【課題】樹脂に含まれる母材を除去して測定対象の元素を濃縮することにより、樹脂に含まれる金属元素の検出感度を向上させることができる蛍光Ｘ線分析方法を提供する。
【解決手段】樹脂試料に酸化剤を加えて加熱する等の方法により樹脂試料を灰化し、灰化した試料の蛍光Ｘ線分析を行う。又は、樹脂試料を硫酸等の酸で溶解し、樹脂試料を溶解した溶液を蒸発させ、蒸発後に残った残渣の蛍光Ｘ線分析を行う。Ｘ線を散乱して蛍光Ｘ線分析におけるバックグラウンドの原因となる樹脂試料の母材を構成するＣ，Ｈ等、及びＸ線を吸収して蛍光Ｘ線を減衰させるＣｌ，Ｂｒ等が試料中から低減され、金属元素に起因する蛍光Ｘ線の強度がバックグラウンドに比べて相対的に増大し、樹脂試料中に含まれる金属元素を検出する感度が向上する。 （もっと読む）

【課題】簡単な前処理だけで固体試料に含まれる元素の高感度な定性分析又は高精度な定量分析を可能とする蛍光Ｘ線分析方法を提供する。
【解決手段】粉末試料等の固体試料を秤量し、秤量した固体試料を酸等の液体に溶解して溶液化し、溶液中の固体試料の濃度を調整した溶液化試料の蛍光Ｘ線分析を行い、検量線を用いて溶液化試料中の分析対象の元素の濃度を求め、固体試料中の分析対象の元素の濃度に換算する。溶液中で固体試料が希釈されることにより、固体試料の主成分又は母材の影響が低下し、ガラスビード法と同様の効果で高精度に元素の定量を行うことができる。また溶液中に完全には溶解しない元素についても、沈殿物を分散させた溶液、濾過した沈殿物又は溶液中に沈降した沈殿物の蛍光Ｘ線分析を行うことにより、簡易的に分析することが可能となる。 （もっと読む）

【課題】作業効率を悪化させることなく、試料を精度よく分析することが可能な試料ホルダ、試料ホルダに試料を固定する固定方法、及び試料ホルダに固定された試料の分析方法を提供する。
【解決手段】
試料ホルダ２０を、試料１０が載置される試料台３と、この試料台の試料が載置される側に設けられた導電性を有する網目状の電極ネット６と、この電極ネットを試料台に接離可能とする接離手段１，４と、を有する構成とし、この試料ホルダ２０を用いて、接離手段１，４によって電極ネットを試料台に接近させて電極ネットと試料台とで試料を挟持して固定する。
また、上記挟持された試料を電極ネット６の網目開口部を介して分析を行う。 （もっと読む）

【課題】化学反応により生成した結晶を、容易にかつ効率良く採取することができるキット及び方法の提供。
【解決手段】反応容器に挿脱自在な、かつ上部に磁石を備えた棒状磁性体と、当該棒状磁性体が挿通自在の貫通穴を備えた非磁性板状体と、当該貫通穴の径より大きな径を有し、かつ反応液中に投入される磁石とから成る結晶採取キット；反応液中に磁石を投入するステップと、当該磁石を取り出すことなく結晶化せしめるステップと、結晶が付着形成された磁石を反応容器から取り出すステップとを有する結晶採取方法。 （もっと読む）

【課題】微量の液体試料を所定の部位に精度よく試料点滴基板上に点滴乾燥させている全反射蛍光Ｘ線分析用試料点滴基板および全反射蛍光Ｘ線分析装置ならびに全反射蛍光Ｘ線分析方法を提供し、液体試料の全反射蛍光Ｘ線分析の感度と精度を向上させることを目的とする。
【解決手段】液体試料を点滴乾燥させるための試料点滴基板であって、表面が疎水性であり、鏡面研磨の平面度を有する平面基板１５Ｋと、平面基板１５Ｋの表面の所定の部位に、合成樹脂を溶剤にて所定の濃度に溶解された合成樹脂溶液４０の所定量を点滴乾燥された合成樹脂点滴乾燥痕４１とを有する全反射蛍光Ｘ線分析用試料点滴基板１５。この全反射蛍光Ｘ線分析用試料点滴基板１５の合成樹脂点滴乾燥痕４１に試料溶液７０を点滴乾燥させて全反射蛍光Ｘ線分析を行う全反射蛍光Ｘ線分析装置およびその方法。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、溶融物、及び／又は液体の扱いを単純にして、更に正確な分析を可能にするために、既存の装置を改良することである。
【解決手段】浸漬キャリアを有する、液体、又は溶融物の分析のための本発明による浸漬センサは、試料チャンバの中に配置された溶融物を測定するためのセンサを定め、浸漬キャリアは、中に配置された注入口開口部を有する試料チャンバを有する。液体、又は溶融物は、ガラス、又は金属溶融物を、特に、アルミニウム、又は鉄溶融物を含むことが好ましい。センサは、試料チャンバの中の予め決定された点に向けて配向される。分析は、この点で行われる。分析される液体、又は溶融物はこの点に供給されるので、自由表面がセンサの測定領域に位置する。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、簡便に粉砕した熱可塑性の廃プラスチックに含まれる有害物質含有量の測定を行い、粉砕した熱可塑性の廃プラスチックの有害物質含有量基準が存在するプラスチック製品への再利用方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 本発明は、粉砕した熱可塑性の廃プラスチック中に含まれる微量成分の測定方法であり、
・粉砕した廃プラスチックを均質化する工程（ｂ）、
・均質化した粉砕廃プラスチックより一部を抜き出し、加熱溶融混練して固形粒状物に変換する工程（ｃ）、
・固形粒状物より一部を抜き出し、固形粒状物に含まれる微量成分を分析する工程（ｅ１）、
を有することを特徴とする廃プラスチック中に含まれる微量成分の測定方法である。 （もっと読む）

【課題】種々の形状の試料に対応した試料ホルダにより、試料より発生する蛍光Ｘ線の強度が最大になるようにＸ線源からの一次Ｘ線の照射位置を自動調整し、常に短時間で高感度、高精度の分析が行える斜入射蛍光Ｘ線分析装置を提供する。
【解決手段】環状の側部１１および底部１３を有する本体１８と、試料載置台１４と、試料載置台１４を支持し、その高さを調整する少なくとも３個の高さ調整具１５を有する試料ホルダ１と、試料ホルダの当接面１０４をセラミックスボール４７に押圧する押圧手段４０と、検出器３７が測定する試料Ｓより発生する蛍光Ｘ線３６の強度に基づき、Ｘ線管位置調整手段５５、分光素子位置調整手段５７および分光素子角度調整手段５８を制御する制御手段５６とを備え、試料Ｓより発生する蛍光Ｘ線３６の強度が最大になるようにＸ線源３からの一次Ｘ線３４の試料Ｓへの照射位置を自動調整する斜入射蛍光Ｘ線分析装置。 （もっと読む）

【課題】分析用の薄膜試料切断器を提供し、薄膜試料の切り取りの作業性を向上させるとともに、薄膜試料の分析精度を向上させることを目的とする。
【解決手段】分析用の薄膜試料Ｓを円形に切断するための薄膜試料切断器であって、円筒状で、薄膜試料Ｓに押圧される輪状の下端面２２を有する押圧部２と、押圧部２と同心の円柱状または円筒状で軸心回りに回転自在に押圧部２に収納され、下方に突出する複数の刃３４を周方向に均等に有している回転部３と、押圧部の上部２１を貫通して突出する回転部の上部３３に固定される把持部４１とを備え、薄膜試料Ｓを円形に切断する。 （もっと読む）

【課題】半導体製造プロセスへの金属汚染の拡散を最小限度に抑制し歩留まりを向上させることができる荷電粒子線加工装置を提供する。
【解決手段】真空容器１０に接続され非金属イオン種のイオンビーム１１を試料３５に照射するイオンビームカラム１と、イオンビーム１１により試料３５から切り出されたマイクロサンプル４３を摘出するプローブ１６を有するマイクロサンプリングユニット３と、マイクロサンプル４３とプローブ１６とを接着するガスを流出させるガス銃２と、イオンビームカラム１が接続されたと同一の真空容器１１に接続され汚染計測用ビーム１３をイオンビームカラム１によるイオンビーム照射跡に照射する汚染計測用ビームカラム６Ａと、汚染計測用ビーム１３を照射した際にイオンビームカラム１によるイオンビーム照射跡から放出される特性Ｘ線を検出する検出器７とを備えたことを特徴とする荷電粒子線加工装置。 （もっと読む）

本発明は、１つ以上の化合物が濃度勾配に従って存在する溶液を含む１つ以上の結晶化チャンバを備えるマイクロ流体デバイスに関する。結晶化チャンバの形状によって、対流現象が制限される。また、本発明は、このデバイスの使用、詳細には液液拡散による結晶化における使用と、結晶化の方法とに関する。
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病的状態にある被検体から採取したケラチンサンプル中の異常成分を検出する方法であって、
ａ）ケラチンサンプルを膨潤物質に曝し、当該ケラチンサンプルに浸透させることにより誘導化学材料を得る工程、
ｂ）誘導化学材料からデータを得る工程、
ｃ）誘導化学材料から得たデータを参照データベースに含まれている第２のデータ群と比較し、ケラチンサンプル中の異常成分を特定する工程
を含み、異常成分の検出と被検体の病的状態の存在とが一致する方法。
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【課題】窪みの中にある微小な試料を採取することができる試料摘出装置を提供する。
【解決手段】試料摘出装置は、プレートに形成されたノズル孔の中に詰まった微小異物を取り出すために用いられる。試料摘出装置は、プレートを載置固定する載置台と、プレートなどを観察する実体顕微鏡と、ノズル孔の中の微小異物を観察するマイクロスコープ３４と、マイクロスコープ３４の先端に取り付けられた微小異物を取り出す採取針３２と、マイクロスコープ３４が接続され採取針３２を移動させる第１マニピュレータとを有する。マイクロスコープ３４の先端に採取針３２が取り付けられていることにより、ノズル孔の中の微小異物を観察しながら取り出すことが可能となる。 （もっと読む）

【課題】アスベスト含有率などの分析用の試料を作成する際のアスベストの飛散を防止可能なアスベスト試料作成容器及びアスベスト試料作成装置を提供する。
【解決手段】試料と鋼球７とを密閉して収容できるボールミル２と、その粉砕した試料３５と鋼球７とを収容した第２の凹部材６の第２の開口９と蓋体１２の供給口１９とを合わせて接続し、内部空間２４に粉砕した試料３５と鋼球７とを収容し、更に網状部材１４によりふるい分けして、その網状部材１４を通過した粉砕した試料３５を排出口２５から排出できるアスベスト試料作成容器３と、当該排出口２５に密閉して連通できる第３の開口３０を備えた捕集容器４とを具備することとした。 （もっと読む）

【課題】分析試料の膜に与えるダメージを少なくして分析可能な試料を形成することができる分析試料の形成方法を提供する。
【解決手段】分析試料の形成方法は、まず、基板１２上に形成された膜１３のうち膜剥がれが発生した第１膜１３ａと基板１２との間にある異物１４を分析するべく、第１膜１３ａの周囲を、収束イオンビーム加工装置（ＦＩＢ）１５によってカットする。次に、第１膜１３ａにカーボンテープを貼り付けて、カーボンテープを引き上げることにより、第１膜１３ａと第２膜１３ｂとを分離して、第１膜１３ａのみを基板１２上から取り除く。これにより、異物１４の付着した第１膜１３ａの面と基板１２の部分が露出する。 （もっと読む）

【課題】多層薄膜が表面に形成された試料に対して、試料調整を行わず、同一元素が複数の層に含まれていても多層薄膜標準試料を用いず、試料の各層の組成と膜厚を算出する分析方法および装置を提供すること。
【解決手段】試料にレーザビームを照射するレーザ照射手段と、試料をサンプリング範囲内に移動させる移動手段と、レーザビームの作用により試料から発する物質を捕集するサンプリング手段と、レーザビームの作用により削られた深さを測定する深さ測定手段と、サンプリング範囲毎に捕集された物質の組成を分析して試料の各層の組成と膜厚を算出する分析手段とを用いる。 （もっと読む）

【課題】微少量の試料であってもＸ線回折測定に用いることが可能な測定用基板を提供することを目的とする。
【解決手段】Ｘ線回折測定用シリコン基板であって、前記基板内に凹形状部分を１以上有し、前記凹形状部分の底の基板厚みが、０．１〜１００μｍの範囲であり、前記凹形状部分を除く前記基板の厚みが、２８０〜１０００μｍの範囲である基板である。 （もっと読む）

【課題】アスベスト製品等の試料を粉砕等の調整処理作業を行うに際し、各種試料の調整処理をコンタミを防止して連続的に行うと共に、衛生的に行うことができる処理装置を提供する。
【解決手段】テーブル３を有して気密状態に形成される試料処理室９を、開閉自在な仕切壁１０によって補助処理室１１と調整処理室１２とに区画し、補助処理室１１に内扉２２と外扉２１を有して試料を出し入れする試料室１３を設けると共に、調整処理室１２に上記試料室１３に供給される試料を粉砕等の調整作業を行う調整作業部を設けた構成にしている。 （もっと読む）

【課題】基材上のメッキ膜中の検査対象元素の有無の判定や定量を可能にする標準メッキ膜試料およびこの試料を用いた新規なメッキ膜の検査技術を提供する。
【解決手段】プラスチック基材上にメッキ膜を形成した後、このメッキ膜に対し化学的および物理的損傷を実質的に与えない方法でプラスチック基材を除去して標準メッキ膜試料を得る。この標準メッキ膜試料から求めた検査対象元素の濃度と、標準メッキ膜試料から蛍光Ｘ線分析法により求めた検査対象元素の特性Ｘ線強度とから、標準メッキ膜試料中の検査対象元素の濃度と特性Ｘ線強度との関係を求め、基体上メッキ膜中の検査対象元素についての特性Ｘ線強度から、この関係を用いて、基体上メッキ膜中の検査対象元素の濃度を求める。 （もっと読む）

【課題】ＰＣ管等の鉄筋コンクリート管のサンプルコアを管内側から採取する管劣化サンプラーである。
【解決手段】管劣化サンプラー１００は、４つの突起１０７ａ〜１０７ｄを有し、突起を鉄筋コンクリート管の内壁に当接することによって中心軸線が管の内径線上に位置される基台１０２と、基台の中心軸線上に固定された支柱１０３と、支柱の軸線方向に進退自在なパッド１０９と、支柱の軸線方向に移動自在に設けられた昇降ブロック１０４と、昇降ブロックに対し前記中心軸線を通る管の長手方向線上で移動自在に設けられたブラケット１０５とを備え、ブラケットにコアドリル１０６が着脱自在に装着される。 （もっと読む）