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Fターム[2G052GA18]の内容

サンプリング、試料調製 (40,385) | 分析方法、装置 (3,239) | 放射線、粒子線によるもの (214)

Fターム[2G052GA18]の下位に属するFターム

X線分析 (150)

Fターム[2G052GA18]に分類される特許

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【課題】 分析領域の特定を簡便に行うと共に正確な分析を行うことが可能な、2次イオン質量分析方法を提供することにある。
【解決手段】 試料22の分析領域30の近傍に溝40を作成した後、試料断面を出してその切断面50を分析対象面とし、切断面50に表出した溝40を目印として分析を行い、分析領域30を特定する。 (もっと読む)


【課題】基材表面に存在する揮発性有機化合物の検出方法を提供する。
【解決手段】基材表面に存在する揮発性有機化合物の検出方法であって、
(1)該化合物と揮発性の修飾試薬とを反応させ、該化合物を不揮発化する工程、及び
(2)飛行時間型二次イオン質量分析計(TOF-SIMS)により基材表面を測定し、該化合物を検出する工程、
を有する、検出方法。 (もっと読む)


【課題】
相対湿度の変動による影響を排除して測定精度の向上を実現する浮遊粒子状物質測定装置を提供する。
【解決手段】
湿度センサ50により検出ユニット20内の試料大気ガスの湿度を測定し、ヒータユニット32による試料大気ガスの加温、または、冷却ユニット33による試料大気ガスの冷却を必要時に行って試料大気ガスの湿度を一定となるように制御し、相対湿度の変動による影響を排除して測定精度の向上を実現するような浮遊粒子状物質測定装置とした。 (もっと読む)


有害物質、例えば化学的作用物質、生物学的作用物質および放射線学的作用物質の調査方法を提供する。前記方法は標本領域から収集された物質から得られた試料について、化学的作用物質、生物学的作用物質または放射線学的作用物質の存在を分析することを含む。前記標本領域は少なくとも1つの収集地点を含み、そこから前記物質を調査に無関係な、既存の操作において収集する。 (もっと読む)


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