【課題】光散乱を抑圧して散乱吸収体内部を撮影可能な光学画像測定装置を提供する。
【解決手段】スペクトラム拡散変調した発光デバイス２１と、前記発光デバイスの光が照射された観測物体からの信号を受光する撮像デバイス（イメージセンサ）３１を有し、撮像デバイスに逆拡散信号処理を行う構成を設けることにより、観測物体の光散乱を抑圧した高感度の２次元画像（イメージング）データ５１を得ることが可能となる。 （もっと読む）

【課題】外光の影響を抑えて、雨滴検出の精度を向上させた画像処理システム及びそれを備えた車両を提供する。
【解決手段】フロントガラス１０５の内壁面１０５ａ側からフロントガラス１０５に向けて光を照射する光源２０２と、フロントガラス１０５の外壁面１０５ｂに付着した雨滴２０３などの異物によって反射された光源２０２からの光、及び、外壁面１０５ｂ側からフロントガラス１０５を透過した光を撮像する撮像装置２０１と、撮像装置２０１で撮像された撮像画像データを解析する画像解析ユニット１０２と、を備え、撮像装置２０１は、有効撮像領域の所定領域に入射した光の分光情報を取得するためのカラーセンサを有し、画像解析ユニット１０２は、前記分光情報に光源２０２からの光の波長情報が含まれているか否かを判定することにより、撮像画像データからフロントガラス１０５に付着した雨滴２０３などの異物を検出する。 （もっと読む）

【課題】光利用効率が高く、複雑な製造プロセスが不要な半導体短パルス発生装置、テラヘルツ波発生装置、カメラ、イメージング装置及び計測装置を提供すること。
【解決手段】光パルスを発生する光パルス発生部２と、光パルス発生部２で発生した光パルスに対し、可飽和吸収に基づくパルス圧縮を行う第１のパルス圧縮部３と、第１のパルス圧縮部３でパルス圧縮がなされた光パルスに対し、群速度分散補償に基づくパルス圧縮を行う第２のパルス圧縮部５と、第１のパルス圧縮部３の前段、または第１のパルス圧縮部３と第２のパルス圧縮部５との間に設けられ、光パルスを増幅する増幅部４と、を有し、光パルス発生部２がスーパールミネッセントダイオードである。 （もっと読む）

【課題】暗電流の影響を除去した高精度な生体情報量を迅速かつ低電力消費で検出する。
【解決手段】暗電流成分を含むアナログ信号からなる生体情報量およびアナログ信号からなる暗電流成分を検出するＰＤ１５と、ＰＤ１５により検出された生体情報量を第１パルス幅に変換し、ＰＤ１５により検出された暗電流成分を第２パルス幅に変換する積分回路２３と、積分回路２３により変換された第１パルス幅を基準クロックでカウントして第１カウンタ値を生成し、積分回路２３により変換された第２パルス幅を基準クロックでカウントして第２カウンタ値を生成するカウンタと、カウンタにより生成された第１カウンタ値と第２カウンタ値との差分により生体情報量を求める演算器とを備える生体情報量検出装置１を提供する。 （もっと読む）

【課題】従来のＤＯＴの計測装置よりも高分解能で、拡散光トモグラフィーによって被検体の深部における物性情報の計測が可能となる被検体光計測装置を提供する。
【解決手段】拡散光トモグラフィーによる被検体光計測装置であって、
被検体内に配置される一つ以上の、第１の光源および第１の検出器と、
被検体外に配置される一つ以上の、第２の光源および第２の検出器と、
第１の光源から出射され、少なくとも第１または第２の検出器のいずれか一方に入射する一つ以上の計測光、および、
第２の光源から出射され、少なくとも第１または第２の検出器のいずれか一方に入射する一つ以上の計測光、
より得られる計測値を処理し、被検体の散乱係数または吸収係数の分布を再構成するための処理部と、を有する。 （もっと読む）

【課題】 テラヘルツ波検出器で広い波長範囲で用いることができる非線形結晶を用いた方法では、高感度、広帯域を両立することが難しい。
【解決手段】 テラヘルツ波素子は、電気光学結晶を含み光を伝搬する導波路（２、４、５）と導波路（２、４、５）にテラヘルツ波を入射させる結合部材（７）を備える。導波路（２、４、５）を伝搬する光の伝搬状態は、結合部材（７）を介して導波路（２、４、５）にテラヘルツ波が入射することで変化する。 （もっと読む）

【課題】フロントガラス面の異物を検出するとともに、雨滴の付着度合を容易に検出する。
【解決手段】フロントガラスに向けて光を照射する光源と、前記フロントガラスに対して前記光源と同じ側に、焦点が前記フロントガラスの位置よりも遠方に設定され撮像レンズと、複数の画素アレイを有する撮像素子と、前記撮像レンズと前記撮像素子の間に前記基板の撮像素子側の面の有効撮像領域の一部のエリアに、所定の波長範囲の光のみ透過する領域分割型分光フィルタ層を有する光学フィルタを備え、前記フロントガラスの外側の面に付着した異物によって反射された前記光源からの光を撮像する撮像装置を備えた画像処理システムにおいて、前記撮像素子の各フレーム間で前記光源に対する変調度を変化するように制御する制御部と、前記フロントガラス面での前記光源からの照射光量の変化に応じて、前記撮像装置により撮像された画像から前記フロントガラス面に付着した雨滴の付着度合いを検出する画像解析処理部とを備える。 （もっと読む）

【課題】高濃度のダストや水分が存在する測定環境であっても測定対象ガスの濃度を正確に測定可能なガス分析装置を提供する。
【解決手段】レーザ素子２０４と、測定対象ガスの吸収スペクトルを含む波長領域のパルス信号に高周波変調信号を重畳して得た高周波変調パルス信号を発生するパルス信号発生手段と、高周波変調パルス信号をレーザ素子２０４に印加して高周波変調パルス光を出射させるレーザ駆動手段と、高周波変調パルス光をコリメートして測定対象ガスが存在する煙道内部１等の測定対象空間に照射するレンズ２０５等のレーザ光学系と、煙道内部１を介して受光した高周波変調パルス光を電気的な受光信号に変換するためのレンズ２０６、受光素子２０７等の受光手段と、前記受光信号から測定対象ガス濃度を検出するガス濃度検出手段と、を備える。 （もっと読む）

【課題】発振スペクトル分布が狭いレーザ光を実現可能なモード同期レーザ光源装置を提供する。
【解決手段】
注入電流Iが注入されてキャリアが生成されかつキャリアの消費によりレーザ光Pのパルスを増幅すると共にキャリアの密度変化によりレーザ光Pのパルス強度に依存する自己位相変調と等価な位相変調を生じる半導体光増幅器１と、半導体光増幅器１から射出されるレーザ光Pのパルスの発振波長を可変とする掃引用変調部３と、掃引用変調部３により変調されたレーザ光Pのパルスを半導体光増幅器１に帰還させてレーザ発振現象を生じさせるリング共振器６と、異常分散領域で用いられかつリング共振器６を導波中のレーザ光Pのパルスの波長に依存してレーザ光Pのパルスの帰還時間を変化させる分散補償器５とを有する。 （もっと読む）

【課題】散乱光の時間分解波形を高い分解能で取得するための新しい手法の提案。時間分解波形に基づいて、被検体が含有する成分の濃度を高精度に測定する手法の提案。
【解決手段】光源部３０１からの光源光が分岐部３０２によって分岐され、その一方の光が測定光として照射部３０３によって被検体に照射される。そして、被検体からの出射光が集光部３０４によって集光され、中継部３０５によって光変換部３０７に中継される。他方、分岐部３０２によって分岐された他方の光はゲート光として光駆動シャッター部３１１に導光される。この際、ゲート光は、ゲート光導光部３０９によって光路長が変更され、光路長が異なるゲート光がカー材質部３１１Ａに導光される。そして、変更された光路長における光強度の検出結果から時間分解波形が求められて、被検体に含まれている成分濃度が算出される。 （もっと読む）

【課題】 検出用電磁波の時間波形の観測可能な時間幅を延長することが困難である。
【解決手段】 検出用電磁波とプローブ波とを、検出用電磁波の波面に対して、パルス状のプローブ波のパルス面を傾斜させて、電気光学結晶に入射させる。プローブ波のビーム断面を、検出用電磁波の波面とプローブ波のパルス面との交線方向に並ぶ複数の主走査単位領域に区分する。主走査単位領域ごとに、プローブ波のパルス面の、電気光学結晶への到達時刻を異ならせる。遅延装置が、プローブ波及び検出用電磁波の一方に対する他方の遅延時間を変化させる。遅延装置により遅延時間を異ならせて、検出用電磁波の複数の波形を取得し、取得された複数の波形の時間軸方向のずれに基づいて波形補正情報を求める。被測定物を測定することによって得られた波形データを、波形補正情報に基づいて補正することにより補正波形を求める。 （もっと読む）

【課題】観察により取得される観察対象物の内部の媒質が変化する境界部に関する情報の解像度及び鮮明度のさらなる向上が図れる観察装置及び観察方法を提供する。
【解決手段】出力部１１は、観察対象物２に含まれる感応因子の双極子モーメントを誘起させるコヒーレントな照射光３１ａを出力する。照射光３１ａの波長範囲の少なくも一部と、感応因子が光を吸収する吸収波長帯域の少なくとも一部とが重複する。レーザーユニットは、照射光の波長範囲を含む波長範囲を有するフェムト秒パルスレーザー光を生成する。光フィルタユニットは、フェムト秒パルスレーザー光を受け入れ、そのフェムト秒パルスレーザー光のうちの所定の短波長側境界値よりも短い波長成分、及び所定の長波長側境界値よりも長い波長成分を除去して、照射光３１ａとして送出する。 （もっと読む）

【課題】製造工程の複雑化を防止すると共に、光照射で発生した励起キャリアを効率良くテラヘルツ電磁波の発生または検出に用いることができる光伝導基板等を提供する。
【解決手段】基板３と、基板３上に積層され、基板３のバンドギャップよりも大きなバンドギャップを有するキャリア移動防止層５１とキャリア移動防止層５１上に積層され、基板３のバンドギャップ以上のバンドギャップを有すると共に、キャリア移動防止層５１のバンドギャップよりも小さなバンドギャップを有する半導体層５２と、を備え、半導体層５２が、ＧａＡｓを低温でエピタキシャル成長させた層である。 （もっと読む）

【課題】テラヘルツ電磁波の検出精度を向上させることができるテラヘルツ放射顕微鏡、これに用いられる、光伝導素子、レンズ及びデバイスの製造方法を提供すること。
【解決手段】光伝導素子は、基材と、電極と、膜材とを具備する。前記基材は、光源から発生したパルスレーザーが、観察対象であるデバイスに照射されることにより発生するテラヘルツ電磁波が入射する入射面を有する。前記電極は、前記基材に形成され、前記基材の入射面に入射された前記テラヘルツ電磁波を検出する。前記膜材は、前記基材の前記入射面に形成され、前記テラヘルツ電磁波を透過させ、前記パルスレーザーを反射させる。 （もっと読む）

【課題】目的の層以外の層によるノイズの影響を軽減する濃度定量装置を提供する。
【解決手段】光路長分布記憶手段１０２と、時間分解波形記憶手段１０３と、光路長バラツキ記憶手段１０４と、照射手段１０５と、受光手段１０６と、光強度取得手段１０７と、光路長取得手段１０９と、光強度モデル取得手段１１０と、光強度取得手段１０７が取得した光強度と、光路長取得手段１０９が取得した複数の光散乱媒質の層の各々の層の光路長と、光強度モデル取得手段１１０が取得した光強度モデルと、光路長バラツキ記憶手段１０４に記憶された複数の光散乱媒質の層の各々の層の光路長バラツキと、に基づいて、任意の層の光吸収係数を算出する光吸収係数算出手段１１１と、光吸収係数算出手段１１１が算出した光吸収係数に基づいて、任意の層における目的成分の濃度を算出する濃度算出手段１１３と、を含む。 （もっと読む）

【課題】流通ガスに含まれる測定対象物質の濃度、量等を高い応答性で高精度に計測すること。
【解決手段】流通ガスに含まれる測定対象物質を計測する物質計測装置であって、流通ガスが流れる計測セルと、測定対象物質の吸収波長を含む波長の範囲で波長を変調したレーザ光を計測セルに入射させる状態と入射させない状態とを切り換えるレーザ光照射ユニットと、計測セルから出射されるレーザ光を受講する受光装置と、計測セルとレーザ光照射ユニットとの間に配置されレーザ光を反射させる第１反射部と、計測セルと前記受光装置との間に配置され、レーザ光を反射させる第２反射部と、レーザ光照射ユニットがレーザ光を計測セルに入射させる状態から入射させない状態に切り換えた受光装置が受光した光の強度の減衰に基づいて、流通ガスに含まれる前記測定対象物質を検出する解析装置と、を有すること。 （もっと読む）

【課題】テラヘルツ波を伝播させるテラヘルツ波伝播装置において、複数の放物面鏡を用いてコリメート及び集光する際に、従来の技術より少ない数の放物面鏡を用いてテラヘルツ波の伝播が可能なテラヘルツ波伝播装置を提供すること。
【解決手段】本発明の一実施形態に係るテラヘルツ波伝播装置２００においては、テラヘルツ波発生部１０７からの入射テラヘルツ波１０８は、放物面鏡２０１によってコリメートされる。さらにコリメートされた入射テラヘルツ波１０８は放物面鏡２０３で集光され、被測定物１０９に入射する。被測定物１０９から出射された出射テラヘルツ波１１０は、放物面鏡２０３によってコリメートされる。コリメートされた出射テラヘルツ波１１０は放物面鏡２０２で集光され、テラヘルツ波検出部１１１に入射する。 （もっと読む）

【課題】環境変化による、テラヘルツ波発生用光パルスおよびテラヘルツ波検出用光パルス間の相対的な時間差の変動を低減し、かつ光パルスの時間波形および／またはスペクトル波形の変形を低減することが可能なテラヘルツ波発生検出装置を提供すること。
【解決手段】ビームコンバイナ１０７にて直交偏光の、第１の経路からのテラヘルツ波発生用光パルスと、第２の経路からのテラヘルツ波検出用光パルスとを合波し、ファイバ伝送部１０８の複屈折軸にそれぞれ入射させる。第２の経路には、ファイバ伝送部１０８にて、発生用光パルスと検出用光パルスとが時間的に重ならないようにするパルス時間間隔調整部１０５が設けられている。偏光ビームスプリッタ１０９とＴＨｚ波発生部１１１との間に、時間的に重ならない発生用光パルスとテラヘルツ波検出用光パルスとを時間的に重なるようにするパルス時間間隔補正部１１０が設けられている。 （もっと読む）

【課題】テラヘルツ波の発生及び検出を行うテラヘルツ波発生検出室を有するテラヘルツ波伝播装置において、テラヘルツ波の伝播経路を簡単に調整できるテラヘルツ波発生検出室を提供すること。
【解決手段】本発明の一実施形態に係るテラヘルツ波発生検出室２００においては、テラヘルツ波発生部１０７及びテラヘルツ波検出部１１１は、壁面の開口部に挿入され、壁面の外側から固定部材２０３によって固定される。固定部材２０３は、凹型固定部材２０４と、凸型固定部材２０５とを含む。凹型固定部材２０４が有する凹面と、凸型固定部材２０５が有する凸面とを合致させて固定することによって、テラヘルツ波発生部１０７及びテラヘルツ波検出部１１１を所望の位置及び向きに調整することができる。 （もっと読む）

【課題】光学ヘッドの小型化が可能であり、より自由度の高い測定が可能なテラヘルツ波発生検出装置を提供すること。
【解決手段】テラヘルツ波発生検出装置１００は、装置の制御を行うコントローラＣと、被測定物１１６に接してテラヘルツ波の発生及び検出を行う光学ヘッドＨとを備える。コントローラＣは、装置を制御するコンピュータや電源等含む電気機器１４０と、テラヘルツ波発生の種光パルスとしての光パルスの発生を行うコントローラ側ユニット１５０とを備える。光学ヘッドＨは、種光パルスの増幅及び圧縮を行う光学ヘッド側ユニット１７０を備える。さらにコントローラ側ユニット１５０と光学ヘッド側ユニット１７０との間には、コントローラ側ユニット１５０からの種光パルスを光学ヘッド側ユニット１７０へ伝送するファイバ伝送部１６０が設けられる。 （もっと読む）