【課題】プラスチックシート基板に形成された欠陥検出の作業性、安定性を向上し、回路形成工程においても活用できるようなプラスチックシートおよびその製造方法を提供する。
【解決手段】熱可塑樹脂又は熱硬化性樹脂から構成されるプラスチックシート、もしくは熱可塑樹脂及び繊維布又は熱硬化性樹脂及び繊維布を含む複合体組成物から構成されるプラスチックシートにおいて、該プラスチックシートから検出した異物又は欠陥に関する情報、及び検出した異物又は欠陥の位置の基準点を該プラスチックシート内の所定領域に形成したことを特徴とするプラスチックシート。 （もっと読む）

【課題】長さ方向に搬送される長尺のシート状製品の欠陥を検査装置により検出し、ペン先の乾燥によるマーキング性の低下を招くことなく、検出された欠陥部分に油性マーキングペンを用いてマーキングを施すことができる欠陥マーキング装置を提供する。
【解決手段】長さ方向に搬送される長尺のシート状製品の欠陥を検査装置により検出し、該検査装置より搬送方向の下流側において検出された欠陥部分にマーキングを施す装置において、ペン先を封鎖するシャッターを備えた油性マーキングペン収納管に収納された油性マーキングペンによりマーキングを施し、検査装置から送られる信号に基づいて油性マーキングペン収納管のシャッターが開かれ、油性マーキングペンが押し出されてペン先によりシート状製品の欠陥部分にマーキングが施され、マーキングを施し終えたのち油性マーキングペンが引き込まれ、シャッターが閉じられることを特徴とする欠陥マーキング装置。 （もっと読む）

【課題】金属帯上の表面欠陥の高精度な検査方法を用いることで、表面欠陥品質を高めることができる金属帯の製造方法および欠陥情報を有するマーキング付き金属帯を提供することを目的とする。
【解決手段】表面欠陥検査を行う工程よりも前の工程にて、単に表面だけではなく表層部の性状を測定し、それにより検出された異常部が表面欠陥検査段階で表面欠陥として顕在化するかどうかを予測することにしたので、表面欠陥計指示部と表層部性状測定による欠陥顕在化予測部を比較することで、金属帯の製造工程の中で、表層部性状測定以前に表面欠陥の原因が生じたのか、あるいは表層部性状測定以降に表面欠陥の原因が生じたのかを、仮にその段階で表面欠陥として顕在化していなくとも、認識することができるようになり、表面欠陥発生原因の特定が容易になり、その結果製造プロセスの改善が迅速にできるようになる。 （もっと読む）

【課題】 従来装置では検出困難であった被検査シート上の窪み欠陥を高精度で検出できる欠陥検査方法を提供する。
【解決手段】 搬送される被検査シートＰに照射装置２０から照射光を照射し、被検査シートＰ上で反射した光を受光装置４０で受光する被検査シート表面欠陥検査方法において、被検査シートＰに照射する光の主光領域に遮光マスク５０で遮光をし、遮光マスク５０の横を通過する光が照射する被検査シート上の領域を検査するようにした。 （もっと読む）

【課題】長さ方向に搬送される長尺のシート状製品の欠陥を検査装置により検出し、検出された欠陥部分にシート状製品に損傷を与えることなくマーキングを施し、後工程において容易に欠陥部分の除去又は補修をすることができる欠陥マーキング装置を提供する。
【解決手段】長さ方向に搬送される長尺のシート状製品の欠陥を検査装置により検出し、該検査装置より搬送方向の下流側において検出された欠陥部分にマーキングを施す装置において、検出された欠陥を挟む下流側と上流側の２か所においてマーキングを施すことを特徴とする欠陥マーキング装置。 （もっと読む）

【課題】 グラビアシリンダの製版後における外周表面の欠陥を精度良く検出することができ、製版ムラを検出することができ、校正刷りに要する手間を大幅に低減できるグラビアシリンダ用検査装置及び方法を提供する。
【解決手段】 グラビアシリンダを回転自在に支持する支持手段と、該グラビアシリンダの外周表面を走査して版面画像を得る走査手段と、該版面画像と製版に用いた原画像とを比較して該版面画像におけるセルの欠陥を検出する欠陥検出手段と、を備えるようにした。 （もっと読む）

【課題】効率良く欠陥検査データを活用する欠陥解析装置を提供する。
【解決手段】半導体基板に複数の半導体チップを形成した半導体装置を製造するにあたり、各工程での半導体基板の欠陥を検査および解析するために用いられ、欠陥検査装置１１０、画像取り込み装置１０、データ解析装置１３０及び電気特性測定装置１８０を備えて構成される。データ解析装置は、欠陥情報管理手段と、入力部及び出力部と、欠陥解析手段とを備えている。欠陥情報管理手段は、欠陥分布情報、基板観察情報及び電気特性情報を合成して欠陥情報とする。 （もっと読む）

【課題】 配線部分と樹脂フィルム部分のコントラストが大きくなるようにし、反射照明により配線パターンを容易に検出できるようにすること。
【解決手段】 配線パターンが形成されたＴＡＢテープ５は、送り出しリール１１から巻きだされ検査部１に送られる。検査部１で、反射照明手段１ａで照明し、撮像手段１ｂでＴＡＢテープ５上の検査パターンを撮像する。撮像された検査パターンの画像は制御部４に送られ、基準パターンと比較されパターンの良否が判定される。反射照明手段の１ａの光源は、例えば波長５００ｎｍ以上の光のみを放射する例えば赤外ＬＥＤである。ＴＡＢテープ５を透過する波長５００ｎｍ以上の光のみで照明するので、コントラストの良い画像を得ることができる。またステージ１ｃの赤外線反射率を１０％以下としたり、ステージ１ｃを設けないことで、さらにコントラストのよい画像を得ることができる。 （もっと読む）

【課題】 基板に形成されるアライメントマークに欠損、不良等が生じているか否かを検査可能なように基板をアライメントする。
【解決手段】 基板１の外形を基準として粗位置決めを行い、基板１に形成されるアライメントマークＡ１乃至Ａ４のうち、Ａ１およびＡ２が観察手段Ｃ１およびＣ２に検出できたときには、アライメントマークＡ１およびＡ２を基準として、基板１の回転方向のずれを調整し、各アライメントマークＡ１乃至Ａ４が対応する撮影手段Ｃ１乃至Ｃ４の有効視野の中心に位置するように移動する。この状態において、全てのアライメントマークＡ１乃至Ａ４が検出できるか否かを判定し、アライメントマークに欠損又は不良等が生じているかの検査を行う。 （もっと読む）

【課題】 汎用のレーザマーカを改良した非接触式マーキングを行い、工数を削減するとともに、欠陥の直近に高精度にマーキングを行うことができ、歩留まりを大幅に向上させることができる欠陥マーキング装置を提供する。
【解決手段】 欠陥マーキング装置は、長尺フィルム状製品１に存在する欠陥をブロック毎に検出する検査機２１と、検査機２１によって検出された欠陥に対応してマークを印字するレーザマーカ装置２２と、このレーザマーカ装置２２を制御する制御部２３とを備える。レーザマーカ装置２２は、制御部２３から送信された欠陥の位置を含む位置座標データを保持するバッファが設けられた複数のレーザマーカを有する。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、プリンタ基板からの反射光を取り込んだ画像データを用いて正確な良否判定を行うことができ、良否判定の基準となる基準データの作成を短時間で行うことができるはんだ付け外観検査装置およびはんだ付け外観検査方法を提供することを課題とする。
【解決手段】 投影データ作成部１２は、パット４と接続端子２１とのはんだ付け部の画像データをパット４の幅方向に投影処理した検査対象投影データを作成し、演算部１４は、検査対象投影データと基準投影データ記憶部１３に記憶されている基準投影データとを比較し、判定部１５は、検査対象投影データと基準投影データとの比較結果に基づいてはんだ付け状態の良否を判定する。 （もっと読む）

【課題】 ワークの被検査面のチェック・手直し作業において付く僅かな作業痕、特にアルミ板面のポリネット痕をキズと誤検出しないキズ検査装置を提供する。
【解決手段】 ワークの被検査面の画像を画像処理装置により処理して被検査面のキズの有無を検査する装置において、画像処理装置は、第１画像処理手段３１により被検査面を撮像した画像４０にフーリエ変換によるフィルタ処理を施し、ポリネット痕５１をぼかしたフーリエ画像４１を得る。次に、第２画像処理手段３２によりフーリエ画像４１にランクフィルタ処理を施し、キズ５２がぼかされ、ポリネット痕５１が一層ぼかされた画像４２を作成する。次に、第３画像処理手段３３によりフーリエ画像４１から画像４２を引き算し、キズ５２を鮮明化した画像４３を取得し、続いて第４画像処理手段３４により、画像４３に対して２値化処理を施し、被検査面上のキズ５２のみを鮮明にした画像４４を得、これに基づいてキズ５２の有無を判定し、結果を出力する。 （もっと読む）

【課題】積層リングＷ側縁の擦り痕や打痕等を正確に検査できる方法と前記検査に用いる装置とを提供する。
【解決手段】積層リングＷを回転させながら、径方向に押圧し、油を側縁に滲出せしめて除去する。油を除去した後、積層リングＷを回転させながら、該側縁に付着している固形物を除去する。積層リングＷの側縁を撮像し、得られた画像を処理して検査を行う。積層リングＷを回転させる第１の回転手段２，３と、積層リングＷを径方向に押圧する押圧手段６と、滲出した油を除去する油除去手段８と、第２の回転手段１２と、積層リングＷの側縁を撮像する撮像手段１６と、撮像手段１６により得られた画像を処理して積層リングＷの側縁の検査を行う画像解析手段１７とを備える。油が除去された積層リングＷを回転させる第３の回転手段１２と、回転自在に設けられた第１の固形物除去手段１３と、固設された第２の固形物除去手段１４とを備える。 （もっと読む）

【課題】半田外観検査方法において、正確な良・不良の判定の自動化を可能にする。
【解決手段】半導体装置のリード上に半田を塗布した後の半田外観検査方法であって、
前記リード上の所定領域に照射した光の反射光の、位置に対応する輝度を検出する工程と、
検出された前記輝度について、一軸方向にプロジェクションをとり、所定位置からの距離
に対する輝度のプロファイルを形成する工程と、前記輝度が、半田が塗布されているとき
に得られる値となる距離が、所定の条件を満たす半導体装置を検出し、良品と判定する工
程を具備する。 （もっと読む）

配線パターン検査装置は、光源（１０）と、光源からの光をほぼ平行に導光する平行導光部と、平行導光部によって導光された光から、導光方向に対して直交する横波光成分を抽出し、この横波光成分を特定偏波成分に変換し、この特定偏波成分をワーク（５１）に照射し、照射された特定偏波成分がワークで反射してなる反射光から、縦波光成分を抽出する光抽出部を備えている。
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【課題】画像の形状から不良の金属リングを確実に判別できる側縁検査方法を提供する。
【解決手段】金属リング７の側縁を照明手段３により照明して撮像手段４により撮像する。撮像された画像２３を２値化する。２値化された画像２３ａに検査対象部２６を設定する。検査対象部２６における金属リング７の接線方向をＸ軸、Ｘ軸に直交する方向をＹ軸として、明部像２５のＹ軸方向の長さの平均値ｈと、明部像２５のＹ軸方向の全長Ｈに対するＸ軸方向の全長Ｗの比として縦横比ｒとを算出し、この縦横比ｒに対する平均値ｈが所定の基準値Ｓ以上であれば金属リング７が基準外であると判定する。平均値ｈは、検査対象部２６内の明部像２５の面積を求め、この面積を検査対象部２６のＸ軸方向の全長Ｗで除することにより算出する。基準値Ｓは、前記縦横比の増加に伴って、段階的に増加するように設定されている。 （もっと読む）

【課題】無端状の金属リングを複数積層して形成される積層リングを光学的に検査する方法であって、各金属リングの側縁の状態に加えて、金属リングの積層状態も検査できるようにする。
【解決手段】撮像手段２により撮像された積層リングの側縁の画像を２値化し、２値化された画像に表れる各金属リングに対応する各リング像に基づいて各金属リングの側縁の状態を検査し、また、複数のリング像間の相対位置関係に基づいて金属リングの積層状態を検査する。積層検査工程では、２値化された画像から隣接する各２個のリング像を順に選択し、金属リングの周方向に合致する方向をＸ軸方向、金属リングの径方向に合致する方向をＹ軸方向として、選択された２個のリング像の重心間距離と２個のリング像の重心間距離のＸ軸方向における変化量との内の１つ以上を夫々の閾値と比較して金属リングの積層状態を判別する （もっと読む）

【課題】長さ方向に搬送される長尺のシート状製品の欠陥を検査装置により検出し、検出された欠陥部分にシート状製品に損傷を与えることなく、１か所のみにおいてマーキングを施し、後工程において容易に欠陥部分の除去又は補修をすることができる欠陥マーキング装置を提供する。
【解決手段】長さ方向に搬送される長尺のシート状製品の欠陥を検査装置により検出し、該検査装置より搬送方向の下流側において検出された欠陥部分にマーキングを施す装置において、固体の着色材料又は加圧ボールペンによりマーキングを施すことを特徴とする欠陥マーキング装置。 （もっと読む）

【課題】ＣＶＴのベルト等に用いられる金属リングの側縁検査装置であって、従来よりもさらに精度の高い検査装置を提供する。
【解決手段】側縁検査装置１は、回転テーブル２と、その上方に設けられた照明装置３及びカメラ４と、撮影された画像の処理を行う画像処理装置５等を備えている。回転テーブル２に載置された積層リング７ａの撮像位置Ｐに周方向両側から照明装置３の平面発光部９により照明を行う。この平面発光部９は、積層リング７ａの撮像位置Ｐから見ると、積層リング７ａの周方向から径方向に向けて１４゜から８４゜の間の角度領域に延在している。このような照明を行うことにより、凹部２３の形状がどのようなものであっても当該凹部２３からの反射光をカメラ４で撮像し、画像処理装置５で凹部２３の検出を行うことができる。 （もっと読む）

【課題】製品や物品などの試料が多種にわたって不規則に入り混じって流れてくるような場合においても、合否判定を容易に且つ確実・迅速に行うこと。
【課題を解決するための手段】試料の光学特性値を測定する測色計５、試料に個別に取り付けられた識別票ＳＢの属性識別情報を読みバーコードリーダ４、試料に関する光学特性管理情報を各試料の属性識別情報と対応付けて記憶する記憶部２２、制御部２１を備え、制御部２１は、試料から読み取った属性識別情報に対応する光学特性管理情報を記憶部２２から読み出し、それと当該試料について測定した光学特性値とを比較し、それらが許容される範囲内であるか否かを判定してその判定結果を出力するように制御する。 （もっと読む）