）と、各区間において、各測定点毎に算出された第２の差が最大となる表面高さデータを示す点である第２のピーク点をそれぞれ算出し、各第２のピーク点を通る第３基準線を算出する工程（ステップ７）と、各測定点毎に算出された第３の差に基づいて評価値を算出する工程（ステップ８）とを備える。 （もっと読む）

【課題】診断対象部位からレプリカを採取する必要がなく、現場で簡単かつ短時間に金属組織を観察することができる材料組織観察装置を提供すること。
【解決手段】密閉構造の顕微鏡本体１５内に設けられてレーザーを発信する半導体レーザーと、この半導体レーザーから発信されたレーザーを屈曲させて導く上記顕微鏡本体内に設けられた光路と、この光路の先端部に取り付けられて上下方向に移動可能な対物レンズと、上記光路に設けられて反射するレーザーを受信する画像センサと、顕微鏡本体１５を左右方向に傾動可能に支持する第一台座と、この第一台座が取り付けられた第二台座と、この第二台座下面に当接する第三台座を備え、第二台座と第三台座は直交する２軸方向に移動可能であって、対物レンズ、第二台座および第三台座を移動させる移動機構と、顕微鏡本体１５を傾動させる傾動機構を備え、さらに、被観察対象に固定するための固定治具装置４４、４５、４６を有する。 （もっと読む）

【課題】 画像中の抽出対象部位と非抽出対象部位との分離能力が反映された評価値を用いた画像処理アルゴリズム評価方法を提供する。
【解決手段】 評価対象となる画像処理アルゴリズムを生成して（ＳＴＥＰ１）、これを欠陥位置が既知の学習用画像データに対して適用して擬似欠陥を含む欠陥候補を抽出して各候補の特徴量を算出する（ＳＴＥＰ２〜ＳＴＥＰ５）、欠陥位置が既知であることに基づき欠陥候補を真欠陥と擬似欠陥に分類し（ＳＴＥＰ６）、真欠陥群の特徴量と擬似欠陥群の特徴量の分離度を求め（ＳＴＥＰ７）、求めた分離度に基づき画像処理アルゴリズムを評価する（ＳＴＥＰ８）。そして、その評価値に基づいて画像処理アルゴリズムのパラメータを調整する（ＳＴＥＰ１１）ことにより画像処理アルゴリズムの生成を行う。 （もっと読む）

【課題】本発明は、観察プローブをＲＨ炉内に挿入し煉瓦の残厚を測定する場合、ＲＨ炉と観察プローブの中心位置の位置ずれを補正して測定精度を向上させることを目的とする。
【解決手段】本発明によるＲＨ炉内観察装置は、ＲＨ炉(1)の下方に回転及び上下動自在な観察プローブ(18)を配設し、ＲＨ炉(1)の還流管(4,5)と観察プローブ(18)の各中心位置(4a,5aと19)間の位置ずれ分(ΔX,ΔY)を補正してＲＨ炉(1)の煉瓦(3)の内壁(3a)に対する距離測定データを高精度に得るようにした構成である。 （もっと読む）

【課題】 検査対象における輝点等の欠陥の有無を精度良く検査することができる欠陥検査方法を提供すること。
【解決手段】 有機ＥＬパネルをＣＣＤカメラで撮像する撮像工程Ｓ１と、撮像データから検査対象領域を検出し、検査対象領域の色情報および輝度情報を各撮像画素毎に取得する撮像画素データ取得工程Ｓ２と、検査対象領域全体の基準色情報を求め、基準色情報に対する各撮像画素の色情報の偏差を求め、色情報偏差に基づいて強調係数を求める強調係数算出工程Ｓ３と、前記強調係数を用いて、前記各撮像画素の輝度情報を補正輝度情報に補正する輝度情報補正工程Ｓ４と、前記補正輝度情報に基づいて前記検査対象領域内の欠陥を検出する欠陥検出工程Ｓ５とを備える。色情報偏差によって欠陥部分の輝度値を強調できるので、補正後の輝度値に基づいて欠陥部分を精度良く検出できる。 （もっと読む）