【課題】被検査体に存在する真の欠陥に対応しない画素を欠陥として誤って認定することを防止するとともに、真の欠陥に対応する画素であって第一認定工程において欠陥として認定されなかった画素も欠陥として正しく認定することができる外観検査方法を提供する。
【解決手段】中央処理部７は、被検査画像機億部６の被検査画像とその画像の対応するリファレンス画像記憶部６の画像との画素の階調値の差分を求め、その差分の絶対値が第一閾値αよりも大きいか否かを判定する。中央処理部７は、差分の絶対値が第一閾値αよりも大きい画素を欠陥として認定する。中央処理部７は、欠陥の画素から所定画素数の範囲内にある画素についてリファレンス画像の階調値と被検査画像の階調値との差分を求め、その差分の絶対値が第二閾値βよりも大きいか否かを判定する。中央処理部７は、差分の絶対値が第二閾値βよりも大きい画素をさらに欠陥として認定する。 （もっと読む）

【課題】画像形成装置用のブレードの製品検査において、その側面の粗さや反射率に関わりなく凝固物等を検出できる欠陥検出方法を提供する。
【解決手段】投光装置２２の光を透明または半透明の板状体１０の側面に照射し、その反射光を撮像装置２１によって撮像して得られた画像を、記憶・処理装置２４に取り込んで画像処理を行う。撮像された画像は複数の枠で分割され、各枠領域の受光量の正規分布に対する標準偏差を算出し、隣接する枠領域との標準偏差の差分値を算出して基準値と比較する。基準値として、予め、目視によって判断される板状体側面の最小不良箇所を撮像して得られた画像における標準偏差の差分値を用いることで、製品ごとの表面粗さや反射率の差によるノイズを回避する。 （もっと読む）

【課題】短時間で確実に圧延コイルの内径つぶれを検出することができ、しかもメンテナンスも容易な圧延コイルの内径つぶれ検出方法および装置を提供する。
【解決手段】圧延コイル１を搬送するコンベア２の側方に配置されたＣＣＤカメラ３と、このＣＣＤカメラ３の外周に配置された、撮影時に圧延コイル１の端面を高輝度でかつ均一に照射するリング型ストロボ４により、コンベア２で搬送される圧延コイル１の端面の画像を撮影し、この画像から画像処理装置１３を用いて、圧延コイルの穴の短軸と長軸を求め、つぶれ判断手段１４が短軸／長軸の比を算出して閾値と比較し、圧延コイル１の内径つぶれを検出する。 （もっと読む）

【課題】
検査対象箇所の表面色をいくつかの構成色に分離し、それぞれの構成色の統計量及び構成色間の色の類似度を算出して、最適な検査データの設定を行うことのできる画像認識装置のデータ設定装置を提供する。
【解決手段】
認識用対象物の認識用画像を設定データに基づき画像認識する画像認識装置の設定データを設定するデータ設定装置において、認識対象物が撮像された認識用画像内の認識領域を指定する認識画像入力部と、認識領域内の画像に基づいて記認識対象物の構成色の位置を抽出し、当該構成色に関する色のバラツキを示す統計量を算出する構成色処理部と、統計量に基づいて認識対象物の抽出色範囲を決定する検査データ決定部とを具備し、構成色処理部は、構成色に含まれる各画素の色空間における各次元の値に基づいてバラツキを示す統計量を算出する構成色統計量算出部を具備して構成する。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ディスプレーの多角度計測システム及び方法を提供する。
【解決手段】その多角度計測システムが一つのムラ（まだら）撮像ユニット、一つのムラ映像処理ユニットと一つのデータ・ベース・ユニットを含んでなり、即ち一つの多角度撮像機構を利用してディスプレー中におけるムラ現象に対しピックアップを行い、次に一つのムラ映像処理プログラムにより、ムラ映像分析及び識別分類の処理を行い、数量化ムラの計測技術を提供し、その後に品質インタラクティブ処理分析データ・ベースを作り上げる。 （もっと読む）

【課題】 検査対象物の表面状態の欠陥を極めて高精度に検出することが可能な欠陥検出方法及び欠陥検出装置を提供すること。
【解決手段】 本発明に係る欠陥検出方法は、複数の表面高さデータを抽出する工程（ステップ１）と、第１基準線を算出する工程（ステップ５）と、第１区間及び第２区間の各区間において、各測定点毎に算出された第１の差が最大となる表面高さデータを示す点である第１のピーク点をそれぞれ算出し、各第１のピーク点を通る第２基準線を算出する工程（ステップ６）と、各区間において、各測定点毎に算出された第２の差が最大となる表面高さデータを示す点である第２のピーク点をそれぞれ算出し、各第２のピーク点を通る第３基準線を算出する工程（ステップ７）と、各測定点毎に算出された第３の差に基づいて評価値を算出する工程（ステップ８）とを備える。 （もっと読む）

【課題】木材の品質に影響を及ぼす木材表面の変色による欠陥部分を色分布を利用して正確に検出すること。
【解決手段】撮影手段８で木材９のカラー撮影を行い、画像処理手段１で前記撮影手段８により撮影されたカラー画像の色分布を求め、該求めた色分布を予め定めた正常な木材の色分布と比較し、該求めた色分布が前記正常な木材の色分布から所定値以上離れたものを異常色分布とし、該異常色分布が前記撮影手段により撮影された木材面上での領域で所定値より大きいものを木材の欠陥として検出する。 （もっと読む）

【課題】 検査対象物のパターンの特徴を利用して、光学画像と参照画像間のずれ、歪み、又はずれと歪みを適切に補正すること。
【解決手段】 検査対象物の光学画像１００を取得する光学画像取得部１０と、設計データ２０１から参照画像２００を作成する参照画像作成部２０と、補正モデルパラメータ２０３と参照画像２００を演算処理して、参照画像を補正して補正済参照画像２０６を作成する画像補正部２０５と、検査対象物の画像のパターンの特徴に基づく特徴データ２０２を用いて、光学画像１００と参照画像２００間のずれ、歪み又はずれと歪みを補正する補正モデルパラメータ２０４を求める補正モデルパラメータ同定部２０３と、を備えている、画像補正装置。
（もっと読む）

【目的】 パターン形状によらずに光学画像と参照画像とを比較する、より信頼性の高い試料検査装置およびその方法を提供することを目的とする。
【構成】 本発明の一態様の試料検査装置１００は、参照画像１０を入力し、入力された参照画像１０の中から検査対象画素を含む第１の画素群と所定の閾値内の階調値を持つ第２の画素群を探索する同一近傍パターン探索回路３１０と、被検査試料の光学画像２０と参照画像２０とを入力し、前記検査対象画素の階調値と探索された前記第２の画素群の検査対象画素に対応する画素の階調値と、前記検査対象画素と前記第２の画素群の検査対象画素に対応する画素とに対応する前記光学画像２０の複数の画素の階調値とを基づいて、所定の確率値を取得する確率演算回路３２０と、かかる確率値を用いて光学画像２０の検査対象画素の欠陥の有無を判定する欠陥判定回路３３０と、を備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 解析精度を向上し、且つ解析時間の増大を抑制する欠陥解析システム、欠陥解析方法及び欠陥解析プログラムを提供する。
【解決手段】 一連の製造工程で製造された製品のレイアウト情報に基づき、製品の欠陥解析対象領域を分割するメッシュ候補を異なるピッチで複数作成するメッシュ候補作成部３１と、一連の製造工程のそれぞれにおいて検査装置１１〜１ｎによって検査された欠陥検査の結果及びテスタ２によって試験された製品の特性試験の結果に対して、欠陥の解析精度及び解析時間を複数のメッシュ候補を用いてそれぞれ予測し、その予測に基づき複数のメッシュ候補から最適メッシュを選択するメッシュ選択部３２と、最適メッシュで分割された領域毎に欠陥検査の結果及び特性試験の結果を照合して、製品の不良原因の欠陥を特定する特定部３３とを備える。 （もっと読む）

【課題】 検査画像に含まれるノイズレベルの検査画像に対する依存性が大きい場合にも、最適な欠陥検出条件で欠陥を検出可能な画像欠陥検査装置、欠陥検査分類、及び画像欠陥検査方法を提供する。
【解決手段】 ２つの検査画像の対応する部分画像のグレイレベル差から欠陥を検出するための欠陥検出条件のパラメータを変えて、複数の欠陥検出条件で検出した検出結果を求めておき、これら複数の検査結果のうちから選んで最適な検出結果を得る。 （もっと読む）

【課題】 薄物化が進む印刷用紙では印刷の裏抜けが問題となることに鑑みて、目視により行っていた裏抜けの評価を、定量的に行えるようにすると共に、官能的な評価と十分な相関性を確保できる裏抜け評価方法と評価装置を提供する。
【解決手段】 一定条件で印刷を行った印刷用紙印刷部の裏面と、印刷していない白紙部の裏面について、面積が1600〜10000mm²の測定領域を、一辺の長さが0.20〜3.0mmである正方形の微小領域に分割し、投光手段により測定光を照射しその反射散乱光の画像を撮影手段で撮影し、該撮影画像から微小領域の全てのＹ値を測定し、下記式で算出される裏抜け評価指標を算出して該裏抜け評価指標で裏抜けを評価する。
裏抜け評価指標
＝100×(印刷部裏面のＹ値平均値)／｛(白紙部裏面のＹ値平均値)×(印刷部裏面のＹ値の標準偏差)｝ （もっと読む）

【課題】印刷物の欠陥検出を高精度で行うことが可能な検査装置等を提供する。
【解決手段】検査対象（印刷物等）に、複数の絵柄が配置されている。検査装置１は検査対象画像を小領域に分割し、１つの小領域画像を指定し、当該小領域画像と相関の高い類似小領域画像を抽出する。検査装置１は小領域画像と類似小領域画像を更に分割し、分割した領域についてサブピクセル単位で相関係数の高い領域画像を再抽出する。相関係数の高い分割小領域画像の補正量の平均値を用いて、相関係数の低い分割小領域画像の位置補正を行う。検査装置１は補正後の分割小領域画像について、基準となる領域との差異から、欠陥（汚れ、欠け）を抽出する。本検査装置１は、絵柄を有する検査対象の欠陥を、高精度で検査することが可能である。 （もっと読む）

【課題】 従来の真珠の光沢を測定する装置は、真珠表面に光源で照明し、真珠表面に映った光源の像を解析することによって真珠光沢を測定するものであり、真珠の干渉色を検査することが困難であった。その結果、従来の干渉色の検査は、検査者が目視で観察することにより経験をもって判定していた。
【解決手段】 真珠を照明する照明方向に対して直交する方向から観測すると、真珠による干渉色が真珠表面に明瞭に現れる。本発明は、この状態の真珠表面に現れる干渉色の強度の分布を計測し、そのデータから指標値を算出することにより、干渉色のてりのグレードを判定する。 （もっと読む）

【課題】虚報数が最適化され目視検査の検査数を最小化でき、また、目視検査結果からフィードバックを受けての再調整をする必要がなくなり、迅速に検査データの再調整ができるようにすること。 【解決手段】自動外観検査機１が良品を不良品と判断する割合である虚報率を算出する虚報率算出手段３１と、不適切な検査部品を警告する警報部品判断手段３３とを備え、前記虚報率算出手段３１で、ある監視期間の虚報率を算出し、前記警報部品判断手段３３で前記算出したある監視期間の虚報率が予め定められた推定虚報率より大きい場合、不適切な検査データであると警告する。 （もっと読む）

【課題】 欠陥検出の際に使用する撮像画像を用いて、従来の欠陥分類方法よりも高い精度で、検出された欠陥の分類を行うことが可能な外観検査装置及び外観検査方法を提供する。
【解決手段】 外観検査装置を、検査試料３の表面を撮像する撮像装置４と、その撮像画像から検査試料３の表面に存在する欠陥を検出する欠陥検出部８と、欠陥検出部により検出された欠陥を第１の系の欠陥分類に従って分類分けする欠陥分類部９と、検査試料３について、欠陥分類部９により前記第１の系の欠陥分類に従って分類分けされた各類の欠陥数に基づき、所定の近似式に従って、第２の系の欠陥分類に従う各類の欠陥数を算出する欠陥数算出部１０を備えて構成し、上記所定の近似式を、所与の基準試料において検出された既知の欠陥について、欠陥分類部９による第１の系の欠陥分類に従う分類分けの結果と、所定の観察手段による第２の系の欠陥分類に従う分類分けの結果と、から導出する。 （もっと読む）

【課題】 要求される精度に応じた欠陥の検出が可能な外観検査装置を提供する。
【解決手段】 外観検査装置が実行する処理は、要求精度および画像の入力を受けるステップ（Ｓ４０２）と、欠陥候補と特徴量とを抽出するステップ（Ｓ４０４，Ｓ４０６）と、特徴量を表示するステップ（Ｓ４０８）と、ラベル付け情報の入力を受けるステップ（Ｓ４１０）と、母集団分布の推定処理を実行するステップ（Ｓ４１２）と、母集団同士の重なり度合いを算出するステップ（Ｓ４１４）と、欠陥情報を読み出すステップ（Ｓ４１６）と、精度を算出するステップ（Ｓ４１８）と、入力された画像が要求精度を満たす場合に（Ｓ４２０にてＹＥＳ）学習を開始するステップと、当該画像が要求制度を満たさない場合に（Ｓ４２０にてＮＯ）学習情報を算出するステップ（Ｓ４２２）とを含む。 （もっと読む）

【課題】任意の粉末化粧料について、それを皮膚に塗布した場合の粉っぽさ等の塗布状態を簡便に客観的数値で評価できるようにする。
【解決手段】粉末化粧料を皮膚レプリカ２上に塗布してその塗布面の画像を撮り、画像のピクセル毎の光学量の標準偏差又は平均値を算出し、その算出値を用いて粉末化粧料の塗布状態を評価する。この場合、予め複数の粉末化粧料について、その塗布状態の官能評価値と、それを塗布した皮膚レプリカの画像のピクセル毎の光学量の標準偏差又は平均値との関係式を得ておき、その関係式に基づいて、前述の算出値から官能評価値を求める。 （もっと読む）

【課題】 露光マスクなどのパターン欠陥の検査において、光学系の変動による影響を抑え、高感度の欠陥検査方法を実現する。
【解決手段】 検査対象画素における光学画像と参照画像の間の変動を基準として、その他の画素における光学画像と参照画像間の変動の類似性を算出する変動類似性算出ステップと、変動類似性に基づいて比較相手としての優先順位を算出する優先順位決定ステップと、光学画像中に存在する設計上同一のパターン同士を相互比較することにより欠陥を検出する相互比較ステップとを備えることを特徴とする欠陥検出方法である。 （もっと読む）

【課題】 被検査体の表面の欠陥を検査する際に，輝度変化が大きくて面積の小さい欠陥と輝度変化が小さくて面積の大きい欠陥とを同時に検出することのできる計算負荷の低い欠陥検査方法及び装置を提供する。
【解決手段】 被検査体表面の画像データの各画素の輝度を正規化した後に正規化基準値を用いて重み付けするようにしたので輝度変化が大きくて面積の小さい欠陥を消失させずに輝度変化が小さくて面積の大きい欠陥を検出することが可能となる。また，被検査体表面の画像データの輝度を正規化及び重み付けした値を各画素に対する有害度として定めた後，各画素を中心とする所定サイズの領域内の有害度を積分した値を各画素に対する有害度積分値として定めて，この有害度積分値を二値化処理するようにしたので，単一欠陥としての検出が困難な分断された欠陥や，集合して存在する欠陥を１つの欠陥として低い計算負荷で検出することが可能となる。 （もっと読む）