【課題】試料の切片を作成するためのミクロトームまたは他の組織試料裁断装置に関し、特に、いくつかの実施態様は試料表面の配向を感知する表面配向センサを備えたミクロトームまたは他の組織試料裁断装置を提供する。
【解決手段】試料裁断装置は切断機構、試料保持容器、駆動システムおよび表面配向センサを含む。試料保持容器は試料を保持するよう作動可能である。切断機構は試料から切片を切断するよう作動可能である。駆動システムは試料保持容器と結合させる。駆動システムは試料保持容器に保持された試料と切断機構間の移動を駆動するよう作動可能である。表面配向センサは試料保持容器に保持された試料の表面の配向を感知するよう作動可能である。 （もっと読む）

【課題】特殊な接合装置を必要とすることなく、簡単に亀裂状の内部欠陥を有する非破壊検査用有欠陥試験体を製作する。
【解決手段】金属材料同士１，２をＶ字状の開先形状で突合わせ、この開先部Ａを多層溶接によって溶接する途中の段階で、曲げ試験機により溶接部を折り曲げ、溶接部に長手方向に沿って亀裂３を生じさせた後、折り曲げる前の形状に戻し、残りの開先部Ａを多層溶接によって埋めることによって内部亀裂３を有する試験体を得る。 （もっと読む）

【課題】細長い検体を処理する場合においても、薬液処理中に該検体Ｓが丸まったり絡まったりせず直線状に保たれ、薬液処理を均一且つ短時間で施すことができる医療検査用カセットを提供する。
【解決手段】カセット本体２及び蓋体４からなる医療検査用カセット１であり、前記カセット本体２は上向きに開口した方形の容器で、有効範囲の長さ方向又は幅方向の全長に亘って延びる複数個の検体収容部３を有し、該検体収容部３の長辺側の両側壁３ｂ、３ｂは開口側に拡大する斜面状に形成されると共に多数の透孔５を有し、前記蓋体４は前記カセット本体２に取り付けられ、多数の透孔５を有することを特徴とする医療検査用カセット１である。 （もっと読む）

【課題】透過電子顕微鏡観察で用いられている、広域の観察が可能な、プラスチック基材に薄膜形成された試料の表層を、剥離して観察する剥離法において、プラスチック基材と非常に強固に密着してしまう無機蒸着膜を、透過電子顕微鏡用観察試料としてスムーズに基材フィルムであるプラスチックから剥離する方法を提供すること。
【解決手段】熱可塑性樹脂からなる基材フィルムに成膜した薄膜の電子顕微鏡平面観察用試料の作成方法であって、前記基材フィルム上に薄膜を備える成膜フィルムの基材フィルムを変質させる工程と、前記変質させた成膜フィルムの薄膜面に接着テープを貼る工程と、前記接着テープを剥離する工程と、剥離した接着テープの接着剤を溶解させる工程と、前記接着剤を溶解させた溶液上に浮遊する試料膜を観察用薄片グリッド上に転写する工程を備えること。 （もっと読む）

【課題】 試料として例えば皮膚表面の、そこから放出される対象物質であるガスと外気中の物質とを、それぞれ捕集することが可能な捕集装置を提供する。
【解決手段】 皮膚表面から放出されるガスを捕集するためのシートと環境中の空気を捕集するシートとを、捕集面が互いに向きあうように貼り合わせた捕集装置を提供する。 （もっと読む）

【課題】集束イオンビームを利用する微細加工により、微細粒子の凝集体からなる膜の断面を、透過電子顕微鏡観察する目的の薄片化試料を作製する際、微細加工端面に露呈する微細粒子の剥落を防止でき、また、薄片化された部位の大気暴露を防止可能な、薄片化試料の作製方法を提供する。
【解決手段】微細粒子の凝集体からなる膜から抽出した試料片に対し、その二つの断面に集束イオンビームを利用する微細加工を施し、薄片化を行う工程中、各断面に微細加工を施した後、微細加工端面を被覆する、均質な材料からなる薄膜をそれぞれ形成する。形成される均質な材料からなる薄膜は、微細加工端面に露呈する微細粒子の剥落を防止し、また、微細加工端面の大気暴露を防止する、被覆膜として利用される。 （もっと読む）

【課題】 非導電性の物体の微細形状を、物体の形態を変化させることなく観察可能とすること
【解決手段】 観察する物体の表面に液晶を被覆した観察試料を電子顕微鏡内に配置し、前記観察試料を加熱することにより前記液晶の膜厚を変更するとともに、前記走査型電子顕微鏡により前記観察試料を観察する。これにより最適な液晶の膜厚における観察が可能となる。 （もっと読む）

【課題】 脱型が容易でありながらも、軽量化および高強度化を実現し、さらに製造容易なコンクリート供試体成型型枠５０を提供すること、およびテストピース（即ちコンクリート供試体）の硬化時における熱を効果的に放出可能でありながらも、脱型のための特別な構成や器具を要しないコンクリート供試体成型型枠５０を提供すること。
【解決手段】 筒状の胴部５１と当該胴部５１の下端側を閉塞する底部５２とからなる有底筒体に形成されたコンクリート供試体成型型枠５０であって、当該胴部５１は、少なくとも紙からなる紙層１０と金属材料からなる金属層とを具備する積層構造に形成されているコンクリート供試体成型型枠５０を提供する。特に、金属層はアルミニウムにより形成することが望ましい。 （もっと読む）

【課題】 蛍光Ｘ 線分析装置において高精度な分析結果を得る方法及び装置を提供する。
【解決手段】 半導体基板を酸蒸気に暴露する工程と、酸蒸気に暴露された前記半導体基板の表面の不純物を酸溶液で走査回収する工程と、前記走査回収した酸溶液を前記半導体基板上で濃縮乾燥させ濃縮乾燥物に変える工程と、前記濃縮乾燥物を全反射蛍光Ｘ線分析で測定し第一の測定値を得る工程と、前記半導体基板を酸蒸気に暴露する工程の後に、前記半導体基板上で前記濃縮乾燥物の位置とは異なる位置を全反射蛍光Ｘ線分析で測定し第二の測定値を得る工程と、前記第二の測定値を用いて前記第一の測定値の精度の確認を行う工程とにより半導体基板の分析を行う方法。 （もっと読む）

【課題】微小試料に生じる歪みを抑制できる微小試料の加工方法及び微小試料を提供する。
【解決手段】本発明の実施態様に係る微小試料の加工方法は、直方体形状を有する透過型電子顕微鏡の観察用の微小試料の加工方法であって、基板上に形成された半導体デバイスから前記透過型電子顕微鏡の観察対象領域を含む前記微小試料を切り出す工程と、前記微小試料の上面側から収束イオンビームを照射して前記微小試料の一部を切削し、前記微小試料の正面側に前記集束イオンビームの照射方向に対して平行な矩形の第１の平面を形成する第１の切削工程と、第１の平面に対して平行な面内において、第１の切削工程とは異なる角度で微小試料へ収束イオンビームを照射して微小試料の一部を切削し、微小試料の裏面側に第１の平面に対して平行な矩形の第２の平面を形成する第２の切削工程と、を有する。 （もっと読む）

【課題】 観察対象部位が試料内部にある場合でも、集束イオンビーム加工装置を用いた断面加工を行って走査型電子顕微鏡や透過型電子顕微鏡を用いて精度の高い観察ができる電子顕微鏡用試料の作製方法を提供する。
【解決手段】 透明性を有する試料の内部に存在する観察対象部位とその試料の表面に存在する所定の目標物とが同一画像上に現れるように光学顕微鏡で試料を撮像し、撮像された顕微鏡像に基づいて、観察対象部位の位置情報を算出し、算出された観察対象部位の位置情報に基づいて、集束イオンビーム加工装置を用いて試料から観察対象部位を包含する微小片試料を摘出し、摘出した微小片試料を、集束イオンビームを照射することによって断面加工し、微小片試料の表面に観察対象部位を位置させる。 （もっと読む）

【課題】本発明は電子顕微鏡用針状試料の作製方法に関し、針状試料を簡単に作製することを目的としている。
【解決手段】電子顕微鏡で観察するための針状試料を作製する方法であって、目的試料を載置用試料上に載置する工程と、前記目的試料を前記載置用試料上に固定する工程と、前記目的試料と前記載置用試料に集束イオンビームを照射して、前記目的試料と前記載置用試料からなる薄片試料を作製する工程と、前記薄片試料を溶液に入れて、前記載置用試料を溶解せしめて目的試料のみにする工程と、残った目的試料を溶液から取り出す工程とを含んで構成される。 （もっと読む）

【課題】円弧状の線材サンプルを直線状に矯正することなく、捻回試験を行うことのできる捻回試験用チャック装置を提供する。
【解決手段】線材サンプル２１の両方の端部を把持するための２組のチャック部２を有し、チャック部２の一方又は両方は線材サンプルを捻回させるための回転軸中心１１を中心として回転可能であり、それぞれのチャック部２はチャック本体３、第１のチャック片４、第２のチャック片５を有し、第１のチャック片４と第２のチャック片５はそれぞれの線材サンプル接触部６が対向して線材サンプル２１の端部を把持可能であり、第１のチャック片４と第２のチャック片５は線材サンプル非把持時には双方の線材サンプル接触部６の向きが回転軸中心１１を含む面内で変更可能に設けられ、第１のチャック片４と第２のチャック片５とで線材サンプル２１を把持した際には両者はチャック本体３に固定される。 （もっと読む）

【課題】高分子材料中のフィラーの分散状態を、迅速かつ定量的に評価することが可能な高分子材料の評価方法を提供する。
【解決手段】高分子化合物とフィラーとを含む高分子材料であって、少なくとも上面が平坦な表面である高分子材料の評価方法である。高分子材料１を、集光イオンビーム（ＦＩＢ）１０を用いて、高分子材料の表面に対する角度αが１〜６０°をなす方向に切削した後、切削により形成された高分子材料の平滑面１Ａを、平滑面に対し垂直な方向から撮影する。 （もっと読む）

【課題】管端溶接部における亀裂状欠陥を非破壊検査で検出するための非破壊検査用標準供試体を提供する。
【解決手段】管端溶接部における亀裂状欠陥を非破壊検査で検出するための非破壊検査用標準供試体１０であって、炭素鋼で形成され、貫通孔１５を有する供試体本体１２と、貫通孔１５に挿入され、ＣｒーＭｏ鋼で形成された管体１４とを備え、管体１４の外周面と、供試体本体１２における貫通孔１５の内周面との間に隙間１７が設けられ、管体１４の長手方向における一端側の外周面と、供試体本体１２の貫通孔の長手方向における一端側の内周面との間を全周に亘って溶接した溶接部１８を有し、溶接部１８は、隙間１７に重量比で５０％ＮａＮＯ_３と５０％ＫＮＯ_３とを混合した腐食液を注入し、応力腐食割れにより導入された亀裂状欠陥を有している。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、微量物質に対する分光分析方法および分光分析用サンプリングユニットに関するものである。
【解決手段】 本発明の分光分析方法は、試料を加熱し、試料から特定物質の蒸気を発生させる工程と、蒸気中に、電磁波を反射する反射部材に特定物質と相溶性のある有機高分子膜を成膜させたサンプリングプレートを曝露する工程と、有機高分子膜に電磁波を照射し、反射部材から反射されたスペクトルを測定する工程とを有する、よう構成する。 （もっと読む）

【課題】最適な方法で効率良く、液体中に存在し浮遊性を有するサンプルの浮遊性を抑止して光学顕微鏡で観察できるようにし、また、そのサンプルの中から電子顕微鏡観察の対象とすべきサンプルを光学顕微鏡で特定し、特定したサンプルを電子顕微鏡で詳細に観察することを可能にする電子顕微鏡観察用サンプル作製方法と、そのサンプル作製キットを提供すること。
【解決手段】レクチンを含有する媒体に浮遊性サンプルを含ませ、浮遊性サンプルの浮遊性を抑止し、浮遊性サンプルを含む層を観察用基板上に形成するステップと、その層に対する光学顕微鏡観察により、電子顕微鏡で観察対象とする浮遊性サンプルを特定するステップと、電子顕微鏡での観察対象に特定された浮遊性サンプルを含む部位に対して、固定及び包埋の処理を行うステップと、電子顕微鏡での観察対象に特定された浮遊性サンプルを含む部位を成形処理し、電子顕微鏡観察用サンプルとなる薄片を作製するステップとを有する。 （もっと読む）

【課題】原子炉水中に含まれる放射性核種の定量精度を向上させる原子炉水の核種分析技術を提供する。
【解決手段】原子炉水の核種分析方法が、原子炉水を採取してフィルタに通過させる工程(Ｓ１１)と、核種が捕集された前記フィルタを水酸化アルカリ及び硝酸アルカリとともに加熱する工程（Ｓ１５）と、前記加熱による生成物質を水に溶解させる工程（Ｓ１６）と、少なくとも放射性塩素及び放射性ヨウ素が前記水に溶解している第１ろ液と前記水に不溶の第１沈殿物とを分離する工程（Ｓ１７）と、を含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】追加の試験や処理の繰り返しの後に病理学者は検査手順を繰り返し、それから更に最終結果が出るまで作業を繰り返すことになる。これらの処理に自動化装置を使用したとしても、多くの運搬作業や人手の介入が必要である。
【解決手段】少なくとも染色モジュール２１０とカバースリップ付着モジュール２２０のどちらか一方と、画像化モジュール２３０と、保存モジュール２０２と、少なくとも一個のスライド４２４を染色モジュール２１０とカバースリップ付着モジュール２２０のどちらか一方、画像化モジュール２３０及び保存モジュール２０２の間で搬送するための自動搬送モジュール３０２と、コントローラ４００とを備えている。 （もっと読む）

【課題】基板上の半導体デバイスを均一に汚染した試料を作成できる試料汚染方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の実施形態に係る試料汚染方法は、汚染物を含有する薬液を筺体内へ噴霧する工程と、噴霧により薬液が充満した筺体内へ半導体基板を搬入する工程と、薬液が充満した筺体内へ半導体基板を所定時間放置する工程と、所定時間経過後に、半導体基板を筺体内から搬出する工程と、を有する。 （もっと読む）