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Fターム[2G052EC05]の内容

サンプリング、試料調製 (40,385) | 切断、切削、研磨、薄片化 (1,238) | 手段 (984) | ミクロトーム (189) | 駆動部(例;構造、運動) (19)

Fターム[2G052EC05]に分類される特許

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【課題】試料ブロックの面合わせをより一層正確に行うことができる薄切片試料作製装置を提供する。
【解決手段】カッターを備える試料ブロック切削部と、試料ブロックのXY直交2軸方向に対する傾斜角度及びZ軸方向の高さ位置を調整可能に構成され試料ブロックをX軸方向に搬送する試料ブロック搬送部と、試料ブロックの高さ位置を検出する高さ検出部と、高さ検出部の検出情報に基づいて試料ブロックの傾斜角度及び高さ位置を調整する制御部とを備え、高さ検出部は、試料ブロックの表層部分に対して互いに異なる3つの測定点に接触して当該3つの測定点の高さ位置を検出可能な3つの接触式センサを備える。 (もっと読む)


【課題】試料の切片を作成するためのミクロトームまたは他の組織試料裁断装置に関し、特に、いくつかの実施態様は試料表面の配向を感知する表面配向センサを備えたミクロトームまたは他の組織試料裁断装置を提供する。
【解決手段】試料裁断装置は切断機構、試料保持容器、駆動システムおよび表面配向センサを含む。試料保持容器は試料を保持するよう作動可能である。切断機構は試料から切片を切断するよう作動可能である。駆動システムは試料保持容器と結合させる。駆動システムは試料保持容器に保持された試料と切断機構間の移動を駆動するよう作動可能である。表面配向センサは試料保持容器に保持された試料の表面の配向を感知するよう作動可能である。 (もっと読む)


【課題】冷媒用配管及び電気配線が邪魔にならないようにして確実に清掃及びその他の作業を行えるようにしたミクロトームを提供する。
【解決手段】試料を保持するヘッド32と、ヘッド32を配向させる配向機構50と、配向機構50の背面側に設けられた本体部42と、本体部42とヘッド32とを連結する筒状の連結部41と、ヘッド32内の温度調整装置34と、温度調整装置34の冷媒用配管40及び電気配線46とを具備し、配向機構50は、ヘッド背面側と連結して外周部が球面状の球状部材68と、球状部材68の外周部を球面に沿って摺動可能に保持する保持部70,71とを有し、球状部材68には、連結部41の中空部43と連通する貫通穴74が形成され、冷媒用配管40及び電気配線46は、球状部材68の貫通穴74と連結部41の中空部43を通ってヘッド32内部の温度調整装置34に接続されている。 (もっと読む)


【課題】できるだけコアチューブに対してその軸線方向から推進力を加えることができるようにして、コアの採取状態を良好にすること。
【解決手段】コアチューブ2の先端に付いたビット2aに対して回転力と下方への推進力を伝達することによってコアチューブ2内に地質調査用のコアを採取するホーリング方法において、コアチューブ2に連結するロッド2bをその軸線方向に昇降自在に且つその軸線とは直交する方向に移動不能に支持した上で、ロッド2bの側面からロッド2bに対して回転力を与えると共に、下方への推進力となる荷重をロッド2bに対してその軸線方向に与えることを特徴とするボーリング方法。 (もっと読む)


【課題】切断刃の刃先の走行面と包埋ブロックの表層との相対位置を正確、かつ迅速に調整することで、良好な薄切片を取り出すことができるとともに、切断刃の空振り時間を短縮して作業効率を向上させることができる自動薄切装置を提供する。
【解決手段】センサ20は、移動手段によりステージ12がZ方向に移動し、包埋ブロックBがレーザ光Lを遮蔽して、受光部22がレーザ光Lを受光しなくなったときに、包埋ブロックBの表面の位置を検出し、投光部21と包埋ブロックBとの間には、投光部21から出射されたレーザ光Lのビーム径を絞るビーム絞り25が配置されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】薄切後の切断刃から切削屑を取り除くことができ、切削屑の影響のない切断刃で包埋ブロックの薄切を自動で行うこと。
【解決手段】生体試料が包埋された包埋ブロックを薄切する装置であって、一端側が刃先8aとされた切断刃8と、刃先を外側に露出させた状態で切断刃を固定するホルダ10と、包埋ブロックとホルダとを相対的に移動させ、固定した切断刃により包埋ブロックを薄切する移動機構と、切断刃に対して平行に配置されたブラシ160、161と、ブラシを薄切後の切断刃の刀身に押し当てた後、基端側から刃先とされた一端側に向けて摺動させ、薄切時に生じた切削屑を払い落とすブラシ駆動機構162、163と、を備えている自動薄切装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】固形試料を容易に固形試料保持体に固定することができる二次イオン質量分析の固形試料保持方法を提供する。
【解決手段】本発明は、脆い固形試料を二次イオン質量分析装置で再現性よく正確に測定するために、固形試料を容易に固形試料保持体に固定することができる二次イオン質量分析の固形試料保持方法を提供するものである。本発明の二次イオン質量分析の固形試料保持方法は、上面に交互に並んだ凸部及び凹部を複数有しかつ可塑性を有する金属塊の複数の前記凸部の上に配置した固形試料に、前記固形試料の上に配置した板を介して上から力を加えることにより、前記金属塊を塑性変形させ、前記固形試料の上面と前記金属塊の上面とを同じ高さにし、かつ前記固形試料を前記金属塊に固定する工程を備え、前記固形試料の底面と接触した前記金属塊及びその下部の前記金属塊が前記凹部に向かって塑性変形することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】包埋ブロックを薄切して薄切片を作製しつつ、作製した薄切片を伸張させて確実に搬送することが可能な薄切片作製装置、及び、薄切片の搬送方法を提供する。
【解決手段】薄切片作製装置1は、包埋ブロックBを薄切するカッター3と、包埋ブロックBを固定する試料台2と、試料台2をカッター3に対して所定の送り方向Xに相対移動させて、カッター3によって包埋ブロックBを薄切させる送り手段4と、カッター3の上方からカッター3の切れ刃3a後方に向かって配設されて、包埋ブロックBから薄切された薄切片B1を搬送する搬送ベルト20と、カッター3の切れ刃3aの前方に配置され、薄切される包埋ブロックBの切削面B2上に、切れ刃3aに向かう方向で、かつ、該切れ刃3aから離間した位置で、圧縮気体を吹き付け可能な送気手段4を備える。 (もっと読む)


【課題】
磁気微粒子とSQUID磁気センサーを用いて、微量な磁気微粒子を磁気的方法により3次元的に、高感度に効率的に検出可能な微量磁性微粒子計測技術を提供する。
【解決手段】
前記複数の円盤型試料ホルダーは前記円盤型試料ホルダーの回転により順次前記磁気シールドの外部から内部に挿入されるよう構成され、かつ、前記磁化手段は前記標準化検体を前記磁気シールドの外部で磁化し、前記磁気センサーは磁化された前記標準化検体から発生する磁場を前記磁気シールドの内部で検出し、前記磁場の検出と前記磁化とが並行して実行され、前記検体を連続的に切削し、切削前後に前記磁気センサーで、磁化された前記標準化検体から発生する磁場を計測するよう構成する。 (もっと読む)


【課題】試料ブロックを一旦切削台から取り外しても、所定の厚さの薄切片を切削面から連続して採取することができる自動薄切装置及び自動薄切方法を提供すること。
【解決手段】試料が包埋された試料ブロックBから薄切片を切削するナイフ(切削部)2と、試料ブロックBを載置して試料ブロックBを水平面に対して傾斜させる切削台5と、切削台5に指示して水平面に対する試料ブロックBの傾斜角を制御する傾斜角制御部6と、ナイフ2と切削台5とを相対移動させるX軸ガイドレール(移動部)7と、切削された試料ブロックBの切削面P上の点の座標位置を測定する測定部8と、切削面P上の互いに交差する二以上の直線上に位置する少なくとも三点の座標位置の測定値から、予め記憶された仮想平面に対する切削面Pの相対位置を算出し、切削面Pを仮想平面に一致させるように傾斜角制御部6を制御する演算部10と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】薄切片試料を自動的且つ連続的に作製可能にするとともに、薄切片試料に求められる精度を維持しつつ、作業者の負担を軽減することができる薄切片試料作製方法及び装置を提供する。
【解決手段】試料ブロック搬送部とカッターとを相対的に移動させることにより薄切片試料を作製し、試料ブロックの切断表面が薄切可能位置に位置するように試料ブロックの高さ位置を調整させる薄切り動作を連続して行う際に、予め設定された回数の薄切り動作が完了する毎に、高さ位置調整後の試料ブロックに最初に当接するカッターの刃先の当接領域が逐次変更されるようにカッターを移動させたのち、変更後のカッターの刃先の高さ位置を検出部により測定し、検出部の測定情報に基づいて、上記薄切可能位置を補正して、上記薄切り動作を再開する。 (もっと読む)


【課題】薄切片を液面に浮かべた際に気泡が混入するおそれが少なく、また、仮に気泡が混入した場合であっても、これらの気泡を速やかに除去する。
【解決手段】包埋ブロックBを薄切して作製された薄切片Sを、搬送方向Xに延びる縦糸28及び縦糸に対して直交する方向に延びる横糸を有する搬送ベルト23の上面に載置して液槽9まで搬送する。搬送ベルトの薄切片を載置する箇所23aは、縦糸のみから構成されている。 (もっと読む)


【課題】レバー装置の操作の際に、実質的に反対の2つの方向で送りが可能であるように構成する。
【解決手段】レバー装置(10)は第1のレバー(11)と第2のレバー(12)を有する。第1のレバー(11)は第1の軸(13)に回転可能に支承され、操作可能である。第2のレバー(12)は、第2の軸(14)に回転可能に支承されている。第1の軸(13)は第2の軸(14)に対して実質的に平行に配置されている。第1のレバー(11)は、2つの案内面(17,18)を有する。第2のレバー(12)は案内区間(20)を有し、案内区間(20)は2つの案内面(17,18)と共働し、第1の方向(23)での前記第1のレバー(11)の旋回が前記第2のレバー(12)を目標方向(25)に旋回させ、前記第1の方向(23)とは反対の方向(24)での前記第1のレバー(11)の旋回は前記第2のレバー(12)を同様に目標方向(25)に旋回させる。 (もっと読む)


【課題】試料ブロックの既切削面を傷つけるおそれが少なく、従前にセットした装置と異なる装置に試料ブロックをセットする場合であっても、試料ブロックの既切削面をナイフの仮想切削面に非接触状態でかつ容易に平行となるよう配置できる。
【解決手段】試料ブロックホルダ11に保持された試料ブロックBの切削面B2に平行光を照射する落射照明手段16と、落射照明手段から試料ブロックの切削面に平行光が照射された状態で、切削面を撮像する撮像手段17と、試料ブロックホルダの傾きを変えながら、その都度、撮像手段による切削面の画像情報から光強度の積分値を求め、その積分値が最も大なるときの試料ブロックホルダの傾きを決定する画像処理制御手段18と、光強度の積分値が最も大なるよう、画像処理制御手段によって決定された傾きに設定された試料ブロックに対してナイフ14を相対移動させて、薄切片を切削する切削手段15とを備える。 (もっと読む)


【課題】連続して稼動しても薄切片標本作製に失敗するおそれが少なく、しかも、人手を介在させることなく、複数の試料ブロックから連続して薄切片を切削する。
【解決手段】交換指令信号に基づき、切削台2に取り付けてある試料ブロック3を取り外し代わりに新たな試料ブロックを切削台に取り付ける試料ブロック着脱手段4と、切削台に取り付けた試料ブロックに対してナイフ5を相対移動させて所定厚さの薄切片を切削する切削手段7と、切削された薄切片を観察する観察手段10と、観察手段によって得られた観察データと予め入力された試料ブロック切断面データとを比較することにより薄切片の良否を判断し、薄切片を良と判断したときに試料ブロック着脱手段に、試料ブロックを交換させる旨の交換指令信号を発信する評価手段とを備える。 (もっと読む)


【課題】FIB加工とSEM観察の繰返しによる加工断面の奥行き方向のSEM観察において、加工断面の奥行き方向への移動に伴うSEM観察の観察視野ずれとフォーカスずれを容易に回避する。
【解決手段】イオンビームを試料の特定箇所に照射して加工・作製し、かつ、イオンビーム軸に対して斜め交差軸方向から電子ビームを照射して走査顕微鏡(SEM)画像により試料断面を観察する試料作製・観察方法において、所望の立体加工はステージ移動を利用して行い、所望の観察面はSEMからみて常に一定位置に保持されるようにして、SEMのフォーカスと観察視野を再調整することなく連続的に(あるいは繰返し)断面を観察し三次元解析する。 (もっと読む)


【課題】 標本ブロックから薄片を効率よく製造することができ、切断した薄片に皺が生じにくい薄片製造装置を提供すること。
【解決手段】 標本ブロックAを保持し、モータ14で駆動されて往復動する標本ホルダ6と、標本ホルダ6の前方に設置され、標本ホルダ6が往動した時、標本ブロックAを薄切りするミクロトームナイフ7とから成るミクロトーム装置1、ミクロトームナイフ7の刃先部前面にアルコール水溶液を噴霧する噴霧装置2、ミクロトームナイフ7の前下方に設置された液体槽3、ミクロトームナイフ7の刃先部と液体槽3との間に設けられ、ミクロトームナイフ7で薄切りされた薄片の連続体Cを液体槽3へ間欠的に移送する移送装置4、及び、液体槽3内に薄片が進入する端部から他端部に向けて流れる表層水流を発生させる水流発生装置を備える。 (もっと読む)


本発明は、カッタホルダ(1)の上に配置され、圧電素子(3)によって振動させることができる振動超ミクロトームカッタ(2)を備える保持装置に関する。前記カッタ(2)は、圧電素子(3)によって支持される。本発明による保持装置は、高い寸法精度で、容易に製造することができ、カッタブレード(21)を高い周波数で振動させることができる。
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本発明は、クリオスタット(5)のミクロトーム(4)のオブジェクトキャリア(3)に設けられたオブジェクト(2)のための温度調節装置(1)であって、オブジェクトキャリア(3)に配置された冷却装置または冷却/加熱装置(7)に通じる運転媒体供給部(6)と、温度制御部とが設けられている形式のものに関する。そのような温度調節装置(1)は、運転媒体供給部(6)がミクロトーム(4)での作業時に障害とならないように、かつ切断精度が可能な限り引き下げられないように形成されるべきである。このことは、運転媒体供給部(6)が、オブジェクトヘッド(11)の送り運動(9)および切断運動(10)のためのガイドキャリッジ(8)に配置されていて送り運動(9)の方向に対して平行に方向付けられているガイド(12)内に摺動可能に支承されて、オブジェクトヘッド(11)から導き出されていることにより達成される。
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