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Fターム[2G059BB10]の内容

光学的手段による材料の調査、分析 (110,381) | 測定対象 (10,253) | 固体 (1,815) | シート状、膜状のもの (723)

Fターム[2G059BB10]に分類される特許

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【課題】より低コスト且つ高速に紙葉類から複数種類の光を検出することができる光検出装置、及び光検出装置を備える紙葉類処理装置を提供する。
【解決手段】一実施形態に係る光検出装置は、紙葉類に対して光を照射する照明部と、光を検出し、信号を生成するセンサと、前記紙葉類からの光を前記センサに結像させるレンズと、前記照明部から発せられて前記紙葉類を照明した光の拡散反射光、正反射光、拡散透過光、及び直接透過光のうちの2つを前記レンズにより前記センサの異なる領域に結像させるように配置された反射部材と、を具備する。 (もっと読む)


【課題】白色インクによって形成された画像に、ひび割れが生じているかどうかを、簡便かつ正確に評価することのできる評価方法を提供する。
【解決手段】本発明にかかる評価方法は、光透過性を有する記録媒体上に形成され、CIELAB色空間におけるL*値が70以上である画像を評価する方法であって、前記記録媒体に前記光を透過させて第1透過率を測定する第1測定工程と、前記記録媒体上の前記画像が形成された領域の範囲内の領域で前記光を透過させて第2透過率を測定する第2測定工程と、前記第1透過率に対する前記第2透過率の割合である透過率分率に基づいて前記画像のひび割れの有無を判定する判定工程と、を有する。 (もっと読む)


【課題】正確な日射反射率を予測計算できること。
【解決手段】KS計算部は、350nmから1600nmの全ての波長の光について反射率90%以上となる下地の反射率を用いて、前記下地上の塗膜の吸収係数及び散乱係数を計算する。日射反射率計算部は、塗膜の塗料の混合比率と、KS計算部が計算した吸収係数及び前記散乱係数と、に基づいて、塗料が混合された塗料の日射反射率を計算する。 (もっと読む)


【課題】発光素子用の材料が、ホスト材料若しくはゲスト材料として有効か否かについて評価する。
【解決手段】発光素子用材料の吸収強度を測定する第1のステップと、発光素子用材料に対し、所定の時間、光を照射する第2のステップと、繰り返す。光を照射した時間に対して、吸収強度の変化について評価することで、発光素子用材料がホストまたはゲストとして適当であるかを判断することができる。発光素子用材料に照射する光は、発光素子用材料において励起に係る骨格に因って吸収される波長成分を含む光であることが好ましい。 (もっと読む)


【課題】 二層めっき基板における金属被膜層とポリイミド基板層との間の密着性について、簡便且つ迅速な方法により、剥離モードを含めて評価することが可能な方法を提供する。
【解決手段】 二層めっき基板を金属被膜層とポリイミド基板層の間で剥離した後、得られた金属被膜層側の剥離界面を顕微赤外分光法により、特に全反射プリズムを試料である金属被膜層側の剥離界面に密着させる全反射吸収分光法を用いて測定し、1725〜1740cm−1で検出されるポリイミド由来の官能基であるC=O伸縮振動のピーク強度に基づいて剥離モードを判定する。 (もっと読む)


【課題】視野絞りの開口形状による制限を受けることなく、様々な形状を測定範囲としてその測定範囲の分光スペクトルを測定することを可能とする。
【解決手段】測定試料1を撮像して測定範囲のカラー画像情報を取得する撮像手段41と、カラー画像情報を画像処理することにより、測定範囲から複数の色領域11を抽出する画像処理手段68と、画像処理手段68により抽出された色領域の一部を照射範囲として照明光を照射する照明光学系29と、照射範囲に照射された照明光による反射光により色領域11の一部の分光スペクトルを取得する分光スペクトル取得手段51とを備える。照明光学系29及び分光スペクトル取得手段51により複数の色領域11それぞれの一部の分光スペクトルを取得し、前記複数の色領域11それぞれに対応した領域面積及び一部の分光スペクトルに基づいて、測定範囲全体の分光スペクトルを算出する。 (もっと読む)


【課題】 導光板を作製するときに用いられる導光板用シートや導光板自身の黄色味または透明度の程度を、効率よく検査することができる検査装置を提供する。
【解決手段】 光照射部2は、導光板用シート6の端面に光を照射する。受光部3は導光板用シート6を透過した透過光を受光しX値および輝度値を検出する。判定部42の第1判定部421は、第1記憶部411に記憶される相関関係αに基づいて受光部3により検出されたX値に対応するYI値が所定の閾値を超えているか否かを判定し、第2判定部422は、第2記憶部412に記憶される相関関係βに基づいて受光部3により検出された輝度値に対応する全光線透過率が所定の閾値未満であるか否かを判定する。出力部43は、判定部42による判定結果を出力する。 (もっと読む)


【課題】本発明の目的は、試料面上の光沢ムラ特性を評価できる鏡面反射光分布測定方法および装置を提供することである。本発明により、鏡面反射光分布の測定を可能とし、鏡面反射光の試料面上のムラの測定方法を提供する。
【解決手段】照明光を試料に入射する工程と、試料の表面をあおり光学系により測定する工程とを含み、照明光を試料に入射する光軸の角度と、試料の表面を測定する光軸の角度が試料の法線に対して鏡面反射の関係となることを特徴とする試料の鏡面反射光分布測定方法。 (もっと読む)


【課題】基材上に設けられたシラノール基を有する化合物の結合状態を、非破壊かつ非接触にて簡易に検知する基材表面性状の検知方法及び検知装置を提供する。
【解決手段】シラノール基を有する化合物が付与された基材の化合物付与面に平行偏光又は垂直偏光のいずれかを選択して光を入射し、前記基材から出射した光より平行偏光と垂直偏光とを検出し、検出された各偏光を100cm−1〜1800cm−1の範囲で分光分析して得られる振動スペクトルから、基材上に付与された前記化合物中の構造部分のピークを分離することにより、前記基材上に存在する前記化合物の結合状態を検知する。 (もっと読む)


【課題】簡易かつ低コストな構成で、高精度に表面状態を観測する。
【解決手段】入力された撮像画像に対して、それぞれ異なる所定波長の分光特性に対応した色コードの無地画像からなる、少なくとも3つ以上のバンドパスフィルタ5をそれぞれ相関演算し、分光画像を生成する分光画像生成部32と、分光画像生成部32により生成された各分光画像をグレースケール化するグレースケール処理部33と、グレースケール処理部33によりグレースケール化された各分光画像の輝度を隣接波長間で差分し、差分画像を生成する波長差分算出部41とを備えた。 (もっと読む)


【課題】微結晶シリコン膜における結晶化の程度を示す結晶化指数を容易かつ精度良く取得する。
【解決手段】結晶化指数取得装置1では、微結晶シリコン膜の理論誘電関数を複数の部分誘電関数モデルの合成として表現し、微結晶シリコン膜における結晶化の程度を示す結晶化指数κが、複数の部分誘電関数モデルのうち、結晶シリコン膜の誘電関数における虚部の高エネルギー側のピークに寄与する高エネルギーピークモデルの振幅に基づいて設定される。そして、複数の部分誘電関数モデルに含まれるパラメータ群の各パラメータを結晶化指数κにより表現し、結晶化指数κを変更することにより各パラメータの値を変更し、分光エリプソメータ3により取得された測定誘電関数に対する理論誘電関数のフィッティングが行われる。これにより、微結晶シリコン膜の結晶化指数κを容易かつ精度良く求めることができる。 (もっと読む)


【課題】テクスチャ構造を有する対象物上に形成された薄膜の形状を容易かつ高精度に取得する。
【解決手段】膜形状取得装置1では、上面に複数のテクスチャ凸部を有する基板9上に形成されたシリコン膜の光学モデルにおいて、複数のテクスチャ凸部に一致する薄膜凹部およびその上方に位置する薄膜凸部が設定される。そして、薄膜凸部、薄膜凹部、および、薄膜凸部と薄膜凹部との間の中間部の形状を表すパラメータ群に含まれる各パラメータを有効膜厚にて表現し、有効膜厚を変更することにより各パラメータの値を変更して理論スペクトルの測定スペクトルに対するフィッティングが行われる。これにより、シリコン膜の形状を容易かつ高精度に取得することができる。 (もっと読む)


【課題】測定対象領域の透過率を内部反射光による誤差を抑えて精度良く測定するのに好適な透過率測定装置を提供すること。
【解決手段】透過率測定装置を、被検光を射出する光源装置と、該被検光を集光して測定対象上にスポットを形成する第一光学系と、測定対象を透過した被検光を集光してスポットの共役像を形成する第二光学系と、共役像の形成位置近傍に配置された絞りと、絞りを透過した被検光を検出する光検出手段と、から構成する。 (もっと読む)


【課題】防眩性に優れるとともに、高精細化ディスプレイに適用した場合であっても、白茶けやシンチレーションの発生を充分に抑制でき、更に、偏光素子との貼合工程や液晶セル組立工程の途上でのクラックの発生や、防眩性の経時変化を充分に抑制することができる防眩性フィルムを提供する。
【解決手段】光透過性基材と、該光透過性基材の少なくとも一方の面上に形成され、表面に凹凸形状を有する拡散層とを有する防眩性フィルムであって、上記拡散層は、有機微粒子(A)、及び、(メタ)アクリレートモノマーを必須成分として含む放射線硬化型バインダーを含有する塗液を、上記光透過性基材の少なくとも一方の面上に塗布し、乾燥して塗膜を形成し、該塗膜を硬化させてなるものであり、上記拡散層中の上記有機微粒子(A)は、上記放射線硬化型バインダーが含浸した含浸層を有し、上記含浸層は、平均厚さが0.01〜1.0μmであることを特徴とする防眩性フィルム。 (もっと読む)


【課題】透光部材に載置された記録材に対して、透光部材を介して光を斜めに照射するように構成された記録材判別装置において、装置の大型化を招くことなく、照射光量を増加させることで、記録材判別精度を向上させる。
【解決手段】大光量LED51からの光が、カバー部材C1を透過した後、カバー部材C1に載置された記録材Pに予め設定された角度で照射されるように、カバー部材C1には、大光量LED51からの光が垂直に入射する受光面C14が設けられている。 (もっと読む)


【課題】紫外領域から近赤外線領域にわたる波長域の光線に対する被験物質の光線阻害能を、in vitroで精度良く評価するための新規な評価装置を提供す。
【解決手段】本発明に係る光線阻害能の評価装置は、標準物質を用いて被験物質の光線阻害能を評価するための装置であって、紫外可視近赤外分光光度計と、積分球と、を備えた光線透過率検出手段と、被験物質および標準物質の各測定試料を搭載するための第1の光線透過性スライドガラスと、各測定試料を挟み込むための第2の光線透過性スライドガラスと、前記第1および第2のスライドガラスを固定し、各測定試料の厚さを均一にするためのスライドホルダーと、を有しており、第1のスライドガラスは、各測定試料の搭載領域を画成するための溝を有している。 (もっと読む)


【課題】 本発明は、微量物質に対する分光分析方法および分光分析用サンプリングユニットに関するものである。
【解決手段】 本発明の分光分析方法は、試料を加熱し、試料から特定物質の蒸気を発生させる工程と、蒸気中に、電磁波を反射する反射部材に特定物質と相溶性のある有機高分子膜を成膜させたサンプリングプレートを曝露する工程と、有機高分子膜に電磁波を照射し、反射部材から反射されたスペクトルを測定する工程とを有する、よう構成する。 (もっと読む)


【課題】 ウインドシールド上に付着した物体を雨滴であるか否かを判別する雨滴検出装置を提供する。
【解決手段】 雨滴検出装置による雨滴検出処理は、第1受光素子の受光強度が雨滴検出判定値以下となった場合、雨滴がウインドシールドに付着したとする雨滴付着判定を行う(S401)。雨滴付着判定を行った後、第1受光素子の受光強度が低下した時刻から遡って第1確認時間P1および第1受光素子の受光強度が低下した時刻から第2確認時間P2を設定する(S403)。次に第2受光素子の受光強度が急低下判定値以下まで低下したか否か判定する(S404)。第1設定時間P1および第2設定時間P2内に第2受光素子の受光強度が急低下判定値以下まで低下した場合、ウインドシールドに付着した物体は雨滴ではないと判定し、雨滴付着判定を取り消すとともに、雨滴検出を中止する(405)。これにより、ワイパを駆動する誤動作を防止することができる。 (もっと読む)


【課題】LEDを選別しなくても、LEDが測定試料を照射したときの、LEDの波長及び発光強度の設計値からのずれによる反射強度のずれを精度良く補正する。
【解決手段】LED制御部41は、LED1〜LED3が白色分光ターゲットTWを照射したときの反射強度が所定の基準反射強度E0R0となるように、LED1〜LED3の駆動電流を調節する。PDは、LED1,LED2が基準発光強度E0で傾斜分光ターゲットTGを照射したときのLED1,LED2の反射強度R1L11,R1L21を検出する。波長算出部42は、PDにより検出されたLED1,LED2の反射強度R1L11,R1L21を、傾斜分光ターゲットTGを基準発光強度E0で照射したときに得られる反射特性を規定する関数に代入し、LED1,2の実波長を求める。LED1,2の実波長と、LED1,2の設計値の波長とのずれから反射強度R1L11,R1L21を補正する。 (もっと読む)


【課題】 走行している長尺の光学異方性膜が所望の光学特性が得られているか否かの判定をインラインでの測定で可能にする評価方法、かかる評価方法を可能にする測定装置、および該評価結果を用いて所望の光学特性を有する光学異方性膜を製造する方法を提供する。
【課題手段】 光学異方性膜に対し垂直方向、面内遅相軸方向に対し方位角−5°〜+5°かつ極角θ(ただし、30°≦θ≦70°である)の方向、および面内遅相軸方向に対し方位角θ(ただし、30°≦θ≦60°である)かつ極角θ(ただし、30°≦θ≦70°である)の方向に光を照射してそれぞれの透過偏光状態の変化を測定する工程、およびその測定値と、所望の光学特性を有する光学異方性膜について同様の測定を行って得られる透過偏光状態の変化とを対比する工程、を有する光学異方性膜の評価方法。 (もっと読む)


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