【課題】 簡単かつ低コストな構成でありながら、検出対象物が特定物質（例えばアスベスト）を含むか否かを、検出対象物から試料を抽出等して作成することなく、直接的かつ迅速に検出することができる特定物質検出装置及び方法を提供する。
【解決手段】 本発明に係る特定物質検出装置は、検出対象物１００に近赤外線領域を含む照明光を照射する照明装置２００と、特定物質に対応した所定波長の近赤外線光を通過させる近赤外分光フィルタ４００を介して検出対象物１００を撮影して画像データを取得する近赤外イメージングセンサ５００と、取得された画像データに基づいて、画素毎に前記所定波長の近赤外線光の反射強度データを取得し、該反射強度データに基づいて取得される画素毎の吸収ピークレベル推定値に基づいて、検出対象物１００に特定物質（アスベスト）が含まれているか否かを画素毎に検出する検出手段（ＰＣ６００）と、を含んで構成した。 （もっと読む）

【課題】 部品点数が少なく、作業者が片手でハウジングを固定部材に取り付け可能な雨滴検出装置を提供する。
【解決手段】 外ハウジング３０は、筒部３１の内壁から内側に突き出す係合突起３５を有する。係合突起３５は、ブラケット２０の突出部２３に形成された係合溝２５に嵌め込まれる。ブラケット２０は、係合突起３５が係合溝２５に嵌め込まれることで外ハウジング３０を着脱可能に固定する。これによれば、外ハウジング３０をブラケット２０に固定するとき別の部材が不要であり、部品点数が少なくてすむ。また、係合突起３５が係合溝２５に嵌め込まれるように外ハウジング３０をブラケット２０に対し相対回動させることで、外ハウジング３０をブラケット２０に取り付けることができる。そのため、外ハウジング３０を持つ片手のみで外ハウジング３０をブラケット２０に取り付けることができ、取り付け作業の工数が低減する。 （もっと読む）

【課題】有機化合物を主体として含む材料、無機化合物を主体とし有機化合物を含む材料または有機化合物と組合せて用いる無機化合物からなる材料の機能を、テラヘルツ分光を利用して、室温で感度よく観測し評価する方法を提供する。
【解決手段】有機化合物を主体とする材料、無機化合物を主体とし有機化合物を含む材料または有機化合物と組合せて用いる無機化合物からなる材料であり、該化合物が分子レベルで配列状態を形成している材料に、テラヘルツ波を照射して測定される周波数０．１〜１０ＴＨｚの領域における分光スペクトルを用いて該材料の機能を評価する方法であって、材料に所定の処理を加える前後に分光スペクトルを測定し、分光スペクトル間に出現する配列状態の構造の歪みに起因する非対称振動由来の吸収の変化を指標として機能を評価することを特徴とするテラヘルツ分光による材料の評価方法。 （もっと読む）

【課題】不良と判定される欠陥を内在する半導体基板のウェハプロセスにおける製造効率を向上させ、良品率を向上させる。
【解決手段】ウェハ１を搬送してウェハ支持台４へ載置するための搬送装置３と、該ウェハ支持台４の位置を可変制御する駆動装置１４と、該ウェハ１が載置される前記支持台４の位置の可変制御により、ウェハ１の上部に配設される照射光８を前記ウェハ１表面に走査させながら照射する光照射部６と該光照射部６に照射光８を供給する光源７と、前記ウェハ１表面からの散乱光９を検出する第１受光検出部１３とウェハ１の透過光を検出する第２受光検出部１０と、該受光検出部からの信号を受けて演算処理する演算部１１と該演算部１１からの信号を受けて画像として出力するモニター１２とを含む半導体基板の欠陥検査装置。 （もっと読む）

【課題】測定対象物に温度変動がある場合の溶質の濃度を、非侵襲的にかつ精度良く測定することができる濃度測定方法及び濃度測定装置を提供する。
【解決手段】演算部は、記憶部に予め記憶しておいた情報（事前準備）を参照して、体液を構成する水（溶媒）の吸収係数（μ_ａｗ（λ））と、グルコースの見かけの吸収係数（μ’_ａｇ（λ））とを得る（Ｓ１１）。そして、測定時に皮膚に照射した光の波長（λ１），（λ２）…ごとに、参照した水の吸収係数（μ_ａｗ（λ））、グルコースの見かけの吸収係数（μ’_ａｇ（λ）、および測定した吸収係数（μ_ａ（λ））に基づいて、以下の（式８）を適用し、皮膚の体液中に含まれるグルコース（第一の溶質）の体積分率（Ｖ_ｇ）、および水（溶媒）の体積分率（Ｖ_ｗ）を得る（Ｓ１２）。 （もっと読む）

【課題】実測温度の検出精度を高め、排ガス中の成分濃度の測定精度を向上させた排ガス分析装置および排ガス分析方法を提供する。
【解決手段】排気経路３中の排ガスにレーザ光を照射し、排ガスを透過したレーザ光を受光する測定部５と、測定部５の上流側の排気経路３中に配設され、排気経路３中の排ガスの実測温度Ｔ１を検出する温度センサ５５と、測定部５にて受光されたレーザ光より排ガス中に吸収されたレーザ光の吸収スペクトルを検出する差分型光検出器６４と、差分型光検出器６４により検出された吸収スペクトルから排ガスの理論温度Ｔ２を算出する温度算出部７０と、排ガス中の所定成分の濃度が低い場合には温度センサ５５により検出された実測温度Ｔ１を用いて、又は排ガス中の所定成分の濃度が高い場合には温度算出部７０により算出された理論温度Ｔ２を用いて、排ガスの成分濃度Ｃを算出する成分濃度算出部７３とを有する排ガス分析装置。 （もっと読む）

【課題】非常に優れた検出感度を有するＳＰＲセンサセルおよびＳＰＲセンサを提供すること。
【解決手段】本発明のＳＰＲセンサセルは、検知部と、該検知部に隣接するサンプル配置部とを備える。検知部は、アンダークラッド層と、少なくとも一部がアンダークラッド層に隣接するように設けられたコア層と、コア層を被覆する金属層と、金属層を被覆する被覆層とを有する。該被覆層が、１．０ｅＶを超え７．０ｅＶ未満のバンドギャップ（Ｅｇ）を有する材料で構成され、該被覆層の屈折率が、該コア層の屈折率よりも高い。 （もっと読む）

【課題】赤外眼底像から信号成分を効果的に抽出することによりコントラストを向上させることが可能な眼底観察装置を提供する。
【解決手段】実施形態に係る眼底観察装置は、撮影部と、形成部と、解析部とを有する。撮影部は、赤外光を用いて被検眼の眼底を撮影する。形成部は、低コヒーレンス光を信号光と参照光とに分割し、眼底による信号光の反射光と参照光路を経由した参照光とを干渉させて検出する光学系を含む。更に、形成部は、干渉光の検出結果に基づいて眼底の断層像を形成する。解析部は、撮影部による眼底の撮影画像を解析して、この撮影画像から所定の低周波成分を除去する。 （もっと読む）

【課題】組織内の酸素飽和レベルを監視するための方法および装置を提供する。
【解決手段】光学画像化システム内で使用するためのセンサ構成は、第１の光源構造１１６と、第２の光源構造１２０と、検出器構成１３６とを含む。第１の光源構造は第１の光ビームを与え、第２の光源構造は第２の光ビームを与える。検出器構成は、中心点を有する検出器構造を含み、第１および第２の光ビームが外部の表面から反射された後に第１および第２の光ビームを受取る。検出器構成は、各検出器構造の中心点を通過する第１の軸を規定するよう構成され、第１の光源構造の中心点から第１の軸までの距離は第２の光源構造の中心点から第１の軸までの距離と等しくない。 （もっと読む）

【課題】広いダイナミックレンジと負数の表示が可能であり、微小粒子から発生する光の強度を適切に反映したスペクトルチャートを得るための技術の提供。
【解決手段】測定対象物からの光を検出波長域が異なる複数の受光素子により検出して取得された前記光の強度値を含む測定データから、線形関数と対数関数とを関数要素として含み、前記強度値を変数とする解析関数を用いて、解析データを生成する処理部を有するスペクトル解析装置を提供する。このスペクトル解析装置は、前記解析データを、一の軸を前記検出波長域に対応する値とし、他の一の軸を前記解析関数の出力値とするスペクトルチャートによって表示することで、負値を含む広いダイナミックレンジを表示し、分散を抑制して測定対象物の光学特性を適切に表現するスペクトルを表示する。 （もっと読む）

【課題】試料ガスを従来に比して正確に分析可能とする測定ユニットおよびガス分析装置を提供する。
【解決手段】煙道壁の外側に配置される１つの照射部と、照射部から出射され煙道の中を通過した測定光を反射する第１リフレクタと、煙道壁の外側に配置され第１リフレクタで反射された測定光を受光する１つの受光部と、煙道壁の外側に配置され測定光を受光部に向けて反射する第２のリフレクタと、照射部と第２リフレクタの間の光路上の空間に設けられ、既知物質を収容する既知物質収容部と、照射部から出射された測定光を第１リフレクタで反射させて試料ガスを分析し、照射部から出射された測定光を第２リフレクタで反射させてガス分析装置の既知物質を用いた補正又は校正を行う演算部と、煙道壁の外側に配置され成分濃度の分析を行うときに第２リフレクタを光路上から外し、補正又は校正を行うときに第２リフレクタを光路上に配置する切替部とを備える。 （もっと読む）

【課題】小型化と高精度化とを両立させることができる水分センサを提供する。
【解決手段】 水分吸収波長光を射出するＬＥＤ２０１、リファレンス光を射出するＬＥＤ２０２、各ＬＥＤからの光が入射され、第１の偏光方向の直線偏光を対象物に向かう方向に射出するとともに、対象物で散乱された光が入射され、前記第１の偏光方向に直交する第２の偏光方向の直線偏光を前記対象物に向かう方向とは異なる方向に射出する光学系（２０３、２０４、２０５、２０７、２０８）と、該光学系から射出された前記第２の偏光方向の直線偏光を受光するフォトダイオード２０９などを有している。 （もっと読む）

【課題】ワイドギャップ半導体においても、ＣＰＭ測定による欠陥密度の精度の高い評価を可能とする。
【解決手段】ワイドギャップ半導体のバンドギャップの波長（λ_Ｅｇ）以下、所定の波長範囲以上におけるＣＰＭ測定で得られた照射光量から導出した吸収係数と、別途測定したワイドギャップ半導体のλ_Ｅｇ以下の所定の波長範囲以上における吸収係数とのフィッティング値Ｆ（ｘ）を０．０００１以上１以下、好ましくは０．０００１以上０．１以下とする。 （もっと読む）

【課題】多色カラープリンタなどの画像形成装置におけるトナー濃度やトナー位置検知制御において、トナーの消費量低減に加えて、光学センサを低消費電流で使用できるようにする。
【解決手段】中間転写体上に形成されたテストパターンにおけるトナー濃度やトナー位置を光学的に検知する反射型光学センサを、主方向に対向配列された３個以上の発光部と３個以上の受光部で構成する。そして、前記反射型光学センサを制御し、該センサの検知結果に基づき画像形成プロセス条件を決定する制御手段は、中間転写体で反射された光が各受光部で所定値になるように各発光部の駆動電流を較正する較正手段と、較正された電流値に基づいてトナー濃度やトナー位置を検知するのに使用する発光部を選択する手段を備え、選択された発光部の位置に前記テストパターンを形成するようにする。 （もっと読む）

【課題】測定時のＳ／Ｎ比（シグナル／ノイズ比）の低下を抑制し、短時間の測定で精密な測定を行い、リアルタイム性の向上が図られるような光学的検知装置を提供する。
【解決手段】測定用の光が通過する測定光路と、前記測定光路に測定用の光を照射する光源と、前記測定光路を通過した光を受光し、吸収スペクトルの検出を行う検出器と、を有し、前記測定光路と前記光源とを連結させる第１の連結路と、前記測定光路と前記検出器とを所定の間隔でもって連結させる第２の連結路と、が設けられ、前記第１の連結路は前記測定光路と前記光源との間の空間を密閉可能な構成であり、前記第２の連結路は前記測定光路と前記検出器との間の空間を密閉可能な構成であり、前記第１の連結路及び前記第２の連結路の内部を排気する排気機構と、前記第１の連結路及び前記第２の連結路の内部に不活性ガスを供給する不活性ガス供給機構と、を備えた光学的検知装置が提供される。 （もっと読む）

【課題】酸素濃度が異なる場合にも対応して窒素濃度の値を求めることができるシリコン単結晶中の窒素濃度を算出する方法および抵抗のシフト量を算出する方法を提供する。
【解決手段】窒素をドープしたシリコン単結晶中の窒素濃度を算出する方法であって、前記窒素ドープシリコン単結晶における、酸素ドナーを消去する熱処理後の抵抗率と窒素酸素ドナーを消去する熱処理後の抵抗率との差から求められるキャリア濃度差分Δ［ｎ］と、酸素濃度［Ｏｉ］と、窒素濃度［Ｎ］との相関関係を予め求めておき、該相関関係に基づいて、前記キャリア濃度差分Δ［ｎ］と前記酸素濃度［Ｏｉ］とから、窒素ドープシリコン単結晶中の未知の窒素濃度［Ｎ］を算出して求めるシリコン単結晶中窒素濃度算出方法。 （もっと読む）

【課題】サンプルの位置を変えることなくサンプルに対して位置合わせできるサンプルへの携帯インタフェースを与えるように構成される携帯光コヒーレンストモグラフィ（ＯＣＴ）装置を提供する。
【解決手段】ＯＣＴエンジン１００と通信する携帯走査インタフェース装置を含む携帯ハウジング１０１であって、携帯走査インタフェース装置は、同一平面上にない少なくとも２つの方向において光を走査するように構成された少なくとも１つのミラーを含み、眼の構造から散乱され、あるいは反射された光を受けるように構成される携帯ハウジング１０１と、携帯走査インタフェース装置を含む携帯ハウジング１０１をＯＣＴエンジン１００に接続し、ＯＣＴエンジン１００からの光を携帯走査インタフェース装置に導くように構成された光ファイバと、携帯ハウジング１０１を眼の構造に、前記被写体を安定させるための顎当てを用いることなく、位置合わせする手段とを有する。 （もっと読む）

【課題】対象物と非対象物との間の本質的な違いが表れる特徴量を的確に抽出することができる特徴量抽出装置、対象物検出システム、コンピュータプログラム及び特徴量抽出方法を提供する。
【解決手段】特徴量候補決定部１０２は、各サンプル画素の任意の複数の波長でのスペクトル強度の変位に関連する特徴量候補を複数決定する。識別器生成部１０３は、決定した特徴量候補の中の一部の特徴量候補毎にブースティングを用いて対象物及び非対象物を識別するための識別器を生成する。特徴量抽出部１０５は、識別器を生成するために用いた特徴量候補を特徴量として抽出する。 （もっと読む）

【課題】測定周波数帯域の広帯域化と周波数分解能の高分解能化とを実現したテラヘルツ測定装置等を提供する。
【解決手段】ＴＨｚ波スペクトル測定装置（１）は、フェムト秒レーザーをポンプ光とプローブ光とに分岐するビームスプリッタ（１１）と、ポンプ光を受けてＴＨｚ波を発生させるＴＨｚ波発生源（１２）と、プローブ光をチャープパルスに変換するチャープ発生光学器（２２）と、チャープパルスを２つに分岐するビームスプリッタ（３１）と、分岐された一方の参照光を検出する参照光検出手段と、他方をＴＨｚ波の電気光学効果にて変調する電気光学結晶（４３）と、電気光学結晶（４３）から出力された信号光を検出する信号光検出手段と、同時に検出された参照光と信号光とに基づいてＴＨｚ波の時間波形を取得する演算回路（５０）とを有する。 （もっと読む）

【課題】塗膜下における鋼材の腐食部分の体積を非破壊で測定することができるようにする。
【解決手段】周波数が１００〔ＧＨｚ〕〜１０〔ＴＨｚ〕の範囲の電磁波を用いて被検査物の塗膜層表面の２次元的な計測位置毎に塗膜層を介在させて電磁波測定を行って反射強度の２次元分布計測値を得て、当該２次元分布計測値における計測位置毎の反射光電界を用いて〔ア〕照射光電界反射係数ｌを算出して計測位置毎の侵入光電界反射係数ｋを求めるか若しくは〔イ〕電界減衰率ｍを算出して計測位置毎の侵入光電界反射係数ｋを求め（Ｓ５）、当該侵入光電界反射係数ｋを用いて計測位置毎に被検査物の塗膜層下の鋼材の腐食層の厚さｄ_Rを求め（Ｓ６）、当該腐食層の厚さｄ_Rを用いて被検査物の塗膜層下の鋼材の腐食部分の体積Ｖを求める（Ｓ７）ようにした。 （もっと読む）