【課題】液晶ガラスパネルのような有機フイルムが付着した試料を蛍光Ｘ線分析用ブリケットなどに調製する場合などにおいて、焼成して有機物を除去することなく、試料を粉砕して容易に分析用ブリケットなどを調製することができる試料調製方法を提供する。
【解決手段】有機物を含む試料を、−５０℃以下、好ましくは−７９℃以下、で凍結粉砕し、粉砕物の粒度Ｄ９５（累積９５体積％径）を５００μm以下、好ましくは４００μm以下にすることを特徴とする試料調製方法であり、例えば、２００〜５００℃の重量減が５％以上である有機物含有試料について適用される試料調製方法。 （もっと読む）

【課題】 観察対象部位が試料内部にある場合でも、集束イオンビーム加工装置を用いた断面加工を行って走査型電子顕微鏡や透過型電子顕微鏡を用いて精度の高い観察ができる電子顕微鏡用試料の作製方法を提供する。
【解決手段】 透明性を有する試料の内部に存在する観察対象部位とその試料の表面に存在する所定の目標物とが同一画像上に現れるように光学顕微鏡で試料を撮像し、撮像された顕微鏡像に基づいて、観察対象部位の位置情報を算出し、算出された観察対象部位の位置情報に基づいて、集束イオンビーム加工装置を用いて試料から観察対象部位を包含する微小片試料を摘出し、摘出した微小片試料を、集束イオンビームを照射することによって断面加工し、微小片試料の表面に観察対象部位を位置させる。 （もっと読む）

【課題】イオンビームを用いるエッチングにより断面観察試料を作製するときに、イオンビームの遮蔽に用いられる遮蔽板であって、使用を繰り返し、エッジ面として使用できる箇所がなくなった場合でも、側面の平坦化加工を必要とせず、再利用が容易で寿命が長い遮蔽板を提供する。
【解決手段】イオンビーム照射による断面観察試料の作製において、試料の上面をイオンビームから遮蔽するために用いられる遮蔽板であって、角柱状であり、イオンビーム照射による前記試料の鏡面研磨を可能にするエッジをその側面に有し、かつ前記側面に直交する方向の厚さがイオンビーム照射径以上である遮蔽用部材の複数を、下面が平坦な板状を形成するように並列させて一体化してなること、又は遮蔽用部材とそれを保持する保持用部材を一体化してなることを特徴とする断面観察試料作製用の遮蔽板。 （もっと読む）

【課題】試料台とその上に被せられる蓋体を有する試料導入用ホルダーであって、分析の際に、分析装置の外部からの操作を要せずに、蓋を取外して試料を開放することができる試料導入用ホルダーを提供する。
【解決手段】分析用試料を保持する試料台及びこの試料台に被せられる蓋体を有し、前記試料台と蓋体により試料及びガスを包含する空間を形成し、前記空間内と蓋体外部との圧力差が所定値以下では、前記空間内と蓋体外部間が雰囲気遮断状態となるように、試料台と蓋体がかん合しており、かつ前記かん合における試料台と蓋体間の接着力が、前記圧力差が前記所定値を超えたとき前記圧力差により蓋体が試料台上から除去される大きさであることを特徴とする試料導入用ホルダー。 （もっと読む）

【課題】
ガラスの内部に存在する特定の微小欠陥の表面分析前処理を、確度が高く、かつ容易に実施できる表面分析前処理方法を提供する。
【解決手段】
ガラスの内部に存在するサイズが５μｍ以下である特定の微小欠陥の表面からの深さを測定する工程と、機械加工により前記微小欠陥の深さがガラス表面から１０〜５０μｍとなるまでガラス表面を除去する工程と、ＨＦを含む溶液により前記微小欠陥の深さが表面から１０μｍ未満になるまでガラス表面を除去する工程とを含んでなることを特徴とする表面分析前処理法である。 （もっと読む）

【課題】分析試料を溶解液に浸漬して試料表層部を溶解し、分析不純物を含んだ溶解液を効率よく回収することのできる容器及びそれを用いた分析方法を提供する。
【解決手段】試料処理用容器１は、固体試料が容器内側面にも容器内底面にも一面全体で密着しないように、容器内壁および容器底に微小な突起部２、３を有し、溶解液が試料表面と均質に接することが可能となる。また、溶解液を効率よく回収するための微小な液溜め４を設ける。試料処理用容器１の材質は、フッ素樹脂であることが好ましく、溶出試験ですべての金属元素の濃度が１ｐｐｂ未満であることが好ましい。 （もっと読む）

【課題】石英ガラス製ルツボの品質評価用の試料およびその試料の作製方法とその試料を用いた品質等の評価方法およびその試料の作製装置とを提供する。
【解決手段】石英ガラス製ルツボの中心を含む方向にＵ型またはＪ型に切出した一次試料を、該一次試料の切出し方向に垂直かつ該一次試料の厚み方向に切出した二次試料に、該石英ガラス製ルツボの内壁面と外壁面を残し、これら内壁面と外壁面の間に複数の切込みを入れることにより設けた複数の短冊状部分を有する品質評価用試料を作製し、評価に用いる。 （もっと読む）

【課題】石英ガラス板状体の表層に含有される金属をエッチング液で溶解して定量分析する際、エッチング液が漏出しないようにする。
【解決手段】板状体分析用治具１の下側シート材２１に分析すべき板状体試料４０を載せ、その板状体試料４０の表面にリング１０を載せ、更に上側シート材２０をリング１０の上に載せる。固定手段３のボルト３０を穴２６に通し、ナット３１によって上下のシート材２０、２１を締め付けて上下シート材２０をリング１０に密着させる。開口２５からエッチング液をリング１０と上側シート材２０で画定された貯留空間に注入し、板状体試料４０の表層部分を溶解させ、溶解液を採取し、採取した溶解液中の金属またはイオンを分析定量する。 （もっと読む）

【課題】合成石英粉について、半導体シリコン単結晶の製造用石英ルツボの原料として適切に評価する方法を提供する。
【解決手段】合成石英粉を加熱開始から３０分以内に溶融ガラス化した後に、徐冷してガラス塊とし、このガラス塊から薄板を作成し、この薄板の表面を研磨した後に顕微鏡観察して気泡の密度を計測し、単位面積当たりの気泡密度を測定することを特徴とする合成石英粉の評価方法であって、好ましくは。合成石英粉を、大気下または減圧下、１０〜３０℃/secの昇温速度で１７００℃〜１８００℃まで加熱して溶融ガラス化し、上記温度範囲で２〜７分保持した後に室温まで徐冷してガラス塊にし、このガラス塊から薄板を作成する合成石英粉の評価方法。 （もっと読む）

【課題】 サンプルが、効果的に区域限定されかつ再現されるような形で迅速に作成されることを可能にすると共に、多数の異なるサンプル材料に関して損傷を殆ど引き起こさない透過型電子顕微鏡法用サンプルの作成方法、および該方法を実施するのに適した装置を提供する。
【解決手段】 透過型電子顕微鏡法用サンプルの作成方法の場合、サンプルはサンプル材料の基材（１１０）から準備される。この目的のため、サンプル材料は、該サンプル材料中に脆弱路（３０１）を作成するべく、レーザービームにより照射軌道に沿って照射される。該照射は、上記脆弱路が、サンプル材料中を走る、レーザー照射によって同様に作成されるのが好ましい更なる脆弱路（３０２）に交差領域（３０５）において鋭角で交差するよう制御されている。基材は脆弱路に沿って切り離される。これにより、裂け目表面によって囲まれたくさび形のサンプル部を有すると共に、くさびの先端領域に少なくとも１個の電子透過領域を有するサンプルが作成される。 （もっと読む）

【課題】石英ガラス管などの石英ガラス製品の表層に含有される金属を非破壊的に分析する方法において、エッチング液を表面に貯留する空間を簡単に形成できるようにすると共にエッチッング液の漏れが無いようにする。
【解決手段】石英ガラス管３の被分析面にポリエチレン樹脂製のリング状部材１０を載置し、ホットプレート４によって加熱して溶融させて表面に溶着一体化してエッチング液の貯留空間を形成する。この貯留空間にフッ化水素酸を注いで貯留して一定時間接触させて深さ１μｍ相当を溶解した。この溶解液の一部を採取し、誘導結合プラズマ発光分析法にて溶解した石英ガラス量を定量した。また、残りの溶解液を蒸発乾固後、蒸発残渣を希硝酸で溶解して回収液を得、この回収液中の金属量を誘導結合プラズマ質量分析法により定量した。 （もっと読む）

【課題】固形試料を容易に固形試料保持体に固定することができる二次イオン質量分析の固形試料保持方法を提供する。
【解決手段】本発明は、脆い固形試料を二次イオン質量分析装置で再現性よく正確に測定するために、固形試料を容易に固形試料保持体に固定することができる二次イオン質量分析の固形試料保持方法を提供するものである。本発明の二次イオン質量分析の固形試料保持方法は、上面に交互に並んだ凸部及び凹部を複数有しかつ可塑性を有する金属塊の複数の前記凸部の上に配置した固形試料に、前記固形試料の上に配置した板を介して上から力を加えることにより、前記金属塊を塑性変形させ、前記固形試料の上面と前記金属塊の上面とを同じ高さにし、かつ前記固形試料を前記金属塊に固定する工程を備え、前記固形試料の底面と接触した前記金属塊及びその下部の前記金属塊が前記凹部に向かって塑性変形することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】基板の汚染又は試験液の汚染状況を簡易な装置構成で測定することができる、金属汚染物質測定方法及び装置を提供する。
【解決手段】基板２と、基板２の一方の面に、測定対象となる試験液が接触するように収容される試験液収容部３と、基板２の他方の面に、金属不純物濃度が試験液よりも低い液体が接触するように収容される測定液収容部４と、測定液収容部４中に収容されている測定液の金属不純物濃度を測定する測定手段５と、試験液収容部３に収容されている試験液、測定液収容部４に収容されている測定液をそれぞれ攪拌する攪拌手段６，７と、からなる金属汚染物質測定装置１。 （もっと読む）

【課題】液状物が固化したサンプルを少量だけ取り分けられるサンプリング容器及びその使用方法を提供する。
【解決手段】第１のカップ７と、第１のカップ７内に組み入れ可能で、しかも組み入れ時に側板１６外周面が第１のカップ７の側板１２内周面に対して間隙を隔て得る第２のカップ８とを備え、第２のカップ８の側板１６に、上縁から下方へ向かうスリット１７を切り込んだ構成を採り、第２のカップ８に注いだ溶融ガラスをスリットから第２のカップ８の側板１６の外周面へと滴らせ、この滴った溶融ガラスを固化させてガラス薄片を得る。 （もっと読む）

【課題】元素分析前処理用容器であって、耐熱性と、耐酸性等の耐薬品性に優れ、かつ高純度な元素分析前処理用容器を提供する。また、ＩＣＰ法による分析装置で用いられる誘導結合プラズマトーチであって、精密な元素分析を可能とし、かつ耐久性に優れる誘導結合プラズマトーチ、及びこれを具備するＩＣＰ法による元素分析装置を提供する。
【解決手段】元素分析の前処理で使用される容器であって、該容器が、化学気相成長（ＣＶＤ）法によって製造されたセラミック容器であることを特徴とする元素分析前処理用容器。また、少なくとも、誘導コイルとノズルを具備する、ＩＣＰ法による元素分析装置で用いられる誘導結合プラズマトーチであって、前記ノズルが、ＣＶＤ法によって製造されたセラミックノズルであることを特徴とする誘導結合プラズマトーチ。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、溶融物、及び／又は液体の扱いを単純にして、更に正確な分析を可能にするために、既存の装置を改良することである。
【解決手段】浸漬キャリアを有する、液体、又は溶融物の分析のための本発明による浸漬センサは、試料チャンバの中に配置された溶融物を測定するためのセンサを定め、浸漬キャリアは、中に配置された注入口開口部を有する試料チャンバを有する。液体、又は溶融物は、ガラス、又は金属溶融物を、特に、アルミニウム、又は鉄溶融物を含むことが好ましい。センサは、試料チャンバの中の予め決定された点に向けて配向される。分析は、この点で行われる。分析される液体、又は溶融物はこの点に供給されるので、自由表面がセンサの測定領域に位置する。 （もっと読む）

【課題】 従来の試験体では、サンシャインウェザー暴露試験などで得たシーリング材の耐久性の評価が、実際の施工でのシーリング材の耐久性と必ずしも一致しない。
【解決手段】 直方体の被試験シーリング材と、該シーリング材の長手の１側面を覆って被着された基板と、該基板が被着された側面に向かい合う側面を覆って被着された遮光性基板を含む接着性試験用試験体であって、該遮光性基板が直線の辺を１以上含み、該直線の辺のうちの１辺が、該シーリング材の長辺と一致していることを特徴とする接着性試験用試験体である。 （もっと読む）

不純物によるシリカガラス部材の表面の占有量を測定する従来技術において既知の方法は、試料採取を含み、このプロセスでは、シリカガラス部材の表面の少なくともいくらかを酸脱離溶液と接触させ、被分析表面の不純物が、酸脱離溶液に蓄積されて元素特定分析にかけられる。本発明の目的は、上記方法に基づく、シリカガラス部材の表面の占有量を正確に且つ再現可能に測定し、更に現場で直接１０¹⁰原子／ｃｍ²の桁の少量の不純物を測定するのに好適な方法をもたらすことである。この目的は、試料採取が、部材表面を水、硝酸及びフッ化水素酸を含有する酸脱離溶液と接触させることを含み、フッ化水素酸の含有量、接触時間及び接触温度は、部材表面が０．５μｍを超えない深さで除去されるように調節されるという条件で、酸脱離溶液中の硝酸濃度をフッ化水素酸濃度（体積％）の１．５倍〜５倍とすることによって達成される。 （もっと読む）

【課題】内容物を観察することなく、内容物の面出し及び構成元素の把握が確実にできる石英ガラス内に存在する内容物分析の前処理方法を提供する。
【解決手段】本石英ガラス内に存在する内容物分析の前処理方法は、石英ガラス内に存在する内容物分析に先行して、レーザ光により内容物の３次元座標を特定し、その座標に基づいて内容物の端部から１００μｍ以上離れた位置で石英ガラスを切断し、内容物が分析面となるように切断面を鏡面研磨して、内容物を研磨面に露出させる。 （もっと読む）

【課題】イオンビームで研磨された試料を固定した試料ホルダはSEM試料台支持部に取り付けるに際して試料ホルダとＳＥＭ試料台支持部との間に取り付けのために用いられて来た中間材を設けることなく取り付けることができ、以って両者間の距離を短くし、試料ホルダをＳＥＭ試料台支持部に近接配置できるようにする。
【解決手段】試料ホルダ２３に試料３の研磨されて観察される面の裏側の面に、ＳＥＭ試料台支持部に設けたおねじ部５３に直接ねじ挿入されるめねじ穴５２を設け、当該おねじ部を当該めねじ部に直接ねじ挿入することによって、試料を固定した前記試料ホルダをSEM試料台を介さずに直接ＳＥＭ試料台支持部に固定される。 （もっと読む）