【課題】２媒質法や２波長による屈折率分布測定において、媒質や波長ごとに照明光学系の瞳の大きさが異なっていても高精度な屈折率分布の測定を可能とする。
【解決手段】屈折率分布測定方法は、第１および第２の媒質中にそれぞれ配置された被検光学素子を透過した光の波面の計測値である第１および第２の波面計測値を取得し、第１および第２の媒質中に配置された被検光学素子における光の透過領域に対応する照明光学系における光の透過領域である第１および第２の光線透過領域を計算し、第１および第２の光線透過領域に対応する照明光学系の波面収差の計算値である第１および第２の波面収差を計算し、第１および第２の波面計測値を第１および第２の波面収差を用いて補正し、これら補正波面を用いて被検光学素子の屈折率分布を計算する。 （もっと読む）

【課題】パターンを有する位相差フィルムの領域の直線性又はピッチの精度を簡単に評価しうる評価方法を提供する。
【解決手段】光源と基準部材と位相差フィルムと着脱可能な偏光フィルターと光検出器とをこの順に備える評価系において、基準部材は偏光子を備え且つ一の基準方向に延在する透光領域を有し、位相差フィルムは、面内に均一な位相差を有する第一位相差フィルムと、一方向に延在する複数の異方性領域及び等方性領域を面内において交互に有する第二位相差フィルムとを備え、基準部材の基準方向における複数の地点を偏光フィルターを装着せずに観察して、基準方向に平行な基準線を前記複数の地点で同様に設定することと、偏光フィルターを装着して観察して、基準線と光が検出された部分の縁部とのズレ量を測定することとを行い、ズレ量の相違から異方性領域及び等方性領域の直線性を評価する。 （もっと読む）

【課題】化粧膜の分布や厚さという付着状態と、化粧膜の下地となる皮膚内部の光学特性を同時に評価し、それらが化粧肌の見えにどのように影響しているかを評価できるようにする。
【解決手段】可視域で波長の異なる複数の低コヒーレンス光を使用して化粧肌の光干渉断層撮影画像（以下、ＯＣＴ画像という）を各波長について取得し、各波長のＯＣＴ画像に基づいて化粧膜の付着状態及び化粧肌内部の深さ方向の光学特性を評価する。 （もっと読む）

【課題】空気によって少なくとも部分的に吸収される光を使用するよう設計され、かつ、より能率的なパージングシステムを有する、光学ツールのための方法を開発する。
【解決手段】試験体の測定のための方法において、該試験体の反射率測定データおよび分光偏光解析データを測定する工程と、該反射率測定データから、該試験体上に形成された窒化酸化物ゲート誘電体の厚さを判定する工程と、該厚さおよび該分光偏光解析データから、窒化酸化物ゲート誘電体の屈折率を判定する工程と、該屈折率から、該窒化酸化物ゲート誘電体の窒素濃度を判定する工程と、を含む。 （もっと読む）

【課題】表面特性測定において対象物体に接触する可能性がなく、異なる方向から照明できる表面特性測定装置の提供。
【解決手段】対象物体を照明する光源と、前記対象物体からの反射光線を光電変換して光検出信号を出力する光検出器と、前記光源を所定位置に移動する駆動装置と、前記所定位置へ移動するための駆動量を前記駆動装置へ入力する駆動制御装置と、前記対象物体の鉛直位置に治具や光学機器が移動せずに前記光源を移動する手段と、前記対象物体と前記光源と前記光検出器のそれぞれの位置と前記対象物体の法線と前記光源と前記光検出器の姿勢を取得する手段と、前記照明方向と照明光強度と前記光検出方向と反射光線強度から反射率を計算する手段とを備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】検出結果に影響を及ぼす部分に付着した汚れを簡易な構造で減少させることが可能な検出器及び水質測定装置を提供する。
【解決手段】検出器１は、供給部２１から試料水が供給されて排出部２２から排出されるセル２と、セル２内に光を照射する光源３と、光源３からの光を受ける受光部４と、光源３及び受光部４の配置された壁部と対向する壁部に配置される反射部５と、を備えている。反射部５は、超音波振動子５１と、超音波振動子５１を駆動する高周波電力を出力する超音波発振器５２と、を備えている。超音波振動子５１の鏡面化により、光源３の光を反射して受光部４に導くミラー面５１ａが形成される。ミラー面５１ａに付着した汚れは、超音波振動により剥離する。光源３のセル窓３ａおよび受光部４のセル窓４ａは、ミラー面５１ａに対向して配置される。 （もっと読む）

【課題】装置の小型化を図りつつ、高精度に測定対象物の屈折率を測定することができる屈折率測定装置を提供する。
【解決手段】所定の間隔をあけて近接して配置され、入射端面１１から入射させた照明光を内面反射させて反射端面１２まで導く導光ロッド１０および導光ロッド２０と、導光ロッド１０に照明光を入射させることで、導光ロッド２０内に入射するエバネッセント光の強度を検出する光検出器２７と、光検出器２７により検出されたエバネッセント光の強度の変化から、導光ロッド１０と導光ロッド２０との間に配置された試料Ｓの屈折率の変化を算出するＣＰＵ３０とを備える屈折率測定装置１を採用する。 （もっと読む）

【課題】 検出用電磁波の時間波形の観測可能な時間幅を延長することが困難である。
【解決手段】 検出用電磁波とプローブ波とを、検出用電磁波の波面に対して、パルス状のプローブ波のパルス面を傾斜させて、電気光学結晶に入射させる。プローブ波のビーム断面を、検出用電磁波の波面とプローブ波のパルス面との交線方向に並ぶ複数の主走査単位領域に区分する。主走査単位領域ごとに、プローブ波のパルス面の、電気光学結晶への到達時刻を異ならせる。遅延装置が、プローブ波及び検出用電磁波の一方に対する他方の遅延時間を変化させる。遅延装置により遅延時間を異ならせて、検出用電磁波の複数の波形を取得し、取得された複数の波形の時間軸方向のずれに基づいて波形補正情報を求める。被測定物を測定することによって得られた波形データを、波形補正情報に基づいて補正することにより補正波形を求める。 （もっと読む）

【課題】試料における蛍光成分を含む分光放射輝度率を効率的に測定する。
【解決手段】複数の紫外光源と白色光源を有する測定部704で、まず白色光源を点灯させて、試料の可視光成分の分光放射輝度率を得る。次に測定判定部702が、測定条件データ格納部701から、試料に応じて予め定められた、複数の紫外光源のそれぞれについて点灯するか否かを示す測定条件を取得し、点灯が示された紫外光源を判定する。そして制御部703が測定部704に対し、該点灯すると判定された紫外光源を点灯させるように制御して、試料の蛍光成分の分光放射輝度率を得る。これにより、紫外光源を無駄に点灯することなく、該試料の全分光放射輝度率を効率良く得ることができる。 （もっと読む）

【課題】装置の小型化を図りつつ、標本の散乱係数を測定することができる散乱係数測定装置を提供する。
【解決手段】標本Ａ面に対して光を斜めに射出する導光部１０と、標本Ａ面において光の入射点を中心として射出方向に複数配列され、標本Ａ面からの散乱光の強度をそれぞれ検出する受光素子２０と、受光素子２０により検出された標本Ａからの散乱光の強度の分布から、標本Ａの散乱係数を算出するＣＰＵ３０とを備える散乱係数測定装置１を採用する。 （もっと読む）

【課題】高感度の分光散乱計を提供する。
【解決手段】半導体ウェハ上の回折構造体からの回折の前に、必要な場合は、分光反射率計または分光エリプソメータを使って構造体の下に位置する膜の膜厚と屈折率とをまず測定する。そして、厳密なモデルを使って回折構造体の強度またはエリプソメトリックな署名を計算する。次に、偏光放射線および広帯域放射線を用いた分光散乱計を使って回折構造体を測定して回折構造体の強度またはエリプソメトリックな署名を得る。この署名をデータベース内の署名と適合させて構造体の格子型パラメータを判定する。 （もっと読む）

【課題】ノイズを含まず分光精度が高い光学フィルターデバイスを提供する。
【解決手段】光の反射特性および透過特性を有する一対の第１反射膜２５が設けられ、第１反射膜２５間のギャップ寸法を変位させることができる第１波長可変干渉フィルター２０と、光の反射特性および透過特性を有する一対の第２反射膜３５が設けられ、第２反射膜３５間のギャップ寸法を変位させることができる第２波長可変干渉フィルター３０と、を備え、第１波長可変干渉フィルター２０と同じ光軸上に、第２波長可変干渉フィルター３０が配置され、第１反射膜２５は誘電体多層膜、第２反射膜３５は金属膜で形成されている。 （もっと読む）

【課題】観察により取得される観察対象物の内部の媒質が変化する境界部に関する情報の解像度及び鮮明度のさらなる向上が図れる観察装置及び観察方法を提供する。
【解決手段】出力部１１は、観察対象物２に含まれる感応因子の双極子モーメントを誘起させるコヒーレントな照射光３１ａを出力する。照射光３１ａの波長範囲の少なくも一部と、感応因子が光を吸収する吸収波長帯域の少なくとも一部とが重複する。レーザーユニットは、照射光の波長範囲を含む波長範囲を有するフェムト秒パルスレーザー光を生成する。光フィルタユニットは、フェムト秒パルスレーザー光を受け入れ、そのフェムト秒パルスレーザー光のうちの所定の短波長側境界値よりも短い波長成分、及び所定の長波長側境界値よりも長い波長成分を除去して、照射光３１ａとして送出する。 （もっと読む）

【課題】製造工程の複雑化を防止すると共に、光照射で発生した励起キャリアを効率良くテラヘルツ電磁波の発生または検出に用いることができる光伝導基板等を提供する。
【解決手段】基板３と、基板３上に積層され、基板３のバンドギャップよりも大きなバンドギャップを有するキャリア移動防止層５１とキャリア移動防止層５１上に積層され、基板３のバンドギャップ以上のバンドギャップを有すると共に、キャリア移動防止層５１のバンドギャップよりも小さなバンドギャップを有する半導体層５２と、を備え、半導体層５２が、ＧａＡｓを低温でエピタキシャル成長させた層である。 （もっと読む）

【課題】光学ヘッドの小型化が可能であり、より自由度の高い測定が可能なテラヘルツ波発生検出装置を提供すること。
【解決手段】テラヘルツ波発生検出装置１００は、装置の制御を行うコントローラＣと、被測定物１１６に接してテラヘルツ波の発生及び検出を行う光学ヘッドＨとを備える。コントローラＣは、装置を制御するコンピュータや電源等含む電気機器１４０と、テラヘルツ波発生の種光パルスとしての光パルスの発生を行うコントローラ側ユニット１５０とを備える。光学ヘッドＨは、種光パルスの増幅及び圧縮を行う光学ヘッド側ユニット１７０を備える。さらにコントローラ側ユニット１５０と光学ヘッド側ユニット１７０との間には、コントローラ側ユニット１５０からの種光パルスを光学ヘッド側ユニット１７０へ伝送するファイバ伝送部１６０が設けられる。 （もっと読む）

【課題】テラヘルツ波の発生及び検出を行うテラヘルツ波発生検出室を有するテラヘルツ波伝播装置において、テラヘルツ波の伝播経路を簡単に調整できるテラヘルツ波発生検出室を提供すること。
【解決手段】本発明の一実施形態に係るテラヘルツ波発生検出室２００においては、テラヘルツ波発生部１０７及びテラヘルツ波検出部１１１は、壁面の開口部に挿入され、壁面の外側から固定部材２０３によって固定される。固定部材２０３は、凹型固定部材２０４と、凸型固定部材２０５とを含む。凹型固定部材２０４が有する凹面と、凸型固定部材２０５が有する凸面とを合致させて固定することによって、テラヘルツ波発生部１０７及びテラヘルツ波検出部１１１を所望の位置及び向きに調整することができる。 （もっと読む）

【課題】容易かつ高精度に測定対象物の屈折率を測定することができる屈折率測定装置を提供する。
【解決手段】入射させた照明光を内面反射させて端面まで導く導光ロッド１０と、導光ロッド１０の端面から所定位置における導光ロッド１０からの光の光束径を測定するラインセンサー２０と、ラインセンサー２０により測定された光束径から導光ロッド１０からの光の拡がり角を算出し、該拡がり角に基づいて導光ロッド１０の側面に接触する試料Ｓの屈折率を算出するＣＰＵ３０とを備える屈折率測定装置１を採用する。 （もっと読む）

【課題】有機化合物を主体として含む材料、無機化合物を主体とし有機化合物を含む材料または有機化合物と組合せて用いる無機化合物からなる材料の機能を、テラヘルツ分光を利用して、室温で感度よく観測し評価する方法を提供する。
【解決手段】有機化合物を主体とする材料、無機化合物を主体とし有機化合物を含む材料または有機化合物と組合せて用いる無機化合物からなる材料であり、該化合物が分子レベルで配列状態を形成している材料に、テラヘルツ波を照射して測定される周波数０．１〜１０ＴＨｚの領域における分光スペクトルを用いて該材料の機能を評価する方法であって、材料に所定の処理を加える前後に分光スペクトルを測定し、分光スペクトル間に出現する配列状態の構造の歪みに起因する非対称振動由来の吸収の変化を指標として機能を評価することを特徴とするテラヘルツ分光による材料の評価方法。 （もっと読む）