【課題】鋳鉄製の部品に対して行われるレーザクラッド加工によって形成されたクラッド層について、切断を行うことなく、割れやピンホール等の表面的な欠陥のほか、内部品質である硬質粒子による欠陥についても検査することができ、検査品質を向上することができるレーザクラッド加工によるクラッド層の検査方法を提供する。
【解決手段】クラッド層の表面を渦流探傷することによって得られる検出信号として、互いに位相角が９０°異なるＸ軸およびＹ軸からなるＸ−Ｙ平面上において位相角および振幅を有する波形で表される波形信号を用い、クラッド層の表面に存在する割れおよびピンホールのそれぞれに対応する波形信号（７ａ、７ｂ）に対して、位相角について所定のずれを有する波形信号（７ｃ）の振幅に基づいて、クラッド層に分散する硬質粒子の存在領域の大きさを測定する。 （もっと読む）

【課題】被測定物の内部の複数の測定位置について短時間で測定を行う。
【解決手段】測定システム１は、被測定物ＩＰに磁場を印加することにより被測定物ＩＰ内部の測定を行って、測定信号Ｓｍｄを出力することができるセンサ部４２，４４，４６であって、被測定物ＩＰの互いに異なる測定位置ＷＰ２，ＷＰ４，ＷＰ６について測定を行うための複数のセンサ部４２，４４，４６と、複数のセンサ部４２，４４，４６からの測定信号Ｓｍｄに基づいて被測定物ＩＰの内部構造に関する情報処理を行う情報処理部１０と、情報処理の結果を出力する出力部３０と、を備える。 （もっと読む）

【課題】プローブを高精度で位置決めすることができ、且つ測定作業を効率よく実施することができる内部構造測定装置を提供することを課題とする。
【解決手段】内部構造測定装置は、プローブ及び一対のカメラを備えたロボットと、測定部位の３次元座標を記憶する記憶手段と、一対のカメラで得た画像を解析し座標に基づく測定部位の予想存在位置と現実存在位置とのずれを解消する補正値を求めると共にプローブ信号を受け部材の内部構造の評価を行う画像処理手段と、補正値によりロボット動作を補正する動作制御手段とを有する。
【効果】記憶手段と動作制御手段は、測定部位の３次元座標から焦点までのずれ量を検出させ（ＳＴ０４）、ずれ量がゼロかどうかを確認させ（ＳＴ０５）、ずれ量を補正させ（ＳＴ０６）、一定距離プローブを移動させる（ＳＴ０７）。よってプローブを高精度で位置決めすることができ、且つ測定作業を効率よく実施することができる。 （もっと読む）

【課題】プローブを測定部位に急激に接触させたとしても、測定部位に対してプローブを高精度に位置決めすることができる内部構造測定装置を提供することを課題とする。
【解決手段】プローブ３０は、ブラケット１４の先端３９にガイド部材３６を介してロボットのアームの中心軸３１の方向に移動自在に取付けられ、ガイド部材３６から前方へ突出させたプローブ３０の取付部材３３とガイド部材３６との間に緩衝機構２０、２０を取付けている。
【効果】緩衝機構２０は、プローブ３０を鋼板表面８６に急激に押し当てた場合に発生する衝撃エネルギーを吸収することができ、且つ衝撃エネルギーの吸収及び放出による変位を小さくすることができる。そのため、測定部位からのプローブ３０のずれ量を低減することができるので、測定部位に対してプローブ３０を高精度に位置決めすることができる。 （もっと読む）

【課題】鋼管内表面の浸炭深さを非破壊で、かつ精度良く測定する方法の提供
【解決手段】 表裏面（以下、各表面を「第１表面」および「第２表面」という。）を有する鋼材の浸炭深さを下記の工程に従って測定する方法である。
工程１：鋼材の第１表面の炭素濃度Ｃ_oを測定する工程
工程２：鋼材の第２表面から第１表面までの合計炭素量Ａ_Ctを測定する工程
工程３：下記式に基づいて鋼材の第２表面の浸炭深さｄ_iを求める工程。
ｄ_i²＝２｛Ａ_Ct−（Ｃ_o−Ｃ_b）²／（２×Ｋ_o）＋Ｃ_b×ｔ｝／Ｋ_i
ｄ_i²＝２｛Ａ_Ct−（Ｃ_o−Ｃ_b）²／（２×Ｋ_o）＋Ｃ_b×ｔ｝／Ｋ_i
但し、ｄ_iは鋼材の第２表面の浸炭深さ（ｍｍ）、Ａ_Ctは測定によって得られた鋼材の第２表面から第１表面までの合計炭素量（ｇ）、Ｃ_oは測定によって得られた鋼材の第１表面の炭素濃度（質量％）、Ｃ_bは母材の炭素濃度（質量％）、Ｋ_oは鋼材の第１表面の浸炭に関する定数、Ｋ_iは鋼材の第２表面の浸炭に関する定数、ｔは鋼材の厚さ（ｍｍ）である。 （もっと読む）

【課題】 プローブが試料の磁気構造を乱すことなく、強磁場下における試料の磁気的測定をより正確に行うことができる走査型プローブ顕微鏡における走査方法及び強磁場走査型プローブ顕微鏡装置を提供する。
【解決手段】 この出願の発明による走査型プローブ顕微鏡における走査方法は、走査型プローブ顕微鏡を用い、プローブを走査して強磁場下で試料の磁気的測定を行うためのものであり、零磁場下で試料の形状像の測定を行い、試料の形状像のデータを記憶しておき、試料における磁気的測定の走査の範囲外に特定の領域を設定し、その領域に対してプローブを走査して強磁場下で形状像の測定を行い、得られた形状像と零磁場下で得た形状像とを比較し、その結果に基づいてプローブの位置の補正をしつつ、且つ、零磁場下での測定で得た形状像のデータをもとに、強磁場下でプローブを試料表面から一定の距離に保つように制御して走査することを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】磁気記録媒体に熱履歴等の測定誤差の原因となる処理をすることなく、簡便かつ容易に磁気記録媒体の熱ゆらぎを評価することができる磁気記録媒体の熱ゆらぎ評価法の提供。
【解決手段】磁気記録媒体の磁性層を交流消磁する段階と、交流消磁された前記磁性層の磁気クラスターサイズｒの平均値ｒ_{ｃｌｕｓｔｅｒ}を求める段階と、前記磁気クラスターサイズｒの平均値ｒ_{ｃｌｕｓｔｅｒ}と、前記磁気記録媒体の磁性層の膜厚δとから求められる磁気クラスター体積Ｖ_ｅｆｆと、磁気異方性エネルギＫｕとから有効熱安定指標Ｋｕ×Ｖ_ｅｆｆ／ｋＴ（ｋ：ボルツマン定数、Ｔ：温度（Ｋ））を求める段階と、を含むことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】 物体の内部の微小な構造を検知することができる技術を提供する。
【解決手段】 被測定物の内部構造に関する特性値を計算する。まず、被測定物にパルス状の静磁場を印加する。その後、磁場の印加を停止する。そして、被測定物の異なる測定位置について、磁場の印加を停止した後の磁束の変化率を測定する。その後、異なる測定位置における磁束の変化率の過渡変化の違いに基づいて、被測定物の内部構造に関する特性値を計算する。 （もっと読む）

【課題】 探針の交換をせずに、探針の磁化の向きを変更することができる回転走査型スピン偏極トンネル顕微分光システムの提供。
【解決手段】 回転走査型スピン偏極トンネル顕微分光システムは、互いに直交するＸ軸、Ｙ軸及びＺ軸により規定される三次元空間のＺ軸方向に配向された探針３４とＸＹＺ粗動調整装置３１と、探針３４と試料３７との間に電圧を印加するバイアス電圧印加装置２５と、探針３４と試料３７との間に流れるトンネル電流を測定する電流測定装置２４と、探針３４または試料３７を相対的にＺ軸の回りに回転させる回転ローター３２と、制御装置２を備え、ローター３２の回転によって探針３４の磁化の向きを変化させる。 （もっと読む）

【課題】 測定精度を向上させることができる鋼材測定コイルを提供する。鋼材の硬化層の深さの測定、未焼入れの判定、異材判定等に用いられる。
【解決手段】 ＬＣＲメータと接続して使用される鋼材測定コイル１において、コイル巻線２を磁性体３で囲む。前記磁性体３には、ＪＩＳ規格のＳ４５Ｃを用いる。Ｓ４５Ｃは次の化学成分（単位はＷｔ％）を持つ機械構造用炭素鋼である。Ｃ：０．４２〜０．４８、Ｓｉ：０．１５〜０．３５、Ｍｎ：０．６０〜０．９０、Ｐ：０．０３０以下、Ｓ：０．０３５以下。磁性体３は、内周側に溝部３ａが開口した断面Ｕ字状でリング状の部材であって、前記溝部３ａ内にコイル巻線２を配置する。 （もっと読む）

本発明は、検査対象の検査領域における物理的、化学的及び／又は生物学的状態変数、特には物質濃度、温度、ｐＨ及び／又は物理的場、並びに／又はこれら状態変数の変化を、この検査領域における磁性粒子の空間分布の、少なくとも部分領域に対する影響変数の効果の関数としての、並びに／又は前記検査領域の少なくとも部分領域における条件の変化を、下記ステップ、即ち、ａ）前記検査領域の少なくとも一部に磁性粒子を、前記検査領域において又は該領域の一部において、調査されるべき前記磁性粒子の少なくとも幾つかが互いに対に又はそれ以上に結合され及び／又は凝集されたような第１状態で導入するか、又は前記検査領域の少なくとも一部に磁性粒子を、前記粒子が凝集解除され及び／又は結合解除されており、且つ、凝集され及び／又は結合され得るような第２状態で導入するステップ、ｂ）磁界を、前記検査領域に低磁界強度を持つ第１部分領域と高磁界強度を持つ第２部分領域とが生成されるような磁界強度の空間的プロファイルで発生するステップ、ｃ）前記粒子の磁化が局部的に変化されるように、前記検査領域における前記２つの部分領域の特には相対的な空間位置を変化させるか、又は前記第１部分領域における前記磁界強度を変化させるステップ、ｄ）この変化により影響された前記検査領域における前記磁化に依存するような信号を検出するステップ、及びｅ）前記検査領域における物理的、化学的及び／若しくは生物学的状態変数又は該状態変数の変化に関する、並びに／又は前記磁性粒子の空間分布の変化に関する情報を得るために前記信号を評価するステップによって決定することにより、決定する方法に関するものである。本発明は、更に、磁性粒子組成物、特には官能化された磁性粒子組成物、及び本発明による方法における斯かる組成物の使用にも関するものである。本発明は、更に、検査領域における状態変数の測定のための装置も関するものである。
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