【課題】半導体基板を用いた被評価液の品質評価において、一度容器に接触した被評価液が再び半導体基板に接触しない構造を持ち、基板保持容器からの汚染を受けずに被評価液中の不純物を高精度で測定する半導体基板保持容器を得ることを目的とする。
【解決手段】本発明に係る半導体基板保持容器１は、密閉した内部空間である基板保持室３と基板保持室３に半導体基板４を出し入れする基板出入り口とを有する保持容器本体２と、基板保持室３に保持容器本体３の内壁面とは間隔を有して半導体基板４を中空状態で保持する保持体５と、基板保持室３に保持された半導体基板４上に被評価液６を滴下する給水口７と、半導体基板４上から落下した被評価液６を排水する排水口８とを備える。 （もっと読む）

【課題】生体標本中の個々の細胞ごとに標的物質を位置精度よく分析するための前処理として、生体標本内の標的物質の位置情報を保持したまま、試薬および反応生成物を固定するための生体標本の処理方法、および解析方法を提供すること。
【解決手段】細胞または組織を含む生体標本上に多孔質体によって構成される薄膜を接触させ、該薄膜の非接触面側より、インクジェットで標本の特定の領域に試薬溶液を供給することにより、前記生体標本表面内の細胞レベルでの領域内に限定して前記試薬の供給、保持および反応生成を行う生体標本の試薬処理方法。さらに、生体標本の画像情報を読み取り位置情報を記録し、当該画像情報に合わせて特定の領域に上記試薬処理方法を行った後、顕微鏡観察または質量分析によって解析する、生体標本の解析方法。 （もっと読む）

【課題】本発明の目的は、溶融物、及び／又は液体の扱いを単純にして、更に正確な分析を可能にするために、既存の装置を改良することである。
【解決手段】浸漬キャリアを有する、液体、又は溶融物の分析のための本発明による浸漬センサは、試料チャンバの中に配置された溶融物を測定するためのセンサを定め、浸漬キャリアは、中に配置された注入口開口部を有する試料チャンバを有する。液体、又は溶融物は、ガラス、又は金属溶融物を、特に、アルミニウム、又は鉄溶融物を含むことが好ましい。センサは、試料チャンバの中の予め決定された点に向けて配向される。分析は、この点で行われる。分析される液体、又は溶融物はこの点に供給されるので、自由表面がセンサの測定領域に位置する。 （もっと読む）

【課題】ろ過工程を含み、かつろ過試験器具を揮発性溶剤で洗浄する必要のある試験において、揮発性溶剤の大気中への散逸を防止できる洗浄溶剤回収用治具を提供する。
【解決手段】本発明にかかるろ過試験器具の洗浄溶剤回収用治具は、円柱(10)が挿入できる有底円筒体で、底壁(1)中央には、該有底円筒体と同心の貫通孔(2)が設けられている。また、側壁(3)の該底壁内面と同水準となる位置に、該円柱が挿入される空間(4)と連通する吸引口(5)が貫設されている。そして、該空間の内周面の直径(D1)が、該円柱の外径(D2)より８〜２０ｍｍ大きくされている。 （もっと読む）

サンプル収集デバイスを解析デバイス内への導入のために適切に配列するサンプル受けデバイスが、提供される。サンプル収集デバイスは、サンプル収集デバイスがサンプル導入を容易にするために適切に配列されるように、サンプル収集デバイスをサンプル受けデバイス内でガイドおよび配列する、ガイド構造または複数のガイド構造を備えてもよい。
（もっと読む）

【課題】遷移領域における二次イオン質量分析装置の較正を可能とする、２〜５ｎｍの深さに所定濃度の濃度ピークを有する較正用標準試料を提供する。
【解決手段】基板１表面から５〜１０ｎｍの深さに不純物原子濃度のピークを有する不純物原子のイオン注入層２を形成し、再結晶化熱処理によりイオン注入層２を再結晶化させる。再結晶化層４は基板１側から基板１表面へと形成される。このとき、再結晶化層４と非晶質のイオン注入層２との界面に不純物原子が集積し濃度ピークを形成する。この界面の位置は、熱処理条件等により容易に制御されるので、容易に浅い位置に濃度ピークを有する標準試料を製造することができる。 （もっと読む）

【課題】試料中の金属を極力多量の液体（加圧熱水）中に溶出させる金属溶出方法、その金属溶出方法を前処理として用いる金属分析方法、及び上記金属溶出方法を行うための金属溶出装置を提供することを目的とする。
【解決手段】試料を加圧熱水中に分散させた状態で、加圧熱水と接触させることにより金属を溶出させる第一接触工程と、フィルターに捕捉された試料を更に加圧熱水と接触させることにより金属を溶出させる第二接触工程とを備える金属溶出方法。また、第一接触工程及び第二接触工程が加圧熱水を定常的に流した状態で行われる金属溶出方法。 （もっと読む）

【課題】絶縁物の分析対象となる領域における帯電を補正することにより、正確かつ再現性良く質量分析を行うことが可能な絶縁物の二次イオン質量分析方法を提供する。
【解決手段】本発明の絶縁物の二次イオン質量分析方法は、絶縁物である試料の表面に導電性の連続膜であるＰｔ−Ｐｄ合金薄膜を成膜し、このＰｔ−Ｐｄ合金薄膜付き試料に一次イオンビーム及び電子ビームを照射し、この試料から発生する二次イオンを引き出し、質量分析する。 （もっと読む）

【課題】基板上の分析対象物質が被膜で覆われている場合に、良好な精度で当該被膜の下の分析対象物質の分析を行うことが可能となる分析方法と、該分析方法を実施する分析装置を提供する。
【解決手段】基板上に形成された被膜を、紫外線を照射することで除去する第１の処理部と、前記基板表面に溶解液を供給して前記基板上の分析対象物質を溶解させる第２の処理部と、前記第２の工程で用いた前記溶解液中の前記分析対象物質を分析する第３の処理部と、を有することを特徴とする分析装置。 （もっと読む）

【課題】 試料のレーザアブレーション量を求めることができるレーザアブレーション装置及びレーザアブレーション量算出方法を提供する。
【解決手段】 レーザアブレーション装置２においては、試料Ｓに対するレーザアブレーションが開始されると、演算部５０によって、光検出器４５により測定されたレーザ光のエネルギから、光検出器４３，４４により測定されたレーザ光のエネルギが減ぜられて、試料Ｓに照射されたレーザ光のうち試料Ｓに吸収されたレーザ光のエネルギが算出される。更に、演算部５０によって、試料Ｓに吸収されるレーザ光のエネルギと試料Ｓのレーザアブレーション量との相関関係についての情報に基づいて、試料Ｓに吸収されたレーザ光のエネルギから、試料Ｓのレーザアブレーション量が算出される。 （もっと読む）

【課題】デバイス等の不良原因となる数μｍの微小異物を採取し、コンタミレスで質量分析を行うことを課題とする。
【解決手段】数μｍの微小異物の採取用プローブ先端部に局所加熱機構を持たせることにより、微小異物の採取と異物の加熱が同一のプローブで行うことが可能となる。該プローブは直接質量分析装置に装着することができるためコンタミレスで分析を行うことができる。またプローブ先端部の異物のみを加熱することにより、仮にプローブの先端部以外にコンタミ物質が付着したとしても先端部以外は加熱されずＳ／Ｎの良好なマススペクトルが得られる。 （もっと読む）

【課題】気体の補集段階において軽量で補集効率の高い気体捕集容器を安価に提供すること。
【解決手段】本発明にかかる気体捕集容器１００は、気体を導入する導入部材４を有する樹脂製の捕集袋５を折り畳み可能な六面体の箱体６に収容可能に組み合わせてなる、気体を捕集して収納するための容器である。そして、箱体６の主要部が段ボール等の板紙により構成されたことを特徴とする。また、箱体６は、内外面の少なくとも一方の面全体が樹脂フィルム６２により被覆されていてもよい。 （もっと読む）

病的状態にある被検体から採取したケラチンサンプル中の異常成分を検出する方法であって、
ａ）ケラチンサンプルを膨潤物質に曝し、当該ケラチンサンプルに浸透させることにより誘導化学材料を得る工程、
ｂ）誘導化学材料からデータを得る工程、
ｃ）誘導化学材料から得たデータを参照データベースに含まれている第２のデータ群と比較し、ケラチンサンプル中の異常成分を特定する工程
を含み、異常成分の検出と被検体の病的状態の存在とが一致する方法。
（もっと読む）

ＩＭＳ検出器（１、１００）または同様の物を含む検出装置は、それによって試料ガスが検出器に供給されるガス流路配置（４０、４１、１０２）を持つガス注入口（１０）を有する。１つの配置では、ガス流路配置の２つの領域（４０および４１）は、並列に接続される。興味のある化学物質が検出器（１）に到達するのにかかる時間が、２つのコイルに沿って異なり、それによって異なる時間に検出器内に応答を与えるように、その領域は、異なる吸収特性の材料で内部を被覆されたそれぞれＧＣ毛細管類コイル（４０）および（４１）によって提供される。別法として、ガス流路の２つの領域は、交互に直列に配置される領域（１０４および１０６）によって提供されてもよい。
（もっと読む）

本発明は、全血試料を回収および処理するためのサンプリングチューブに関する。サンプリングチューブは全血の特異的溶血のための試薬を含み、該特異的溶血のための試薬は特異的溶血のための化学物質および抗凝固剤を含み、該サンプリングチューブはすぐ使用できるおよび使い捨てサンプリングチューブである。また、本発明は、液体クロマトグラフィーのための全血試料の処理における該サンプリングチューブの使用、および液体クロマトグラフィー系分析におけるかかるサンプリングチューブで処理された血液試料の使用にも関する。 （もっと読む）

【課題】良好な精度で、かつ容易に石英部材の分析を行う分析方法を提供する。
【解決手段】石英部材にエッチング液を供給してエッチングする第１の工程と、前記第１の工程で用いた前記エッチング液中の金属を分析する第２の工程と、を有する石英部材の分析方法であって、前記第１の工程の前記エッチング液の供給は、前記石英部材に形成された凹状のエッチング液保持部にされることを特徴とする石英部材の分析方法。 （もっと読む）

【課題】高い空間分解能での二次元質量分析イメージングが可能なサンプルの調製方法を提供する。
【解決手段】サンプルプレート１においては、親水性膜層６の上に疎水性膜層７が形成され、疎水性膜層７に微小径の凹部３が形成されてその底面に親水性膜層６が露出している。このサンプルプレート１の表面にマトリックスが塗布されると、マトリックス８は疎水性膜層７上でははじかれて親水性膜層６上の凹部３に凝集する。これにより、ごく微量のマトリックスをアレイ状に高い密度で配列させることができる。このサンプルプレート１表面に試料を押し付けて剥がすと、試料が密着した範囲で試料表面の分析対象物質がその位置情報を保持したまま凹部３内のマトリックス８に取り込まれるから、これを乾燥させることで分析対象物質を含む微細な結晶粒が形成される。 （もっと読む）

【課題】固体または液体中に含有または付着した高沸点物質を迅速に、かつ選択性、感度および時間応答性に優れた検出が可能となる高沸点物質の定量分析方法を提供する。
【解決手段】試料に含有または付着した高沸点物質を真空チャンバ内に導入し、該高沸点物質をレーザ光により選択的にイオン化した後、質量分析するＪｅｔ−ＲＥＭＰＩ法を用いた高沸点物質の定量分析方法において、二酸化炭素の超臨界流体を用いて前記試料に含有または付着した高沸点の目的物質を抽出した後、該目的物質を含む超臨界流体をマイクロピンホールノズルを用いて前記真空チャンバ内に連続的に導入することを特徴とするＪｅｔ−ＲＥＭＰＩ法を用いた高沸点物質の定量分析方法。 （もっと読む）

【課題】分析システムにサンプルを導入するためのサンプリング装置（例えばサンプリングバルブ）を提供する。
【解決手段】サンプリング装置は、サンプリング領域３２を備えた回動部材３１を有している。このサンプリング領域３２は、分析されるサンプルを保持できるように構成されている。回動部材３１は、サンプリング領域３２が、サンプル収集のためにサンプル物質３６に露出されている第１の位置と、分析システムによって使用するためにサンプルを解放する第２の位置との間で移動できるように構成されている。 （もっと読む）

【課題】多層薄膜が表面に形成された試料に対して、試料調整を行わず、同一元素が複数の層に含まれていても多層薄膜標準試料を用いず、試料の各層の組成と膜厚を算出する分析方法および装置を提供すること。
【解決手段】試料にレーザビームを照射するレーザ照射手段と、試料をサンプリング範囲内に移動させる移動手段と、レーザビームの作用により試料から発する物質を捕集するサンプリング手段と、レーザビームの作用により削られた深さを測定する深さ測定手段と、サンプリング範囲毎に捕集された物質の組成を分析して試料の各層の組成と膜厚を算出する分析手段とを用いる。 （もっと読む）