【課題】FIBによる断面加工や薄片加工に先立って行なわれていたFIBAD膜による試料表面平坦化作業を行なうこと無く、試料表面にFIB照射損傷を与えることなく、SEM試料やSTEM試料を作製する。
【解決手段】試料加工の際に試料表面に作製していた集束イオンビームアシストデポジション（FIBAD）膜の代わりに、対象試料とは別の微小な薄膜の薄板を加工位置に移設固定して保護膜とする。 （もっと読む）

【課題】 細胞給排・捕捉装置及び細胞給排・捕捉方法に関し、多量の細胞を短時間で保持し、保持後に保持されていた細胞を効率的に回収する。
【解決手段】 細胞懸濁液２を供給する細胞供給機構１、細胞を含まない液体４を供給する送液機構３、細胞懸濁液２及び液体４を流す流路６と細胞懸濁液２中の細胞を捕捉する貫通孔７を備えた捕捉チップ５、捕捉チップ５に接続されて貫通孔７からの吸引量を制御する吸引機構８、貫通孔７で捕捉されなかった不要な細胞を回収する不要細胞回収機構９、及び、捕捉細胞を回収する捕捉細胞回収機構１０とを少なくとも設ける。 （もっと読む）