【課題】 抄紙機において抄造される巻取紙の正確な用紙特性（すき入れ模様の鮮明度、用紙の伸縮率等）及び抄造条件（用紙の坪量、水分量、紙厚）を測定するため、抄造工程中の用紙を自動的にサンプリングすることができる装置を提供する。
【解決手段】 抄紙機上の少なくとも一箇所に、抄造工程中の巻取用紙をサンプリングする装置であって、前述のサンプリング装置は、抄紙工程中の巻取用紙に対してレーザマーカを線状に照射することで、用紙を部分的に切出し、切り出した用紙をサンプリング装置に関するものである。 （もっと読む）

【課題】 試料の熱シリンダーへの供給を自動で行うことが望まれている。
【課題手段】 熱シリンダー１上に上下端を開口したロートノズル４を連結起立し、このロートノズル４を振動発生器に連結した固定プレート６に固定する一方、上下に移動可能とした中空のカートリッジボディ７を設け、このカートリッジボディ７を該ロートノズル４の上部がカートリッジボディ７内に挿入される形状で、ロートノズル４上に連接し、固定プレート６を振動させてカートリッジボディ７内の試料をロートノズル４を通して熱シリンダー１内に自動供給する。 （もっと読む）

【課題】透過型電子顕微鏡で生体試料を観察するための高性能かつ、安全で、容易に取り扱うことができる電子染色剤、染色液および電子染色方法を提供する。
【解決手段】透過型電子顕微鏡で観察される生体試料の画像に濃淡をつける電子染色剤において、サマリウムまたはガドリニウムを含む塩であることを特徴とする。前記塩は酢酸サマリウム、または酢酸ガドリニウムである。 （もっと読む）

【課題】
デバイス等の不良原因となる数μｍの難揮発性の有機微小異物を高感度に分析できる熱分解質量分析手法を提供することを目的とする。
【解決手段】
加熱プローブ２によって気化した試料をイオン源４に導入し，イオン化された試料を質量／電荷比ごとに分離して検出する質量分析技術において，加熱プローブ２を筒型の気体捕集機構３で覆い，気化した試料を気体捕集機構3によって効率よくイオン源４へ導くことにより，従来は拡散して無駄になっていた試料成分も分析に寄与できるようにした。これにより従来より高感度でＳ／Ｎのよい質量分析が可能となる。 （もっと読む）

【課題】透過型電子顕微鏡によって観察できる範囲に観察領域を形成することを容易にする。
【解決手段】板状の試験片に電解研磨を行って貫通孔を形成して貫通孔の周辺を電子線が透過可能な観察領域にする透過型電子顕微鏡用引っ張り試験片の作製方法であって、電解研磨を行う前の試験片（ステップＳ２１）に、透過型電子顕微鏡の引っ張りホルダに取り付けるための取付部と、取付部の間に設けられ、研磨ホルダの孔の直径よりも幅が狭く、引っ張りホルダによって引っ張られた場合に破断を生じさせる破断部と、取付部の間に破断部に並んで設けられた強度部とを設けておき（ステップＳ２２）、電解研磨では、研磨ホルダと試験片との間に研磨ホルダの孔よりも小さく且つ研磨液を試験片に局所的に接触させる微小孔を有するマスク６を挟み込み（ステップＳ２３，Ｓ２４）、試験片に対する微小孔の位置を調節することで、貫通孔があく位置を所定の範囲に制限する。 （もっと読む）

【課題】石英ガラス製ルツボの品質評価用の試料およびその試料の作製方法とその試料を用いた品質等の評価方法およびその試料の作製装置とを提供する。
【解決手段】石英ガラス製ルツボの中心を含む方向にＵ型またはＪ型に切出した一次試料を、該一次試料の切出し方向に垂直かつ該一次試料の厚み方向に切出した二次試料に、該石英ガラス製ルツボの内壁面と外壁面を残し、これら内壁面と外壁面の間に複数の切込みを入れることにより設けた複数の短冊状部分を有する品質評価用試料を作製し、評価に用いる。 （もっと読む）

【課題】迅速且つ精確に定量分析でき、定量操作が容易な、レーザーアブレーションＩＣＰ分析法を用いた貴金属の分析方法を提供する。
【解決手段】貴金属を含む試料を秤量する工程Ｓ１１と、試料に融剤を調合する工程Ｓ１２と、融剤を調合させた試料を融解させる工程Ｓ１３と、融解した試料から鉛ボタンを形成する工程Ｓ１４と、鉛ボタンにレーザー光を照射して鉛ボタンの一部を微粒子にするアブレーション工程Ｓ１５１と、微粒子をヘリウム（Ｈｅ）ガスによりＩＣＰ分析装置内へ搬送し（Ｓ１５２）、微粒子をイオン化させて分析するＩＣＰ分析工程Ｓ１５３とを備える。 （もっと読む）

【課題】300℃程度の高温環境下でのヘッドスペースガス分析にも使用可能であって、低コストで製造可能であり、取り扱いが容易な試料容器、試料容器用蓋及びセプタムを提供する。
【解決手段】パーフロロエラストマから成りガラス瓶１１の口を塞ぐ大きさを有するセプタム部材１３１における試料容器１０側の面をアルミ箔１３２で覆う。これにより、試料容器１０の加熱によりセプタム部材１３１からガスが発生してもそのガスはアルミ箔１３２で遮蔽される。従って、セプタム部材１３１からのアウトガスが試料容器１０内の試料ガスに混入しない。また、セプタム部材１３１は高い耐熱性を有するパーフロロエラストマから成るため、300℃程度の高温環境下で使用しても軟化せず、試料容器内のガスの圧力によって変形することがない。 （もっと読む）

【課題】 コンクリート試料を酸溶解することにより、硬化コンクリート中のアルカリ総量を求める硬化コンクリート中のアルカリ総量測定方法を提供する。
【解決手段】
硬化コンクリート中のアルカリ総量測定方法において、コンクリート試料に対するギ酸による酸溶解試験におけるアルカリ溶出値から、前記コンクリートに使用されている同一骨材試料に対する酸溶解試験におけるアルカリ溶出値を差し引くことにより、前記コンクリート試料中のアルカリ総量を測定する。 （もっと読む）

【課題】染色標本を撮像した染色標本画像とスペクトルの統計データとを短時間で取得できるバーチャル顕微鏡システムを提供する。
【解決手段】染色標本11の１バンド以上の染色標本画像を取得する画像取得部110と、染色標本画像の１以上の所定部分のスペクトルを取得するスペクトル取得部130と、画像取得部110が染色標本画像を取得する毎に、スペクトル取得部130により当該染色標本画像のスペクトルを取得し得るように、画像取得部110およびスペクトル取得部130に対して染色標本を経た光束の光路を設定する光路設定部150と、染色標本11のバーチャルスライドとスペクトルテーブルとを作成するように、染色標本11の２以上の観察視野において、画像取得部110による染色標本画像の取得と、スペクトル取得部130による当該染色標本画像のスペクトル取得とを繰り返すように制御する制御部210と、を備える。 （もっと読む）

【課題】本発明は、ポリシリコン等の膜を備える半導体基板がエッチング可能であるとともに、ウェーハ基材のエッチングを抑制できる半導体基板の分析方法を提供する。
【解決手段】本発明は、フッ化水素の蒸気と、放電により発生させたオゾン含有ガスとを用いた気相分解法により分析対象物を含む半導体基板をエッチングし、エッチング後の半導体基板上に回収液を吐出し、回収液とともに分析対象物を回収する半導体基板の分析方法に関する。本分析方法によれば、微量の分析対象物の高感度な分析が可能となる。 （もっと読む）

【課題】表面が絶縁層で覆われた金属試料やセラミックス試料の断面研磨を、最表面近傍にダレを生ずることなく行う。
【解決手段】試料の最表層近傍の断面観察に適した断面研磨方法であって、試料表面に金属蒸着層を形成した後金属めっき層を形成し、しかる後、断面研磨を行う。 （もっと読む）

【課題】半導体基板内部に含まれる金属不純物汚染を低コストかつ容易に回収および分析可能な半導体基板の分析方法および分析装置を提供する。
【解決手段】半導体基板１の表面に回収液の濃硫酸２を供給し、該濃硫酸２を半導体基板１との間に挟むように疎水性部材３を配置し、該濃硫酸２を前記半導体基板１に広く接触させ、前記半導体基板１の内部に含まれる金属不純物を前記濃硫酸２中へ溶解させた後、前記疎水性部材３を取り外し、前記半導体基板１および前記疎水性部材３の少なくとも一方の表面に残留する前記濃硫酸２を分析する。また、前記半導体基板１を加熱することが好ましい。 （もっと読む）

本発明は、エラストマーを用いて細胞を調査する装置及びその使用方法に関する。このエラストマー（１）は、底部（２，３）とそれよりも厚い周縁領域（４，６，８）とを有し、底部（３）には、規則的な微細構造が配置されている。そのようなエラストマーは、特に、一軸方向式の延伸調査に適している。そのような装置の有利な使用方法も同じく開示している。
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【課題】フィルムやシート状の観察用対象物について、凍結破断法による断面観察用試料作成時における損傷や物理的変性を軽減し、容易かつ簡便に、微小、微量であっても断面作成が可能な冶具を提供する。
【解決手段】フィルムやシート状の観察用対象物から凍結破断法によって観察用対象物の破断面を作成する観測用試料作成冶具であって、観察用対象物から切り出した試料を固定する２つの固定台と、固定台を保持するホルダーと、固定台に試料の両端を固定するための２つの固定具と、ホルダーに固定された柄と、２つの固定台の一方の固定台に固定された柄と、を備え、上記柄を固定した固定台を可動可能とし、他の一方の固定台をホルダーに固定することを特徴とする観察用試料作成用治具。 （もっと読む）

【課題】複雑な波形分離を用いることなく、固体材料の表面に存在する官能基をより幅広く且つより正確に測定できるようにする。
【解決手段】官能基の測定する方法は、炭素質膜からなる複数の評価用試料を準備する工程（ａ）と、各官能基に対する反応率をあらかじめ測定した複数の標識試薬を準備する工程（ｂ）と、評価用試料と標識試薬とをそれぞれ反応させる工程（ｂ）と、工程（ｂ）よりも後に、評価用試料のそれぞれについてその表面に導入された標識試薬の導入量をＸ線光電子分光測定法により測定する工程（ｃ）と、炭素質膜の表面に存在する各官能基の量を、Ｇ＝Ｒ^-1Ｑに基づいて算出する工程（ｄ）とを備えている。但し、Ｇは各官能基の量を示す行列であり、Ｒは各標識試薬の各官能基に対する反応率を示す行列であり、Ｑは各標識試薬の導入量を示す行列である。 （もっと読む）

【課題】分析対象物質を含む被測定面から分析対象物質を抽出する抽出時間を短縮し、迅速な分析を実現する分析対象物質抽出装置を提供する。
【解決手段】分析対象物質を含む被測定面から分析対象物質を抽出する抽出液を収容するための容器と、容器に設けられた、被測定面と抽出液とを接触させるための開口部と、容器内の抽出液を循環する循環手段と容器内の抽出液を振動させる振動手段とのうち少なくとも１つと、を備える分析対象物質抽出装置である。 （もっと読む）

【課題】現状では鋳片切断後にしかわからないＴ．［Ｏ］外れに起因する、余剰材の発生および向先変更に伴う歩留ロスの双方を抑制する手段を提供する。
【解決手段】溶鋼の二次精錬終了後に溶鋼中のＴ．［Ｏ］を分析し、その分析値に応じて該溶鋼の連続鋳造条件を変更する溶鋼の連続鋳造方法であって、前記溶鋼中のＴ．［Ｏ］分析値を、該溶鋼の連続鋳造中であってその鋳片の切断開始前までに知り、そのＴ．［Ｏ］分析値に応じて受注内容に適合するように鋳片を切断する、または前記溶鋼中のＴ．［Ｏ］分析値を、該溶鋼を連続鋳造機のタンディッシュへ注入し始める前までに知り、そのＴ．［Ｏ］分析値に応じて受注内容に適合するように溶鋼へのＣａ添加量を調整する。 （もっと読む）

【課題】アトムプローブ観察用の試料を容易に作製すること。
【解決手段】観察対象となるモデル合金１から、透過型電子顕微鏡で観察可能な厚さまで薄膜化された薄膜試料２が作製され、薄膜試料２にマーク３の作製が行なわれる。そして、マーク３近傍を照射部位として、超高圧電子線の照射が行なわれ、マーク３の近傍に位置する薄膜試料２の上面にて、保護膜４の形成が行なわれる。そして、保護膜４および保護膜４の下面にある薄膜試料２は、三次元アトムプローブを用いた解析を行なうために採取される対象である採取対象試料５とされ、アトムプローブ観察用の試料が作製される。 （もっと読む）

【課題】清浄な検査断面を簡単かつ迅速に形成することができる、断面観察用試料製造装置及び断面観察用試料の製造方法を提供する。
【解決手段】この製造装置１０は、試料１の一部を遮蔽する遮蔽材２０と、前記遮蔽材２０の端縁部に沿って、前記試料１の表面にイオンビームを照射して、遮蔽材２０で覆われた部分と遮蔽材２０で覆われていない部分との境界に沿って前記試料１の表面に切欠溝を形成する切欠溝形成手段（イオン銃１３）と、前記切欠溝に沿って試料１に圧力を加えて、前記試料１を切欠溝に沿って劈開する劈開手段２３と、劈開された試料１の検査すべき断面にイオンビームを照射して検査断面を加工研磨する加工研磨手段（イオン銃１３）とを備えている。 （もっと読む）