【課題】 試料表面の平滑性が求められる分析において、粉体であっても容易に測定用試料を製造することができ、測定効率の向上を可能とする粉体ホルダ、測定用試料製造方法及び試料分析方法を提供すること。
【解決手段】 本発明の粉体ホルダは、基台部と、基台部上に設けられた粉体保持部と、を備え、粉体保持部が、粉体保持部の基台部と反対側に粉体を収容する粉体収容孔を少なくとも１つ有し、粉体保持部の硬度が、基台部の硬度よりも小さい。 （もっと読む）

【課題】 微小な膜厚を有する解析対象膜を含む解析用試料を、その解析対象膜の結晶構造を変化させることなく高精度に形成することのできる試料作製方法を提供する。
【解決手段】 積層膜１Ｚを形成したのち、ＦＩＢ法を用いて、解析対象膜１０と隣接する第１および第２隣接部分２３，３３をそれぞれ残すように第１および第２可溶膜２０Ｚ，３０Ｚのうちの厚み方向の一部をそれぞれ選択的に除去する。第１および第２可溶膜２０Ｚ，３０Ｚを溶解可能な溶剤を用いることにより第１および第２隣接部分２３，３３の厚み方向の一部を溶解除去し、厚みｔ２１，ｔ３１を精度良くさらに薄くする。これにより、例えばＴＥＭを用いた解析をおこなうのに適した解析用試料１を作製することができる。 （もっと読む）

【課題】容器の構造を複雑化させずに、シリコン基板の分解速度を高めることができる処理装置を提供すること。
【解決手段】処理装置１は、シリコン基板２１を分解するものであり、内部にシリコン基板２１と、分解液２２とが充填される容器１１を備える。この容器１１には孔１１３が形成されており、容器１１内部の気体は孔１１３を介して、外部に排出される。従って、容器１１からは、シリコン基板２１の分解反応に伴って発生する副生成ガスである二酸化窒素や、ＳｉＦ_４が排出されることとなり、シリコン基板の分解速度の向上を図ることができる。 （もっと読む）

本発明は、例えばレーザ顕微解剖システムにおける回収用デバイス（３０）として使用可能な、生物学的対象物を受ける収容デバイスのためのサンプルホルダ（２０）に関する。前記サンプルホルダ（２０）はコード（２３）を備え、該手段によりホルダはレーザ顕微解剖システム内で明確に識別可能であり、従って切除すべき生体材料（４３）を識別された収容デバイス（３０）または識別されたサンプルホルダ（２０）の個々の収容コンテナ（３１）に適正に割り当てることが可能となり、よって顕微解剖法を完全に自動的に実施することができる。
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【課題】 真空下にて試料を分析および／または処理する際に必要とされる複数の機能を備えた器具を提供する。
【解決手段】 端子１および突起部６を有する基板１００、ならびに端子１と接触する電極３および突起部６を挿入するための凹部１０を有するホルダー２００を備える回路形成用カセットであって、突起部６が凹部１０へ挿入されることによって基板１００とホルダー２００とが固定される構成を有する回路形成用カセットを用いる。 （もっと読む）

【課題】透過型電子顕微鏡において、見本を傾斜させる時、見本の有益領域では焦点が動かない、または観測分野が動かない動作を提供する。
【解決手段】バレル２１の内部には、先端保持部２２を支持するバレル２１の一端に隣接して位置し、しかもバレル２１、スライド枠３７aおよび端版３７bの内壁で囲んだ空間３５がある。カム軸３６の回転で、スライド３１および先端保持部２２は、バレルの長い軸に垂直に移動する。標本は、Ｚ軸（透過型電子顕微鏡の光軸）における実質的な直線通路を移動する。ダイヤルを回すと、スライド３１、先端保持部２２および標本用先端２３が起き上がる。 （もっと読む）

本発明は、少量の固体を取り扱う方法及び装置に関する。本発明の特定の実施形態は、少量の固体の自動移動に特に適する。一実施形態では、均一な粉末床が粉末のプラグにわずかに加圧され、分配される。他の実施形態では、固体は、スラリーを形成するために液体媒体中に配置され、分配され、次いで液体成分は除去される。さらに他の実施形態では、固体は、付着性の表面を用いて取り扱われる。 （もっと読む）

【課題】 カバー付きウエルプレートのカバーの結露を防止できる環境制御装置を提供すること。
【解決手段】 温度調節装置１は、調温プレート１ａと調温プレート１ａを保持する保持部１ｂとを備えている。調温プレート１ａを、生物試料Ｓを収容するカバーＣが付いたウエルプレートＷの上面に密着設置し、ガラス基板２の上面に形成された透明導電膜３に電流を流して調温プレート１ａを発熱させ、温度センサー６でモニターすることにより、ウエルプレートＷの表面温度を調節する。調温プレート１ａは、保持部１ｂの電磁ソレノイド８により、上下移動が可能である。 （もっと読む）

発明は、検査手順と、一番目の検査手順とは異なる他の検査手順とにより、検査試料の併用検査を行うための、検査試料、特に試料ホルダーを収容するための装置に関するものであり、検査試料が準備される準備表面を備えた透明な材料からなる平面の準備部材（１）を備えており、上記検査手順を実行するための検査設備の導入のための検査経路は、準備部材（１）の一方の側において形成されており、検査試料において上記他の検査手順を実行するための検査設備の導入のための他の検査経路は、準備部材（１）の反対側に形成されており、上記検査経路が形成されているアパチャー（５）を有した支持および被覆要素（３ａ）は準備部材（１）の一方の側に対して圧力が加えられる。
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【課題】 変質のない良好な透過電子顕微鏡用観察試料の作成方法を提供すること。
【解決手段】 試料１を銅リング３に接着する際、試料１の向きを従来のそれに対して９０°回転させることでＦＩＢ加工面をダイシング加工面１ｂ方向にする。試料１のダイシング加工面１ｂ側からトレンチ１ｃを含む領域をＦＩＢ加工する。ＦＩＢ加工方向をこのように変更することで、埋め込みトレンチ１ｃを側面方向から薄片化できるため、加工深さはトレンチ幅（５μｍ）程度で済み、観察部位の非結晶化等は発生せず、良質なＴＥＭ用観察試料を作製可能である。 （もっと読む）

【課題】
本発明が解決しようとする課題は、試料へのアプローチに際し試料へのダメージを与えることがない試料とプローブの接触感知機能を備え、ピックアップ機構としては微細なサンプルを迅速で確実なハンドリングを可能とすると共に、試料の材質を選ぶことなく、しかも構造的にも単純な機構を提供することにある。
【解決手段】
本発明のプローブ機構とサンプルピックアップ機構は、観察装置または分析装置に備えられ試料に接触を図る針状体からなる先端部材を有し、駆動用の静電アクチュエータと、該静電アクチュエータの電極間の静電容量変化をモニターする手段とを備え、該モニターにより前記プローブがサンプルに接触したことを検知できることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 マイクロ波加熱時の有害物質脱着機構の解明に貢献する分析装置を提供する。
【解決手段】 ＣａＯ・６Ａｌ_２Ｏ_３固化体からなる試料ホルダー１０と、試料ホルダー１０にマイクロ波を照射するマイクロ波照射装置２０と、試料ホルダー１０に配置された試料の温度を測定する温度測定機器３０と、試料ホルダー１０に配置された試料から発生したガスの成分を分析する分析装置５０とを有する分析装置である。 （もっと読む）

【目的】本発明は、円板の一部を切り欠いて切り欠いた部分に微小な試料を接着して試料を観察するための試料支持板に関し、円板の一部を切り欠いた試料支持板に接着した試料をエッチングで極表層を除去して綺麗な面にすると共に試料支持板に付着した物質あるいは試料支持板自身が当該エッチングで試料へ再付着あるいは付着することを無くすことを目的とする。
【構成】 円板の一部を切り欠いた中央の試料を接着する部分の周囲を凹状に切り欠き、試料の極表層を除去するエッチング時の試料への再付着あるいは円板の物質の試料への付着を防止する形状としたことを特徴とする試料支持板である。 （もっと読む）

ミクロトームにより切片化可能な支持体上に収容された組織標本（２１０）をハンドリングし包埋する自動機械（１０）を提供する。この機械（１０）は、組織包埋操作の前に、ミクロトームにより切片化可能な複数の支持体（１５０ａ）を保持するように構成された入力部材（１００）を含む。出力部材（３２ａ〜３２ｄ）は、組織包埋操作の後で、ミクロトームにより切片化可能な複数の支持体（１５０ａ）を保持するように構成される。冷却ユニット（８０）は、組織包埋操作の中に、ミクロトームにより切片化可能な支持体（１５０ａ）の少なくとも１つを保持するように構成される。移動用の電動キャリアアセンブリ（４０）が取り付けられ、ミクロトームにより切片化可能な支持体（１５０ａ）の少なくとも１つを保持するように構成される。キャリアアセンブリ（４０）は、支持体（１５０ａ）を、入力部材（１００）から冷却ユニット（８０）に、最後に出力部材（３２ａ〜３２ｄ）に移動させる。分注装置（２１２）は、包埋操作中に、ミクロトームにより切片化可能な支持体（１５０ａ）と、ミクロトームにより切片化可能な支持体（１５０ａ）によって担持された少なくとも１つの組織標本（２１０）の上に包埋材料（２０５）を分注する。
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【課題】 試料の種類および試料の表面状態によらず高い感度を得ることを可能にする。
【解決手段】 半導体基板２を酸蒸気に暴露する工程と、酸蒸気に暴露された半導体基板の表面の不純物を酸溶液で走査回収する工程と、走査回収した酸溶液６を表面が鏡面状態の基板上で濃縮乾燥させ濃縮乾燥物８に変える工程と、濃縮乾燥物を酸を用いて粒子状の濃縮物８ａに変える工程と、粒子状の濃縮物を全反射蛍光Ｘ線分析装置４０にて分析する工程とを備えている。 （もっと読む）

流体移送システムは，閉口端及び開口端を有する円筒部材で構成されたホルダを具える。閉口端には，ルエル及びホルダ内部まで延在するカニューレが係合している。ホルダは第一横断面を有する末端部と第二横断面を有する近接部とを具えている。末端部の横断面は近接部の横断面より小さい。末端部及び近接部は肩部により接続している。流体移送システムは，ホルダの開口端からホルダへ挿入されるアダプタも具える。アダプタは，中心開口部と，これより延在する円筒管とを有する基部を具える。円筒管の直径は末端部の直径よりも僅かに小さく，真空管等の第一体液収集・保存手段を受け入れ可能とされている。円筒管を包囲する不連続壁がアダプタの基部から伸びている。不連続壁の横断面は近接部の直径より僅かに小さい。不連続壁の各セクションに突部が，近接部の内面には溝が設けられている。アダプタを完全にホルダへ挿入する際に，突部が溝とスナップ係合して，ホルダからのアダプタの意に反する離脱を防止する。ホルダは，アダプタを取り外した状態で，血液培養収集ボトル等の各種寸法の流体収集ボトルを受け入れ可能である。
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ケーシング１１０、流体採取ウエル１２０、上部２４０、基部２４５、ポート１５０、検査素子２８０、窓１６０、上部室１３０、圧搾プレート３２０、下部室３３０、およびサンプル出口２７０を備える、装置１００。
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本発明は、化学分析装置及び方法に関し、特に、分子、例えばペプチド、及び/又は短悪質などの生物分子を、溶液中の分子の混合体から抽出し、そして分析装置に提示する前に抽出された分子にサンプル処理を行うための特異的な装置に関する。試料の分析方法は、複合試料処理及び試料保持装置を使用する。当該装置は、各アレイ位置に位置するコンパートメントの各々に繋がれた１の側に試料を受け入れるための入口を有するプレートを含み、ここで当該コンパートメントの各々は、プレートを通して液体が流れることを可能にする出口と繋がっている。当該方法は、外部容器にサンプルを供給し；場合により当該サンプルを、外部容器内で第一処理にかけ、当該複合試料処理及び試料保持装置に移し、そして当該試料を装置を通した液体の流れを利用して、第二処理にかけ（ここで媒質が装置内に保持される）工程を含む。
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【課題】環境基準の極めて微量な測定対象物質の溶出量を、現場で迅速に測定することができる土壌の重金属類の溶出量の分析方法及び分析装置、並びにこれに用いる試料を提供する。
【解決手段】土壌に含まれる重金属類の溶出量分析方法において、土壌から作成した検液に所定の割合でキレート剤を加え、このキレート剤に検液中の測定対象物質を吸着させる手順と、その検液をろ過し、測定対象物質を吸着したキレート剤を回収する手順と、蛍光Ｘ線分析装置により、回収したキレート剤が吸着した測定対象物質を定量分析し、この分析結果を検液中の測定対象物質の溶出量に換算する手順とを行う。 （もっと読む）