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Fターム[2G052GA19]の内容

サンプリング、試料調製 (40,385) | 分析方法、装置 (3,239) | 放射線、粒子線によるもの (214) | X線分析 (150)

Fターム[2G052GA19]に分類される特許

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【課題】蛍光X線分析法による成分定量において分析精度を向上できる試料の予備成形方法およびそれを用いる成分定量方法を提供することを目的とする。
【解決手段】加圧して本成形した後で蛍光X線分析法に用いられる試料を予備成形する方法であって、平均粒径D50が30μm以下の金属または合金粉末を型に充填して成形し、この成形体5のX線が照射される面5aの全面を押込み率を10〜40%にして加圧することを特徴とする試料の予備成形方法である。本発明の予備成形方法は、成形体5のX線が照射される面5aの全面を押込み率を10〜40%にして加圧する際に、成形体5のX線が照射される面の全面を加圧するパンチ4と、このパンチ4を案内するガイド3とを用いるのが好ましく、金属または合金粉末として、希土類−鉄−ホウ素系合金の酸化物粉末を用いるのが好ましい。 (もっと読む)


【課題】 Crを含有する金属材料から蒸発するCrを簡易的に評価するためのCr蒸発試験方法を提供する。
【解決手段】 Crを含有する金属材料から蒸発するCrを評価するCr蒸発試験方法であって、前記Crを含有する金属材料でなる試験片を加熱して、前記試験片から蒸発するCrをMgOに蒸着させた後、前記MgOに蒸着したCrを検出して、蒸着したCrの有無、或いは/更に、Cr量を測定するCr蒸発試験方法である。前記MgOは、少なくともCr蒸着面にMgOを有する板材であり、前記試験片は板材であることが好ましく、更に好ましくは、前記MgOは、MgOで成るセラミックス板材とすると良い。 (もっと読む)


【課題】土砂状を呈する試料中における微細なアスベスト繊維を比較的簡易な手法で分析する。
【解決手段】土砂状を呈する試料を水中に懸濁させて懸濁液を調製する懸濁液調製工程と、懸濁液から篩い分級により粗粒分を分離除去する粗粒分分離工程と、懸濁液中の細粒分から分析対象の粒径以下の微細粒子成分を沈降分離によって分級して該微細粒子成分を含む懸濁液を採取する微細粒子成分採取工程と、懸濁液に含まれる微細粒子成分を顕微鏡により観察することにより分析対象の粒径以下の微細なアスベスト繊維の有無を判定する判定工程とを有する。粗粒分分離工程の後段で有機物分解工程を実施し、微細粒子成分採取工程の前段で細粒分を分散させる分散工程を実施し、X線回折装置によるX線分析工程による判定を行うことも好ましい。 (もっと読む)


【課題】タンパク質結晶に損傷を与えることなく、かつ、簡便に、X線回折実験に適用するためのタンパク質結晶試料の調製方法を提供する。
【解決手段】タンパク質及びゲル化剤を含む溶液をイオン架橋形成溶液に加えて、タンパク質溶液を内包したイオン架橋ゲルカプセルを形成させる工程を含む、タンパク質結晶化用カプセルの製造方法。 (もっと読む)


【課題】極めて容易に短時間で軟質合金の分析用試料を作製することを可能とする。
【解決手段】成型容器1に入れられた軟質合金2を表面3Aが鏡面仕上げされた成型部材3の表面3Aに接した状態で加圧成型することにより、軟質合金2の分析用試料2を作製する。成型部材1は、表面の凹凸が1μm以下に鏡面仕上げされている。軟質合金2を加圧成型する際の加圧力が、60kg重/cm2以上である。軟質合金2は、展性を有する金属材料である。 (もっと読む)


【課題】樹脂用X線造影剤、当該樹脂用X線造影剤を用いて樹脂成形体の内部構造の変化を検出する方法、及び当該樹脂用X線造影剤を用いて樹脂成形体の内部構造を決定する方法を提供する。
【解決手段】特定の炭化水素系化合物を樹脂用X線造影剤として用いる。樹脂用X線造影剤とは、樹脂成形体に浸透させて、上記樹脂成形体の内部構造を分析するための樹脂用X線造影剤であり、上記樹脂成形体を構成する樹脂の質量吸収係数よりも高い質量吸収係数を有する、炭化水素系化合物から構成される。ハロゲン系炭化水素化合物を樹脂用X線造影剤として使用することが好ましい。 (もっと読む)


【課題】試料棒と低温ガス吹付方向とが鋭角になる場合があるX線分析装置において試料に霜が付着する現象を解消する試料冷却装置を提供する。
【解決手段】試料棒23によって支持された試料Sをω軸線を中心として回転させ、試料SにX線を照射し、試料Sから出るX線をX線検出器11によって検出するX線分析装置1に用いられる試料冷却装置5である。試料Sに冷却ガスを吹付けるノズル26と、試料Sを通過したガスを開口34を通して吸引するガス吸引装置28とを有する。試料棒23はω軸線を中心として回転するときに試料Sを頂点とする円錐面を形成するように移動し、ノズル26は試料棒23とノズル26のガス吹付方向とが90度以下の鋭角になることがあるように設けられている。ガス吸引装置28は、試料棒23とノズル26のガス吹付方向Dとが鋭角を成すときに、試料棒23に当ったガスをその流路を曲げるように吸引する。 (もっと読む)


【課題】
ディスクブレーキやドラムブレーキに使用される摩擦材において、摩擦材内部の気孔の状態や亀裂による空隙の有無を迅速、正確、且つ容易に観察することができる摩擦材の分析方法を提供すること。
【解決手段】
摩擦材の成分に含まれず、且つX線に対する感度の高い元素である塩素を含む物質を含浸させ、X線分析装置を用いて摩擦材内部に侵入した塩素を検出し、検出した塩素の分布状態を分析する。
前記塩素を含む物質は、4,4’-メチレンビス(2-クロロアニリン)が好ましい。
摩擦材の内部構造を分析することにより、要求される摩擦特性や振動特性を得るための好適な製造条件を求めることができ、所望の特性の摩擦材を容易に製造することができる。 (もっと読む)


【課題】液晶ガラスパネルのような有機フイルムが付着した試料を蛍光X線分析用ブリケットなどに調製する場合などにおいて、焼成して有機物を除去することなく、試料を粉砕して容易に分析用ブリケットなどを調製することができる試料調製方法を提供する。
【解決手段】有機物を含む試料を、−50℃以下、好ましくは−79℃以下、で凍結粉砕し、粉砕物の粒度D95(累積95体積%径)を500μm以下、好ましくは400μm以下にすることを特徴とする試料調製方法であり、例えば、200〜500℃の重量減が5%以上である有機物含有試料について適用される試料調製方法。 (もっと読む)


【課題】 蛍光X 線分析装置において高精度な分析結果を得る方法及び装置を提供する。
【解決手段】 半導体基板を酸蒸気に暴露する工程と、酸蒸気に暴露された前記半導体基板の表面の不純物を酸溶液で走査回収する工程と、前記走査回収した酸溶液を前記半導体基板上で濃縮乾燥させ濃縮乾燥物に変える工程と、前記濃縮乾燥物を全反射蛍光X線分析で測定し第一の測定値を得る工程と、前記半導体基板を酸蒸気に暴露する工程の後に、前記半導体基板上で前記濃縮乾燥物の位置とは異なる位置を全反射蛍光X線分析で測定し第二の測定値を得る工程と、前記第二の測定値を用いて前記第一の測定値の精度の確認を行う工程とにより半導体基板の分析を行う方法。 (もっと読む)


【課題】スポット溶接時に発生するガスを短時間に効率的に捕集する必要があり、また発生したガスやヒュームを変質させることなく捕集する必要があった。
【解決手段】スポット溶接で鋼板から発生するガスやヒュームをスポット溶接機の可動する電極部と溶接される鋼板部材とを含む空間に閉じこめ、その空間に清浄な空気を導入して発生したガスやヒュームを送出する。そのため大気中のガス成分が混入せず、正しい値が検出でき、またガスやヒュームの変性を防止することができる。 (もっと読む)


【課題】所定の雰囲気中の汚染状態を精度よく評価することが可能な汚染評価方法を提供する。
【解決手段】汚染状態を評価する雰囲気中に鏡面加工仕上げされた表面を有するへき開性物質からなる基板を持ち込んでへき開し(へき開工程)、へき開面をそのまま雰囲気中に所定時間暴露した後、へき開面を表面分析して汚染評価物質を検出する(定量分析工程)。評価する雰囲気中にへき開性物質からなる基板を持ち込んでへき開するので、汚染評価物質が表面に存在していないへき開直後の面が雰囲気中に暴露されることになる。そして、そのへき開面を分析して汚染評価物質を検出するので、評価する雰囲気中から付着した汚染評価物質のみが検出されることとなり、雰囲気中の汚染状態を精度よく評価することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】短時間で容易に試料の薄片部を形成することができる加工方法を提供する。
【解決手段】本実施形態の加工方法は、平坦化工程(ステップS1)および薄片部形成工程(ステップS2)を順に行うことで、試料1Bの薄片部13を形成することができる。薄片部形成工程(ステップS2)では、試料の平坦面11の下部に対して、集束イオンビーム装置から出力された集束イオンビームが平坦面11に平行な方向に照射される。集束イオンビームの照射により試料がスパッタエッチングされて、平坦面11に対向する対向面12が形成される。これにより、平坦面11と対向面12とに挟まれた薄片部13を有する試料1Bが作成される。 (もっと読む)


【課題】電解質等の多成分セラミックスの組成を、迅速性をもって高精度で分析可能な分析方法を提供する。
【解決手段】多成分のセラミックスの成分分析による評価方法において、第一の工程と第二の工程からなり、第一の工程は微量の電解質のアルカリ,アルカリ土類金属,遷移金属,希土類元素と電極の白金属を含む材料の試料を採取し、酸分解して溶液化することであり、第二の工程は電解質の多成分をICPプラズマ発光分析法により逐次一斉分析し定量分析して組成を評価するものである。 (もっと読む)


【課題】基板上の半導体デバイスを均一に汚染した試料を作成できる試料汚染方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の実施形態に係る試料汚染方法は、汚染物を含有する薬液を筺体内へ噴霧する工程と、噴霧により薬液が充満した筺体内へ半導体基板を搬入する工程と、薬液が充満した筺体内へ半導体基板を所定時間放置する工程と、所定時間経過後に、半導体基板を筺体内から搬出する工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】簡易迅速に潤滑油のダイリューションの発生を早期に検出することができるエンジン用潤滑油の異物検出装置およびエンジンシステムを提供する。
【解決手段】本実施例に係るエンジン用潤滑油の異物検出装置40は、ディーゼルエンジン10から排出される潤滑油32の一部を抜き出す潤滑油分取ラインL11と、潤滑油分取ラインL11から抜き出した潤滑油32に酸性薬剤47を添加する酸性薬剤供給手段41と、潤滑油32を加熱して潤滑油32中に含まれる無機成分を炭化し、炭化物50を生成する電気炉42と、炭化物50を検出する分析装置43と、を有し、分析装置43で得られた検出結果から燃料油中に含まれる無機成分を検出する。 (もっと読む)


【課題】シリコンウェハの金属不純物の元素情報及び空間情報を高感度且つ高精度で取得することができ、加えて低コスト且つ簡便に実現することができるシリコンウェハの金属不純物分析方法を提供する。
【解決手段】気相エッチング用のO/HF混合ガスをシリコンウェハ表面に噴射し、シリコンウェハ表面を気相エッチングする。これにより、第1表層のシリコンが分解され、該第1表層に含まれる金属不純物がその位置をほぼ維持したまま第1表層分解後のシリコンウェハ表層に蓄積する。また、第1表層分解後のシリコンウェハ表面は、O/HF混合ガスによる気相エッチングにより鏡面化される。その後、気相エッチングにて鏡面化されたシリコンウェハ表面をTXRF法にてスキャンし、シリコンウェハの第1表層に含まれる金属不純物の面内分布情報を取得する。 (もっと読む)


【課題】試料識別標記や特異元素で構成されたマスクや試料ホルダを要せず、試料を試料ホルダに搬送する前に試料ホルダを短時間で自動識別する分析装置を提供する。
【解決手段】本発明の分析装置は、カセット21の種類を識別するカセット部20と、試料Sが挿入される挿入口83、および、試料が載置される輪状の台座82を有する試料ホルダ8と、カセット21から試料ホルダ8へ試料Sを搬送する搬送手段23と、試料ホルダの挿入口の径方向端84または輪状の台座の内径方向端85を検出して、載置されるべき試料の直径に対応した試料ホルダの種類を識別する試料ホルダ識別信号を発信する試料ホルダ識別手段35と、カセット識別信号および試料ホルダ識別信号に基づいて、カセット21に収納されるべき試料の直径と試料ホルダ8の台座に載置されるべき試料の直径とが合致しているか、否かを判定する判定手段40とを備える。 (もっと読む)


【課題】排ガス中に含まれるCl-濃度を測定することができるガス分析装置、水銀除去システム、ガス分析方法及び排ガス中の水銀除去方法を提供する。
【解決手段】本実施形態に係るガス分析装置10は、NH4Cl、SO3の両方を含む排ガス11が送給される煙道12から排ガス11Aを抜出す排ガス抜出し管13と、排ガス抜出し管13に設けられ、抜出した排ガス11A中に含まれる煤塵を除去する捕集器14と、排ガス抜出し管13に設けられ、排ガス11A中に含まれるNH4Cl、SO3の両方を析出させるロールフィルタ15と、ロールフィルタ15で析出されたNH4Cl、SO3の両方を含む試料にX線を照射させて試料から発生する蛍光X線を検出して排ガス11A中に含まれるNH4Cl、SO3の両方を測定する測定装置19とを含む。 (もっと読む)


【課題】測定結果が迅速に得られるようにしながらも、信頼性の高い測定精度が得られるようにした固形燃料中の塩素含有量測定方法を提供する。
【解決手段】固形燃料を酸素ボンブ燃焼容器内で燃焼させ、燃焼により発生する塩化水素及び塩素を燃焼容器内に収容したアルカリ水溶液に吸収させ、その吸収液中の塩素量を蛍光X線で測定する。固形燃料は、廃プラスチック類、廃繊維類、及び古紙のうち、少なくともいずれか1つの物質から製造された燃料である。 (もっと読む)


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