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Fターム[2G052DA33]の内容

サンプリング、試料調製 (40,385) | 容器 (3,166) | 試料ホルダ (199)

Fターム[2G052DA33]に分類される特許

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【課題】下部電極上にるつぼを搬送する搬送ユニットと下部電極を清掃する清掃ユニットを一体化し、下部電極へのるつぼの供給、下部電極からのるつぼの廃棄及び電極の清掃を行う。
【解決手段】元素分析装置100が、るつぼ設置部23から下部電極11上にるつぼRを搬送するとともに、電極11、12を清掃する搬送・清掃ユニット3を備えている。この搬送・清掃ユニット3は、電極11、12を清掃するための清掃体311、312、及びるつぼRを把持する把持部313を有するアーム部31と、清掃体311、312が電極11、12と対向する対向位置R1、把持部313に把持されたるつぼRを下部電極11上に載置する載置位置R4、及び対向位置R1及び載置位置R4から離間した退避位置R2にアーム部31を回転移動して停止させる回転駆動機構32と、有する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、TEM観察に用いる試料をイオンミリング法により作製するに当たり、イオンビームが試料台をスパッタすることにより生じる試料台物質が試料表面に付着するいわゆるリデポジッションの少ない試料を作製する試料台を提供する。
【解決手段】頂角が120度以下の三角形あるいは扇形で、先端部の厚さが1μm以上5μm以下で、先端から離れるにつれて傾斜断面を有し、傾斜断面の鉛直方向に対する傾斜角を5度以下とする導電性材料であり、TEM観察用試料ホルダ及びイオンミリング装置用試料ホルダに固定するための穴を有することを特徴とするイオンミリング用試料台である。 (もっと読む)


【課題】アーム部と吸引機構とを接続するフレキシブルホースを不要にし、清掃ユニットを長寿命化する。
【解決手段】上部電極清掃体511が上部電極3を清掃する清掃位置Qにおいて、アーム部51に設けられたアーム部側吸引口51Bと装置本体側に設けられた本体側吸引口102Aとが連通するように構成している。 (もっと読む)


【課題】遅れ破壊の発生メカニズムを解明することに寄与するとともに、遅れ破壊の発生予測精度を向上させるために、常温から鋼の融点以上に至る温度域で、試料金属からの水素の放出量と放出温度の相関特性を求め、それと同時に、試料金属に含まれる全水素量を測定することができる測定装置を提供する。
【解決手段】低温域では、低温加熱部10aにおいて、試料20の温度を低温炉7によって試料20の温度が予め設定した低温域の最高温度(約500℃)に達するまで等速で緩慢昇温させて、試料20の温度が予め設定した低温域の最高温度(約500℃)に達するとき、変位機構21によって、試料20を高温加熱部10bに変位させて、その後高温域では、高温加熱部10bにおいて、試料20の温度を高温炉8によって試料20の温度が予め設定した試料20の融点(1573℃)以上の温度(約1600℃)に達するまで等速で緩慢昇温させる。 (もっと読む)


【課題】 FIB加工で試料からより微小な試料片を摘出し、電子顕微鏡観察用試料に加工する際に、FIBのイオンビームが微小試料片固定用の電子顕微鏡観察用試料支持部材に照射されず、試料への再付着が生じない電子顕微鏡観察用試料支持部材を提供することにある。
【解決手段】 薄片固定部5が微小試料片2よりも充分に薄いため、イオンビーム6を傾斜し微小試料片2の中央部の電子顕微鏡観察用試料部に照射しても薄片固定部5を削らないようにしての加工が可能となり、これにより薄片固定部5からの微小粉末の発生も生じないため、観察試料への再付着も起こらない。 (もっと読む)


【課題】 集束イオンビームを用いて透過型電子顕微鏡で観察をおこなうための薄膜試料を作製する方法において、大きな試料基板から観察所望部位を確実に抽出し、薄膜試料作製のための仕上げ加工を行なう際に、観察所望部位を試料ホルダに安定して保持することができるようにする。
【解決手段】 ナノピンセット40の先端で、試料ブロック27上部の凸部27aを掴む。試料ブロック27を試料基板23から掴みだし、シリコンブロック29の端面29aに予め形成された溝41に試料ブロック27を差し込む。
試料ブロック27の外壁面と溝41の内壁面の摩擦力が大きくて、ナノピンセット40で試料ブロックを把持する力だけでは試料ブロック27を溝41に圧入することが困難な場合は、試料ブロック27の凸部27aの段差部をナノピンセット40の先端で押圧する。 (もっと読む)


【課題】従来よりも少量の試料でも、正確に元素の種類及び濃度を測定することができる材料分析装置、材料分析方法を提供する。
【解決手段】外力により形状変化が可能な試料3を構成する元素の種類及び濃度を測定するXRF装置100であって、試料3が収容される試料フォルダ4と、試料フォルダ4に収容された試料3を圧縮する押圧部材41と、押圧部材41によって圧縮された試料3に、試料フォルダ4を介して1次X線20を照射するX線出射装置1と、1次X線20の照射により、試料3から発生する元素特有の2次X線21を検出するX線検出器5と、X線検出器5により検出された2次X線21から、試料3を構成する元素の種類及び濃度を検出する元素検出部10と、を具備することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 濾紙法を応用し、誰にでも簡単に携帯利用可能とする尿の採集器、および、それを用いて24時間何時でも場所を問わず尿を採集し、排尿毎の尿を吸収した濾紙から塩類などの化学成分を抽出、分析可能とする新たな測定技術を提供する。
【解決手段】 携帯容易な所定長、所定直径の非透水素材製パイプ本体2一端を着脱口20とし、同着脱口20周壁縁に、該パイプ本体2軸芯方向に沿って僅かな一定のスリット状採集溝3を刻設し、同着脱口20に臨む筒型収容部22中に、パイプ本体の軸芯方向断面がV字型に折曲された矩形状濾紙片7を、同一端の折曲された頂角70が当該採集溝3から外部に露出する配置とするよう着脱自在に組み合せ収納してなるものとした簡易尿採集器1である。 (もっと読む)


【課題】集束イオンビームを用いたマイクロサンプリングにおいて、試料加工の妨げとなる、スパッタリングされた物質の試料表面への付着を防止する試料の作製方法を提供する。
【解決手段】試料片12の一方の側方に試料基板10と接続した支持部25を残し、他方の側方である側方側領域27、前方側領域21、及び後方側領域23を掘り下げ加工する。具体的には、抽出すべき試料片12の周囲を、前方側領域21において、表面26から65°〜90°の傾斜角で試料片12から離れた位置から試料片12へ向かって深くなるように、かつ試料片12に隣接する前方側隣接領域21aを、試料片12の高さの1.2〜1.5倍の深さに掘り下げる。 (もっと読む)


【課題】 ナノ材料が基板上に固定化された観察試料を良好な状態に作製することが可能な観察試料作製装置及び作製方法を提供する。
【解決手段】 静電噴霧用ノズル20内部のナノ材料分散液13と観察基板10との間に電圧を印加し、分散液13の静電噴霧、乾燥、及びナノ材料の静電付着によって基板10上にナノ材料を固定化して観察試料を作製する。また、導電性のグリッド部11と支持膜12とを有する観察基板10に対し、基板10の下方に基準電極81を設けるとともに、基板10のグリッド部11に静電噴霧用の電圧と同一の極性のバイアス電圧を印加して、ナノ材料の基板10上での固定化位置の調整を行う。これにより、良好な状態のナノ材料の観察試料を作製することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】微小試料台の個片化作業が容易な微小試料台集合体を提供すること。
【解決手段】シリコンウエハには、複数本の梁部30が平行して配列され、各梁部30の側面には、所定間隔で接続部20を介して微小試料台10が一つずつ保持されている。微小試料台10は、接続部20を折るようにして梁部30から分離することができる。 (もっと読む)


【課題】顕微鏡観察をする際に試料を固定するための治具に関する。特に断面切削装置に
て断面出しをおこなった試料の断面構造を高精度に観察することが可能な観察用治具に関
する。
【解決手段】
断面切削装置にて断面出しをおこなった断面切削装置用試料ホルダーに固定された試料
を断面切削装置用試料ホルダーから取り外すことなく、顕微鏡で前記試料断面を観察する
ための顕微鏡観察用治具であって、該顕微鏡観察用固定治具が平板状であり、且つ、前記
断面切削用試料ホルダーの断面切削装置への固定部の少なくとも一部を挿入することがで
き、該断面切削用試料ホルダーを挿入した状態で前記断面切削用試料ホルダーに固定され
た試料の断面切削面を前記顕微鏡観察用固定治具に対して水平に保ちながら回転可能とす
るための穴を有していることを特徴とする顕微鏡観察用固定治具である。 (もっと読む)


【課題】透過電子顕微鏡用試料作製方法の生産性を向上させる。
【解決手段】透過電子顕微鏡で観察可能な略平面状の仕上げ面Wb1と、微小ピンセット50によって仕上げ面に触れることなく把持可能な把持部Wb2とを有する透過電子顕微鏡用試料片Wbを作製する方法であって、試料本体Waから、試料本体と連結部で連結された該試料片を、荷電粒子ビームで切り出す第1の工程と、第1の工程で切り出した該試料片の仕上げ面を微小ピンセットで覆い隠しながら、該試料片の把持部を微小ピンセットで把持する第2の工程と、第2の工程において微小ピンセットで把持した該試料片を、該試料片の把持状態を維持しながら荷電粒子ビームで連結部を切断することによって試料本体から切り離す第3の工程と、第3の工程で切り離した該試料片を、微小ピンセットで試料ホルダに搬送して固定する第4の工程とを備えることを特徴とする透過電子顕微鏡用試料作製方法を提供すること。 (もっと読む)


【課題】 簡便に試料小片の姿勢を90度、180度、あるいは任意の角度だけ回転させて試料台に固定可能な装置を提供すること。
【解決手段】 試料7の表面とマニピュレータ回転軸2の交点を一端とする試料表面に垂直な線分をマニピュレータ回転軸2の周りに回転して得られる円錐側面と、試料表面の2つの面によってつくられる交線11に、試料小片の特定の方向を一致させた後、試料小片をマニピュレータで支持し、マニピュレータ回転軸2を動作させることを特徴とする試料作成装置。 (もっと読む)


分子診断検査及び/又は組織的検査のための生体サンプルを格納する容器が提供される。容器は、サンプルホルダーを受け入れるための第1のチャンバー、第2のチャンバー、及び容器を囲う閉鎖体を含む。突き刺し可能な箔のような破損し易い膜が容器内に延在し、2つのチャンバーに分離している。破損し易い膜が破損されたとき、流体は第1及び第2のチャンバー間で通過可能である。膜は、押し下げ可能な部材又は回転可能なキャリヤーのような、サンプルホルダーに膜の破損を生じさせる、閉鎖体のアクチベータによって破損される。
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生物サンプルを2つの異なる環境の間で輸送するために保管するシステムが提供される。このシステムは、第一の容器内部を画定する第一の容器(12)と、第二の容器内部を画定する第二の容器(32)と、を備える。第一の容器の開放端を密閉するための第一の閉鎖手段(22)が用意され、この第一の閉鎖手段は、サンプルホルダを受けるようになされている。また、第二の容器の開放端を密閉するための第二の閉鎖手段(42)も用意される。第一の容器は、第一の閉鎖手段が第一の容器の開放端を密閉したときに、サンプルホルダを取り外し自在に受け入れるようになされ、第二の容器は、第一の閉鎖手段が第二の容器の開放端を密閉したときに、第一の容器に続いて同じサンプルホルダを受け入れるようになされている。
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尿サンプル中の微生物、例えばバクテリア、の同定及び定量化を行うためのシステムであって、(1)遠心分離管と、1mLの容量を有するピペットチップと、0.5mLの容量を有する第2のピペットチップと、光学カップ又はキュベットと、を含む4つの使い捨てコンポーネントを保持するための複数の使い捨てカートリッジと、(2)前記使い捨てカートリッジを受け入れて前記処理済み対象尿サンプルの前記光学カップへの移送を含む前記尿サンプルの処理を行うサンプル処理装置と、(3)前記使い捨てカートリッジを受け入れ、前記尿サンプル中の微生物のタイプと量とを分析するように構成された光学分析装置と、を有する。前記光学カップ又はキュベットを含む複数のコンポーネントを有する前記使い捨てカートリッジは、サンプル処理装置において使用され、処理済み尿サンプルを含有する光学カップ又はキュベットは、光学分析装置において、処理済み尿サンプル中に存在する微生物のタイプの同定と定量のために使用される。
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【課題】共通のイオンビームカラムを用いて試料の加工とダメージ層の除去とを迅速に実行することができるイオンビーム加工装置及び試料加工方法を提供する。
【解決手段】ガスイオン源11から引き出されたイオンビーム12を試料31に導くイオンビーム光学系と、イオンビーム12を通過させてイオンビーム12の断面を成形する開口15a〜15cを有するマスク15と、ガスイオン源11に印加する加速電圧及びマスク15の動作を制御するイオンビームカラム制御部18とを備え、イオンビームカラム制御部18は、マスク15の開口15b,15cに通して断面成形した高速加工用のイオンビーム12を投射して試料31又は試料片50を加工する手順と、高速加工用のイオンビームに比較して加速電圧を下げ、加工後の試料31又は試料片50の観察面にイオンビーム12を投射して観察面のダメージ層を除去する手順とを実行可能である。 (もっと読む)


【課題】本発明は、試料セットの作業性に優れた透過測定用ホルダを提供することにある。
【解決手段】試料28を光透過測定する際に用いられる透過測定用ホルダ10において、該試料28を保持するためのホルダ本体12と、該ホルダ本体12に着脱自在に設けられ、該ホルダ本体12に取り付けられた状態で該試料28を該ホルダ本体12とで挟持する試料押さえ14と、該ホルダ本体12ないし該試料押さえ14に設けられ、該ホルダ本体12に対し該試料押さえ14を磁力で着脱自在とする固定手段16とを備え、該ホルダ本体12に対し該試料押さえ14を磁力で着脱自在とし、かつ該試料押さえ14の材質を、該ホルダ本体12に対し該試料押さえ14を着脱する際および該ホルダ本体12と該試料押さえ14とで該試料28を挟持する際に、変形しない材質としたことを特徴とする透過測定用ホルダ10。 (もっと読む)


【課題】 ミクロトーム等の薄切装置によって、試料を常温で簡単に且つ均一な所定の厚さに高精度な平滑面を形成しながら迅速に薄切することのできる試料保持部材及び薄切方法の提供。
【解決手段】 ショアA硬度75以上の有機弾性重合体から作製した薄切する試料を収容・保持するためのセル、或いはショアD硬度30以上のエチレン系重合体又は四弗化エチレン系重合体から作製した薄切する試料を収容・保持するためのセル、当該セルを用いて試料を薄切する方法、薄切した試料を観察、分析して、試料に係る二次元及び/又は三次元の情報を取得する方法。 (もっと読む)


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