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Fターム[2G052FD06]の内容

サンプリング、試料調製 (40,385) | 上記以外の処理、加工技術 (1,047) | 薄膜の形成(例;コーティング、蒸着) (130)

Fターム[2G052FD06]に分類される特許

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【課題】走査型電子顕微鏡等を用いて化粧料の断面を観察する化粧料の断面観察方法に関し、所望する位置での断面観察を可能とした化粧料の断面観察方法を提供する。
【解決手段】サンプルホルダに化粧料を配設して試料を作成する試料作成工程S1と、この試料を凍結させる凍結工程S2と、凍結された試料を集束イオンビームにより加工し試料に切断面を形成する切断工程S3と、走査型電子顕微鏡を用いて切断面の切断面画像を生成する切断面画像処理工程S4とを有する。また凍結工程S2において凍結された試料を凍結環境を保ったままシールド処理し、凍結環境を保ったまま切断工程S3及び切断面画像処理工程S4を実施する。この際、支持台として、人工皮膚、樹脂テープ、又は皮膚のいずれかを用い、かつ、シールド処理では真空状態又は不活性ガスを充填したシールド部材に凍結された試料を配設する。 (もっと読む)


【課題】
一次電子による帯電を抑制し、観察標体から明瞭なエッジコントラストを得て、試料の表面形状を高精度に計測する。
【解決手段】
試料上のイオン液体を含む液状媒体が薄膜状または網膜状である観察標体を用いる。また、この観察標体を用いる電子顕微法において、試料上のイオン液体を含む液状媒体の膜厚を計測する工程と、前記イオン液体を含む液状媒体の膜厚に基づき一次電子の照射条件を制御する工程と、前記一次電子の照射条件で一次電子を照射し前記試料の形態を画像化する工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】皮膜付き鋼板などの試料の表面に生じたクラックをより適切に評価し得るクラック評価方法を提供する。
【解決手段】試料表面に発生したクラックを評価するクラック評価方法であって、上記試料表面に金属薄膜を成膜する工程と、走査電子顕微鏡(SEM)を用いて上記金属薄膜の反射電子像(BSE像)を取得する工程と、上記取得したBSE像に基いて上記クラックを評価する工程と、を備えるクラック評価方法。 (もっと読む)


【課題】軟質の合成樹脂からなる容器に収容された薬液の乾燥を防いで長期間保存できる保存装置及びそれを用いた薬液の保存方法を提供する。
【解決手段】保存装置は、密閉容器と、密閉容器内に収納される少なくとも1つの薬液収容容器と、密閉容器内に収納される加湿材とを備えている。加湿材は少なくとも水を内包する袋体により構成され、袋体は合成樹脂フィルムよりなる内層と不織布よりなる外層とを備えている。 (もっと読む)


【課題】 外場遮断後も試料状態が変化するため、外場遮断後に試料中のイオンの分布状態が短時間で変化する試料に適用することは困難であった。
【解決手段】 イオン化する物質を有する高分子材料の被測定部に厚みが10nm以下の金属膜を形成することで、前記イオンの運動を抑制した状態で、表面分析装置を用いて前記被測定部を測定する。 (もっと読む)


【課題】雪路面の深さ方向における状態を把握することが可能な、雪路面の密度測定用雪採取装置及びこれを用いた雪路面密度の測定方法を提供する。
【解決手段】雪採取装置10Aは筒状容器12を備え、筒状容器12は、外側筒体14と、3つの内側筒体16とで構成されている。内側筒体16は直線状に密接に並べられて外側筒体14に挿脱可能に嵌合されるように形成されている。筒状容器12を鉛直方向に向けた状態で筒状容器12を雪路面に挿入することにより、雪Sを内側筒体16の内側の空間に採取する。測定に適した状態の雪が得られる中間部に位置する内側筒体16内の雪が密度測定用に使用される。 (もっと読む)


【課題】超高圧透過型電子顕微鏡の試料室内で試料に対して外的負荷を与え、試料の変形挙動をその場で動的に観察するのに適した透過型電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供する。
【解決手段】透過型電子顕微鏡を用いて観察する試料の作製方法であって、試料材料を電解研磨または化学研磨し、孔と、孔の周囲に形成された薄膜領域とを有する研磨試料を調製する研磨工程と、研磨試料の薄膜領域の一部を除去して孔を円形孔に形成し、円形孔の周囲に観察対象領域を有する試料を調製する孔形状調整工程とを含むことを特徴とする、透過型電子顕微鏡観察用試料の作製方法である。 (もっと読む)


【課題】曲りおよびカーテニングを低減させまたは防ぐような方式でTEM試料を作製する方法および装置を提供すること。
【解決手段】本発明の好ましい実施形態は、試料を作製するプロセスの最中に、TEM試料の面に材料を付着させる。好ましいいくつかの実施形態では、反対側の面を薄くする前に、既に薄くした試料面に材料を付着させることができ、付着させた材料は、試料の構造的完全性を強化し、カーテニング現象のために薄くなりすぎたエリアを再び埋める役目を果たすことができる。好ましい実施形態では、ミリングしている面に材料を付着させることもでき、付着させた材料は、その試料面のカーテニングを低減または排除する役目を果たすことができる。 (もっと読む)


【課題】 微小検体を基台に移す際、静電気による吸着力、原子間力または分子間力等に打ち克って確実に基台上に固定する。
【解決手段】 上面11が親水性を有する基台10上に、開口部31を有する撥水膜30を形成する。加熱冷却ステージ20を冷却モードにして基台30を冷却すると開口部31内に水滴110が結露する。微小検体112を水滴110の近傍に移動すると、メニスカス力により微小検体112が水滴110に取り込まれる。この後は、加熱冷却ステージ20を加熱モードに切り換え、水滴110を揮発させると、水滴110の凝集力により微小検体112が基台1上に固定される。 (もっと読む)


【課題】粒子表面からコート層が剥がれ難く、粒子内部とコート層に損傷のない透過式の電子顕微鏡用薄片試料の作製方法と薄片試料の観察方法を提供する。
【解決手段】透過式の電子顕微鏡用薄片試料の作製方法は、コート層で被覆された複数の粒子をSiウェーハー上に載置し各コート層表面にカーボン蒸着膜を形成する第一工程と、集束イオンビーム(FIB)装置を用いて得られたSIM像から3つ連結した特定の連結粒子群を選択しかつFIB装置に装備されたデポジションシステムを用いて連結粒子群の周囲と粒子群間の隙間にタングステン保護膜を形成した後、FIB装置に装備されたマイクロプローブを用いてSiウェーハーから連結粒子群を抽出する第二工程と、抽出された連結粒子群を加工処理台に載置しかつFIB装置から弱いビーム電流条件でイオンビームを照射して連結粒子群の特定粒子に薄片加工処理を施す第三工程を具備することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】 観察対象物を構成する各材料を視覚的に区別できる光学顕微鏡観察用試料の製造方法を提供することを課題としている。
【解決手段】 光学顕微鏡によって観察対象物を観察するための観察用試料を製造する光学顕微鏡観察用試料の製造方法であって、複数種の構成材料を含む前記観察対象物の少なくとも1種の材料が変質する温度で前記観察対象物を加熱する加熱工程を実施することにより、前記観察用試料を製造する光学顕微鏡観察用試料の製造方法等を提供する。 (もっと読む)


【課題】採取した尿の検量。尿の採取後の不要になった容器の処理。(トイレ内の臭いや衛生面を保つための手段)使用時での片手による紙袋の保持。必要に応じての糖やタンパクの検出。
【解決手段】紙から成る使い捨ての簡易型であり使用時は片手で保持でき、使用後に便器に破棄できるためトイレ内の臭いや衛生面を保つことができ、尿の量や糖、タンパクの検出もできる簡易尿検査紙袋である。 (もっと読む)


【課題】 非導電性の物体の微細形状を、物体の形態を変化させることなく観察可能とすること
【解決手段】 観察する物体の表面に液晶を被覆した観察試料を電子顕微鏡内に配置し、前記観察試料を加熱することにより前記液晶の膜厚を変更するとともに、前記走査型電子顕微鏡により前記観察試料を観察する。これにより最適な液晶の膜厚における観察が可能となる。 (もっと読む)


【課題】集束イオンビームを利用する微細加工により、微細粒子の凝集体からなる膜の断面を、透過電子顕微鏡観察する目的の薄片化試料を作製する際、微細加工端面に露呈する微細粒子の剥落を防止でき、また、薄片化された部位の大気暴露を防止可能な、薄片化試料の作製方法を提供する。
【解決手段】微細粒子の凝集体からなる膜から抽出した試料片に対し、その二つの断面に集束イオンビームを利用する微細加工を施し、薄片化を行う工程中、各断面に微細加工を施した後、微細加工端面を被覆する、均質な材料からなる薄膜をそれぞれ形成する。形成される均質な材料からなる薄膜は、微細加工端面に露呈する微細粒子の剥落を防止し、また、微細加工端面の大気暴露を防止する、被覆膜として利用される。 (もっと読む)


【課題】構成の簡素化を図った上で、収容室内に吹き込まれた呼気の流出を容易、かつ確実に防ぐことができる。
【解決手段】収容凹部11、及び収容凹部11の開口縁から外方に向けて延びるフランジ部23を有するトレー体12と、フランジ部23に貼着され、収容凹部11を閉塞して収容凹部11との間に収容室を形成するフィルム材14と、を備え、フランジ部23には、フィルム材14との間を通して収容室13の内部と外部とを連通させる通路32が形成されるとともに、通路32を収容室13の内部と外部とに分断させるように折り曲げ可能な折り曲げ部34が形成されていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】透過型電子顕微鏡用試料において薄片化を行う場合、崩れの制御を容易とする。
【解決手段】透過型電子顕微鏡用試料は、試料本体4aと薄膜部11と保護膜8とを具備する。薄膜部11は試料本体4aから第1の向きに伸び、試料本体4aより薄い。保護膜8は試料本体4a及び薄膜部11の上側の表面に連続的に設けられ、試料本体4a及び薄膜部11の主材料より固い。薄膜部11は、保護膜8の下側に接した極薄膜部12と、極薄膜部12の下側に接した残余部11aとを備える。極薄膜部12は残余部11aより薄い。極薄膜部12は保護膜8と接する部分を第1の辺とする三角形又は四角形の薄片形状を有している。極薄膜部12は、第1の辺に交わり外側に露出した第2の辺と、第2の辺に交わり残余部11aと結合する第3の辺とが成す角が、0°より大きく180°より小さい。 (もっと読む)


【課題】 試料片を保持している試料支持体からの反射電子や散乱電子が試料片に当たり難くする試料保持方法を提供する。
【解決手段】 試料素材1に集束イオンビーム2を照射して試料片4を切り出す工程と、切り出された試料片4をマニピュレータの先端部に取付けられたプローブ5の先端部に付着させ、ピックアップする工程と、試料素材1に換えて電子顕微鏡用試料ホルダーにセットされる試料支持部材7を集束イオンビーム装置の試料載置台にセットする工程と、プローブ5の先端部に付着された試料片4が試料支持部材7から離れた空間部に位置して、プローブ5の一部が試料支持部材7に接触する様にプローブ5を移動させる工程と、その接触部でプローブ5の一部を試料支持部材7に付着させる工程と、及び、その接触部よりプローブ5の根元側の部分を切断する工程から成る。 (もっと読む)


【課題】
電子顕微鏡に代表される荷電粒子を利用する観察系を有するサンプリング装置において、微小物体を確実にサンプリングする手段を提供することを目的とする。
【解決手段】
前記目的を達成するために本発明は、微小物体試料を載せる基板と、前記微小物体試料を移動させるプローブと、前記微小物体試料を帯電させる電子線照射手段とを備えるサンプリング装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】雰囲気制御装置を必要とせず、大気中で酸化や窒化の影響を受けないクリープ試験方法をクリープ試験機で行うために試験体を固定する固定具を提供すること。
【解決手段】クリープ試験機によりクリープ試験する試験体を固定する固定具に、クリープの変位量を測定する変位量測定器に変位を伝達するための冶具を取り付けるための鍔を設けることにより、鍔を試験体に設けることによって生じる、鍔部への応力集中による破断、試験体のゲージ平行部での破断の妨害を防ぐことができ、クリープ試験において、試験体のクリープ応力を正確に評価することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】有機単分子膜を特殊な分析装置を使用することなく可視化する技術を提供する。
【解決手段】イオン性液体を300nm〜700μmスケールで微細構造化した有機単分子膜被覆表面にスピンキャストし、光学顕微鏡あるいはレーザ顕微鏡を用いて観察することを特徴とする微細構造化した有機単分子膜の可視化方法、イオン性液体が、水や有機溶剤で溶解/除去できるものである、前記の微細構造化した有機単分子膜の可視化方法。
【効果】有機単分子膜にダメージを与えることなく、レーザ顕微鏡観察などにより、広範囲で可視化することが可能である。 (もっと読む)


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