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Fターム[2G059CC01]の内容

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【課題】レーザ式ガス分析計の校正を容易化し、水分濃度を高精度に測定可能とする。
【解決手段】発光ユニット250及び受光ユニット260を備え、信号処理回路が受光部207の出力信号から光源部204の変調信号の2倍波信号を検出して測定対象ガスの濃度を測定するものであって、水分濃度を測定可能なレーザ式ガス分析計の校正装置に関する。両ユニット250,260の間に気密的に接続され、レーザ光の所定の光路長を保持する配管301と、配管301内に所定水分濃度の空気を供給するガス洗浄瓶500と、配管301内に供給された水分含有空気の酸素濃度を測定する酸素計400とを備え、測定した酸素濃度から水素濃度を換算し、この水素濃度と前記光路長とを用いてガス分析計による水素濃度の測定値を校正する。 (もっと読む)


少なくともいくばくかの水を含有する物質中に存在し得る塩の濃度を決定する方法であって、
a)前記物質によって散乱された光子のラマンスペクトルを2500cm−1から4000cm−1の波数範囲で記録するステップと、
b)所与の温度の前記物質について、2つの特定的な波数に対応する、前記スペクトルの2点を決定するステップと、
c)前記2点を表す2つの大きさの比を計算して測定比を得るステップと、
d)前記測定比を、前記塩の濃度の関数として様々な温度について前記塩の濃度を示す基準チャートと比較するステップとを含むことを特徴とする、方法。
この方法は、有利には、試料の採取を必要とせず、非接触的でもよい。 (もっと読む)


【課題】計測エリア内における微粒子を高効率で計測可能なようにトラップすること。
【解決手段】本トラップ方法は、計測エリア内の浮遊微粒子を分光的手段で計測するに際して、その浮遊微粒子を当該計測エリア内でトラップする微粒子トラップ方法であって、上記計測エリア内に微粒子通過路を配置し、この微粒子通過路内に微粒子が通過できないサイズの細孔を多数備えた多孔質ガラスをトラップフィルタとして配置する。 (もっと読む)


【課題】微量で微小な浮遊微粒子を効率よく高感度で計測可能とする。
【解決手段】本発明の微粒子計測装置は、計測エリア内を浮遊する微粒子を導入する経路を備え、かつ上記経路内に多孔体からなる微粒子トラップフィルタを配置してなる微粒子トラップ処理手段と、上記微粒子トラップフィルタ上の所定小エリアに上記微粒子を集積させる微粒子集積手段と、上記所定小エリアに集積した微粒子に分光感度を増感させる増感材を添加処理する増感処理手段と、上記分光感度を増感された微粒子に対して所要の分光を行う分光処理手段と、を含む。 (もっと読む)


【課題】本発明は、フッ素系化合物で表面処理されている粉末のフッ素系表面処理部を定量分析することが可能な分析方法を提供することを目的とする。
【解決手段】フッ素系化合物を含有する混合物を分析する方法は、混合物を加熱して、温度に対する該混合物の重量変化を測定する工程と、加熱された混合物から発生したガスを分析する工程を有する。 (もっと読む)


【課題】簡便に半田材の劣化度の測定精度を向上させることができる半田材検査装置および半田材検査方法を提供する。
【解決手段】基材の上に塗布され平坦化された半田材の表面に照射光を照射する投光部と、投光部から照射された光の拡散反射光を受光する受光部と、投光部と受光部とを収容し、照射光および拡散反射光が通過可能な窓部が設けられた筐体と、平坦化された半田材の表面から所定高さに筐体を支持する支持部と、受光部の出力信号を処理する処理部とを備え、処理部は、筐体と半田材の表面の水平位置が相対的に変化したことに応じて、受光部に半田材の表面の異なる複数の領域から得られる拡散反射光を受光させて複数の受光データを収集し、複数の受光データに基づいて半田材の劣化度を検査する半田材検査装置と半田検査方法である。 (もっと読む)


【課題】導波効率の高い近接場光導波路を提供する。
【解決手段】誘電体層と、誘電体層内に分散された金属ナノ粒子群を有し、金属ナノ粒子の粒径が4nmから100nmの範囲にありかつ金属ナノ粒子の中心間の距離と金属ナノ粒子の直径との比が1.1から3.8の範囲にある。金属ナノ粒子は、内部に金属コアと外周部に有機物からなるシェルを有するコアシェル構造のナノ粒子であって、前記金属コアとして金(Au)または銀(Ag)から形成される。 (もっと読む)


【課題】周囲温度の変化が大きい環境においても安定的かつ正確にガス濃度を測定可能としたレーザ式ガス分析計を提供する。
【解決手段】周波数変調方式のレーザ式ガス分析計であって、信号処理回路が、受光部の出力信号から2倍波信号の振幅を検出する同期検波回路と、その出力信号に存在するガス吸収波形から測定対象ガスの濃度を検出する演算部と、を備える。また、演算部208eは、ガス吸収波形の最大値と最小値との差分から測定対象ガスの濃度を検出する機能を有し、レーザ駆動信号発生部204sから出力されるトリガ信号を時間的な基準として、ガス吸収波形の最大値及び最小値が発生するタイミングを予め検出して保存可能であり、これらのタイミングに基づいてガス吸収波形の最大値及び最小値を検出する。更に、前記タイミングを、周囲温度に基づいて補正可能とする。 (もっと読む)


【課題】高密度化した二次電池用活物質の材料を検査する検査システムを提供する。
【解決手段】二次電池用活物質の材料の密度を上げる高密度化手段と、高密度化された材料に光を照射する照射手段と、照射手段により照射された光により、高密度化された材料から発せられる反射光または透過光を受光し、受光した光に基づいた信号を出力する受光手段と、信号から色彩値を算出する算出手段と、算出手段が算出した色彩値と予め算出された良品による色彩値とを照合し、算出した色彩値が当該良品による色彩値に基づいた規定の範囲内の値であるか否かにより、二次電池用活物質の材料が良品か否かを判定する判定手段と、を含む。 (もっと読む)


【課題】医薬品の製剤化プロセスのうち、滑沢剤混合工程における最適混合終点を検出する方法を提供する。
【解決手段】製剤における滑沢剤成分の混合量、混合均一性及び展延状態をリアルタイムもしくはオフラインでモニターする方法であって、前記滑沢剤成分に特徴的な吸収波長を含む波長領域における吸光度の合計値を測定し、その値を指標として製剤における滑沢剤成分の混合量、混合均一性及び展延状態を評価することを含む前記方法。 (もっと読む)


【課題】 波長可変半導体レーザ光源からの可視光や近赤外光を対象物に照射して得られる透過スペクトルや反射スペクトルを分析すると、対象物に含まれる特定成分の含有率が得られる。しかしあらかじめ対象物の正しい品種名がわかっていないと基準スペクトルが設定できないから、測定したスペクトルとの比較ができず、特定成分の含有率の算出が不可能となる問題があった。
【解決手段】 そこでこの発明は、あらかじめ対象となる分野毎に様々な品種に関してスペクトルと特定成分の含有率を測定して、それをデータベース化してカードメモリに記憶させておく。測定時に携帯型スペクトル分析機に該当分野のカードメモリをセットし、測定したスペクトルとカードメモリ内のデータベースのスペクトルをコンピュータで逐次パターン比較して最も近似したスペクトルを決定して対象物の品種名を自動的に同定し、双方のスペクトルのわずかな差異から特定成分の含有率を算出している。 (もっと読む)


【課題】概してセルステップのかなり前のアレイ試験ステップにおいてa−Si残留物欠陥を検出することができるようにする表面照射装置及び方法が提供される。
【解決手段】a−Siは露光されない場合に高い固有抵抗を有し、それにより従来のTFTアレイ試験手順において検出するのは難しい。一方、a−Si残留物が光で照射されるときに、その固有抵抗は減少し、それにより、TFTアレイセルの電気的特性が変化し、電圧画像化光学システム(VIOS)を用いてそれを検出することができる。一実施態様では、TFTアレイセルが照射用光パルスに露光され、VIOSを用いて実行される試験中にTFTパネルの上部側に影響を及ぼす。一実施態様では、表面照射はVIOSにおいて電圧画像化のために用いられる照射と同じ光路に沿って進行する。別の実施態様では、表面照射のための光源(複数可)が、VIOS変調器に極めて近接して配置される。
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【課題】2種類のガスの濃度を低コストにて測定可能としたレーザ式ガス分析計を提供する。
【解決手段】光源部204は、レーザ素子204eの温度を制御する温度制御部204dと、発光波長を変化させるための波長走査駆動信号発生部204aと、発光波長を周波数変調するための正弦波信号を発生する高周波変調信号発生部204dと、波長走査駆動信号と正弦波信号とを合成して出力するレーザ駆動信号発生部204sと、を備え、受光信号を処理する信号処理回路208は、受光素子207の出力信号を増幅して正弦波信号の周波数成分を検波する1倍周波数検波回路208fと、受光素子207の出力信号を増幅して正弦波信号の2倍の周波数成分を検波する2倍周波数検波回路208cと、を備え、一方のガス濃度を検波回路208fの出力信号から検出し、他方のガス濃度を検波回路208cの出力信号から検出する。 (もっと読む)


【課題】半導体レーザーの出力変動および周囲温度等の環境変化の影響を、比較的簡単な構成で補正できるようにする。
【解決手段】光導波層11上に、アンモニアガスと反応する反応膜12を部分的に形成して、光導波層11の反応膜12が形成されている部分を光導波路とする検知光用光導波路と、光導波層11の反応膜が形成されていない部分を光導波路とする参照光用光導波路とを構成し、分岐されたレーザー光を、直角プリズム13によって、検知光用光導波路および参照光用光導波路にそれぞれ入射させ、検知光用光導波路および参照光用光導波路からの導波光を、直角プリズム14でそれぞれ取り出して、第1,第2のフォトダイオード8,9で検出する。 (もっと読む)


【課題】PA信号をS/N比よく計測することができ、且つ、コスト性に優れた光音響分光測定装置の提供。
【解決手段】音波検出器と連通する導波通路と、導波通路と連通する孔を有する板状の光透過性部材と、光透過性部材と衝合する板状のシール部材と、試料室と音波検出器とを連通するための導波通路と、を備えた光音響セルであって、前記シール部材に試料室を形成したことを特徴とする光音響セルおよびそれを用いた光音響分光装置。 (もっと読む)


本発明は、テラヘルツ周波数帯域中に存在する摂動によって光学媒体で誘起される一時的な複屈折の、直接で、非変形の、ワンショット測定方法及び装置に関する。本発明の目的は、ワンショットの測定方法及びワンショットの測定装置を提供することによって先行技術の欠点を軽減することにある。これらは、スペクトル符号化/復号化方式に基づく。そして、それらはすべての短いパルス(UV-NIR)のレーザー光源と互換性がある。この点に関し、本発明は、少なくとも1つのテラヘルツ摂動(6)によって、光学媒体(12)で誘起される一時的な複屈折のワンショット測定方法を提供し、その方法は、光パルス信号(2)の送信及びスペクトル符号化のステップを含む。符号化ステップは、スーパーコンティニューム(3)の生成を含み、さらに、2つの偏光方向へのスーパーコンティニュームの電界を分解し、その2つの成分の強度Is及びIpを同時に測定することによる、媒体(12)の摂動(6)によって誘起されたスーパーコンティニュームの偏光の楕円率の復号ステップと組み合わされる。 (もっと読む)


【課題】1個の半導体レーザを用いることで、回路規模の増大を抑制しつつ、高濃度ガスと低濃度ガスの濃度を安定して検出するとともに、応答性の劣化を抑制する。
【解決手段】切替制御部40は、レーザ光の波長のスキャンが行われている一部の期間内に周波数変調が行われるように周波数変調のタイミングを切り替え、制御プロセッサ50は、増幅器43から出力された受光光量信号に基づいて、高濃度ガスの濃度を算出するとともに、増幅器48から出力された2f成分検出信号に基づいて、低濃度ガスの濃度を算出する。 (もっと読む)


【課題】回路規模の増大を抑制しつつ、ガス濃度の計測精度を向上させる。
【解決手段】2倍波ずらし周波数信号発生部45は、変調周波数fmの2倍波周波数からずらし周波数Δfだけずらされた周波数(2f+Δf)を持つ(2f+Δf)参照信号を発生し、検波器46は、2倍周波数信号発生部45にて発生された(2f+Δf)参照信号とバンドパスフィルタ44からの出力を合成することで、バンドパスフィルタ44からの出力から2f成分を生成し、ローパスフィルタ47にて1f以上の高域成分を十分減衰させ、ピークホールド回路49にてピークホールドされた値からΔf成分をローパスフィルタ50にて抽出し、2f成分検出信号として出力する。 (もっと読む)


【課題】コンクリート構造物中の任意深さの劣化成分を微破壊的に簡便に且つ短時間で解析して、当該構造物中の劣化状態を評価することが可能な装置及び方法の提供。
【解決手段】コンクリート構造物中の劣化成分解析装置は、近赤外線を照射してその反射光を分光する装置と、これらを記録・解析する装置で構成される。コンクリート中のセメント水和物が劣化により化学変化する事に着目し、化学分析されたコンクリートの近赤外スペクトルから種々の劣化の化学分析値と相関の高い近赤外スペクトルの波長群を求めて多変量解析して、近赤外スペクトルデータから種々の劣化成分の値を算出する検量線を作成し、劣化成分の値が未知であるコンクリートの近赤外スペクトルを上記検量線に対応させて、コンクリート中の劣化成分の値を演算する。 (もっと読む)


【課題】複数のガス処理装置における除害効率を実使用条件で監視し、ガス中に多量に存在する水分やダストの影響を排除し、高精度の分析を行うことにより、処理装置によるフッ素系ガスの除害効率を正確かつ低コストで求める。
【解決手段】排ガス中の有害成分を除害処理して排出し処理前の排ガスを被測定ガスA、処理後のガスを被測定ガスBとして導出する複数のガス処理装置1Aと、第1のガス分析計3と、複数のガス処理装置からの複数の被測定ガスAまたは複数の被測定ガスBから選択的に1種のガスを採取して第1のガス分析計に送給するサンプリング装置2と、第1のガス分析計のための校正ガスを供給する校正ガス供給装置4と、サンプリング装置での複数の被測定ガスAと被測定ガスBの選択的採取を制御する制御部5と、ガス分析計からの測定値に基づいてガス処理装置での除害効率を算出する演算部6を備えたガス処理装置の監視装置。 (もっと読む)


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