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Fターム[2G059CC02]の内容

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【課題】より高分解能で、かつ、正確に、原子の内部構造の観測ができるようにする。
【解決手段】標的としての物質Mにパルスレーザを照射することにより発生する光電子が電子検出器33で検出され、演算装置27に供給される。また、発生した光電子の運動量の大きさpと直線偏光方位角θが演算装置27に供給される。演算装置27は、光電子が発生する直前(再散乱直前)の光電子の運動量(p,θ)を動径方向成分と円周方向成分で離散化した離散化運動量(p,θ)のうちの所定の離散化運動量の円周方向成分θで規格化した弾性散乱断面積の比Eijと、所定の離散化運動量の円周方向成分θで規格化した理論値の弾性散乱断面積の比Tijの誤差が最小となるパラメータΞを探索して検出する。本発明は、例えば、原子を観測する超高精度・実時間顕微鏡に適用できる。 (もっと読む)




【課題】感度の高い観察を行なうこと。
【解決手段】観察対象である観察面14を保持する第1部品12と、観察面14から離間して設けられた金属粒子16を保持する第2部品18と、光24を前記第1部品12または前記第2部品18を介し前記観察面14に照射する照射部20と、前記観察面14を反射または透過した前記光から前記観察面14の状態を観察する観察部22と、を具備し、前記第1部品12および前記第2部品18は、前記観察面14および前記金属粒子16が前記光24の電磁場内となるように、前記観察面14および前記金属粒子16を保持することを特徴とする観察装置。 (もっと読む)


【課題】小型に構成可能な多重内部反射法を用いた化学物質検出装置を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の化学物質検出装置は、互いに対向する上面及び下面を有する半導体結晶基板を備え、当該半導体結晶基板は、下面に形成されている第1の凹条部及び第2の凹条部を有し、赤外光源で生成された赤外光は、第1の凹条部の一壁面である入射面から当該半導体結晶基板の内部に入射し、第2の凹条部の一壁面である出射面から当該半導体結晶の外部に出射され、赤外検出器により検出される構成である。 (もっと読む)


【課題】塩素濃度検出用電極の校正機構がなくても正確な塩素濃度の継続的管理を行なえる塩素濃度の自動管理装置を提供する。
【解決手段】自動管理装置Mは、自動化された吸光光度法により処理液循環系Lから採取したサンプリング液の遊離残留塩素濃度などを時間を空けて測定する塩素濃度計Aと、上記サンプリング液の酸化還元電位を測定する酸化還元電位計Bと、上記塩素濃度計Aで測定した遊離残留塩素濃度などの濃度変化と上記酸化還元電位計Bで測定した酸化還元電位などの変化とを対応させて遊離残留塩素濃度などの予測制御係数を算出し、この予測制御係数と最新の酸化還元電位とにより予測される制御用塩素濃度を算出し、この制御用塩素濃度に基づき制御信号を算出して出力する制御部Cと、この制御部Cからの制御信号により処理液循環系の遊離残留塩素濃度などを調整する塩素濃度調整部Dとを具備している。 (もっと読む)


【課題】空気によって少なくとも部分的に吸収される光を使用するよう設計され、かつ、より能率的なパージングシステムを有する、光学ツールのための方法を開発する。
【解決手段】試験体の測定のための方法において、該試験体の反射率測定データおよび分光偏光解析データを測定する工程と、該反射率測定データから、該試験体上に形成された窒化酸化物ゲート誘電体の厚さを判定する工程と、該厚さおよび該分光偏光解析データから、窒化酸化物ゲート誘電体の屈折率を判定する工程と、該屈折率から、該窒化酸化物ゲート誘電体の窒素濃度を判定する工程と、を含む。 (もっと読む)


【課題】コンパクトで、かつ、設計・測定の自由度の高い水素吸着検知センサ及び水素吸着検知装置を提供する。
【解決手段】水素吸着検知センサ1は、光が入射及び反射する受光表面2aを有した基板2と、受光表面2a上に設けられたパラジウム薄膜層4と、を少なくとも備える。パラジウム薄膜層4又は基板2はグレーティングを構成し、パラジウム薄膜層4に水素分子が吸着する。また、グレーティングは平行に並んだ多数の矩形溝によって形成されることが好ましい。グレーティングのピッチは1μm〜2μmであることが好ましい。パラジウム薄膜層4の層厚さは1〜20nmであることが好ましい。パラジウム薄膜層4と基板2との間には少なくとも一つの内側薄膜層3をさらに備え、内側薄膜層3は金、銀、銅、又はアルミニウムを含むことが好ましい。 (もっと読む)


フッ素ガスを発生させる装置であって、少なくとも1つのフッ素発生セルと、フッ素発生セルによって得られた生成物の成分を検出するための少なくとも1つのフッ素発生セル検出器とを含み、フッ素発生セルの少なくとも1つが、フッ素発生セル検出器と接続される、装置。
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【課題】土壌に含まれる腐植について、その量及び質を簡易的に測定する方法及びそれを測定するための装置を提供する。
【解決手段】土壌から抽出された腐植の溶液を波長400nm以上600nm以下から選択される少なくとも1つ以上の波長の光および600nm以上800nm以下から選択される少なくとも1つ以上の波長の光のそれぞれの透過量と、前記光を照射しつつ更にこの液に励起光を照射しながら得られる前記波長における光の検出量を測定しこれをもとに腐植の量と質を測定する。 (もっと読む)


【課題】安全性の高い光学式の水素検出技術であって、光源光量の変動や迷光の影響を受けない水素検出技術を提供する。
【解決手段】水素吸蔵金属の薄膜に、その膜面内において90度回転対称でない形状を有する開口でなる周期的な開口のアレイを設けて表面プラズモン共鳴増強構造を構成した水素検出用表面プラズモン共鳴素子65の膜面に光源手段(波長可変レーザ61)からの光を照射し、透過光を光検出手段(光量計62)で検出する。水素検出用表面プラズモン共鳴素子65の水素吸蔵に伴う光透過周波数特性の変化に基づいて水素を検出する。 (もっと読む)


シリコン基板上の1組の高濃度ドープ領域を1組の低濃度ドープ領域から識別する方法が開示される。この方法は、シリコン基板を提供することを含み、このシリコン基板は、1組の低濃度ドープ領域および1組の高濃度ドープの領域で構成されている。この方法は、電磁放射源でシリコン基板を照明することをさらに含み、この電磁放射源は、約1100nmを超える波長の光を送出する。この方法は、1組の低濃度ドープ領域、および1組の高濃度ドープ領域の波長吸収をセンサーで測定することも含み、約1100nmを超えるいかなる波長に対しても、低濃度ドープ領域中の波長の吸収百分率は、高濃度ドープ領域中の波長の吸収百分率より相当に下回る。
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【課題】インコヒーレント光を用いた測定において回折限界以下の空間分解能を得る。
【解決手段】膜質評価装置1は、マイケルソン干渉計3で赤外光の干渉光を形成した後に、ビームスプリッタ12で第1の測定光と第2の測定光に分岐させる。第1の測定光と第2の測定光は、測定対象物Wの表面に位置をずらして照射させる。これにより、2つの測定光が重ねあわされる領域と重ね合わされない領域が形成される。差分処理部21で2つの測定光を受光したときの光強度信号の差分を算出し、このデータに基づいてフーリエ変換することで赤外スペクトルを得る。 (もっと読む)


【課題】コンクリートの化学的な劣化度の評価方法を提供する。
【解決手段】コンクリート12に照射されたテラヘルツ波の吸光度を用いたコンクリートの化学的な劣化度の評価方法であって、前記コンクリート12に一対のボーリング孔14を形成し、第1光ファイバ42により一方のボーリング孔14aの所定の深さ位置まで前記テラヘルツ波を導入して他方のボーリング孔14bに向けて前記テラヘルツ波を照射し、前記他方のボーリング孔14bに導入された第2光ファイバ46を介して、前記テラヘルツ波の透過波を検出して前記吸光度を算出し、前記吸光度と、前記コンクリート12と同一組成を有し劣化度が既知のコンクリートの吸光度と、を対比してなる。 (もっと読む)


材料内のイオン注入ドーズ量を測定するための方法及び装置は、(i)材料の注入面による反射スペクトルを測定する工程、ここで注入面は注入面から材料内のある深さまでの材料層及びこの材料層の下の脆弱層を形成するためにイオン注入プロセスにかけられている、(ii)反射スペクトル強度値を注入面への入射光のそれぞれの波長の関数として格納する工程、及び(iii)入射光の少なくとも2つの波長における少なくとも2つの対応する反射スペクトル強度値の比較に基づいてイオン注入プロセス中に用いられたイオン注入ドーズ量を計算する工程を含む。
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UMG-Si原料バッチ中のボロンおよびリンの濃度を決定するための品質管理プロセスを提供する。シリコン検査インゴットは、UMG-Si原料バッチから得た溶融UMG-Siの方向性凝固によって形成される。シリコン検査インゴットの抵抗率を上部から底部まで測定する。次いで、シリコン検査インゴットの抵抗率プロファイルをマッピングする。シリコン検査インゴットの抵抗率プロファイルから、UMG-Siシリコン原料バッチのボロンおよびリンの濃度を算出する。さらに、UMG-Si原料バッチにそれぞれ対応する複数の検査インゴットを、多るつぼ結晶成長器において同時成長させてもよい。

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【課題】シリコン中に含まれる炭素濃度の測定を迅速且つ簡便に行うことが可能な方法を提供する。
【解決手段】シリコン試料100質量部に対して銅50〜250質量部を添加して測定試料を調製し、該測定試料を酸素雰囲気下にて溶融、燃焼させ、発生する二酸化炭素を赤外吸収分光法により測定することを特徴とするシリコン試料中の炭素濃度の測定方法である。前記測定試料には、さらにタングステン、錫及び鉄からなる群から選択される1種以上の金属を添加することが好ましく、また、前記シリコン試料には、600℃以上で加熱処理を行うことが好ましい。 (もっと読む)


【課題】金属粉末表面に存在する水酸基の定量方法を提供する。
【解決手段】金属粉末をフーリエ変換赤外分光光度計用の拡散反射セルに挿入し、前記分光光度計内の試料室に設置する。試料室を含む全ての測定光路を圧力条件6.67kPa以下に保持することで、測定光路上に存在する水分と炭酸ガスの影響を除去する。この後、赤外吸収スペクトルを測定し、水酸基に対応する波長における吸光度を求める。この求められた吸光度を金属粉末の比表面積当りの値として評価することで、金属粉末の表面に存在する水酸基の定量を行う。 (もっと読む)


【課題】 光の透過率又は吸光度に基づいて試料中の溶解物濃度を測定するに当たり、装置の小型化を達成できるとともに、試薬や試料の量も少なくすることができる、溶解物濃度の測定方法を提供する。
【解決手段】 試料への試薬の添加により発色した被測定液S1等に光を透過させることにより、光の透過率又は吸光度に基づいて、試料中の溶解物の濃度を測定する溶解物濃度の測定方法であって、被測定液S1中を透過した発光体31からの光を、被測定液S1を挟むように、発光体31に対向して置かれた反射板21で反射して、この反射光を、被測定液S1中に再度透過させた後、発光体31側にある受光体32で受光する。被測定液S1中を往復するように光を透過させるため、被測定液S1中を通過する光の通過距離を通常の2倍以上とすることができ、その分、被測定液S1による光の吸収量を増加させることができる。 (もっと読む)


【課題】熱量測定対象ガスが天然ガスまたはバイオガスであっても、当該熱量測定対象ガスの熱量を高い信頼性で測定することのできる熱量測定方法および熱量測定装置を提供すること。
【解決手段】熱量測定方法は、ガスの熱量を測定するための熱量測定方法であって、熱量測定対象ガスの熱伝導率から得られる熱伝導率換算熱量A〔MJ/Nm3 〕と、当該熱量測定対象ガスの屈折率から得られる屈折率換算熱量B〔MJ/Nm3 〕とに基づいて、下記の式(1)により、2.91≦補正係数α≦3.75の条件にて熱量測定対象ガスの熱量Q〔MJ/Nm3 〕を算出することを特徴とする。
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