【課題】スラグ中の微量元素、特に揮発性微量元素を正確且つ迅速に分析することができるスラグ分析方法を提供する。
【解決手段】採取したスラグの少なくとも９５％以上が球換算直径で５０μｍ以下となるようにスラグを粉砕し、圧力３０ｔ／ｃｍ^２以上で且つ２０秒以上加圧プレスすることにより、厚さが２〜４ｍｍで分析面の凹凸が０．０５ｍｍ以下の試料を成形し、上記分析面に対し、電圧３０ｋＶ〜４０ｋＶ、電流５０〜７０ｍＡのＸ線を照射してスラグ中の揮発性微量元素の分析を行うことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】スラグに含有される制限成分が許容値を超える高濃度スラグと、許容値以下である低濃度スラグとに、スラグを正確に分別することができるスラグ分別方法を提供する。
【解決手段】制限成分をスラグ中に投入して処理した後、同一の制限成分を投入しない次のチャージについてスラグを採取し、その採取したスラグの少なくとも９５％以上が球換算直径で５０μｍ以下となるようにスラグを粉砕し、圧力３０ｔ／ｃｍ^２以上で且つ２０秒以上プレスすることにより、厚さが２〜４ｍｍで分析面の凹凸が０．０５ｍｍ以下の試料を成形し、上記分析面に対し、電圧３０ｋＶ〜４０ｋＶ、電流５０〜７０ｍＡのＸ線を照射して制限成分含有量を分析し、分析によって得られた制限成分含有量Ｉと予め設定された制限成分許容値Ｐとを比較し、Ｉ＞Ｐの場合は制限成分高濃度含有スラグとして、また、Ｐ≧Ｉの場合は制限成分低濃度含有スラグとして分別することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】本発明は、分析対象試料表面に不均一もしくは微量な状態で付着し、従来、検出下限以下で検出できなかったような付着物質であっても、検出可能とする表面分析方法を提供することを課題とする。
【解決手段】分析対象試料表面に不均一もしくは微量な状態で付着した物質を試料表面から広範囲に採取して物質を濃縮して粘着基材の粘着面に転写して、高濃度の物質が転写された粘着面を表面分析することにより前記物質を分析することを特徴とする表面分析方法である。 （もっと読む）

【課題】医療用として用いられ、血液中に存在する電解質、ガス種及び代謝物質濃度または赤血球容積率などを測定して分析する血液分析装置に使用される溶液を保管する溶液容器を提供する。
【解決手段】本発明の血液分析装置用溶液容器は、溶液が収容される収納部と、前記収納部に結合され、その内部に長手方向に貫通孔が形成されるバルブ体と、前記バルブ体の貫通孔に配置されるバルブスプールと、前記バルブスプールに設けられる溶液漏れ防止部と、を備え、前記バルブ体は、所定距離に離れた流路及び溶液排出管路を備え、前記バルブスプールに設けられる前記溶液漏れ防止部は、溶液の外部への漏れを遮断する第１遮断部材と、前記第１遮断部材と所定距離に離れて配置され、前記流路及び前記溶液排出管路を遮断または連結する第２遮断部材とを備える 。 （もっと読む）

【課題】シリカフィラーを含む封止樹脂中の金属細片の大きさおよび個数を検出する方法を提供すること。
【解決手段】シリカフィラーを含む封止樹脂中に含まれる金属細片を検出する方法であって、前記封止樹脂を有機溶剤に溶解する工程、前記樹脂が溶解した前記有機溶剤中の前記シリカフィラーを酸で処理して前記シリカフィラーを選択的に溶解し、前記金属細片を単離する工程、前記金属細片の大きさおよび個数を測定する工程、を含む、検出方法。 （もっと読む）

【課題】フッ素ガス濃度の変化に迅速且つ正確に対応することができるとともに、標準フッ素ガスを用いることなく測定部の前処理を行うことのできるフッ素ガス測定方法及び装置を提供する。
【解決手段】発光式フッ素ガス濃度計を用いて試料ガス中のフッ素ガス濃度を測定するフッ素ガス測定方法において、前記発光式フッ素ガス濃度計の試料ガスと接する部分にフッ化キセノンを用いてフッ化層を形成した後、あるいは、前記発光式フッ素ガス濃度計をフッ化キセノンを用いて校正した後、試料ガス中のフッ素ガス濃度を測定する。 （もっと読む）

【課題】マイクロチップの回転角度位置を自動で変更することが可能な遠心力付与装置及び検体液分析装置を提供する。
【解決手段】検体液分析装置１００を構成する遠心力付与装置２を、回転アーム２０と、アーム回転軸２１と、アーム回転軸２１を回転駆動するアーム回転機構２２と、回転アーム２０の回転中心に対して対称な位置に１つずつ設けられた、回転台回転軸２４と、各回転台回転軸２４の上端部に接合されたチップ回転台２３と、各チップ回転台２３上に設けられたチップ保持部２６と、各回転台回転軸２４を回転駆動する回転台回転機構２５と、回転台回転機構２５に動力を伝達する回転台駆動力伝達機構２７とを含んだ構成とし、回転台駆動力伝達機構２７を他の構成部とは独立に設け、回転台駆動力伝達機構２７のプッシャ２７ｇによって、回転台回転機構２５のカム２５ａを突き上げることによって、回転台回転軸２４にその回転駆動力を伝達する構成とした。 （もっと読む）

【課題】元素分析装置１における試料導入部５の清掃などのメンテナンスにおける作業性を向上させる。
【解決手段】上部電極３及び下部電極４によりるつぼ２を狭持し、前記上部電極３の上側に設けられた試料導入部５から前記るつぼ２に試料を導入し、前記上部電極３及び下部電極４に電圧を印加することにより、前記るつぼ２を加熱して前記試料を溶解し、それによって生じるガスから前記試料の元素を分析する元素分析装置１であって、前記試料導入部５が、前記試料を前記るつぼ２に導く導入通路５１Ａを有するブロック体５１と、前記ブロック体５１に固定され、前記導入通路５１Ａに対して移動する可動子５２１を有する駆動機構５２と、前記駆動機構５２とは独立して前記ブロック体５１に取り外し可能に設けられ、前記可動子５２１の移動に連動して、前記試料を保持又は前記試料を前記るつぼに導入する開閉構造体５３と、を具備する。 （もっと読む）

【課題】上部電極又は下部電極に対する清掃体の位置を調節可能にする。
【解決手段】元素分析装置１の清掃ユニット６が、上部電極３を清掃する第１清掃体６１と、下部電極４を清掃する第２清掃体６２と、前記第１清掃体６１を上部電極３側に、第２清掃体６２を下部電極４側に保持し、前記上部電極３及び前記下部電極４に狭持される保持部６３と、装置本体に設けられ、前記各清掃体６１、６２が前記各電極に対向する対向位置及びその対向位置から離間した退避位置の間で前記保持部６３を進退移動するとともに、前記対向位置において前記下部電極４の昇降動作により前記保持部６３を昇降自在に支持する駆動昇降機構６４と、前記保持部６３の下部電極４側に設けられ、前記保持部６３が前記上部電極３及び前記下部電極４により狭持されるときの、前記下部電極４と前記第２清掃体６２との距離を調節する距離調節機構６５と、を具備する。 （もっと読む）

【課題】高純度の材料を、迅速にかつ正確に測定することが要求されている最近の分析技術に鑑み、純度の高い坩堝を使用して坩堝からの不純物の混入を抑制すると共に、高価な坩堝材料である高純度ジルコニウムの耐久性を高め、ジルコニウム坩堝の使用回数を増加させることができる分析試料の融解用ジルコニウム坩堝を提供することを課題とする。
【解決手段】分析試料の前処理に用いる融解用ジルコニウム坩堝であって、ガス成分を除く純度が３Ｎ以上であり、かつガス成分である炭素が１００質量ｐｐｍ以下であることを特徴とする前記ジルコニウム坩堝。 （もっと読む）

【課題】ウェハ表裏面及びウェハ周縁部の両方を評価することができ、容器や器具による分析試料液の汚染を減らすことができる半導体基板評価装置及び半導体基板評価方法を提供すること。
【解決手段】基板保持部３と、下部に開口部を有する疎水性の試料液保持部４と、試料液保持部に設けられた開閉弁部と、開閉弁部を介して試料液保持部内にガスを供給するガス供給管１１と、開閉弁部を介して試料液保持部内のガスを排出するガス排出管１２とを備え、基板保持部で保持した疎水性の半導体基板２と、試料液保持部で保持して開口部からはみ出すように露出させた分析試料液とを接触させる。 （もっと読む）

流体源を用いて表面上の成分の試料を採取する試験パッチ装置が、流体を上記流体源から送出するために毛管層を有する遷移領域と、表面と接触する収集材を有する抽出領域と、分析を行うために流体を収集するセンサリザーバを有する収集領域とを含む。 （もっと読む）

【課題】半導体素子の製造工程における雰囲気の環境の汚染物質を調べるだけではなく、光化学反応による生成物を調べるために、実際に半導体露光装置で暴露されている環境下でフォトマスクのごく近傍の雰囲気の汚染物質を調べる分析方法及び捕集器を提供する。
【解決手段】捕集材料として常温環境において不揮発性の高分子膜１１を使用して、フォトマスク保管、使用環境のフォトマスク近傍の雰囲気における汚染物質を捕集するために、フォトマスクのサイズ同様のフレーム型の治具であるフレーム１２に高分子膜１１を固定し捕集器１０を作成する。この捕集器１０をフォトマスクの保管、使用環境に放置し捕集を行い、次に、これを脱離して分析すれば雰囲気中の汚染物質を判別することができる。 （もっと読む）

【課題】金属試料中の着目元素の固溶含有率を正確に求める方法を提供する。
【解決手段】まず、金属試料を電解する。次いで、電解中および／または電解後に電解液を採取し、採取された電解液を分析する。例えば、採取した電解液を全量乾燥させて、乾燥残留成分を塩酸、硝酸、硫酸などの鉱酸あるいはそれらの混合物で溶解し、水溶液化した上で、誘導結合プラズマ発光分光分析法、誘導結合プラズマ質量分析法あるいは原子吸光分析法などの元素分析法で分析する。本発明は、含有析出物等が十分大きい金属試料に加え、ナノ・サブナノサイズの析出物等を含むような金属試料の場合にも適用可能で正確に分析することができる。 （もっと読む）

【課題】ステンレス鋼中の有害な介在物を迅速に且つ精度よく評価することができる介在物の評価方法を提供する。
【解決手段】 ステンレス鋼材から採取した試料を非酸化性雰囲気中にてアークで溶解することにより試料中の非金属介在物を浮上させ、冷却後表面に浮上・集積した非金属介在物の全介在物面積率を算出し、該全介在物面積率を用いてステンレス鋼材中における有害な非金属介在物を評価することを特徴とする。また、前記非金属介在物の評価が、予め作成した溶解前試料中のＣａＯ濃度が２５質量％以上の非金属介在物の質量率と溶解後試料表面の全介在物面積率との相関を示す検量線を用いてステンレス鋼材中における有害な非金属介在物の介在物質量率を推定するものであることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】希釈ガス設備を別途必要とせず、大容量の流量に対応する必要のない測定ガス希釈装置およびその方法ならびに水銀分析装置およびその方法により、装置の小型化とコストダウンを図ることを目的とする。
【解決手段】測定ガス希釈装置１は、試料ガスの所定量を測定用ガスとして導入する測定用ガス流路１１と、試料ガスの所定量を希釈用ガスとして導入し希釈用ガスの流量を調節する希釈用ガス流量調節手段１１０および水銀を除去する水銀除去フィルタ１２０を有し、所定量の希釈ガスを生成する希釈ガス流路１３と、測定用ガス流路１１と希釈ガス流路１３とが接続され、測定ガスを生成する測定ガス流路１５と、測定用ガスの流量を調節する測定用ガス流量調節手段１００と、希釈用ガス流量調節手段１１０および測定用ガス流量調節手段１００を制御する流量制御手段１３０とを有する。 （もっと読む）

【課題】銅や黄銅からなる基材にスズめっき層を形成した試料について、スズめっき層をより正確に定量する方法を提供する。
【解決手段】銅または黄銅からなる基材に、スズまたはスズ合金からなるめっき層を形成してなる試料、もしくは金属製の基材に、銅または黄銅からなる下地層を介して、スズまたはスズ合金からなるめっき層を形成してなる試料における前記めっき層の定量分析方法であって、 ホウフッ化水素酸をホウ素元素換算で１．６質量％、ホウ素化合物をホウ素元素換算で０．２質量％以下、チオ尿素を１質量％以下の割合で含む水溶液からなるめっき剥離液を前記試料に接触させて前記めっき層を溶解し、溶解分を含有する前記めっき剥離液について定量することを特徴とするスズまたはスズ合金めっき層の定量分析方法。 （もっと読む）

【課題】 大気中の浮遊粒子状物質を構成する元素種類を連続自動的に分析する装置を提供する。
【解決手段】 分級器２によって粒径２．５μｍを超える粗大粒子ＣＰの全量を含む空気と、ＰＭ２．５以下の微小粒子ＦＰを含む空気とに分級し、分級された空気中の浮遊粒子状物質をフィルタ３の第１および第２の位置３ａ，３ｂに捕集する。これらを各別に蛍光Ｘ線分析器１３によって元素分析する。 （もっと読む）

【課題】濾過時間を大幅に短縮することができ、濾過工程中にフィルターの交換を行う必要がなく、必要量の濾液（検液）を短時間で得ることができる作業性、省資源性に優れた分析用試料液の自動濾過方法の提供。
【解決手段】分析用試料液を目標とする孔径よりも大きな孔径を有する一次濾過フィルターで加圧濾過する一次濾過工程と、一次濾過工程で得られた一次濾液を目標とする孔径を有する二次濾過フィルターで減圧濾過する二次濾過工程と、を備えている。 （もっと読む）

【課題】
従来提案されていなかった疑似水垢を形成する方法を提供する。
【解決手段】
溶性ケイ酸と炭酸カルシウムを含む水溶液を基材に付着させ、基材に付着した水溶液を自然乾燥することを特徴とする。 （もっと読む）